DE3230208A1

DE3230208A1 - Schaltungsanordnung zur auswertung eines von einem pruefling, z.b. einer flachbaugruppe, abgegebenen testsignals

Info

Publication number: DE3230208A1
Application number: DE19823230208
Authority: DE
Inventors: Tomislav 8000 München Bilusic; Rolf Dipl.-Ing. 8033 Krailling Tannhäuser; Anton Dipl.-Ing. 8000 München Vuksic
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1982-08-13
Filing date: 1982-08-13
Publication date: 1984-02-23
Also published as: CH660529B; DE3230208C2; ATA267083A; AT391952B

Description

Schaltungsanordnung zur Auswertung eines von einem
Prüfling, z.B. einer Flachbaugruppe, abgegebenen Testsignals Die Erfindung bezieht sich auf eine Schaltungsanordnung zur Auswertung eines von einem Prüfling, z.B. einer Flachaugruppe, abgegebenen Testsignals, das bezüglich der innerhalb eines Meßzeitfensters auftretenden Anzahl von Pegeiwechseln (Wechselistwert) und des am Ende des Meßzeitfensters gegebenen Pegel zustandes (Zustands-Istwert)jeweils mit einem Sollwert verglichen wird.
Prüflinge mit einer Vielzahl von elektronischen Bauelementen, z.B. Flachbaugruppen, müssen vor dem Einbau z.B. in ein Datenverarbeitungssystem auf Fehlerfreiheit geprüft werden. Dazu werden sie mit Hilfe eines Prüfautomaten, der die zur Prüfung der Flachbaugruppe erforderlichen Prüfsignale erzeugt und die von der Flachbaugruppe abgegebenen Ausgangssignale überprüft, getestet. Wird dabei festgestellt, daß der Prüfling einen Fehler enthält,muß der Fehlerort gefunden werden. Dazu kann das sog.Fehlerpfadverfahren verwendet werden. Ausgehend vom gestörten Ausgangsstift des Prüflings wird mit Hilfe eines Tastkopfes, mit dem der elektrische Zustand einer elektrischen Leitung abgetastet werdenfkann, der Fehlerpfad auf dem Prüfling bis zum gestörten Leitungsknoten verfolgt. Das dem elektrischen Zustand auf der Leitung proportionale Ausgangssignal des Tastkopfes, im folgenden Testsignal genannt,wird in einer Auswerteschaltung mit einem Sollwert verglichen und dadurch festgestellt, ob das vom Tastkopf abgenommmene Testsignal mit dem Sollwert über- einstimmt oder nicht. Dieser Vorgang wiederholt sich solange, bis bei einem Schaltkreis auf dem Prüfling alle Eingänge richtige Signalfolgen aufweisen, der Ausgang abedgestört ist. In diesem Falle ist der Fehlerort auf dem Prüfling gefunden worden.
Erfindung Die der/zugrundeliegende Aufgabe besteht darin, eine Schaltungsanordnung zur Auswertung eines von einem Prüfling abgegebenen Testsignals anzugeben, mit der festgestellt werden kann, ob die Anzahl der Pegelwechsel des Testsignals in einem Meßzeitfenster und der Pegelzustand des Testsignals am Ende des Meßzeitfensters mit vorgegebenen Sollwerten übereinstimmen. Diese Aufgabe wird bei einer Schaltungsanordnung der eingangs angegebenen Art dadurch gelöst, daß mindestens ein erster Komparator mit einer ersten Referenzspannung und ein zweiter Komparator mit einer zweiten gegenüber der ersten Referenzspannung positiveren Referenzspannung vorgesehen sind, die jeweils das Testsignal mit der Referensspannung vergleichen und ein erstes und zweites Komparatorsignal abgeben, wenn das Testsignal die jeweilige Referenzspannung überschreitet, daß eine Anordnung vorgesehen ist, die aus digital kodierten Werten die Referenzspannungen erzeugt, daß ein Wechselzähler vorgesehen ist, der jeweils um einen Schritt weitergeschaltet wird, wenn das Testsignal entweder die beiden Referenzspannungen überschreitet oder unterschreitet (Pegelwechsel), daß ein Sollwertspeicher vorgesehen ist, in dem die Sollwerte für die Pegelwechsel im fleßzeitfenster und für die Pegel zustände am Ende des Meßzeitfensters gespeichert sind, und daß eine Vergleichseinrichtung vorgesehen ist, die die Wechselistwerte und die Zustandsistwerte mit dem zugeordneten Sollwerten vergleicht.
