DE3402684A1 - Einrichtung zum abnehmen von spurfolgefehler-signalen - Google Patents

Einrichtung zum abnehmen von spurfolgefehler-signalen

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Description

Canon Kabushiki Kaisha
Tokyo, Japan
Einrichtung zum Abnehmen von Spurfolgefehler-Signalen
Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zum Abnehmen von Spurfolgesignalen, die bei einem optischen Kopf für die Wiedergabe von auf einem Informationsträger aufgezeichneten Informationen mittels Licht anwendbar ist.
Der vorstehend genannte optische Kopf weist üblicherweise eine Lichtquelle wie eine Laser-Lichtquelle oder dergleichen, ein optisches System mit einer Kollimatorlinse, einem Objektiv usw. und ein Lichtempfangselement wie eine PIN-Fotodiode oder dergleichen auf. Die aus der Lichtquelle austretenden Lichtstrahlen werden auf einem Informationsträger wie einer Platte konvergiert und durch die auf dem Informationsträger aufgezeichnete Information optisch moduliert, wonach mittels des Lichtempfangselements das modulierte Licht fotoelektrisch umgesetzt wird, wodurch die aufgezeichnete Information in elektrische Signale umgesetzt wird. Dieser optische
A/22
Dresdner Bank (München) Kto 3939844 Poetscheck (München) K(0.670-43-804
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Kopf ist bei einer optischen Videoplatte, einer optischen Digital-Schallplatte, einer optischen Införmationsdatei oder dergleichen anwendbar. Die aufgezeichnete Information besteht üblicherweise aus Feinmustern, die konzentrisch oder spiralenförmig an einem drehbaren scheibenförmigen Informationsträger (einer Platte) ausgebildet sind. Diese Muster sind durch Oberflächen-Unebenheiten, teilweise ausgebildete Öffnungen, Änderungen des Reflexionsfaktors, Unterschiede in der Magnetisierungsrichtung oder dergleichen gebildet.
Bei jedem Anwendungsfall des optischen Kopfs müssen die Muster sehr fein sein, um die Aufzeichnungsdichte zu verbessern. Daher ist es bei der Wiedergabe dieser auf dem Aufzeichnungsträger aufgezeichneten Information erforderlich, daß die konvergierten Strahlen genau der Spur aus der Aufreihung der Feinmuster folgen. Im Falle der vorstehend genannten Platte wird beispielsweise durch irgendeine Exzentrizität oder dergleichen mit der Drehung der Platte die Spur in radialer Richtung zur Platte versetzt. Damit selbst bei einer Exzentrizität die Spur abgetastet wird, ist eine Vorrichtung zum Bewegen der konvergierten Strahlen oder der Platte erforderlich, was wiederum die Erfassuing bzw. Abnahme eines Spurfolgefehler-Signals notwendig macht, welches die Abweichung der konvergierten Strahlen aus der Spur anzeigt .
Es sind folgende Einrichtungen zum Abnehmen von Spurfolgefehler-Signalen bekannt:
(1) Abnahmeeinrichtung nach dem Dreistrahlen-System
Die Fig. 1 der Zeichnung zeigt ein Beispiel für diese Einrichtung, bei dem aus einer Lichtquelle 1 wie einem
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Halbleiter-Laser austretende Lichtstrahlen mittels einer Kollimatorlinse 2 kollimiert werden und die kollimierten Strahlen durch ein Beugungsgitter 3 in drei Lichtstrahlen aufgeteilt werden. Diese aufgeteilten Lichtstrahlen werden nach dem Hindurchtreten durch einen Halbspiegel 4 mittels eines Objektivs 5 an einem Informationsträger 6 wie einer Platte konvergiert. Hierbei fällt gemäß der Darstellung in Fig. 2 eines der konvergierten Strahlenbündel auf die im wesentlichen mittige Stelle eines Feinmusters 7 an dem Informationsträger 6, um einen primären bzw. Hauptstrahlenpunkt 8 zu bilden, während die übrigen beiden Strahlenbündel in zu der Abtastrichtung des Feinmusters 7 senkrechten Richtungskomponenten über das Feinmuster 7 verteilt werden, um jeweils sekundäre bzw. Nebenstrahlenpunkte 9 und 10 zu bilden.
