DE2813541C2 - Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten - Google Patents

Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten

Info

Publication number
DE2813541C2
DE2813541C2 DE19782813541 DE2813541A DE2813541C2 DE 2813541 C2 DE2813541 C2 DE 2813541C2 DE 19782813541 DE19782813541 DE 19782813541 DE 2813541 A DE2813541 A DE 2813541A DE 2813541 C2 DE2813541 C2 DE 2813541C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
circuit board
arms
contacts
test
arm
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19782813541
Other languages
English (en)
Other versions
DE2813541B1 (de
Inventor
Josef Ing.(Grad.) 8133 Feldafing Schmid
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19782813541 priority Critical patent/DE2813541C2/de
Publication of DE2813541B1 publication Critical patent/DE2813541B1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2813541C2 publication Critical patent/DE2813541C2/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten, bei der die zu prüfende Schaltungsplatte in einen Rahmen einspannbar ist und damit gegen eine mit in einer Ebene befindlichen Kontaktstiften versehene Prüfeinrichtung durch Heben oder Schwenken bewegbar ist, wo die zu prüfenden Punkte auf der Leiterplatte zur Prüfung mit den vorzugsweise federnden Kontaktstiften elektrisch in Berührung kommen.
Derartige Prüfeinrichtungen, die eine starre Anordnung von Federn und Prüfkontakten haben, werden in der Vorfertigung bzw. im Prüffeld häufig benutzt Es ist dabei aber erforderlich, für jede Baugruppentype einen
5 oder mehrere Adapter mit Prüfkontakten einzusetzen bzw. auf Lager zu halten. Solche Prüfeinrichtungen, die jeden Rasterpunkt einer gedruckten Schaltung abtasten, sind andererseits mechanisch sehr aufwendig und würden eine Schaltungsplatte außerdem äußerst stark
ic belasten. Auch ein automatisches Auswechseln von Prüfeinrichtungen der obigen Art bedeutet einen erheblichen Aufwand.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine lelativ einfache Prüfanlage anzugeben, die einerseits universell verwendbar ist, und andererseits mit möglichst geringem Aufwand realisierbar ist
Diese Aufgabe wird bei einer Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten, bei der die zu prüfende Schaltungsplatte in einen Rahmen einspannbar ist und damit gegen eine mit in einer Ebene befindlichen Kontaktstiften versehene Prüfeinrichtung durch Heben oder Schwenken bewegbar ist wo die zu prüfenden Punkte auf der Leiterplatte zur Prüfung mit den vorzugsweise federnden Kontaktstiften elektrisch in Berührung kommen, gemäß der Erfindung dadurch gelöst daß die Prüfeinrichtung aus mehreren schienenförmigen Armen besteht die in rings um den Rand des Rahmens der Leiterplatte befindlichen Lagern ausziehbar und schwenkbar gelagert sind und an ihren der Schaltungsplatte zu gelegenen Enden mit senkrecht zur Schaltungsplatte federnd gelagerten Kontakten versehen sind und ferner dort eine Mitnahmeeinrichtung haben, in die ein koordinatenförmig bewegbarer Mitnehmer einer gesteuerten Positioniereinrichtung eingreifen kann, der zur Einstellung der Kontakte der einzelnen Arme auf die zu prüfenden Positionen auf der Leiterplatte nacheinander die Miinahmevorrichtungen der einzelnen Arme kreuzungsfrei auf die jeweilige Position einrichtet, worauf der jeweilige Arm durch eine Klemmvorrichtung für die Prüfvorgänge arretierbar ist, für andere Prüfvorgänge jedoch wieder neu einstellbar ist.
Diese Einrichtung gestattet es, Leiterplattenbaugruppen unterschiedlicher Ausführung, ja auch unterschiedlieher äußerer Dimensionen abzutasten. Die Meßpunkte können dabei in beliebigem Rastermaß liegen und die Positioniereinrichtung kann vollautomatisch gesteuert werden, beispielsweise mittels eines Programmstreifens.
Zum letzteren Zweck ist es besonders vorteilhaft, wenn die Positioniereinrichtung aus einem Koordinatenkreuztisch besteht, auf der ein Mitnehmerstift für die Mitnahmevorrichtung angeordnet ist, der für jeden Einstellvorgang positionsmäßig programmierbar ist, und daß dort jeweils in die in Ruhestellung befindliche Mitnahmevorrichtung, vorzugsweise in Form einer Buchse, eingreift, die Einstellung vollzieht, den Arm arretiert und dann die Mitnahmevorrichtung wieder verläßt und auf die nächste Einstellung vorbereitet wird.
Ferner ist es vorteilhafts wenn die Arme in der Dreh-
W) und Zugrichtung gegen einen Anschlag für die Ruhestellung der Kontakte federverspannt sind und daß die zugehörigen Lager jeweils eine Bremse gegen die Bewegungen der Arme haben, die beim Einstellen des Armes vom Mitnehmer lösbar und nach dem Einstellen
*>'' wieder arretierbar ist.