Mit Hilfe einer weiteren Anordnung, die mit dem Ausgang des Wechselzählers verbunden ist, kann festgestellt werden, ob die Anzahl der Pegelwechsel des Testsignals im Meßzeitfenster größer Null ist. Damit kann festgestellt werden, ob das Testsignal innerhalb des Meßzeitfensters Pegelwechsel ausführte, obwohl dies nicht der Fall sein sollte.
Der erste und der zweite Komparator kann durch einen dritten und einen vierten Komparator ergänzt werden. Dem dritten Komparator wird dann eine dritte Referenzspannung zugeführt, die negativer ist als die erste Referenzspannung.
Dem vierten Komparator wird eine vierte Referenzspannung zugeführt, die postiver ist als die zweite Referenzspannung. Dadurch können Spannungsbereiche geschaffen werden, die zur Auswertung des Pegel zustandes des Testsignales am Ende des Meßzeitfensters vorteilhaft sind.
Es ist zweckmäßig, die Referenzspannungen für die Komparatoren aus digital kodierten Werten zu erzeugen. Dann ist es möglich, die Referenzspannungen ohne großen Aufwand zu ändern und den Gegebenenheiten eines neuen Prüflings anzupassen.
Um den Aufwand für die Realisierung des Wechselzählers möglichst gering zu halten, wird dieser mehrstufig ausgeführt. Dabei kann die erste Stufe des Wechselzählers in ECL-Technik ausgeführt sein, die übrigen Stufen dagegen in TTL-Technik. Mit einem derart aufgebauten Wechselzähler können auch Testsignale hoher Frequenz gezählt werden.
Die Sollwerte für den Vergleich mit den Istwerten werden in einem Sollwertspeicher gespeichert. Um die Kpazität des Sollwertspeichers möglichst gering zu halten, ist der Adressenzähler für den Sollwertspeicher mit einem Vergleicher verbunden, der den Inhalt eines den Starttakt des Meßzeitfen--sters zählenden Zählers mit einem im Sollwertspeicher ab- gespeicherten Wert vergleicht und bei Gleichheit einen Zählimpuls für den Adresszähler abgibt. Damit ist es möglich, einen im Sollwertspeicher gespeicherten Sollwert mehrmals hintereinander zur Auswertung des Testsignals zu verwenden, ohne daß die Speicherkapazität erhöht werden müßte.
Andere Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
An Hand eines Ausführungsbeispiels, das in den Figuren dargestellt ist, wird die Erfindung weiter erläutert. Es zeigen Fig. 1 ein Blockschaltbild der erfindungsgemäßen Anordnung, Fig. 2 einen Wechselzähler, Fig. 3 eine Eingangsstufe für den Wechselzähler zur Erzeugung der Zählimpulse für den Wechselzähler, Fig. 4 einen Teil der Vergleichseinrichtung, mit dem das Ergebnis des Wechselzählers mit dem Sollwert verglichen wird, Fig. 5 einen anderen Teil der Vergleichseinrichtung, mit dem der Zustand des Pegels des Testsignals am Ende des Meßzeitfensters festgestellt wird, Fig. 6 ein Spannungsdiagramm, in dem die Referenzspannungen und der Verlauf des Testsignals über der Zeit t aufgetragen sind und aus dem der Verlauf des ersten und zweiten Komparatorsignals ersichtlich ist, Fig. 7 eine Tabelle, aus der sich ergibt, wenn der Pegel des Testsignals am Ende des Meßzeitfensters fehlerhaft ist oder nicht fehlerhaft ist.
Nach Fig. 1 wird der Anordnung ein Testsignal TS, z.B. von einem Tastkopf bekannten Aufbaues, zur Auswertung zugeführt.
Dieses Testsignal TS wird an vier Komparatoren 10, 12, 14, 16 angelegt. Dem ersten Komparator 10 wird eine erste Referenspannung ULX, dem zweiten Komparator 12 eine zweite Referenzspannung UHN, dem dritten Komparator 14 eine dritte Referenzspannung ULN und dem vierten Komparator 16 eine vierte Referenzspannung UHX zugeführt. Aus Fig. 6 ergibt sich, daß die erste Referenzspannung ULX positiver ist als die dritte Referenzspannung ULN, aber negativer als die zweite Referenzspannung UHN. Die vierte Referenzspannung UHX ist dagegen positiver als die zweite Referenzspannung UHN. Die Komparatoren 10 bis 16 geben jeweils dann Komparatorsignale ab, wenn das Testsignal TS die jeweiligen Referenzspannungen überschreitet.