Das Reflexionslicht von dem auf die im wesentlichen mittige Stelle des Musters fallenden Strahlenpunkt 8 wird durch das Feinmuster 7 optisch moduliert und über das Objektiv 5, den Halbspiegel 4 und eine Sammellinse 11 mittels eines fotoelektrischen Wandlers 12 wie einer PIN-Fotodiode fotoelektrisch umgesetzt, wodurch gemäß der Darstellung in der Fig. 3 aus einem Strom/Spannungsumsetzer 13 ein Informationssignal V. abgegeben wird. Andererseits werden die Reflexionslichtstrahlen aus den übrigen beiden konvergierten Lichtstrahlenbündeln durch das Feinmuster optisch moduliert und diese modulierten Lichtstrahlen jeweils mittels fotoelektrischer Wandler 14 und 15 fotoelektrisch umgesetzt. Diese Um-Setzungssignale werden jeweils Strom/Spannungsumsetzern 16 bzw. 17 zugeführt und dann Tiefpaßfiltern 18 bzw. 19 zum Unterdrücken der Frequenzkomponenten des Informationssignals V. zugeführt. Darauffolgend werden, die Ausgangssignale der Tiefpaßfilter 18 und 19 an einen Differenzverstärker 20 angelegt, um die Differenz zwi-
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sehen diesen Signalen zu erfassen und dadurch ein Spurfolgefehler-Signal Vß zu erhalten. In der Fig. 1 ist ein optischer Kopf 21 mit einer strichpunktierten Linie dargestellt, während in der Fig. 2 mit einem Pfeil X die Bewegungsrichtung des Feinmusters 7 dargestellt ist.
(2) Abnahmeeinrichtung nach dem Überlagerungs-System
Die Fig. 4 zeigt ein in der JP-OS 3236/1982 beschriebenes Beispiel, bei dem ein einziges Strahlenbündel auf einem Informationsträger konvergiert wird und das durch das Feinmuster optisch modulierte Lichtstrahlenbündel auf einen vierteiligen fotoelektrischen Wandler 22 gerichtet wird. Der Wandler 22 weist vier Elemente 22A, 22B, 22C und 22D auf, die zwei Paare diagonal einander gegenüberstehender Elemente bilden. Die Ausgangssignale der Elemente eines jeweiligen Paars werden mittels eines Addierers 23A bzw. 23B addiert. Dann werden an den Ausgangssignalen der Addierer 23A und 23B in einem Subtrahierer 24A und einem Addierer 24B ein Subtraktionsbzw. Additionsvorgang ausgeführt, um ein Differenzsignal DL bzw. ein Informationswiedergabesignal RF zu erhalten. Danach wird mittels eines Impulsgenerators '25 bei dem Nulldurchgang des Informationswiedergabesignals RF ein Impuls erzeugt und unter Verwendung desselben als Abfrageimpuls das Differenzsignal DL mit einer Abfrage/Halteschaltung 26 abgefragt und gespeichert. Das gespeicherte Signal wird nach dem Filtern mittels eines Tiefpaßfilters 27 als Spurfolgefehler-Signal Vc abgenommen.
(3) Abnahmeeinrichtung nach dem Gegentakt-System
Bei dieser Einrichtung wird ein einziges Lichtstrahlenbündel auf einem Informationsträger konvergiert und
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das mittels des Feinmusters optisch modulierte Lichtstrahlenbündel wird auf einen zweiteiligen fotoelektrischen Wandler gerichtet. Als Spurfolgefehler-Signal wird die Differenz zwischen den Ausgangssignalen der beiden Elemente des fotoelektrischen Wandlers abgenommen, während als Informationssignal die Summe der beiden Ausgangssignale erfaßt wird.
Bei diesen herkömmlichen Einrichtungen bestehen die folgenden verschiedenen Probleme:
Bei der Abnahmeeinrichtung nach (1) werden die aus der Lichtquelle austretenden Lichtstrahlen in drei Strahlenbündel aufgeteilt. Daher kann bei jedem der aufgeteilten Lichtstrahlenbündel die Lichtmenge nicht gesteigert werden, was ein Hindernis zur Erzielung eines höheren Nutzsignal/Störsignal-Verhältnisses bzw. Störabstands bei dem Erzeugen des Abnahmesignals darstellt. Bei der Abnahmeeinrichtung nach (2) ist insbesondere dann, wenn die Frequenz des Informationssignals hoch ist, für das Abfragen und Speichern in Bezug auf die Lichtstrahlen ein komplizierter Aufbau erforderlich.
