DE2905175C2 - Adaptiervorrichtung für das Verbinden von zu prüfenden Elektronikbaugruppen mit Prüfgeräten - Google Patents
Adaptiervorrichtung für das Verbinden von zu prüfenden Elektronikbaugruppen mit PrüfgerätenInfo
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- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
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- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07371—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate card or back card with apertures through which the probes pass
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Description
Durch den in der gemeinsamen Druckzuleitung befindlichen Druckminderer läßt sich die für einen Prüfling erforderliche
Andrückkraft für die Prüfspitzen den Erfordernissen eines Prüflings entsprechend einstellen. Mit
den in den Unteransprüchen angegebenen Weiterbildüngen der Erfindung läßt sich auf einfache Weise erreichen,
daß die universell ausgestaltete? Adaptiervorrichtung
mit einfachen Mitteln an die Prüfpunkt-Konfiguration des Prüflings angepaßt werden kann.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nacnfolgend
anhand von Zeichnungen erläutert Es zeigt
F i g. 1 die Anordnung der Prüfspitzen in der Adaptiervorrichtung
und die Antriebskolben,
F i g. 2 ein von Hand betätigtes Ventil der Druckzuleitung
zum Betätigen einer Prüfspitze,
Fig.3 ein Magnetventil in der Druckzuleitung zum
Betätigen einer Prüfspitze,
F i g. 4 eine selbstsperrende Schnellkupplung für den
Anschluß einer Druckzuleitung zum Betätigen einer Prüfspitze.
In der Fig. 1 ist dargestellt, wie die Prüfspitzen Pirn
Rastermaß der zu prüfenden Baugruppe BG angeordnet sind. Sie werden jeweils von losen Kolben K angetrieben,
die über Zuleitungen ZL mit einer Druckverteilerplatte VTverbunden sind. Mit einem in der gemeinsamen
Zuleitung befindlichen Druckmindererventil DM kann der auf die Kolben und damit auf die Prüfspitzen
ausgeübte Druck genau dosiert werden. Wenn nun die Druckzufuhr eingeschaltet wird, werden alle freigegebenen
Prüfspitzen gegen die zu prüfende Baugruppe BG gedrückt, welche an einem Aufnahmerahmen AR
arretiert ist. In dieser Zeichnung ist angegeben, wie durch eine Lochmaske LM die Auswahl derjenigen
Prüfspitzen vorgenommen wird, die den Prüfling BG berühren sollen. Die Lochmaske weist an den Stellen,
wo die Prüfspitzen bis zu der zu prüfenden Baugruppe BG vordringen sollen, entsprechende Löcher auf.
Die Verbindungsleitungen zum Prüfgerät sind als Einzeldrähte VD mittels Klemmhülsen KL an den Schäften
der Prüfspitzen angeschlossen. Entsprechend dem Hub der Kolben bewegen sich diese Drähte im Zwischenraum,
der durch die beiden Führungsrahmen für die Prüfspitzen gebildet wird.
Die Auswahl der kontaktierenden Prüfspitzen kann auch ohne Lochmaske auf andere Art und Weise erfolgen,
wie nachfolgend erläutert wird. Gemäß F i g. 2 besteht die Möglichkeit, in jede Druckzuleitung ein Handhebelventil
HV anzuordnen. Vor Beginn der Prüfung einer bestimmten Baugruppenserie werden diese Handhebelventile
nach einem vorgegebenen Muster beispielsweise mittels einer Schablone von Hand eingestellt.
Diese Einstellung ist nur dann vorzunehmen, wenn mit der Prüfung einer anderen Baugruppenserie
begonnen wird.
Anstelle von Handhebelventilen können Magnetventile MV gemäß F i g. 3 angeordnet sein. Diese Ventile
sind elektrisch steuerbar, womit der Vorteil verbunden ist, daß die Einstellung der Ventile vom Prüfgerät selbsttätig
vorgenommen werden kann. Das Betätigen der Prüfspitzen kann auch nacheinander erfolgen, wobei die
Einschaltung der Magnetventile von einem Teil des Prüfprogrammes für die zu prüfende Baugruppe übernommen
wird.