Die Komparatorsignale von den Komparatoren 10 bis 16 werden zugeordneten D-Kippgliedern 18, 20, 22, 24 zugeführt.
Dabei liegen die Ausgänge der Komparatoren 10 bis 16 an den D-Eingängen der zugeordneten D-Kippglieder. 18 bis 24.
An die C-Vingänge der D-Kippglieder wird das Meßzeitfen-Dieses Dieses wird mit Hilfe eines bistabi-26 len Kippgliedesgebildet, dessen S-Eingang das Startsignal TO für das Meßzeitfenster und dessen R-Eingang das Ende-Signal TB für das Meßzeitfenster zugeführt wird. Das Startsignal TO und dasEndeZignal TB können z.B. von einem Prüfautomaten geliefert werden.
Der Ausgang des D-Kippgliedes 18 gibt ein Signal LX ab, wenn das Testsignal TS die erste Referenzspannung ULX überschreitet, das D-Kippglied 20 gibt ein Signal HN ab, wenn das Testsignal TS die zweite Referenzspannung UHN überschreitet. In entsprechender Weise gibt das D-Kippglied 22 ein Signal LN ab, wenn das Testsignal TS die dritte Referenzspannung ULN überschreitet und das D-Kippglied 24 gibt ein Signal HX ab, wenn das Testsignal TS die vierte Referenzspannung UHX überschreitet.
Die vier Referenzspannungen für die Komparatoren 10 bis 16 sind in ihren Werten einstellbar. Dies erfolgt mit Hilfe einer Anordnung, die pro Referenzspannung aus einem Register 28, einem Digital-Analog-Wandler 30, einem Impedanzwandler 32 und einem Filter 34 besteht. Dem Register 28 wird über einen Eingangsbus36 der z.B. von einem Prüfautomaten kommt, der digitale Wer#Uder zugeordneten Referenzspannung zugeführt und dort gespeichert. Durch den Digital-Analog-Wandler 30 wird der digitale Wert der Referenzspannung in eine analoge Spannung umgewandelt. Der analoge Wert der Referenzspannung wird über den Impedanzwandler 32 und das Filter 34 dem zugeordneten Komparator zugeleitet.
Dabei dient der Impedanzwandler 32 zur Trennung des relativ niederohmigen Komparatoreingangs vom Digital-Analog-Wandler -Ausgang. Das Filter 32 ist deswegen zweckmäßig, um mögliche Nebensprechstörung#en aus dem digitalen Teil der Anordnung zu dämpfen. Der Impedanzwandler 32 gibt weiterhin die Möglichkeit, Offset-Fehler auf der Übertragungsstrecke zu kompensieren, während der Digital-Analog-Wandler die Möglichkeit gibt, Spannungsabfälle auf der Ubertragungsstrecke für das Testsignal TS und Fehler im Tastkopf zu kompensieren.
Der Aufbau der Anordnung zur Erzeugung der Referenzspannung ist für alle Referenzspannungen gleich, unterschiedlich ist nur der digitale Wert, der im zugeordneten Register 28 gespeichert wird und dementsprechend die daraus entwickelte analoge Referenzspannung. Die Einspeicherung der digitalen Werte der Referenzspannung in die Register 28 erfolgt über den Eingangsbus 36 mit Hilfe von Steuersignalen F2 bis F5, die von einem Funktionsdecoder 38 geliefert werden. Der Funktionsdecoder 38 ist ebenfalls mit dem Eingangsbus 36 verbunden und entnimmt diesen bei Anliegen eines Signals ADR vom Prüfautomaten das Steuerwort zur Erzeugung der Steuersignale F.
Durch Anderung der digitalen Werte für die Referenzspannungen in den Registern 28 ist es somit möglich#, die Referenzspannungen zu ändern, um die Anordnung an verschieden aufgebaute Prüflinge anpassen zu können.
Am Eingangsbus 36 ist weiterhin ein Sollwertspeicher 40 angeschlossen. Im Sollwertspeicher 40 werden die Sollwerte abgespeichert, die zur Auswertung der Testsignale TS erforderlich sind. Diese Sollwerte können z.B. aus 20 Bit S1 bis S20 bestehen. Dabei können die Bit S1 bis S14 für den Vergleich der Pegelwechsel des Testsignals verwendet werden, das Bit S16 für den Zustandsvergleich herangezogen werden, und die Bits S17 bis S20 zur Erzeugung der Zählsignale für einen Adreßzähler 42 benutzt werden. Der Sollwertspeicher 40 kann in üblicher Weise aus einem oder mehreren RAM-Bausteinen aufgebaut sein.
