DE2813541C2 - Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten - Google Patents
Einrichtung zur Prüfung von gedruckten SchaltungsplattenInfo
- Publication number
- DE2813541C2 DE2813541C2 DE19782813541 DE2813541A DE2813541C2 DE 2813541 C2 DE2813541 C2 DE 2813541C2 DE 19782813541 DE19782813541 DE 19782813541 DE 2813541 A DE2813541 A DE 2813541A DE 2813541 C2 DE2813541 C2 DE 2813541C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- circuit board
- arms
- contacts
- test
- arm
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 33
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 6
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 2
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000009417 prefabrication Methods 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten, bei der die
zu prüfende Schaltungsplatte in einen Rahmen einspannbar ist und damit gegen eine mit in einer Ebene
befindlichen Kontaktstiften versehene Prüfeinrichtung durch Heben oder Schwenken bewegbar ist, wo die zu
prüfenden Punkte auf der Leiterplatte zur Prüfung mit den vorzugsweise federnden Kontaktstiften elektrisch
in Berührung kommen.
Derartige Prüfeinrichtungen, die eine starre Anordnung von Federn und Prüfkontakten haben, werden in
der Vorfertigung bzw. im Prüffeld häufig benutzt Es ist dabei aber erforderlich, für jede Baugruppentype einen
5 oder mehrere Adapter mit Prüfkontakten einzusetzen
bzw. auf Lager zu halten. Solche Prüfeinrichtungen, die jeden Rasterpunkt einer gedruckten Schaltung abtasten,
sind andererseits mechanisch sehr aufwendig und würden eine Schaltungsplatte außerdem äußerst stark
ic belasten. Auch ein automatisches Auswechseln von
Prüfeinrichtungen der obigen Art bedeutet einen erheblichen Aufwand.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine lelativ einfache Prüfanlage anzugeben, die einerseits
universell verwendbar ist, und andererseits mit möglichst geringem Aufwand realisierbar ist
Diese Aufgabe wird bei einer Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten, bei der die zu
prüfende Schaltungsplatte in einen Rahmen einspannbar ist und damit gegen eine mit in einer Ebene
befindlichen Kontaktstiften versehene Prüfeinrichtung durch Heben oder Schwenken bewegbar ist wo die zu
prüfenden Punkte auf der Leiterplatte zur Prüfung mit den vorzugsweise federnden Kontaktstiften elektrisch
in Berührung kommen, gemäß der Erfindung dadurch gelöst daß die Prüfeinrichtung aus mehreren schienenförmigen
Armen besteht die in rings um den Rand des Rahmens der Leiterplatte befindlichen Lagern ausziehbar
und schwenkbar gelagert sind und an ihren der Schaltungsplatte zu gelegenen Enden mit senkrecht zur
Schaltungsplatte federnd gelagerten Kontakten versehen sind und ferner dort eine Mitnahmeeinrichtung
haben, in die ein koordinatenförmig bewegbarer Mitnehmer einer gesteuerten Positioniereinrichtung
eingreifen kann, der zur Einstellung der Kontakte der einzelnen Arme auf die zu prüfenden Positionen auf der
Leiterplatte nacheinander die Miinahmevorrichtungen der einzelnen Arme kreuzungsfrei auf die jeweilige
Position einrichtet, worauf der jeweilige Arm durch eine Klemmvorrichtung für die Prüfvorgänge arretierbar ist,
für andere Prüfvorgänge jedoch wieder neu einstellbar ist.
Diese Einrichtung gestattet es, Leiterplattenbaugruppen unterschiedlicher Ausführung, ja auch unterschiedlieher
äußerer Dimensionen abzutasten. Die Meßpunkte können dabei in beliebigem Rastermaß liegen und die
Positioniereinrichtung kann vollautomatisch gesteuert werden, beispielsweise mittels eines Programmstreifens.
Zum letzteren Zweck ist es besonders vorteilhaft, wenn die Positioniereinrichtung aus einem Koordinatenkreuztisch
besteht, auf der ein Mitnehmerstift für die Mitnahmevorrichtung angeordnet ist, der für jeden
Einstellvorgang positionsmäßig programmierbar ist, und daß dort jeweils in die in Ruhestellung befindliche
Mitnahmevorrichtung, vorzugsweise in Form einer Buchse, eingreift, die Einstellung vollzieht, den Arm
arretiert und dann die Mitnahmevorrichtung wieder verläßt und auf die nächste Einstellung vorbereitet wird.