Durch diese Maßnahme wird die Konstruktion der Anordnung vereinfacht.
Fine weitere Vereinfachung ergibt sich dann, wenn
die Bremse selbstarretierend insoweit ist, als die Arme mit ihren Kontakten nur bei Eingriff des Mitnehmers lagen veränderbar sind.
Nachstehend wird die Erfindung anhand eines in den Zeichnungen dargestellten KoriStruktionsprinzips näher erläutert.
F i g. 1 zeigt dabei den prinzipiellen Aufbau eines Prüfadapters mi', acht positionierbaren Prüfarmen,
Fig.2 zeigt einen einzelnen Positionierarm mit Einsteilvorrichtung, to
F i g. 3 zeigt das Bewegungsprinzip eines Positionierarmes.
Für eine universelle Verwendbarkeit der Prüfeinrichtung ist es erforderlich, die Prüfkontakte bei jeder neuen Leiterbaugruppensorte in der Position auf die erforderliehen Punkte der Leiterbaugruppe einzustellen. Um dies konstruktiv auf möglichst einfache Weise durchführbar zu machen, werden Schienen 1 vorgesehen, die sich sowohl in Achsialrichtung bewegen, als auch um einen Lagerpunkt 6 drehen lassen. Diese Schienen, im folgenden Text Positionierarme genannt, flögen an ihrem schaltungsplattenseitig gelegenem Ende senkrecht zu ihrer Bewegungsart federnde Kontaktstifte. Die Bewegungsarten sind sowohl eine ein Zug- wie auch eine Schwenkbewegung. Dargestellt ist der prinzipielle Bewegungsvorgang in der Prinzipskizze nach Fig.3. Der Positionierarm ist in einem Lager 6 so gehalten, daß er diese Schwenk- und Auszugsbewegung durchführen kann. Mit 7 sind Anschläge sowohl für die Schwenk- als auch für die Zugbewegung bezeichnet. Die Feder 5 soll Jo andeuten, daß der Positionierarm aus jeder einmal eingestellten Lage nach Lösen einer Arretierung in die Ausgangslage von sich aus zurückkehrt Die Ausgangslagen sind durch die Anschläge 7 gegeben.
Wie die F i g. 2 zeigt, hat das Lager 6 für die Heb- und Schwenkbewegung einen Achszapfen, dessen Ende eine elektromechanische Bremse 10 bildet. Wird diese Bremse betätigt, so kann der Arm in der eingestellten Lage fixiert werden. Die Einstellung des Armes selbst geschieht an seinem Frontende 3. Dort ist einerseits der « Kontakt 2, der auf die Leiterbaugruppe 11 aufgesetzt werden soll angeordnet, als auch auf der anderen Seite eine Mitnahmevorrichtung 4. Die Mitnahmevorrichtung 4 besteht im einfachsten Fall, wie in der Zeichnung angedeutet ist, aus einer kegeligen Aushöhlung, der « Führung für den Kontaktstift 2. In diese kegelige Aushöhlung kann ein passend geformter Mitnehmerslift
9 eingreifen. Der Mitnehmerstift 9 greift in der Ruhestellung des Armes 1 in das Ende des betreffenden Positionierarms, d. h. in den Kontaktstift ein und führt diesen nach Lösen der elektromechanischen Bremse 10 an den entsprechenden Prüfpunkt auf der Leiterbaugruppe. Nach Festlegen der Position wird d;e Arretierung in Form der elektromechanischen Bremse
10 ausgelöst und daraufhin wird der Mitnehmerstift außer Eingriff gebracht. Ein so eingestellter Arm 1 bleibt also in der erforderlichen Prüfstellung positioniert
Diese Einstellungen wiederholen sich von Arm zu Arm bis die erforderlichen Prüfpunkte auf der Leiterbaugruppe eingestellt sind.
Zur Rückstellung der Einrichtung kann eine Rückzugvorrichtung in Form einer Federrolle Sa mit Seilzug je Positionierann vorgesehen werden.
Die eigentliche Positioniereinrieb ■ ;ng besteht aus einem sogenannten Koordinatentisch. D?r Koordinatentis.ch erlaubt die Einstellung des Mitnehmerstifts 9 auf beliebige Punkte einer Schaltungsplatte. Angedeutet ist dies durch strichlierte Linien auf der Schaltungsplatte
11 gemäß Fig. 1. Zur Einstellung dieser Positioniereinrichtung kann eine manuelle Vorrichtung benutzt werden, oder besser nach dem heutigen Stande der Technik eine elektronische rechnergesteuerte Anlage. Die letztere kann mittels eines Lochst! eifens für jede Art von zu prüfenden Leiterbaugruppen programmiert werden.
Diese Einrichtung kann demzufolge jeder elektrischen Ausführung einer Leiterbaugruppe angepaßt werden. Bei entsprechender Ausführung kann sie auch verschiedene Größen von Leiterbaugruppen abtasten.. Dies ist durch entsprechende Länge und Anordnung der Positionierarme 1 möglich. Da die Meßleitungen 12, wie in Fig.2 angedeutet, sowieso als flexible Leitungen ausgebildet sind, beengen sie die Fläche der abzutastenden Baugruppe kaum. Die Kontakte 2 sind zweckmäßig als Jtecknadelförmig aufsetzende in Achsialrichtung gefederte Stifte ausgebildet. Es wird so erreicht, daß dünne isolierende Überzüge auf der als Druckschaltung ausgebildeten Leiterbaugruppe durchstoßen werden. Die Einstellung der Federung erfolgt zweckmäßig entsprechend der Stabilität der zu prüfenden Leiterbaugruppe 11.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (4)