Soll der Sollwertspeicher 40 über den Eingangsbus 36 mit den Sollwerten geladen werden, dann wird dem Adreßzähler 42 vom Funktionsdecoder 38 dassteuersignal F6 zugeführt und zunächst der Adreßzähler mit der ersten Adresse geladen. Anschließend wird dem Sollwertspeicher 40 vom Funktionsdecoder 38 das Steuersignal F1 zugeführt und der erste Sollwert über den Eingangsbus 36 unter der im Adreßzähler 42 stehenden Adresse abgespeichert. Das Steuersignal F1 wird ebenfalls dem Zähl- eingang des Adreßzählers 42 zugeführt und damit die Adresse um eine Einheit erhöht. Unter dieser neuen Adresse wird dann der nächste Sollwert abgespeichert.
Sollen Sollwerte S aus dem Sollwertspeicher 40 entnommen werden, dann wird zunächst der Adreßzähler 42 über das Steuersignal F7 vom Funktionsdecoder 38 auf 0 zurückgesetzt. Die Erzeugung der Zählimpulse für den Adreßzähler 42 kann nun mit Hilfe eines Vergleichers 44 und eines Zählers 46 erfolgen. Dem Zähler 46 wird der Starttakt TO am Zähleingang zugeführt, d.h. immer dann, wenn ein Meßzeitfenster beginnt, wird der Zähler 46 um eine Einheit erhöht.
Der Inhalt des Zählers 46 wird mit den Bits S17 bis S20 des vom Adreßzähler 42 adressierten Sollwertes verglichen.
Ergibt sich Identität, dann gibt der Vergleicher 44 ein Signal ab, das dem Adreßzähler 42 als Zählimpuls zugeführt wird. Mit Hilfe des Zählers 46 und des Vergleichers 44 ist es somit möglich, einen Sollwert im Sollwertspeicher 40 mehrmals für die Auswertung des Testsignals TS zu verwenden, ohne daß die Kapazität des Sollwertspeichers 40 erhöht werden mußte. Die Anzahl der Wiederholungen wird durch die Bit S17 bis S20 des Sollwertes festgelegt.
Um die Anzahl der Pegelwechsel des Testsignals TS innerhalb des Meßzeitfensters mit dem Sollwert vergleichen zu können, ist ein Wechselzähler 48 vorgesehen. Der Wechselzähler 48 besteht aus einer Eingangsstufe, die in Fig. 3 dargestellt ist und der eigentlichen Zähleinhei; die sich aus Fig. 2 ergibt. Dem Wechselzähler 48 werden die Signale LX und HN zugeführt. Das Signal LX tritt auf, wenn das Testsignal TS die erste Referenzspannung ULX überschreitet und das Signal HN tritt auf, wenn das Testsignal TS die Referenzspannung UHN überschreitet. Die Zähleinheitdes Wechselzählers 48 erhält dann einen Zählimpuls von der Eingangsstufe, wenn das Testsignal die beiden Referenzspannungen ULX und UHN in einer der beiden Richtungen überschritten hat. Diese Verhältnisse können aus Fig. 6 entnommen werden. Dort ist der Verlauf der Signale HN und LX in Abhängigkeit des Verlaufs des Testsignals TS gezeigt. Die Eingangsstufe nach Fig. 3 erzeugt aus den Signalen LX und HN die Zählimpulse Z für die Zähleinheit des Wechselzählers 48.
Die Eingangsstufe besteht aus einem D-Kippglied 50, einem RS-Kippglied 52 und einem Exklusiv-Oder Glied 54. Das Signal HN wird in nicht invertierter Form, das Signal LX in invertierter Form zugeführt. Vor Beginn des Meßzeitfensters also bevor der Starttakt TO auftritt, wird durch ein Vorbereitungssignal DU1, das z.B. über den Eingangsbus 36geliefert wird, das Signal HN in das Kippglied 50 übernommen.
Das Signal HN wird weiterhin dem S-Eingang des Kippgliedes 52 zugeführt. Am R-Eingang des Kippgliedes 52 liegt das Signal LX in invertierter Form. Die invertierenden Ausgänge der beiden Kippglieder 50 und 52 sind mit dem Exklusiv-0#er Glied 54 verbunden, an dessen invertierenden Ausgang der Zählimpuls für die Zähleinheit des Wechselzählers abgegeben wird.