Anstelle von Ventilen lassen sich auch gemäß F i g. 4 selbstsperrende Schnellkupplungen in die Verteilungsplatte
einsetzen. Bei diesem Ausführungsbeispiel werden dann zu Beginn der Prüfung einer bestimmten Baugruppenserie
nur diejenigen Zuleitungen angeschlossen, die zu Prüfspitzen führen, deren Betätigung erforderlich
ist.
Das hier dargestellte Ausführungsbeispiel einer Adaptiervorrichtung erlaubt es, auch Prüflinge zu kontaktieren,
die ungünstige Kontaktiereigenschaften haben. Da hinsichtlich des Druckes eine große Variationsbreite
gegeben ist, können beispielsweise auch Lackschichten u. ä. überwunden werden, so daß eine Vorbehandlung
solcher Baugruppen speziell für die Prüfung nicht erforderlich ist
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (3)
1. Adaptiervorrichtung für das Verbinden von zu lagert werden. Somit ist es nicht leicht möglich, die Anprüfenden
Elektronikbaugruppen mit Prüfgeräten, 5 druckkraft bei bestimmten Prüflingen zu verändern. Eiwobei
die Adaptiervorrichtung einzelne Prüfspitzen ne Erhöhung der Andrückkraft könnte beispielsweise
enthält, die in der Rastereinteilung der Prüflinge an- erforderlich werden, wenn die zu prüfende Baugruppe
geordnet, einzeln durch einen pneumatisch betätig- teilweise mit Isolierlack überzogen ist, den die Prüfspitten
Kolben antreibbar sind und elektrische Verbin- zen auf diese Weise durchdringen sollen.
düngen zwischen dem Prüfgerät und dem Prüfling io Aus der DE-OS 26 08 430 ist eine programmierbare
herstellen, dadurch gekennzeichnet, daß Sondenhalterung bekannt, die verwendet wird, um
die zum Prüfgerät führenden elektrischen Verbin- Schaltungsplatten oder Leiterplatten an eine manuelle
dungsleitungen (VD) am Schaft der jeweiligen Prüf- oder automatische Prüfeinrichtung abzuschließen. Da-
spitze mittels einer KJemmhülse (KL) befestigt sind bei sind die als Sonden bezeichneten Prüfspitzen einzeln
und daß die Andrückkraft mit einem in der gemein- 15 durch Druckluft antreibbar. Mit jeder Prüfspitze ist ein
samen Druckzuleitung befindlichen Druckminderer Kolben direkt verbunden, der die Prüfspitze gegen den
(DM) den Erfordernissendes Prüflings entsprechend Prüfling drückt, wenn einem Zylinder Druckluft zuge-
einstellbar ist. führt wird. Um dies zu bewirken, ist ein sogenanntes
2. Adaptiervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch Sondentreibersystem vorgesehen, das aus einzeln steugekennzeichnet,
daß die Druckzuführung über eine 20 erbaren Ventilen besteht. Die elektrischen Prüfan-Verteilerplatte
(VT) erfolgt, wo für jeden einer Prüf- Schlüsse sind jeweils an dem der Prüfspitze angewandspitze
zugeordneten Anschluß eine selbstsperrende ten Ende der Sonde angebracht Dabei ist darauf zu
pneumatische Schnellkupplung (SK) vorgesehen ist, achten, daß zwischen Prüfspitze und Leitungsanschluß
an der jeweils nur die Druckzuleitungen angeschlos- eine direkt elektrisch leitende Verbindung besteht, wosen
werden, die zu einem Kolben führen, dessen 25 bei auch die Bewegung der gesamten Sonde mit zu be-Prüfspitze
betätigt werden soll. rücksichtigen ist. Wie aus den Zeichnungen hervorgeht,
3. Adaptiervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch bildet die Sonde mit dem zum Antrieb notwendigen
gekennzeichnet, daß der Druck allen Kolben züge- Kolben eine Baueinheit und ist sehr genau in die als
führt wird und die Auswahl der zu betätigenden Zylinder ausgebildete Halterung einzupassen. Wegen
Prüfspitzen durch eine für den Prüfling angepaßte, 30 der hohen Genauigkeit, die beim Herstellen der Hohlvor
den Prüfling gelegte Lochmaske (LM) bestimmt räume erforderlich ist, ist eine derartige Sondenhaltewird.
rung oder auch Adaptiervorrichtung sehr aufwendig.
