DE3228538A1 - Elektrostatische kapazitaets-abtastnadel - Google Patents
Elektrostatische kapazitaets-abtastnadelInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine elektrostatische Kapazitätsabtastnadel,
die gleitend auf einem Informationsspeichermedium oder einer Informationsspeicherplatte bewegbar ist,
um Signale zu erfassen, die in Form von Grübchen aufgezeichnet sind, bei einer Platte längs spiralförmiger oder
kreisförmiger Spuren.
Informationsspeichermedien oder -platten, beispielsweise Videoplatten, enthalten Signale in Form von Grübchen, die
längs spiralförmiger oder kreisförmiger Bahnen oder Spuren mit hoher Dichte aufgezeichnet sind. Die Signale können
durch eine elektrostatische Kapazitätsabtastnadel aufgenommen werden, die gleitend auf der Scheibe bewegbar ist
und Änderungen der elektrostatischen Kapazität in Abhängigkeit von den aufgezeichneten Signalen erfaßt. An dem zugewendeten
Ende ist die Abtastnadel bis zu einer außerordentlich kleinen Abmessung verjüngt, da die Bahnspur an der
Scheibe sehr klein gehalten ist und die Wellenlänge (die Wiederhollänge) der aufgezeichneten Signale auch extrem
kurz ist. Beim Abspielen der Scheibe wird das verjüngte Ende der Abtastnadel in Gleiteingriff mit der Scheibe gehalten,
die sich mit hoher Geschwindigkeit dreht. Dementsprechend sind die elektrostatischen Kapazitätsabtastnadeln einem
relativ raschen Verschleiß unterworfen.
Es sind verschiedene Maßnahmen bekannt, elektrostatische Kapazitätsabtastnadeln zu fabrizieren, die eine längere
Lebensdauer aufweisen, so daß sie nicht so häufig ersetzt werden müssen. Derartige Abtastnadeln werden allgemein aus
Naturdiamant oder künstlichem Diamant hergestellt, wobei der Diamant auf die erforderliche Form geschnitten und geschliffen
wird. Zur Zeit verfügbare Diamant-Abtastnadeln besitzen den Nachteil, daß die geschliffenen Flächen sich
relativ schlecht schleifen lassen, und daß die Gleitfläche oder Auflagefläche eine unregelmäßige Verschleißfestigkeit
aufweist, so daß die nutzbare Lebensdauer sich von Nadel zu Nadel ändert. Die Herstellung solcher Diamantabtastnadeln
ist sehr kostenaufwendig, da ein zeitraubender und komplizierter Schleifvorgang nötig ist.
Es ist ein Ziel der vorliegenden Erfindung, eine elektrostatische Kapazitätsabtastnadel zu schaffen, deren Flächen
sich ohne Beschädigung der Kanten der aufgebrachten Elektrodenschicht und der Kanten zwischen benachbarten Flächen leicht
schleifen lassen, und die erhaltenen elektrostatischen Kapazitätsabtastnadeln
sollen eine gleichmäßigere Verschleißfestigkeit besitzen.
Erfindungsgemäß besteht eine elektrostatische Kapazitätsabtastnadel
zur Verwendung auf einer Informationsspeicherplatte aus einem Diamant-Kristall mit einer
Gleitberührung mit der Informationsspeicherplatte, mit einer Elektrodenfläche, an der sich eine 'leitfähige Elektrodenschicht
zum Erfassen der Signale an der Informationsspeicherplatte als Änderungen der elektrostatischen Kapazität befindet,
mit einer ersten und einer zweiten, in Winkelrichtung voneinander mit Abstand versehenen Rückfläche benachbart zur Elektrodenfläche
und einer ersten und einer zweiten, in Winkelrichtung einen Abstand aufweisenden Führungsfläche, die jeweils einander und
der ersten bzw. der zweiten Rückfläche benachbart sind. Die fläche besitzt die Form eines Fünfecks, das durch Kanten der
Elektrodenfläche, der ersten und der zweiten Rückfläche sowie der ersten und der zweiten Führungsfläche bestimmt wird, wobei
die erste und die zweite Rückfläche symmetrisch zu einer durch einen zentralen Punkt an der Elektrodenflächenkante und der
Verbindung zwischen der Kante der ersten und der zweiten Führungsfläche
hindurchgehenden Linie angeordnet sind und die erste und die zweite Führungsfläche ebenfalls symmetrisch
zu dieser Linie liegen. Die erste Rückfläche ist (in einem Stereogramm des Diamant-Kristallgitters) in einem
Bereich angeordnet, der zwischen (Ϊ11)-,
und (101)-Flächen des Diamant-Kristallgitters und Winkelabständen
von 15 quer zu einer Richtung von der (Ϊ11)-Fläche zur (Toi)-Fläche bestimmt ist. Die zweite Rückflache ist in
einem Bereich angeordnet, der zwischen (1 Ti)— und (0Ϊ1)-Flächen
des Diamant-Kristallgitters und Winkelabständen von 15°
quer zu einer Richtung von der (1T1)-Fläche zur (0Ϊ1)-Fläche
bestimmt ist. Die erste Führungsfläche ist in einem Bereich angeordnet, der zwischen (011)- und (010)-Flächen des Diamant-Kristallgitters
und in Winkelabständen von 15 quer zu einer Richtung von der (01T)-Fläche zur (010)-Fläche bestimmt ist.