Bei der Abnahmeeinrichtung nach (3) ist der fotoelektrisehe Wandler gewöhnlich an einer Stelle angeordnet, die nicht zu dem Strahlenpunkt auf dem Informationsträger optisch konjugiert ist. Daher wird bei einer Bewegung des Informationsträgers in den zu dessen Oberfläche senkrechten Richtungen der optische Weg so verändert,' daß die Form des auf den fotoelektrischen Wandler projizierten Musters verändert wird. Hierbei ist es schwierig, irgendeinen Spurfolgefehler, genau zu erfassen. Falls zur Lösung dieses Problems der fotoelektrischer Wandler in optischer Konjugation zu dem Strahlenpunkt auf dem Informationsträger angeordnet wird, ist ein längerer
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1 optischer Weg erforderlich, da zum gesonderten Erfassen der optischen Modulation für den Spurfolgefehler zwei fotoelektrische Wandlerelemente normaler Größe notwendig
sind.
5
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Einrichtung zum Abnehmen von Spurfolgefehler-Signalen zu schaffen, die einfache und kompakte optische und elektrische Systeme aufweist und die bei der Abnahme eines Informationssignals und eines Spurfolgefehler-Signais von einem Informationsträger eine höhere Zuverlässigkeit hat.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß mit einer Einrichtung zum Abnehmen von Spurfolgefehler-Signalen gelöst, die eine Einrichtung zum Bestrahlen eines auf einem Informationsträger aufgezeichneten Informationsmusters mit ersten und zweiten Lichtstrahlen, wobei die zweiten Lichtstrahlen auf das Informationsmuster an einer Stelle auftreffen, die von der Einfallstelle der ersten Lichtstrahlen zumindest in der zur Richtung der Abtastung des Informationsmusters senkrechten Richtung einen Abstand hat, eine Einrichtung zum voneinander unabhängigen fotoelektrischen Umsetzen der ersten und der zweiten Lichtstrahlen nach deren Modulation durch das Informationsmuster, eine Einrichtung, die zum Erzeugen eines ersten und eines zweiten Abnahmesignals an den jeweiligen Ausgangssignalen de.r fotoelektrischen Wandlereinrichtung eine Hüllkurvenerfassung ausführt, und eine Einrichtung zum Ermitteln eines Spurfolgefehler-Signals aus dem
ersten und dem zweiten Abnahmesignal aufweist.
Die Erfindung wird nachstehend anhand eines Ausführungsbeispiels unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert.
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Fig. 1 ist eine schematische Darstellung, die ein Beispiel für den optischen Kopf bei der herkömmlichen Abnahmeeinrichtung nach dem Dreistrahlen-System zeigt.
5
Fig. 2 ist eine Draufsicht, die die Lageverhältnisse zwischen Lichtstrahlenpunkten und einem Feinmuster bei der in Fig. 1 gezeigten Einrichtung zeigt.
10
Fig. 3 ist ein Blockschaltbild, das den Aufbau einer Signalaufbereitungseinheit der in Fig. 1 gezeigten Einrichtung zeigt.
Fig. 4 ist ein Blockschaltbild, das den Aufbau einer Signalaufbereitungseinheit bei der herkömmlichen Abnahmeeinrichtung nach dem Überlagerungs-System zeigt.
Fig. 5 ist eine schematische Ansicht, die das optische System der erfindungsgemäßen Einrichtung gemäß einem Ausfuhrungsbeispiel zeigt.
Fig. 6 ist eine Draufsicht, die ein Beispiel für Lagezusammenhänge zwischen Lichtstrahlenpunkten
und einem Feinmuster bei der in Fig. 5 gezeigten Einrichtung zeigt.
Fig. 7 ist ein Blockschaltbild, das ein Beispiel für den Aufbau einer Signalaufbereitungseinheit
der in Fig. 5 gezeigten Einrichtung zeigt.
Fig. 8 zeigt Beispiele von Signalkurvenformen an jeweiligen Teilen der in Fig. 7 gezeigten Einheit.