Die Funktion der Eingangsstufe wird in Verbindung mit Fig. 6 kurz erläutert. Zu Beginn des Spannungsverlaufes des Testsignals TS befindet sich dieses zwischen den Referenzspannungen ULN und ULX, so daß sowohl HN als auch LX binär Null ist. Das Kippglied 50 wird somit bei Auftreten des Vorbereitungssignals DU1 zurückgesetzt und sein invertierender Ausgang ist binär 1. Das Kippglied 52 ist zurückgesetzt, sein invertierender Ausgang ist ebenfalls binär 1. Das Exklusiv-Oder Glied 54 gibt an seinem Ausgang das Signal binär 0 ab. Überschreitet das Testsignal TS die Referenzspannung ULX, dann wird das Signal LX binär 1 und es verliert seinen Einfluß auf das Kippglied 52.. Überschreitet das Testsignal TS auch die Referenzspannung UHN, dann wird das Signal HN binär 1 und dadurch das Kippglied 52 gesetzt. Damit wird der invertierende Ausgang des Kippgliedes 52 binär 0, während der invertierende Ausgang des Kippgliedes 50 binär 1 bleibt und das Exklusiv-Oder Glied 54 gibt einen Zählimpuls Z ab. Es ist also zu sehen, daß das Exklusiv-Oder Glied 54 nur dann den Zählimpuls Z abgibt, wenn das Testsignal TS beide Referenzspannungen ULX und UHN entweder in der einen oder in der anderen Richtung überschritten hat.
Die Zählimpulse Z werden in invertierter Form der Zählein- heit des Wechselzählers 48 zugeführt. Die Zähleinheit ist in Fig. 2 dargestellt.Das Ausführungsbeispiel besteht aus zwei Zählstufen, wobei die erste Zählstufe 56 in ECL-Technik ausgeführt ist, die zweite Zählstufe 58 in TTL-Technik.
An die zweite Zählstufe 58 können weitere Zählstufen in TTL-Technik angefügt werden. Die beiden Zählstufen 56, 58 werden zunächst mit Hilfe des Vorbereitungssignals DU1 in ihre Ausgangslage zurückgesetzt. Dazu wird das Vorbereitungssignai DU1 dem R-Eingang der Zählstufe 58 direkt und dem R-Eingang der Zählstufe 56 über einen TTL/ECL Pegelumsetzer 60 zugeführt. Die Zählstufe 56 zählt die invertierten Zählimpulse Z. Damit bildet der Zählimpuls gleichzeitig das niederwertigste Bit des Wechselzählers, das über einen ECL/TTL Pegelumsetzer 62 geführt wird und ein Bit 151 des Istsignals IS bildet. Am Ausgang Al der Zählstufe 56 wird das zweithöhere Bit, am Ausgang A2 des dritthöhere Bit und am Ausgang A3 das vierthöhere Bit des Wechselzählers abgenommen, die jeweils wieder über den ECL/TTL Umsetzer geführt werden und dann die Bit Ins , 153 und ISl des Istwertes bilden. Das Signal am Ausgang A3 der Zählstufe 56 wird nach Pegelumsetzung dem Zähleingang der zweiten Zählstufe 58 zugeführt. An deren Ausgängen A4 bis A7 werden die weiteren Bit 155 bis 1S8 des Istwertes abgegeben.
Da die Zähleinheit als erste Stufe eine ECL Zählstufe hat, können Zählimpulse Z hoher Frequenz gezählt werden. Für die weiteren Zählstufen sind jedoch keine Zählstufen in ECL-Technik erforderlich, hier genügen Zählstufen in TTL-Technik.
Im Ausführungsbeispiel ist eine Zähleinheit gezeigt, bei der der Istwert 8 Bit aufweist. Durch Anhängen von weiteren Zählstufen an den A7 der Zählstufe 58 kann die Kapazität des Wechselzählers erhöht werden.
Der Vergleich des Istwertes vom Wechselzähler 48 mit dem Sollwert vom Sollwertspeicher 40 erfolgt in einem Schal- tungsteil 60, der Bestandteil der Vergleichseinrichtung ist. In diesem Schaltungsteil 60 wird der Istwert IS Bit für Bit mit dem Sollwert S verglichen. Wenn der Istwert IS und der Sollwert S nicht übereinstimmt, gibt der Schaltungsteil 60 ein Signal ab, das angibt, daß die Anzahl der Pegelwechsel innerhalb des Meßzentfensters beim Testsignal TS nicht mit dem vorgegebenen Sollwert übereinstimmt.
Eine mögliche Realisierung des Schaltungsteils 60 ist in Fig. 4 dargestellt. Er besteht aus zwei Bausteinen 62, 64, die den Vergleich des Istwertes mit dem Sollwert durchführen und einem Oder-Glied 66. Es werden jeweils 4 Bit des Istwertes IS und des Sollwertes S miteinander verglichen.