Die zweite Führungsfläche ist in einem Bereich angeordnet,
der zwischen (10Ϊ)- und (100)-Flächen des Diamant-Kristallgitters
und in Winkelabständen von 15 quer zu einer Richtung
von der (1θΤ)-Fläche zur (100)-Fläche bestimmt ist.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnung beispielsweise
näher erläutert; in dieser zeigt:
Fig. 1 eine perspektivische Darstellung einer elektrostatischen Kapazitätsabtastnadel, für die die vorliegende Erfindung
geeignet ist,
Fig. 2 eine perspektivische Darstellung eines typischen Naturdiamant-Kristalls
in Form eines Oktaeders, aus dem ein Rohling für eine elektrostatische Kapazitätsabtastnadel
ausgeschnitten werden kann,
Fig. 3 eine perspektivische Darstellung eines Abtastnadel-Rohlings
mit anzuschleifenden Flächen und eine
stereographische Projektion dieser Flächen, und
stereographische Projektion dieser Flächen, und
Fig. 4 ein Sterogramm mit eingezeichneten verschiedenen
Flächen einer erfindungsgemäßen elektrostatischen
Kapazitätsabtastnadel.
Flächen einer erfindungsgemäßen elektrostatischen
Kapazitätsabtastnadel.
Wie Pig. 1 zeigt,ist eine erfindungsgemäße elektrostatische
Kapazitätsabtastnadel 1 in Form eines rechtwinkligen Parallelepipeds aus Diamant angefertigt, und dieses ist so geschliffen,
daß eine Elektrodenfläche, zwei zueinander symmetrisch liegende Rückflächen 4 und 5, un.d zwei Führungsflachen 6 und 7 bestimmt
sind. Die Abtastnadel 1 besitzt eine Bezugsfläche 2, gegen die die Elektrodenfläche 3 in einem Winkel θ «^ 15 liegt. Eine
Elektrode aus kontinuierlichen Leitschichten 8 und 8a ist jeweils auf der Elektrodenfläche 3 bzw. der Referenzfläche 2
abgeschieden. Die Elektrodenfläche liegt zwischen zwei angrenzenden
Rückflächen 4 und 5 und wird durch diese definiert. Die Abtastnadel besitzt eine Mittelachse 1. Die Referenzfläche
2 besitzt eine Mittelachse 1 und die Elektrodenfläche
eine Mittelachse 1_. Das fernliegende Ende der Abtastnadel 1 ist so abgeschnitten, daß eine Auflagefläche 9 (punktiert eingezeichnet)
entsteht, die senkrecht zur Mittelachse 1 des Kristalls liegt. Die Fläche 9 wird beim Abspielen der Informationsspeicherplatte
in Gleitberührung mit dieser gehalten. Kanten 3a, 4a, 5a, 6a und 7a zwischen der Fläche 9 und den jeweiligen
Flächen 3, 4, 5, 6 bzw. 7 bilden zusammen ein Fünfeck, das zu einer Linie I3 symmetrisch ist, welche durch einen
zentralen Punkt der Kante 3a und dem Verbindungspunkt der Kanten 6a und 7a hindurchgeht.