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* Nach Fig. 5, die das optische System der erfindungsgemäßen Einrichtung gemäß einem Ausführungsbeispiel zeigt, werden aus einer Lichtquelle 31 wie einem Halbleiter-Laser austretende Lichtstrahlen mittels einer Kollimator- ^ linse 32 kollimiert und durch . ein Beugungsgitter 33 in zwei LichtstrahlenbUndel aufgeteilt. Hierbei sind durch die Verwendung eines Beugungsgitters mit Richtwirkung (nämlich eines Beugungsgitters, das nur das in positiver erster Ordnung gebeugte Licht abgibt) zwei
^Q LichtstrahlenbUndel ausreichender Stärke erzielbar. Alternativ kann das Beugungsgitter durch ein Keilprisma ersetzt werden. Diese beiden Lichtstrahlenbündel werden nach dem Hindurchtreten durch einen Halbspiegel 34 mittels eines Objektivs 35 auf einem Informationsträger 36 wie einer Platte konvergiert. An diesem Informationsträger 36 werden gemäß der Darstellung in Fig. 6 ein primärer bzw. Hauptstrahlenpunkt 38, der im wesentlichen den Mitten jeweiliger Feinmuster 37 folgt, und auch ein einziger sekundärer bzw. Nebenstrahlenpunkt 40 gebildet, der der Spur aus den Feinmustern 37 unter teilweiser Überlappung der Spur folgt.
Die aus den primären und sekundären Strahlenpunkten 38 und 40 reflektierten Lichtstrahlen werden durch die Feinmuster 37 optisch moduliert und über das Objektiv 35, den Halbspiegel 34 und eine Sammellinse 41 jeweils mittels fotoelektrischer Wandler 42 bzw. 45 wie PIN-Fotodioden auf fotoelektrische Weise umgesetzt.
Die Fig. 7 zeigt ein Beispiel für die Gestaltung einer Signalaufbereitungseinheit der erfindungsgemäßen Einrichtung gemäß dem Ausführungsbeispiel, wobei mit 48A und 48B Strom/Spannungsumsetzer zum jeweiligen Umsetzen der Ströme aus den zugeordneten fotoelektrischen Wandlern 42· bzw. 45 in Spannungen bezeichnet sind, mit 49A und
'402684
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49B jeweils an die Ausgänge der zugeordneten Umsetzer 48A bzw. 48B angeschlossene Hüllkurvendetektoren bezeichnet sind, mit 50 ein Spannungsvergleicher für das Vergleichen eines Ausgangssignals V„ des Hüllkurvendetektors 49B mit einer Bezugsspannung V. bezeichnet ist, mit 51 eine Addier/Subtrahierschaltung zum Ausführen eines Addiervorgangs bzw. eines Subtrahiervorgangs bezüglich eines Ausgangssignals V„ des Hüllkurvendetektors 49A bzw. einer Bezugsspannung VH bezeichnet ist und mit 52 ein Polungsumschalter zum Umschalten der Polung eines Ausgangssignals V- der Addier/Subtrahierschaltung 51 durch eine Spannung V„ aus dem Spannungsvergleicher 50 bezeichnet ist.
Die Funktionsweise der in den Fig. 5 bis 7 gezeigten erfindungsgemäßen Einrichtung wird nun anhand der in Fig. 8 gezeigten Kurvenformen beschrieben.
Die aus den fotoelektrischen Wandlern 42 und 45 erzielten Ausgangsströme werden jeweils an den Strom/Spannungsumsetzern 48A bzw. 48B der Strom/Spannungsumsetzung unterzogen, wodurch Wiedergabeausgangssignale Vn und V„ gemäß der Darstellung in Fig. 8(A) bzw. Fig. 8(D) gewonnen werden. In diesem Fall ist das Wiedergabeausgangssignal V das Informationssignal. Diese Wiedergabeausgangssignale V und V„ werden jeweils an den Hüllkurvendetektoren 49A bzw. 49B der HUllkurvenerfassung unterzogen, wodurch Hüllkurvensignale V„ bzw. V„ gemäß der Darstellung in Fig. 8 (B) bzw. 8 (E) gebildet werden.