Besteht Ungleichheit, dann geben die Bausteine 62 oder 64 ein Signal ab, dasnach dem Oder Glied 66 als Fehlersignal FW anzeigt, daß die Anzahl der Pegelwechsel des Testsignals innerhalb des Meßzeitfensters nicht mit dem Sollwert übereinstimmt.
Mit Hilfe eines weiteren Schaltungsteils 68, der ebenfalls Teil der Vergleichseinrichtung ist, wird festgestellt, ob der Pegel des Testsignals am Ende des Meßzeitfensters mit dem gewünschten Sollwert übereinstimmt. Als Sollwert wird hier lediglich ein Bit S16 verwendet. Dem Schaltungsteil 68 wird das Signal HN, das auftritt, wenn das Testsignal TS die Referenzspannung UHN überschreitet und das Signal LX, das auftritt, wenn das Testsignal TS die Referenzspannung ULX überschreitet, direkt zugeführt. Das Signal LN, das auftritt, wenn das Testsignal TS die Referenzspannung ULN überschreitet, wird dem Schaltungsteil 68 über ein Und-Glied 72 zugeführt, das Signal HX, das auftritt, wenn das Testsignal TS die Referenzspannung UHX überschreitet, wird dem Schaltungsteil 68 über ein Und-Glied 70 zugeführt. Mit Hilfe von Sperrsignalen VX und VN können die Und-Glieder 70 und 72 für die Signale HX und VN gesperrt werden, so daß diese vom Schaltungsteil 68 nicht ausgewertet werden.
Eine Realisierung des Schaltungstelis 68 zeigt Fig. 5.
Diese besteht aus den Und-Gliedern 70 und 72, Aquivalenzgliedern 74 und 76 und einem Oder-Glied 78. Die Auswertung der Signale HX, HN, LX und LN erfolgt nach der Tabelle in Fig. 7. Die Signale LN, LX, HN und HX werden mit dem Sollwert 516 verglichen. Ein Fehler FZ tritt dann auf, wenn nach Fig. 6 der Pegel des Testsignales TS zum ZeitpunktTB unterhalb der dritten Referenzspannung ULN liegt oder zwischen den Referenzspannungen ULX und UHN oder über der Referenzspannung UHX liegt. Bei diesen Fällen liegt ein Fehler vor, gleichgültig welchen Wert S16 hat. Weiterhin ist ein Fehlerfall gegeben, wenn der Sollwert S16 binär 1 ist, das Testsignal TS jedoch unterhalb der Referenzspannung ULX liegt. Entsprechend liegt ein Fehlerfall vor, wenn der Sollwert S16 binär 0 ist, das Testsignal TS jedoch über der Referenzspannung UHN liegt.
Die Fehlerfälle der Zeile 1 und der Zeile 7 der Tabelle werden ausschlleßlich mit Hilfe der Signale HX und LN festgelegt. Die übrigen Fehlerfälle werden mit Hilfe der Aquivalenzglieder 74 und 76 festgestellt, denen der Sollwert S16 zugeführt wird. Dem Äquivalenzglied 74 wird weiterhin das Signal LX invertiert, dem quivalenzglied 76 das Signal HN invertiert zugeleitet.
Mit Hilfe eines RS-Kippgliedes 80 und eines Oder-Gliedes 82 in Fig. 1 kann festgestellt werden, ob innerhalb eines Meßzeitfensters die Anzahl der Pegelwechsel des Testsignales TS größer 0 ist oder nicht. Dazu werden die vier niederwertigsten Ausgänge des Wechselzählers 48 herangezogen und über ein Oder-Glied 82 zusammengefaßt und dem S-Eingang des Kippgliedes 80 zugeführt. Immer wenn ein Pegelwechsel auftritt, wird das bistabile Kippglied 80 gesetzt und zeigt damit an, daß ein derartiger Wechsel im Meßzeitfenster vor- gekommen ist. Mit Hilfe des Vorbereituflgssignals DU1 kann das Kippglied 80 wieder zurückgesetzt werden. Durch Zusammenfassung von 4 Bits des Wechselzählers 48 in dem Oder-Glied 82 erfolgt ein sicheres Setzen des Kippgliedes 80.