Patentansprüche:
1. Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten, bei der die zu prüfende Schaltungsplatte in einen Rahmen einspannbar ist und damit gegen eine mit in einer Ebene befindlichen Kontaktstifte versehene Prüfeinrichtung durch Heben oder Schwenken bewegbar ist, wo die zu prüfenden Punkte auf der Leiterplatte zur Prüfung mit den vorzugsweise federnden Kontaktstiften elektrisch in Berührung kommen, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfeinrichtung aus mehreren schienenförmigen Armen (1) besteht, die in rings um den Rand des Rahmens der Leiterplatte (11) befindlichen Lagern (6) ausziehbar und schwenkbar gelagert sind und an ihren der Schaltungsplatte (11) zu gelegenen Enden (3) mit senkrecht zur Schaltungsplatte federnd gelagerten Kontakten \2) versehen sind und ferner dort eine Mitnahmeeinrichtung (4) haben, in die ein koordinatenförmig bewegbarer Mitnehmer (9) einer gesteuerten Positioniereinrichtung (8) eingreifen kann, der zur Einstellung der Kontakte (2) der einzelnen Arme (1) auf die zu prüfenden Positionen auf der Leiterplatte (11) nacheinander die Mitnahmevorrichtungen (4) der einzelnen Arme (1) kreuzungsfrei auf die jeweilige Position einrichtet, worauf der jeweilige Arm (1) durch eine Klemmvorrichtung (10) für die Prüfvorgänge arretierbar ist, für andere Prüfvorgänge jedoch wieder neu einstellbar ist
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Positioniereinrichtung (8) aus einem Koordinatenkreuztisch besteht, auf der ein Mitnehmerstift (9) für die Mitnahmevorrichtungen (4) angeordnet ist, der für jeden Einstellvorgang positionsmäßig programmierbar ist, und daß dort jeweils in die in Ruhestellung befindliche Mitnahmevorrichtung (4), vorzugsweise in Form einer Buchse, eingreift, die Einstellung vollzieht, den Arm arretiert und dann die Mitnahmevorrichtung (4) wieder verläßt und auf die nächste Einstellung vorbereitet wird.
3. Einrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Arme (1) in der Dreh- und Zugrichtung gegen einen Anschlag (7) für die Ruhestellung der Kontakte (3) federverspannt sind und daß die zugehörigen Lager (6) jeweils eine Bremse (10) gegen die Bewegungen der Arme (1) vom Mitnehmer (9) lösbar und nach dem Einstellen wieder arretierbar ist.
4. Einrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Bremse (10) selbstarretierend insoweit ist, als die Arme (1) mit ihren Kontakten (2) nur bei Eingriff des Mitnehmers (9) lagenveränderbar sind.
DE19782813541 1978-03-29 1978-03-29 Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten Expired DE2813541C2 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19782813541 DE2813541C2 (de) 1978-03-29 1978-03-29 Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19782813541 DE2813541C2 (de) 1978-03-29 1978-03-29 Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2813541B1 DE2813541B1 (de) 1979-08-16
DE2813541C2 true DE2813541C2 (de) 1980-04-24