Fig. 2 zeigt einen typischen Naturdiamantkristall 10 in Oktaeder-Form, aus welchem ein rechtwinkliges Parallelepiped
als Rohling zur Herstellung einer elektrostatischen Kapazitätsabtastnadel geschnitten werden kann. Die Oktaederform des
Diamanten kann durch die Miller-Indizes £i 11j dargestellt werden.
Der Diamantkristall 10 hat einander benachbart liegende Flächen 11, 12, 13 und14, denen die Indizes (111), (11Ϊ), (111) bzw.
(1T1) · zukommen. In der nachfolgenden Beschreibung wird das
in der Kristallographie bekannte Miller-System benutzt, um die verschiedenen Flächen der elektrostatischen Kapazitätsabtastnadel
zu bezeichnen.
Nach Fig. 3 wird ein Rohling 17, der aus dem Diamantkristall
10 der Fig. 2 geschnitten ist, beispielsweise mit Silberlot an einem Schaft 18 befestigt, um ihn in die gewünschte Form
gemäß Fig. 1 mit den Flächen 3 bis 7 nach Fig. 1 .zu schleifen, Der Rohling 17 besitzt eine Endfläche 20, um welche die
Flächen 21, 22, 23 und 24 geschliffen werden, die den Flächen 7, 3, 5 bzw. 2 der zugeschliffenen Abtastnadel nach Fig. 1
entsprechen. Der Rohling 17 besitzt eine Längsachse 1., die koaxial zur Achse des Schaftes 18 und senkrecht zur Endfläche
20 liegt. Parallel zur Fläche 24 erstreckt sich senkrecht zur Achse 1. eine Achse I5, und eine Achse 1, schneidet
die Achsen I4 und 1 ■ mit jeweils rechten Winkeln.
Es wird eine gedachte, parallel zur Fläche 20 liegende Phantomebene 19 benutzt, un eine stereographische Projektion
der Schleifflächen an dem Rohling 17 mit Hilfe von Polarkoordinaten
darzustellen. Die Achse 1, erstreckt sich senkrecht zur Ebene 19, und in der Ebene sind Achsen In. und
lfi jeweils parallel zu den Achsen L bzw. 1, angeordnet.
Der Durchstoßpunkt der Achse 1. in der Ebene 19 wird als
Mittelpunkt oder Pol 0 angegeben, und bezeichnet die Fläche 20. Die Fläche 21 besitzt einen Winkelabstand g ., von der
Achse In. und einen Winkelabstand ß- von der die Fläche 20
enthaltenden Ebene. Die Fläche 21 kann damit als ein Punkt 21r bezeichnet werden, der einen Winkelabstand α,. von der
Achse I- besitzt und einen Winkelabstand ο . vom Pol Ö. In
gleicher Weise können die Flächen 22, 23, 24 jeweils an der Ebene 19 als Punkte 22r, 23r bzw. 24r dargestellt werden.
Die Flächen 6 und 4 an der Abtastnadel 1 der Fig. 1 können als Punkte 6r bzw. 4r an der Ebene 19 bezeichnet werden,
und diese liegen spiegelbildlich zu den Punkten 21r bzw. 23r bezüglich der Achse I1, .
or
In Fig. 4 ist ein Stereogramm verschiedener Flächen einer erfxndungsgemäßen elektrostatischen Kapazitätsabtastnadel
dargestellt. Die erfindungsgemäße Abtastnadel besitzt eine
Endgleitfläche entsprechend der Fläche 9 in Fig. 1 oder der
Fläche 20 in Fig. 3, die durch die Indizes (111) bezeichnet wird. Die Achsen L· und 1, in Fig. 3 erstrecken sich in den
Richtungen £i113 bzw. [00iJ . Die Flächen 3, 4, 5, 6 und 7
der Abtastnadel 1 nach Fig. 1 sind als Punkte 3r, 4r, 5r, 6r bzw. 7r in Fig. 4 bezeichnet. Der Winkelet ist in Umfangsrichtung
längs des Grundkreises, beginnend von der Achse It- aufgetragen. Der Winkel β ist, beginnend vom Pol
oder Mittelpunkt δ/längs der Achse I1- bezeichnet. Aufeinanderfolgende
ausgezogene Pfeile in Fig. 4 zeigen Richtungen besserer Schleifbarkeit an, und die Länge dieser Pfeile bezeichnet
die Schleifbarkeit.
Die Elektrodenfläche 3, die in Fig. 4 als Punkt 3r eingezeichnet
ist, kann innerhalb eines Winkelbereiches von 35 bis 55 bezüglich der Achse 1, leicht geschliffen werden.
Die Fläche 3 wird in den Richtungen 3ka und 3kb geschliffen, da in diesen Richtungen unter dem Einfluß der Fläche (001)
eine bessere Schleifbarkeit vorliegt.
Die als Punkte 4r bzw. 5r in Fig. 4 bezeichneten Rückflächen 4 und 5 liegen lagesymmetrisch bezüglich der Achse
Ig und deshalb reicht es, die Rückfläche 5 im einzelnen
zu beschreiben. Die Rückfläche 5 liegt zwischen Flächen (1T1) und (oTi) und kann leicht längs einer Richtung geschliffen
werden, die sich von der Fläche (TiI) zur Fläche
(011) erstreckt. Dementsprechend wird die Fläche leicht in
Richtung des Pfeiles 5kc geschliffen, und diese Richtung ist im wesentlichen konform zur Richtung des Pfeils 5kb in
Fig. 1. Wenn die Rückfläche 5 längs dieses Pfeiles 5kb geschliffen
wird, tritt weniger leicht eine Beschädigung der Kante der Leitschicht 8 an der Fläche 3 durch abgeschliffene
Diamantteilchen auf, die während des SchleifVorgangs entstehen. Die Fläche 4 liegt zwischen Flächen (Τθ1) und (TiI)
und kann leicht in der Richtung von Fläche (Ϊ11) zur Fläche (Toi) geschliffen werden.
Die Fläche 7, oder der Punkt 7r in Fig. 4, liegt zwischen
Flächen (100) und (1θΤ) und zwar näher zur Fläche (100). Die Fläche 7 kann leicht in Richtung des Pfeiles 7kd geschliffen
werden, ohne die Kante zwischen den Flächen 6 und 7 zu beschädigen. Die Fläche 6, die durch den Punkt 6r in
Fig. 4 dargestellt ist, liegt zwischen Flächen (010) und (01T), und sie kann leicht in der Richtung geschliffen
werden, die von der Fläche (01T) zu der Fläche (010) führt, ohne die Kante zwischen den Flächen 6 und 7 zu beschädigen.
Die Bewegungsrichtung der Abtastnadel relativ zur Informationsspeicherplatte
wird durch den Pfeil 30a in Fig. 4 bezeichnet. Da der Diamantkristall in Richtung 30a die
größte Verschleißfestigkeit besitzt, ergibt sich die Auflagefläche 9 in der Umgebung der Fläche (111) als hoch
verschleißfest. Dementsprechend besitzt die erfindungsgemäße
Abtastnadel eine verbesserte Verschleißfestigkeit und eine längere Lebensdauer. Richtungen besserer und schlechterer
Schleifbarkeit sind jeweils an der Fläche (111) mit Winkelabständen von 60 vorhanden, und diese Winkelabstände
sind größer als die bei üblichen Abtastnadeln vorhandenen Auflageflächen. Der Verschleißwiderstand der Auflagefläche
ist damit gleichmäßiger auch dann, wenn eine Winkelversetzung von der Fläche (111) nach Fig. 4 vorhanden ist.
Die Schleifflächen der erfindungsgemäßen Abtastnadel können
in unterschiedlichen Ebenen liegen, solang deren Winkelabweichung in folgenden Bereichen liegen: Die Rückfläche 4
sollte in einem (in Fig. 4) rechtwinkligen Bereich 4R liegen, der durch die Flächen (T11) und (101) bestimmt wird sowie
in einem Winkelbereich von - 15 quer zu der Richtung, die von der Fläche (T11) zur Fläche (Τθ1) führt. Die Rückfläche
5 liegt in einem rechtwinkligen Bereich 5R, der zwischen den Flächen (1 Ti) und (oTi) definiert ist mit einem Winkelintervall
von ±15° quer zur Richtung von der Fläche (1T1) zur Fläche (011). Die Führungsfläche 6 liegt in einem recht-
winkligen Bereich 6R, der zwischen den Flächen (01T) und
(010) in einem Winkelbereich von - 15 quer zur Richtung von der Fläche (01T) zur Fläche (010) liegt. In gleicher
Weise ist die Führungsfläche 7 in einem rechtwinkligen Bereich 7R gelegen, der zwischen den Flächen (1θΤ) und
(100) liegt in einem Winkelbereich von +15 quer zur Richtung von der Fläche (1θΤ) zur Fläche (100). Die Winkelabstände
sind als ca-Werte zu verstehen.