Wie bereits oben ausgeführt worden ist, kann ein- und derselbe Sollwert S mit Hilfe des Vergleichers 44 und des Zählers 46 mehrmals der Vergleichseinrichtung bestehend aus dem Schaltungsteil 60 und 68 und zu verschiedenen Meßzeitfenstern zugeführt werden. Dabei ist es möglich, daß z.B. im ersten Meßzettfenster die Anzahl der Pegelwechsel des Testsignals TS überprüft wird, in den weiteren Meßzeitfenstern mit dem gleichen Sollwert der Zustand des Pegels des Testsignales am Ende des Meßzeitfensters mehrmals überprüft wird.
Mit Hilfe einer Auswahlschaltung 84 können die Fehlersignale FW vom Schaltungsteil 60 oder FZ vom Schaltungsteil 80 oder FN vom Kippglied 80 zum Ausgang durchgeschaltet werden. Der Zeitpunkt der Durchschaltung eines der Fehlersignale zum Ausgang wird durch das Taktsignal TB festgelegt.
Mit diesem Taktsignal TB wird auch das Meßzeitfenster zeitlich begrenzt. Das Fehlersignal FN wird dann zum Ausgang durchgeschaltet, wenn der Sollwert S15 binär 1 ist und das Taktsignal TB vorliegt. Dieses Taktsignal TB wird einem C-Eingang eines D-Kippgliedes 86 verzögert als Signal TB1 zugeführt. Mit Hilfe vonsteuersignalen WT und ZT kann entweder das Fehlersignal FW oder das Fehlersignal FZ zum Ausgang der Auswahlschaltung 84 durchgeschaltet werden.
14 Patenansprüche 7 Figuren L e e r s e i t e

Claims

Patentansprüche Schaltungsanordnung zur Auswertung eines von einem Prüfling, z. B. einer Flachbaugruppe, abgegebenen Testsignals, das bezüglich der innerhalb eines Meßzeitfensters auftretenden Anzahl von Pegelwechseln (Vechselistwert) und des am Ende des Meßzeitfensters gegebenen Pegels (Zustandsistwert) jeweils mit einem Sollwert verglichen wird, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß mindestens ein erster Komparator (10) mit einer ersten Referenzspannung (ULX) und ein zweiter Komparator (12) mit einer zweiten gegenüber der ersten Referenzspannung positiveren Referenzspannung (UHN) vorgesehen sind, die jeweils das Testsignal (TS) mit der Referenzspannung vergleichen und ein erstes und zweites Komparatorsignal (LX, HN) abgeben, wenn das Testsignal die jeweilige Referenzspannung überschreitet, daß eine Anordnung (28, 30, 32, 34) vorgesehen ist, die aus digitalcodierten Werten die Referenzspannungen erzeugt, daß ein Wechselzähler (48) vorgesehen ist, der jeweils um einen Schritt weitergeschaltet wird, wenn das Testsignal (TS) entweder die beiden Referenzspannungen (ULX, UHN) überschreitet oder unterschreitet (Pegelwechsel), daß ein Sollwertspeicher (40) vorgesehen ist, in dem die Sollwerte für die Pegelwechsel im Meßzeitfenster und die Zustände des Pegels des Testsignals am Ende des Meßzeitfensters gespeichert sind, und daß eine Vergleichseinrichtung (60, 68) vorgesehen ist, die den Wechselistwert und den Zustandsistwert mit den zugeordneten Sollwerten vergleicht.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß eine weitere Anordnung (80, 82) vorgesehen ist, die mit dem Wechselzähler (48) verbunden ist und die am Ausgang ein Signal (FN) abgibt, wenn die Anzahl der Pegelwechsel des Signals (# 5) im Neßzeitfenster größerNull ist.
3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 oder 2, d a -d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß ein dritter Komparator (14) mit einer dritten Referenzspannung (ULN) und ein vierter Komparator (16) mit einer vierten Referenzspannung (UHX) vorgesehen ist, daß die dritte Referenzspannung (ULN) negativer ist als die erste Referenzspannung (ULX) und die vierte Referenzspannung (UHX) positiver ist als die zweite Referenzspannung (UHN).
4. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t daß die Anordnung (28, 30, 32, 34) zur Erzeugung der Referenzspannungen pro Referenzspannung ein Register (28) zur Aufnahme des digitalcodierten Wertes der Referenzspannung, ein Digitalanalogwandler (30),einen Impedanzwandler (32) und ein Filter (34) das am Ausgang die Referenzspannung abgibt, vorsieht.
5. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t daß der Wechselzähler aus einer Eingangsstufe zur Erzeugung von Zählimpulsen und aus einer Zähleinheit besteht, daß die Eingangsstufe ein D-Kippglied (50) enthält, dessen C-Eingang ein vor dem Beginn des Meßzeitfensters auftretendes Vorbereitungssignal (DU7) und dessen D-Eingang das zweite Komparatorsignal (HN) zugeführt wird, daß die Eingangsstufe ein weiteres bistabiles Kippglied (52) enthält, an dessen S-Ein#ang das zweite Komparatorsignal (HN) und an dessen R-Eingang das erste Komparatorsignal (Lx) anliegt, daß die Eingangsstufe ein Exclusiv/Oder-Glied (54) enthält, die einerseits mit dem invertierenden Ausgang des D-Kippgliedes (50) und die andererseits mit dem invertierenden Ausgang des weiteren bistabilen Kippgliedes (52) verbunden ist und die am Ausgang die Zählimpulse (Z) abgibt.
6. Schaltungsanordnung nach Anspruch 5, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß die Zähleinheit des Wechselzählers (48) mehrstufig ausgeführt ist, daß die erste Stufe (56) in ECL-Technik und die weiteren Stufen (58) in TTL-Technik ausgeführt sind und daß zwischen der ersten Stufe (56) und den weiteren Stufen ein ECL/TTL-Pegel-Umsetzer (62) angeordnet ist.
7. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t daß die Vergleichseinrichtung (60, 68) einen ersten Schaltungsteil (58) zur Sberprüfung des Zustandsistwerts aufweist, der ein Fehlersignal (FZ) abgibt, wenn das zweite Komparatorsignal (HN) auftritt und der Sollwert (S16) binäxfnull ist oder wenn nur das erste Komparatorsignal (LX) auftritt und der Sollwert (S16) binär 1 ist.
8. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, d a d u r c h g eine n n z e i c h n e t , daß der Schaltungsteil (68) us einem ersten Äquivalvenzglied (74), dem invertiert das erste Komparatorsignal (LX) und der Sollwert (S16) zugeführt wird, aus einem zweiten ÄquivaL enzglied (76), dem das invertierte zweite Komparatorsignal (HN) und der Sollwert (S16) zugeführt wird und aus einem ODEi-Glied (78), das mit den Ausgängen des ersten und zweitem Äquivalt.enzgliedes (74, 76) verbunden ist, besteht.>
9. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß der Schaltungsteil (68) ein Fehlersignal (FZ) abgibt, wenn das dritte Komparatorsignal (LN) nicht auftritt, wenn das vierte Komparatorsignal (HX) auftritt, wenn das dritte Komparatorsignal (LN) auftritt, das erste Komparatorsignal (LA) dagegen nicht auftritt und der Sollwert (S16) binär 1 ist, wenn das zweite Komparatorsignal (H8) auftritt, das vierte Komparatorsignal (HX) nicht auftritt und der Sollwert (si6) binär 0 ist oder wenn das erste Komparatorsignal (T X) auftritt, das zweite Komparator ignal (EN) aber nicht auf- tritt.
10. Schaltungsanordnung nach Anspruch 9, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß dem ODER-Glied (78) das invertierte dritte Komparatorsignal (LN) und das vierte Komparatorsignal (HX) zuführbar ist.
11. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß die Vergleichseinrichtung einen zweiten Schaltungsteil (60) enthält, der den Wechselistwert (IS) mit dem zugeordneten Sollwert (s) vom Sollwertspeicher (40) vergleicht.
12. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 11, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß die weitere Anordnung aus einem ODER-Glied (82) und einem RS-Kippglied (80) besteht, daß das ODER-Glied (82) mit den niedrigstwertigen Ausgängen des Wechselzählers (48) verbunden ist, und daß der S-Eingang des Kippgliedes (80) mit dem Ausgang des ODER-Gliedes (82) verbunden ist und am R-Eingang des Kippgliedes (80) das Vorbereitungssignal (DU1) anliegt.
13. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß als Adreßzähler (42) für den Sollwertspeicher (40) ein Binärzähler vorgesehen ist, dessen Zähleingang mit einem Vergleicher (44) verbunden ist, der den Inhalt eines den Starttakt (TO) des Mezeitfensters zählenden Zählers (46) mit einem in Sollwertspeicher (40) abgespeicherten Wert vergleicht und bei Gleichheit einen Zählimpuls für den Adreßzähler (42) abgibt.
14. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t daß eine Auswahischaltung (84) vorgesehen ist, die ent- weder den Ausgang des einen oder anderen Schaltungsteils (60, 68) der Vergleichseinrichtung oder den Ausgang der weiteren Anordnung (80) zum Ausgang durchschaltet.