Durch die Addier/Subtrahierschaltung 51 wird von dem Hüllkurvensignal V„ ein vorgewähltes Bezugswertsignal
V„ subtrahiert, um ein Fehlersignal VT zu erhalten, welches an den Polungsumschalter 52 angelegt wird (Fig. 8(B) und (C)). Dieses Signal V1 stellt die Amplitude
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bzw. das Ausmaß des Spurfolgefehlers dar. Andererseits wird mit dem Spannungsvergleicher 50 das Hüllkurvensignal V„ mit einem vorgewählten Bezugswertsignal VT verglichen, um ein Polungssignal Vj. zu erhalten (Fig. 8(E) und (F)). Dieses Polungssignal VK stellt die Polarität bzw. Richtung des Spurfolgefehlers dar. Der Polungsumschalter 51 schaltet mit dem Polungssignal V die Polarität des Fehlersignals VT um, um damit ein Spurfolgefehler-Signal V. zu bilden (Fig. 8(G)).
Li
Gemäß der vorstehenden Beschreibung wird bei der erfindungsgemäßen Einrichtung der Bildträger mit einem primären Strahlenbündel und einem einzigen sekundären Strahlenbündel bestrahlt, wobei diese Strahlenbündel Strahlenpunkte ergeben, die durch das Feinmuster moduliert werden. Dann wird die optische Modulation eines jeden der Strahlenpunkte mittels des zugeordneten der gesonderten fotoelektrischen Wandler erfaßt, deren Ausgangssignale der Hüllkurvenerfassung und den vorbestimmten Rechenvorgangen unterzogen werden. Auf diese Weise können das Informationssignal und das Spurfolgefehler-Signal mit einem einfachen und kompakten Aufbau abgenommen werden.
Weiterhin wird bei der erfindungsgemäßen Einrichtung im Vergleich zu der herkömmlichen Abnahmeeinrichtung nach dem Dreistrahlen-System die Lichtmenge eines jeden der Strahlenbündel gesteigert. Darüberhinaus ist bei der erfindungsgemäßen Einrichtung im Vergleich zu der herkömmlichen Abnahmeeinrichtung nach dem Überlagerungs-System eine Vereinfachung der Signalaufbereitungseinheit gewährleistet. Ferner ist die erfindungsgemäße Einrichtung im Vergleich zu der herkömmlichen Abnahmeeinrichtung nach dem Gegentakt-System gegenüber Einflüssen durch irgendeine Bewegung des Informationsträgers in den zu dessen Oberfläche senkrechten Richtungen weniger empfindlich.
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Die erfindungsgemäße Einrichtung ist nicht auf die Form des vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiels beschränkt, sondern erlaubt verschiedenerlei Abwandlungen. Beispielsweise kann die Kombination aus der einzigen Lichtquelle mit dem Beugungsgitter zum Bilden mehrerer Strahlenpunkte auf einfache Weise durch mehrere Lichtquellen ersetzt werden. Ferner sind die von dem Feinmuster auf dem Informationsträger modulierten Lichtstrahlen nicht auf reflektierte Lichtstrahlen beschränkt, sondern können auch durchgelassene Lichtstrahlen sein.
Darüberhinaus kann der Informationsträger (das Aufzeichnungsmaterial) irgendeine beliebige Form haben, wie beispielsweise die Form einer Platte, eines Bands, einer Trommel, einer Karte usw.
Ein Spurfolgefehler-Signal wird dadurch abgenommen, daß ein auf einem Informationsträger aufgezeichnetes Informationsmuster mit einem ersten und einem zweiten Lichtstrahlenbündel bestrahlt wird, wobei das zweite Lichtstrahlenbündel auf dem Informationsträger an einer Stelle einfällt, die von der Einfallstelle des ersten LichtstrahlenbUndeIs zumindest in der zur Richtung der Abtastung des Informationsmusters senkrechten Richtung einen Abstand hat, daß die durch das Informationsmuster modulierten Lichtstrahlenbündel unabhängig voneinander fotoelektrisch umgesetzt werden, daß an den durch die Umsetzung erzielten Ausgangssignalen eine Hüllkurvenerfassung ausgeführt wird und daß nach durch die Hüllkurvenerfassung gebildeten Ausgangssignalen das Spurfolgefehler-Signal erzeugt wird.