W) und Zugrichtung gegen einen Anschlag für die
Ruhestellung der Kontakte federverspannt sind und daß die zugehörigen Lager jeweils eine Bremse gegen die
Bewegungen der Arme haben, die beim Einstellen des Armes vom Mitnehmer lösbar und nach dem Einstellen
*>'' wieder arretierbar ist.
Durch diese Maßnahme wird die Konstruktion der Anordnung vereinfacht.
Fine weitere Vereinfachung ergibt sich dann, wenn
die Bremse selbstarretierend insoweit ist, als die Arme
mit ihren Kontakten nur bei Eingriff des Mitnehmers lagen veränderbar sind.
Nachstehend wird die Erfindung anhand eines in den Zeichnungen dargestellten KoriStruktionsprinzips näher
erläutert.
F i g. 1 zeigt dabei den prinzipiellen Aufbau eines Prüfadapters mi', acht positionierbaren Prüfarmen,
Fig.2 zeigt einen einzelnen Positionierarm mit Einsteilvorrichtung, to
F i g. 3 zeigt das Bewegungsprinzip eines Positionierarmes.
Für eine universelle Verwendbarkeit der Prüfeinrichtung ist es erforderlich, die Prüfkontakte bei jeder neuen
Leiterbaugruppensorte in der Position auf die erforderliehen Punkte der Leiterbaugruppe einzustellen. Um
dies konstruktiv auf möglichst einfache Weise durchführbar zu machen, werden Schienen 1 vorgesehen, die
sich sowohl in Achsialrichtung bewegen, als auch um einen Lagerpunkt 6 drehen lassen. Diese Schienen, im
folgenden Text Positionierarme genannt, flögen an ihrem schaltungsplattenseitig gelegenem Ende senkrecht
zu ihrer Bewegungsart federnde Kontaktstifte. Die Bewegungsarten sind sowohl eine ein Zug- wie auch
eine Schwenkbewegung. Dargestellt ist der prinzipielle Bewegungsvorgang in der Prinzipskizze nach Fig.3.
Der Positionierarm ist in einem Lager 6 so gehalten, daß er diese Schwenk- und Auszugsbewegung durchführen
kann. Mit 7 sind Anschläge sowohl für die Schwenk- als auch für die Zugbewegung bezeichnet. Die Feder 5 soll Jo
andeuten, daß der Positionierarm aus jeder einmal eingestellten Lage nach Lösen einer Arretierung in die
Ausgangslage von sich aus zurückkehrt Die Ausgangslagen sind durch die Anschläge 7 gegeben.
Wie die F i g. 2 zeigt, hat das Lager 6 für die Heb- und Schwenkbewegung einen Achszapfen, dessen Ende eine
elektromechanische Bremse 10 bildet. Wird diese Bremse betätigt, so kann der Arm in der eingestellten
Lage fixiert werden. Die Einstellung des Armes selbst geschieht an seinem Frontende 3. Dort ist einerseits der «
Kontakt 2, der auf die Leiterbaugruppe 11 aufgesetzt werden soll angeordnet, als auch auf der anderen Seite
eine Mitnahmevorrichtung 4. Die Mitnahmevorrichtung 4 besteht im einfachsten Fall, wie in der Zeichnung
angedeutet ist, aus einer kegeligen Aushöhlung, der «
Führung für den Kontaktstift 2. In diese kegelige Aushöhlung kann ein passend geformter Mitnehmerslift
9 eingreifen. Der Mitnehmerstift 9 greift in der Ruhestellung des Armes 1 in das Ende des betreffenden
Positionierarms, d. h. in den Kontaktstift ein und führt diesen nach Lösen der elektromechanischen Bremse 10
an den entsprechenden Prüfpunkt auf der Leiterbaugruppe. Nach Festlegen der Position wird d;e
Arretierung in Form der elektromechanischen Bremse
10 ausgelöst und daraufhin wird der Mitnehmerstift außer Eingriff gebracht. Ein so eingestellter Arm 1
bleibt also in der erforderlichen Prüfstellung positioniert
Diese Einstellungen wiederholen sich von Arm zu Arm bis die erforderlichen Prüfpunkte auf der
Leiterbaugruppe eingestellt sind.