Eine pneumatisch angetriebene Adaptiereinrichtung für das Prüfen von Leiterplatten ist auch bekannt aus
35 der US 37 14 572. Bei dieser Vorrichtung ist es erforderlich, daß jeweils zu einem Prüfling passend eine mit
Hohlräumen versehene Adapterplatte vorhanden ist,
Die Erfindung betrifft eine Adaptiervorrichtung für die an den jeweiligen Prüfpunkten pneumatisch angedas
Verbinden von zu prüfenden Elektronikbaugruppen triebene Prüfspitzen aufweist. Mit einer Ventilsteuemit
Prüfgeräten gemäß dem Oberbegriff des An- 40 rung wird erreicht, daß die einzelnen Prüfspitzen sespruchs
1. quentiell angesteuert werden. Auch bei dieser Ausfüh-
Bei der automatischen Prüfung von Elektronikbau- rungsform des Prüfadapters sind die das Prüfgerät mit
gruppen werden Vorrichtungen angewendet, die ein dem Prüfling verbindenden Leitungen am von der Prüfschnelles
Anschließen eines Prüflings an ein Prüfgerät spitze angewandten Ende einer jeder einzelnen Anordermöglichen,
damit die Zeitvorteile des automatischen 45 nung angeschlossen.
Prüf ens optimal genutzt w erden können. Zur Ankontak- Bei den vorgenannten Ausführungsformen von pneu-
tierung der für Prüfzwecke benötigten vielen Anschlüs- mansch angetriebenen Prüfspitzen ist nicht vorgesehen,
se auf der Elektronikbaugruppe werden Prüfspitzen daß die Andrückkraft variiert werden kann. In Abhänverwendet,
die so angeordnet sind, daß sie genau auf die gigkeit der Beschaffenheit eines Prüflings kann es je-Kontaktstelle
des Prüflings auftreffen. Es kommt dabei 50 doch zweckmäßig sein, den Druck und damit die Anauf
eine elektrisch gut leitende Verbindung an, damit die druckkraft der Prüfspitze auf den Prüfpunkt stärker
Meßwerte nicht verfälscht werden. Zu diesem Zweck oder schwächer einzustellen.
werden die Prüfspitzen mit einem gewissen Druck an Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, eine Adap-
die Kontaktstelle angepreßt. Dieser Druck darf aber tiervorrichtung für das Verbinden von zu prüfenden
nicht zu hoch sein, damit der Prüfling nicht beschädigt 55 Elektronikbaugruppen mit Prüfgeräten zu schaffen, wowird.
Zur guten Kontaktgabe werden die Prüfspitzen bei der Anschluß der Verbindungsleitungen so gestaltet
außerdem besonders ausgestaltet und oberflächen-be- ist, daß die elektrischen Potentiale unmittelbar an der
handelt. Prüfspitze abgenommen werden, so daß die Prüfspitze
Eine solche Adaptiervorrichtung ist beispielsweise und der pneumatische Antrieb nicht aus einem Stück
dargestellt in der DE-aS 27 07 900. Aus der Zeichnung 60 hergestellt sein müssen. Es soll außerdem erreicht wergeht
hervor, daß der Prüfling durch eine Druckvorrich- den, daß die Andrückkraft in verschiedenen Stärken eintung
gegen alle vorbereiteten Prüfspitzen gedrückt stellbar ist, so daß mit der Prüfspitze bei Bedarf auch am
wird. Es werden nur diejenigen Prüfspitzen kontaktiert, Prüfling angebrachte Lackschichten durchdrungen werdie
durch den Anschluß einer weiterführenden Leitung den können. Zur Lösung dieser Aufgabe dienen die
vorbereitet sind. 65 Merkmale, die im Patentanspruch 1 angegeben sind.
Wenn wie in diesem Fall der Prüfling gegen die Prüf- Mit dieser Anordnung wird in vorteilhafter Weise erspitzen
oder alle Prüfspitzen gemeinsam gegen den reicht, daß die Prüfspitzen einfach gestaltet sein können
Prüfling gedrückt werden, so ist ein hohes Maß an Ge- und unabhängig von ihrem Antrieb herstellbar sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19792905175 DE2905175C2 (de) | 1979-02-10 | 1979-02-10 | Adaptiervorrichtung für das Verbinden von zu prüfenden Elektronikbaugruppen mit Prüfgeräten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19792905175 DE2905175C2 (de) | 1979-02-10 | 1979-02-10 | Adaptiervorrichtung für das Verbinden von zu prüfenden Elektronikbaugruppen mit Prüfgeräten |
Publications (2)
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DE2905175A1 DE2905175A1 (de) | 1980-08-21 |
DE2905175C2 true DE2905175C2 (de) | 1985-11-21 |
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ID=6062684
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE19792905175 Expired DE2905175C2 (de) | 1979-02-10 | 1979-02-10 | Adaptiervorrichtung für das Verbinden von zu prüfenden Elektronikbaugruppen mit Prüfgeräten |
Country Status (1)
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Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4357062A (en) * | 1979-12-10 | 1982-11-02 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Universal circuit board test fixture |
DE3248796C2 (de) * | 1982-12-30 | 1985-01-10 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Pneumatische Kontaktiereinrichtung zur automatischen Prüfung von Flachbaugruppen |
DE3248798C2 (de) * | 1982-12-30 | 1985-03-07 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Vorrichtung zur automatischen Prüfung von Flachbaugruppen |
DE3318394C2 (de) * | 1983-05-20 | 1985-06-20 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg | Pneumatisch betätigter Kontaktstift |
GB2161033B (en) * | 1984-06-21 | 1988-05-25 | Gen Electric Co Plc | Programmable bed-of-nails test access jigs with electro-rheological fluid actuation |
DE3602696C2 (de) * | 1986-01-30 | 1996-07-11 | Festo Kg | Prüfeinrichtung für auf Trägern angeordnete elektronische Bauelemente |
DE102004027887B4 (de) | 2004-05-28 | 2010-07-29 | Feinmetall Gmbh | Prüfeinrichtung zur elektrischen Prüfung eines Prüflings |
DE102016013412A1 (de) * | 2016-11-10 | 2018-05-17 | Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg | Kontaktsystem und Kontaktmodul |
DE202018100710U1 (de) * | 2018-02-08 | 2018-02-15 | Feinmetall Gmbh | Elektrische Berührungskontaktiervorrichtung |
DE102022203177A1 (de) | 2022-03-31 | 2023-10-05 | Yamaichi Electronics Deutschland Gmbh | Testvorrichtung zur Beaufschlagung von elektronischen Bauteilen mit einem vorgebbaren Luftdruck, Druckverteileinheit für eine entsprechende Testvorrichtung und Verwendung einer Testvorrichtung |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3714572A (en) * | 1970-08-21 | 1973-01-30 | Rca Corp | Alignment and test fixture apparatus |
CA1038042A (en) * | 1975-03-03 | 1978-09-05 | Motorola | Programmable probe fixture and method of connecting units under test with test equipment |
DE2707900C3 (de) * | 1977-02-24 | 1980-09-04 | Ante 6980 Wertheim Milkovic | Universal-Adaptiervorrichtung für Geräte zur elektrischen Prüfung unterschiedlicher gedruckter Schaltungen |
-
1979
- 1979-02-10 DE DE19792905175 patent/DE2905175C2/de not_active Expired
Also Published As
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DE2905175A1 (de) | 1980-08-21 |
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