Family

ID=6035668

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19782813541 Expired DE2813541C2 (de) 1978-03-29 1978-03-29 Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE2813541C2 (de)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2939901C2 (de) * 1979-10-02 1982-12-30 W.C. Heraeus Gmbh, 6450 Hanau Vorrichtung zur Untersuchung und/oder Qualitätsprüfung von metallischen Stoffen hinsichtlich ihrer Eignung als Oberflächenschicht-Material für elektrische Kontakte

Also Published As

Publication number Publication date
DE2813541B1 (de) 1979-08-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0263244B1 (de) Vorrichtung zum elektronischen Prüfen von Leiterplatten mit Kontaktpunkten in extrem feinem Raster (1/20 bis 1/10 Zoll)
DE3348118C2 (de)
DE2811775C3 (de) Prüfstand für gedruckte Schaltungsplatten
DE2933862A1 (de) Vorrichtung zur elektronischen pruefung von leiterplatten.
DE2628428C3 (de) Adapter zum Verbinden von Anschluß- und/oder Prüfpunkten einer Baugruppe mit einer Mefischaltung
DE2707900B2 (de) Universal-Adaptiervorrichtung für Geräte zur elektrischen Prüfung unterschiedlicher gedruckter Schaltungen
EP2891527A1 (de) Biegevorrichtung für Semiflex-Leiterplatten
EP0278073B1 (de) Prüfstift für einen Adapter eines Leiterplattenprüfgerätes
EP0222345B1 (de) Verfahren zur Prüfung einer Leiterplatte
EP0224471A1 (de) Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
EP0065299A2 (de) Be- und Entstückautomat für Bauelemente
EP0149776B1 (de) Adapter für ein Leiterplattenprüfgerät
DE2905175C2 (de) Adaptiervorrichtung für das Verbinden von zu prüfenden Elektronikbaugruppen mit Prüfgeräten
DE2800775C2 (de)
DE2813541C2 (de) Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten
DE69803981T2 (de) Vorrichtung zum fernmanipulieren von steckern und kupplungen
DE3511821C1 (de) Adapter zur Aufnahme von beidseitig zu prüfenden Leiterplatten
DE3136896A1 (de) Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte
EP0877259A2 (de) Vorrichtung zum Prüfen einer Kontaktinsel und Leiterbahnen aufweisenden elektrischen Leiterplatte
EP3266548A1 (de) Steckerlöthilfe
EP0564447A1 (de) Positioniereinrichtung bei der Bestückung von Leiterplatten
DE3627275A1 (de) Vorrichtung zum messen eines spiels um einen zentrierstift fuer die oberen inneren ausruestungen eines druckwasser-kernreaktors
DE102018107174B3 (de) Kontaktiervorrichtung
DE3113375A1 (de) Adaptereinrichtung und verfahren zur elektrischen verdrahtungspruefung von unbestueckten leiterplatten
DE69512231T2 (de) Testsystem für bestückte und unbestückte schaltungsplatten

Legal Events

Date Code Title Description
8339 Ceased/non-payment of the annual fee