Falls die Führungs- und die Rückflächen außerhalb dieser rechtwinkligen Bereiche mit Winkelintervallen von etwa
ί 15 gelegt werden, verschlechtert sich die Schleifbarkeit der Flächen zunehmend mit von diesen Gebieten zunehmendem
Abstand. Die Schleifbarkeit der Flächen wird schlechter oder die Flächen werden praktisch nicht mehr
schleifbar, wenn sie mit großem Abstand von diesen Rechteckbereichen
liegen.
Die erfindungsgemäße elektrostatische Kapazitätsabtastnadel
kann auch aus einem Rohling gefertigt werden, der aus einem künstlichen Diamant mit Flächen (111) und (100)
besteht, und der mit Metall-Lot an einem Metallstab, beispielsweise einem Titanstab, befestigt wird, wobei die
(111)-Fläche als Auflagefläche dient.
Claims (1)
- - Patentanspruch -π J Elektrostatische Kapazitäts-Abtastnadel zur Verwendung an einer Informationsspeicherplatte, aus einem Diamantkristall mit einer Auflagefläche, die in Gleitkontakt mit der Informationsspeicherplatte steht, einer Elektrodenfläche (3), an welcher eine Leitelektrodenschicht (8) zum Erfassen von Signalen an der Informationsspeicherplatte als Änderungen der elektrostatischen Kapazität angebracht ist, mit ersten und zweiten, in Winkelrichtung einen Abstand aufweisenden Rückflächen (4, 5), angrenzend an die Elektrodenfläche (3)7 und einem Paar aus ersten und zweiten, in Winkelrichtung einen Abstand aufweisenden Pührungsflachen (6, 7), die jeweils einander und der ersten bzw. der zweiten Rückfläche benachbart sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Auflagefläche (9) die Form eines Fünfeckes aufweist, das jeweils durch die Kante (3a) mit der Elektro-MANlTZ FINSTERWALD HEYN MORGAN 8000 MÜNCHEN 22 ROBERT-KOCH-STRASSE1 TEL. (089) 22 4211 TELEX 05-29 672 PATMFQRÄMKOW ■ ROTERMUND ■ 7000 STUTTGART 50 (BAD CANNSTATT) SEELBERGSTR. 23/25 TEL (071!) 5672 61 ZENTRALKASSE BAYER. VOLKSBANKEN MÖNCHEN KONTO-NUMMER 7 270 POSTSCHECK: MÖNCHEN 770 62 - 805denflache (3), die Kanten (4a, 5a) mit den beiden Rückflächen (4, 5) und die Kanten (6a, 7a) mit den beiden Führungsflächen (6, 7) bestimmt ist, wobei die erste und die zweite Rückfläche symmetrisch zu einer durch einen zentralen Punkt der Kante (3a) mit der Elektrodenfläche und die Verbindungsstelle zwischen den Kanten (6a, 7a) mit der ersten und der zweiten Führungsfläche gehenden Linie (1-.) liegen und die beiden Führungsflächen ebenfalls symmetrisch zu dieser Linie liegen, daß die erste Rückfläche in einem zwischen (TiI)- und (Toi)-Flächen des Diamantkristallgitters und einem Winkelintervall von ca. - 15 zu einer Richtung von der (TiI)-Fläche zu der (Toi)-Fläche definierten Bereich angeordnet ist, daß die zweite Rückfläche in einem zwischen (1 Ti)— und (oTi)-Flächen des Diamantkristallgitters und einem Winkelintervall von ca. I 15 zu einer Richtung von der (111)-Fläche zu der (011)-Fläche definierten Bereich angeordnet ist, daß die erste Führungsfläche in einem zwischen (OiT)- und (010)-Flächen des Diamantkristallgitters und einem Winkelintervall von ca. - 15 zu einer Richtung von der (011)-Fläche zu der (010)-Fläche bestimmten Bereich angeordnet ist und daß die zweite Führungsfläche in einem zwischen (101)- und (100)-Flächen des Diamantkristallgitters und einem Winkelintervall von ca. - 15 zu einer Richtung von der (1θΤ)-Fläche zu der (100)-Fläche bestimmten Bereich angeordnet ist.
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