AH
Leerseite

Claims (6)

  1. T* η.. t£ Patentanwälte und
    IEDTKE — DUHLING "VfVNNE--. .: . Vertreter beim EPA
    -^ I-4 f<~ ~~ - - - " : : ";" Dipl.-lng. H. Tiedtke
    Gru pe - Pellmann - Gräms ' ' oipichem. α
    Dipt.-Ing. R. Kinne Dipl.-lng. R Grupe Dipl.-lng. B. Pellmann 3402684 Dipl.-lng. K. Grams
    Bavariaring 4, Postfach 202403 8000 München 2
    Tel.: 089-539653 Telex: 5-24845 tipat Telecopier: O 89 / 537377 cable: Germaniapatent München
    26. Januar 1984 DE 3648
    Patentansprüche
    Einrichtung zum Abnehmen von Spurfolgefehler-Signalen, gekennzeichnet durch eine Bestrahlungsvorrichtung (31 bis 35) zum Bestrahlen eines auf einem Aufzeichnungsträger (36) aufgezeichneten Inforrnationsmusters (37) mit ersten und zweiten Lichtstrahlen, wobei die zweiten Lichtstrahlen auf den Informationsträger an einer Stelle fallen, die von der Einfallstelle der ersten Lichtstrahlen zumindest in der zur Richtung der Abtastung des Informationsmusters senkrechten Richtung Abstand hat, eine Wandlereinrichtung (42, 45) zum voneinander unabhängigen fo toelektrischen Umsetzen von durch die Modulation der ersten und der zweiten Lichtstrahlen mittels des Informationsmusters erzielten Lichtstrahlen, eine Hüllkurvenerfassungseinrichtung (48, 49), mit der die Hüllkurven der Ausgangssignale der fotoelektrischen Wandlereinrichtung erfaßbar sind, um ein erstes und ein zweites Abnahmesignal (V_, Vn) zu erzeugen, und eine Signalformungseinrichtung (50 bis 52) zum Erzeugen eines Spurfolgefehler-Signals (VT ) aufgrund des ersten und des zweiten Abnahmesignals.
  2. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalformungseinrichtung (50 bis 52) eine Addier/Subtrahiereinrichtung (51), mit der an dem ersten
    A/22
    Dresdner Bank (München) KIo. 3 939 844 Bayer. Vereinsbank (München) Kto. 508 941 Postscheck (München) Kto. 670-43-804
    -2- DE 3648
    Abnahmesignal (V„) und einem vorgewählten ersten Bezugswertsignal (V1.) Additions- und Subtrakationsvorgänge aus-
    führbar sind, um ein Fehlersignal (V1) zu erzeugen, eine Vergleichseinrichtung (50), die das zweite Abnahmesignal (Vn) mit einem vorgewählten zweiten Bezugswertsignal (VT)
    (j J
    vergleicht, um ein Polungssignal (V„) zu erzeugen, und einen Polungsumschalter (52) zum Umschalten der Polung des Fehlersignals entsprechend dem Polungssignal aufweist.
  3. 3. Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß aus den durch die ersten Lichtstrahlen gebildeten modulierten Lichtstrahlen ein Informationssignal (VD) reproduzierbar ist.
  4. 4. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Bestrahlungseinrichtung (31 bis 35) eine Lichtquelle (31) und eine Teilervorrichtung (33) zum Aufteilen der aus der Lichtquelle austretenden Lichtstrahlen in die ersten und die zweiten Lichtstrahlen aufweist.
  5. 5. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die fotoelektrische Wandlereinrichtung zwei Fotodetektoren (42, 45) aufweist, die jeweils den ersten bzw. den zweiten Lichtstrahlen entsprechen .
  6. 6. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Hüllkurvenerfassungseinrichtung (48, 49) für das Erzeugen der Abnahme signale (V-, V_) zwei an die fotoelektrische Wandlereinrichtung
    F G
    (42,45) angeschlossene Sätze aus jeweils einem Strom/
    Spannungsumsetzer (48) und einem Hüllkurvendetektor (49) aufweist.
    35
DE19843402684 1983-01-31 1984-01-26 Einrichtung zum abnehmen von spurfolgefehler-signalen Granted DE3402684A1 (de)

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