Zur Rückstellung der Einrichtung kann eine Rückzugvorrichtung in Form einer Federrolle Sa mit Seilzug je
Positionierann vorgesehen werden.
Die eigentliche Positioniereinrieb ■ ;ng besteht aus
einem sogenannten Koordinatentisch. D?r Koordinatentis.ch
erlaubt die Einstellung des Mitnehmerstifts 9 auf beliebige Punkte einer Schaltungsplatte. Angedeutet
ist dies durch strichlierte Linien auf der Schaltungsplatte
11 gemäß Fig. 1. Zur Einstellung dieser Positioniereinrichtung
kann eine manuelle Vorrichtung benutzt werden, oder besser nach dem heutigen Stande der
Technik eine elektronische rechnergesteuerte Anlage. Die letztere kann mittels eines Lochst! eifens für jede
Art von zu prüfenden Leiterbaugruppen programmiert werden.
Diese Einrichtung kann demzufolge jeder elektrischen Ausführung einer Leiterbaugruppe angepaßt
werden. Bei entsprechender Ausführung kann sie auch verschiedene Größen von Leiterbaugruppen abtasten..
Dies ist durch entsprechende Länge und Anordnung der Positionierarme 1 möglich. Da die Meßleitungen 12, wie
in Fig.2 angedeutet, sowieso als flexible Leitungen
ausgebildet sind, beengen sie die Fläche der abzutastenden Baugruppe kaum. Die Kontakte 2 sind zweckmäßig
als Jtecknadelförmig aufsetzende in Achsialrichtung gefederte Stifte ausgebildet. Es wird so erreicht, daß
dünne isolierende Überzüge auf der als Druckschaltung ausgebildeten Leiterbaugruppe durchstoßen werden.
Die Einstellung der Federung erfolgt zweckmäßig entsprechend der Stabilität der zu prüfenden Leiterbaugruppe
11.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten, bei der die zu prüfende Schaltungsplatte
in einen Rahmen einspannbar ist und damit gegen eine mit in einer Ebene befindlichen
Kontaktstifte versehene Prüfeinrichtung durch Heben oder Schwenken bewegbar ist, wo die zu
prüfenden Punkte auf der Leiterplatte zur Prüfung mit den vorzugsweise federnden Kontaktstiften
elektrisch in Berührung kommen, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfeinrichtung aus
mehreren schienenförmigen Armen (1) besteht, die in rings um den Rand des Rahmens der Leiterplatte
(11) befindlichen Lagern (6) ausziehbar und schwenkbar gelagert sind und an ihren der
Schaltungsplatte (11) zu gelegenen Enden (3) mit senkrecht zur Schaltungsplatte federnd gelagerten
Kontakten \2) versehen sind und ferner dort eine Mitnahmeeinrichtung (4) haben, in die ein koordinatenförmig
bewegbarer Mitnehmer (9) einer gesteuerten Positioniereinrichtung (8) eingreifen kann,
der zur Einstellung der Kontakte (2) der einzelnen Arme (1) auf die zu prüfenden Positionen auf der
Leiterplatte (11) nacheinander die Mitnahmevorrichtungen (4) der einzelnen Arme (1) kreuzungsfrei
auf die jeweilige Position einrichtet, worauf der jeweilige Arm (1) durch eine Klemmvorrichtung (10)
für die Prüfvorgänge arretierbar ist, für andere Prüfvorgänge jedoch wieder neu einstellbar ist
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Positioniereinrichtung (8) aus einem Koordinatenkreuztisch besteht, auf der ein
Mitnehmerstift (9) für die Mitnahmevorrichtungen (4) angeordnet ist, der für jeden Einstellvorgang
positionsmäßig programmierbar ist, und daß dort jeweils in die in Ruhestellung befindliche Mitnahmevorrichtung
(4), vorzugsweise in Form einer Buchse, eingreift, die Einstellung vollzieht, den Arm arretiert
und dann die Mitnahmevorrichtung (4) wieder verläßt und auf die nächste Einstellung vorbereitet
wird.
3. Einrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Arme
(1) in der Dreh- und Zugrichtung gegen einen Anschlag (7) für die Ruhestellung der Kontakte (3)
federverspannt sind und daß die zugehörigen Lager (6) jeweils eine Bremse (10) gegen die Bewegungen
der Arme (1) vom Mitnehmer (9) lösbar und nach dem Einstellen wieder arretierbar ist.
4. Einrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Bremse
(10) selbstarretierend insoweit ist, als die Arme (1) mit ihren Kontakten (2) nur bei Eingriff des
Mitnehmers (9) lagenveränderbar sind.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19782813541 DE2813541C2 (de) | 1978-03-29 | 1978-03-29 | Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19782813541 DE2813541C2 (de) | 1978-03-29 | 1978-03-29 | Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2813541B1 DE2813541B1 (de) | 1979-08-16 |
| DE2813541C2 true DE2813541C2 (de) | 1980-04-24 |
Family
ID=6035668
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19782813541 Expired DE2813541C2 (de) | 1978-03-29 | 1978-03-29 | Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE2813541C2 (de) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2939901C2 (de) * | 1979-10-02 | 1982-12-30 | W.C. Heraeus Gmbh, 6450 Hanau | Vorrichtung zur Untersuchung und/oder Qualitätsprüfung von metallischen Stoffen hinsichtlich ihrer Eignung als Oberflächenschicht-Material für elektrische Kontakte |
-
1978
- 1978-03-29 DE DE19782813541 patent/DE2813541C2/de not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2813541B1 (de) | 1979-08-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0263244B1 (de) | Vorrichtung zum elektronischen Prüfen von Leiterplatten mit Kontaktpunkten in extrem feinem Raster (1/20 bis 1/10 Zoll) | |
| DE3348118C2 (de) | ||
| DE2811775C3 (de) | Prüfstand für gedruckte Schaltungsplatten | |
| DE2933862A1 (de) | Vorrichtung zur elektronischen pruefung von leiterplatten. | |
| DE2628428C3 (de) | Adapter zum Verbinden von Anschluß- und/oder Prüfpunkten einer Baugruppe mit einer Mefischaltung | |
| DE2707900B2 (de) | Universal-Adaptiervorrichtung für Geräte zur elektrischen Prüfung unterschiedlicher gedruckter Schaltungen | |
| EP2891527A1 (de) | Biegevorrichtung für Semiflex-Leiterplatten | |
| EP0278073B1 (de) | Prüfstift für einen Adapter eines Leiterplattenprüfgerätes | |
| EP0222345B1 (de) | Verfahren zur Prüfung einer Leiterplatte | |
| EP0224471A1 (de) | Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten | |
| EP0065299A2 (de) | Be- und Entstückautomat für Bauelemente | |
| EP0149776B1 (de) | Adapter für ein Leiterplattenprüfgerät | |
| DE2905175C2 (de) | Adaptiervorrichtung für das Verbinden von zu prüfenden Elektronikbaugruppen mit Prüfgeräten | |
| DE2800775C2 (de) | ||
| DE2813541C2 (de) | Einrichtung zur Prüfung von gedruckten Schaltungsplatten | |
| DE69803981T2 (de) | Vorrichtung zum fernmanipulieren von steckern und kupplungen | |
| DE3511821C1 (de) | Adapter zur Aufnahme von beidseitig zu prüfenden Leiterplatten | |
| DE3136896A1 (de) | Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte | |
| EP0877259A2 (de) | Vorrichtung zum Prüfen einer Kontaktinsel und Leiterbahnen aufweisenden elektrischen Leiterplatte | |
| EP3266548A1 (de) | Steckerlöthilfe | |
| EP0564447A1 (de) | Positioniereinrichtung bei der Bestückung von Leiterplatten | |
| DE3627275A1 (de) | Vorrichtung zum messen eines spiels um einen zentrierstift fuer die oberen inneren ausruestungen eines druckwasser-kernreaktors | |
| DE102018107174B3 (de) | Kontaktiervorrichtung | |
| DE3113375A1 (de) | Adaptereinrichtung und verfahren zur elektrischen verdrahtungspruefung von unbestueckten leiterplatten | |
| DE69512231T2 (de) | Testsystem für bestückte und unbestückte schaltungsplatten |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |