DE3150059A1 - Kondensator mit veraenderbarer kapazitaet - Google Patents

Kondensator mit veraenderbarer kapazitaet

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DE3150059A1
DE3150059A1 DE19813150059 DE3150059A DE3150059A1 DE 3150059 A1 DE3150059 A1 DE 3150059A1 DE 19813150059 DE19813150059 DE 19813150059 DE 3150059 A DE3150059 A DE 3150059A DE 3150059 A1 DE3150059 A1 DE 3150059A1
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DE19813150059
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Takamasa Tokyo Sakai
Yasuo Sato
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Faurecia Clarion Electronics Co Ltd
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Clarion Co Ltd
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    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/86Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable only by variation of the electric current supplied, or only the electric potential applied, to one or more of the electrodes carrying the current to be rectified, amplified, oscillated or switched
    • H01L29/92Capacitors having potential barriers
    • H01L29/93Variable capacitance diodes, e.g. varactors

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Description

Λ-
Kondensator ,mit veränderbarer Kapazität
Die Erfindung betrifft einen Kondensator mit veränderbarer Kapazität, bei dem die Kapazitätsänderung über einen breiten Bereich genau gesteuert werden kann.
In herkömmlicher Weise wird ein Element mit PN-Übergang als Kondensator mit veränderbarer Kapazität benutzt, wie es in Fig. 1 dargestellt ist. In Fig. 1 sind ein Halbleiterbereich 1 vom N-Leitungstyp,' ein Halbleiterbereich 2 vom P-Leitungstyp, ein PN-Übergang 3, Ohm'sche Elektroden 4 und 5, die an den Bereichen 1 und 2 jeweils vorgesehen sind, Leitungsanschlüsse 6 und 7, die an den Elektroden 4 und 5 jeweils vorgesehen sind, und eine Verarmungsschicht 8 dargestellt.
Bei einer derartigen Anordnung nimmt die Verarmungsschicht 8 auf eine an den Leitungsanschlüssen 6 und 7 liegende Vorspannung ansprechend zu oder ab, wobei die Änderung der Kapazität, die der Zunahme oder der Abnahme der Verarmungsschicht 8 entspricht, zwischen den Leitungsan-Schlüssen 6 und 7 abgenommen wird.
Ein herkömmlicher Kondensator mit veränderbarer Kapazität, der ein derartiges Element mit PN-Übergang verwendet, hat die folgenden Nachteile:
T. Aufgrund der Tatsache, dass der herkömmliche Kondensator mit veränderbarer Kapazität von der Zu- oder Abnahme der Verarmungsschicht am PN-Übergang in Abhängigkeit von der Vorspannung Gebrauch macht,.ist die kleinste Kapazität durch die StörStellenkonzentration in den Halbleiterbereichen bestimmt, während die grösste Kapazität durch die Zunahme
- z-
des Leitfähigkeitsteils bestimmt ist. Ein grosser Variabilitätsbereich des Kapazität bei einem hohen Q-Faktor ist daher praktisch unmöglich. Je grosser darüberhinaus die Kapazitätsänderung ist, umso höher wird der Q-Faktor. Bei dem herkömmlichen Kondensator mit veränderbarer Kapazität bestehen daher Schwierigkeiten in der Auslegung der Schaltung .
2. Aufgrund der Tatsache, dass die Zuführung der Vorspannung zum Ändern der Kapazität und die Abnahme der Kapazitätsänderung mittels der gemeinsamen Leitungsanschlüsse erfolgen, besteht die Gefahr, dass der Kondensator unerwünschte Kapazitätsänderungen auf die Spannung des Eingangssignales selbst bewirkt, wenn er in einem Resonanz- oder Schwing-
Ί 5 kreis usw. verwandt wird, was zu einer Beeinträchtigung des Signales führt. Da weiterhin eine spezielle Schaltungsanordnung erforderlich ist, bei der die Störungen zwischen der Eingangssignalspannung und der Vorspannung klein sind, ist der herkömmliche Kondensator mit veränderbarer Kapazität auf wenige Anwendungszwecke beschränkt.
3. Die Störstellenkonzentration in den Halbleiterbereichen zum Bestimmen der Kapazität der Verarmungsschicht wird über Steuermassnahmen wie beispielsweise eine Diffusion, eine Ionenimplantation usw. gesteuert. Da derartige Massnahmen keine gute Ausbeute liefern, ist-jedoch eine Ausbildung in integrierter Form als integrierte Schaltung praktisch unmöglich.
Durch die Erfindung sollen daher die Mängel der herkömmlichen Kondensate iron beseitigt worden und soll insbesondere ein Kondensator mit veränderbarer Kapazität geschaffen werden, bei dem Kondensatorelemente mit veränderbarer Kapazität,
315 G.0 5 9
die einen Verarmungsschichtsteuerteil und einen Kapazitätsabnahmeteil umfassen, auf einem Halbleitersubstrat so vorgesehen sind, dass die an allen Kapazitätsabnahmeteilen erscheinenden Kapazitäten entsprechend der Ladungsträgerkonzentration des Substrates um die Kapazitätsabnahmeteile herum voneinander verschieden sind.
Der erfindungsgemässe Kondensator mit veränderbarer Kapazität umfasst ein Halbleitersubstrat, eine Vielzahl von Kondensatorelementen mit veränderbarer Kapazität, von denen jedes einen Verarmungsschichtsteuerteil und einen Kapazitätsabnahmeteil aufweist, die beide auf dem Substrat ausgebildet sind, eine eine Vorspannung anlegende Einrichtung zum Anlegen einer Vorspannung an den Verarmungsschichtsteuerteil und eine Quelle einer variablen Spannung zum Zuführen der Vorspannung, wobei wenigstens die Teile des Halbleitersubstrates , an denen sich die Kapazitätsabnahmeteile befinden, so ausgebildet sind, dass sie voneinander verschiedene Ladungsträgerkonzentrationen haben.
Im folgenden werden anhand der zugehörigen Zeichnung bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung näher beschrieben.
Fig. 1 zeigt in einer Schnittansicht einen herkömmlichen Kondensator mit veränderbarer Kapazität.
Fig. 2,5, zeigen Ausführungsbeispiele der Erfindung 6 u. 7
Fig. 8a zeigen eine Schnittansicht und eine Draufsicht
jeweils eines weiteren Ausführungsbeispiels der Erfindung.
3150C59
Fig. 3 zeigen grafische Darstellungen zur Erläuterung und 4 der Erfindung.
In Fig. 2, die in einer Schnittansicht ein Ausführungsbeispiel des erfindungsgemässen Kondensators mit veränderbarer Kapazität zeigt, sind ein Halbleitersubstrat 9, beispielsweise aus Silicium vom N-Leitungstyp, und Kondensatorelemente 1QA, 1OB, 1OC... mit veränderbarer Kapazität dargestellt, von denen jedes einen Kapazitätsabnahmeteil 13 und einen Verarmungsschichtsteuerteil 16 aufweist.
Der Kapazitätsabnahmeteil 13 umfasst'einen P-Bereich 11, der im N-Substrat 9 vorgesehen ist,sowie eine Metallelektrode 12, die am P-Bereich 11 vorgesehen ist, während der Verarmungsschichtsteuerteil 16 wenigstens einen P-Bereich 14, der neben dem P-Bereich 11 vorgesehen ist, und eine Metallelektrode 15 umfasst, die am P-Bereich 14 vorgesehen ist.
Wenigstens die Kapazitätsabnahmeteile 13 der Kondensatorelemente 1OA, 1OB, 1OC ... mit veränderbarer Kapazität sind an Teilen im Halbleitersubstrat 9 angeordnet, an denen die Ladungsträgerkonzentration voneinander verschieden ist. Das Halbleitersubstrat 9 kann so ausgebildet sein, dass die Ladungsträgerkonzentration allmählich beispielsweise 25. in Richtung des Pfeiles ansteigt oder abnimmt.
In Fig. 2 sind weiterhin eine Vorspannung V_, die gemeinsam an den Verarmungsschichtsteuerteilen 16 der jeweiligen Kondensatorelemente 10A, 1OB, 1OC ... mit veränderbarer Kapazität liegt, Abnahmeanschlüsse 17 und 18 für die Gesamtkapazität und eine Ohm'sche Elektrode 19 dargestellt, die entlang der Rückfläche des Halbleitersubstrates vorgesehen ist. .
Bei einer derartigen Anordnung ergibt sich eine Kennlinie der Kapazität C eines der Kondensatorelemente mit veränderbarer Kapazität bezüglich der Vorspannung Vß, wie sie in Fig. 3 dargestellt ist. Die Kapazität C steigt auf einen grössten Wert C , wenn die Vorspannung
max
gleich oder nahezu gleich Null ist. Wenn die Vorspannung jedoch rückwärts langsam ansteigt, bis sie den bestimmten Wert V., d.h. den Schwellenwert des Elementes erreicht, nimmt die Kapazität C schnell auf den kleinsten Wert C . ab, woraufhin sie auf diesem Wert bleibt. Der mm
Schwellenwert V. ändert sich entsprechend der Ladungsträgerkonzentration des Halbleitersubstrates 9 an dem Teil, an dem sich das Kondensatörelement mit veränderbarer Kapazität, d.h. wenigstens der Kapazitätsabnahmeteil befindet.
Wenn daher die Vorspannung gemeinsam an Kondensatorelementen mit veränderbarer Kapazität und verschiedenen Schwellenwerten liegt, die in integrierter Form parallel zueinander im Halbleitersubstrat 9 vorgesehen sind,wie es in Fig. 2 dargestellt ist, so ergibt sich eine Gesamtkapazitätskennlinie, die sich stufenartig ändert, wie es in Fig. 4 dargestellt ist, in der die jeweiligen Kennlinien, wie sie in Fig. 3 gezeigt sind, fortlaufend angeschlossen sind.
Wenn die jeweilige grösste Kapazität C der Kondensatormax
element 10A, 10B, 1OC ... mit veränderbarer Kapazität auf einen kleinen Wert festgelegt ist, und eine Vielzahl von Kondensatorelementen 10A, 10B, 10C... mit veränderbarer Kapazität in integrierter Form ausgebildet ist, wird die Breite der Stufen in der Kennlinie von Fig. 4 kleiner, so dass eine steil verlaufende und genaue Kapazitätsänderung erhalten wird. Das Verhältnis C /C . kann daher auf
max mm
einen hohen Wert gebracht werden und der Gesamtvariationsbereich der Kapazität kann gross werden. Da weiterhin
nur einige der Elemente empfindlich auf die Vorspannung ansprechend in einem bestimmten Bereich reagieren, während die anderen auf den Werten C oder C . bleiben, so dass
max min
ein stabiler Zustand gegenüber einer Änderung der Vorspannung beibehalten wird, kann die Änderung des Q-Faktors klein gehalten werden.
Die Kennlinie der Kapazität C bezüglich der Vorspannung V_, kann in der gewünschten Weise dadurch bestimmt werden, dass die Abstufung der Ladungsträgerkonzentration des Halbleitersubstrates 9 gesteuert wird.
Fig. 5 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung, bei dem der Kapazitätsabnahmeteil 13 einen sog. MIS-Aufbau aufweist, der eine Isolierschicht 20, wie beispielsweise eine Oxidationsschicht, die auf dem Halbleitersubstrat 9 ausgebildet ist, und eine Elektrode umfasst, die auf der. Isolierschicht ausgebildet ist.
Fig. 6 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung, bei dem der Kapazitätsabnahmeteil 13 einen sog. Schottky-Sperrschichtaufbau hat, der eine metallische · halbleitende Sperrschicht umfasst, die zwischen dem Halbleitersubstrat 9 und einem darauf vorgesehenen gewünschten Metall 22 ausgebildet ist.
Wie es oben beschrieben wurde, kann der Kapazitätsabnahmeteil 13 einen Aufbau in Form eines PN-Überganges, einen MIS-Aufbau oder einen Schottky-Sperrschichtaufbau haben. Einen derartigen Aufbau kann jedoch auch der Verarmungsschichtsteuerteil 16 haben.
Wenn die Teile 13 und 16 so ausgebildet sind, dass sie im umgebenden Halbleitersubstrat PN-übergänge bilden, kann irgendein gewünschterLeitungstyp gewählt werden.
- Ύ-
Dadurch, dass gleichfalls die Ladungsträgerkonzentration des Halbleitersubstrates konstant gehalten wird, und das Halbleitersubstrat teilweise mit verschiedenen Ladungsträgerkonzentrationen, beispielsweise durch Ionenimplantation usw., dotiert wird, ist es möglich, Teile auszubilden, die die Kondensatorelemente mit veränderbarer Kapazität und voneinander verschiedener Ladungsträgerkonzentration liefern. D.h., dass irgendeine Massnahme verwandt werden kann, um für Ladungsträgerkonzentrationen zu sorgen, die relativ verschieden sind.
Fig. 7 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung, bei dem isolierte Bereiche 23 zwischen jeweils benachbarten Kondensatorelementen 10A, 10B, 10C... mit veränderbarer Kapazität vorgesehen sind. Die isolierten Bereiche 23 können aus irgendeinem Isoliermaterial, beispielsweise als Oxidationsschicht,aus Glas usw. bestehen oder in Form einer Luftisolation ausgebildet sein, indem leere Zwischenräume vorgesehen sind.
Dadurch, dass die isolierten Bereiche 23 vorgesehen sind, können elektrische Störungen zwischen jeweils benachbarten Elementen, nämlich beispielsweise eine Änderung des Q-Faktors,verhindert werden.
Obwohl die Kondensatorelemente mit veränderbarer Kapazität bei den oben beschriebenen Ausführungsbeispielen so ausgebildet waren, dass sie verschiedene Schwellenwerte hatten, ist die erfindungsgemässe Ausbildung darauf nicht beschränkt.
Die Elemente können beispielsweise in Gruppen klassifiziert sein derart, dass die jeweiligen Gruppen verschiedene Schwellenwerte haben.
Die Elemente müssen weiterhin nicht so angeordnet und ausgebildet sein, dass sich ihre Schwellenwerte allmählich und
regelmässig in einer bestimmten horizontalen Richtung des Halbleitersubstrates ändern. Da die.Verarmungsschiehtsteuerteile der jeweiligen Elemente gemeinsam mit derselben Vorspannung versorgt werden, ist es möglich, immer die in Fig. 4 dargestellte Kennlinie zu erhalten, bei der sich die Kapazität stufenweise ändert, selbst wenn die Elemente mit verschiedenen Schwellenwerten willkürlich angeordnet sind.
Fig. 8a und 8b zeigen ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung, wobei Fig. 8a einen Aufbau zeigt, bei dem die Verarmungsschichts teuerteile 16 und die Kapazitätsab-"* nahmeteile 13 abwechselnd angeordnet sind, während Fig. 8b das Elektrodenmuster mit den Elektroden 13A und ,16A der
Teile 13 und 16 jeweils zeigt. : . .
Aus dem Obigen ist ersichtlich, dass die erfindungsgremässe Ausbildung derart ist, dass eine Vielzahl von Kondensatorelementen mit veränderbarer Kapazität und jeweils einem Verarmungsschichtsteuerteil und einem Kapazitätsabnahmeteil an Teilen eines Halbleitersubstrates angeordnet sind, deren Halbleiterkonzentration voneinander verschieden ist, was folgendes bewirkt:
1. Die Kapazitätsänderung wird über einen breiten Bereichgenau gesteuert, da die Kapazitätsänderungskennlxnie bezüglich der Vorspannung je nach Wunsch ausgebildet werden kann.
2. Es ist"möglich, eine Änderung'des Q-Fäktors so klein wie möglich zu halten, sowie den Kapazitätsvariationsbereich gross auszulegen. .
3. Kapazitätsänderungen, die vom Eingangssignal selbst hervorgerufen werden, werden klein gehalten, was zu einer extrem geringen Signalbeeinträchtigung führt, da der Vorspannungsanschluss und der Kapazitätsabnahmanschluss' unabhängig voneinander vorgesehen sind.
4, Es kann eine bessere Ausbeute erwartet werden, da es nicht notwendig ist, eine Ionenimplantation als Störstellensteuermassnahme vorzusehen.
5. Wenn der erfindungsgemässe Kondensator in integrierter Form, in einem Substrat ausgebildet wird/ das einer integrierten Halbleiterschaltung gemeinsam ist, ermöglicht es der erfindungsgemässe Kondensator mit veränderbarer Kapazität, das Bauteil in seiner Grosse so klein wie möglich zu halten und dem Bauteil ein geringes Gewicht zu geben, was zur Herabsetzung der Herstellungskosten beiträgt.

Claims (9)

35-2 Hakusan 5-chome, Bunkyo-ku Tokyo, Japan Kondensator mit veränderbarer Kapazität PATENTANSPRÜCHE
1. Kondensator mit veränderbarer Kapazität, g e k e η η zeichnet durch ein Halbleitersubstrat (9), eine Vielzahl von Kondensatorelementen (10A, 10B, 10C) mit veränderbarer Kapazität, von denen jedes einen Verarmungsschichtsteuerteil (16) und einen Kapazitätsäbnähmeteil (13) aufweist, die beide auf dem Substrat (9) ausgebildet sind, eine eine Vorspannung anlegende Einrichtung zum Anlegen einer Vorspannung (V_) an die Verarmungsschichtsteuerteile (16) und eine Quelle einer variablen Spannung zum Liefern der Vorspannung (V_), wobei wenigstens die Teile des Halbleitersubstrates (9), an denen sich die Kapazitätsabnahmeteile (13) befinden, voneinander verschiedene Ladungsträgerkonzentrationen haben.
2. Kondensator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Ladungsträgerkonzentration
des Halbleitersubstrates (9) in eine Richtung des Substrates allmählich zunimmt oder abnimmt. 5
3. Kondensator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , dass isolierte Bereiche (23) zwischen jeweils benachbarten Kondensatorelementen (1OA, 1OB, 1QC) mit veränderbarer Kapazität vorgesehen sind.
'
4. Kondensator nach einem der Anspruch -1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Verarmungsschichtsteuerteil (16) den Aufbau eines PN-Überganges hat.
5. Kondensator nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet , dass der Verarmungsschichtsteuerteil (16) einen MIS-Aufbau hat.
6. Kondensator nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet , dass der Verarmungsschichtsteuerteil (16) einen Schottky-Sperrschichtaufbau hat. .
7. Kondensator nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet ,dass der Kapazitätsabnahmeteil (13) den Aufbau eines PN-Überganges hat.
8. Kondensator nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, dass der Kapazitätsabnahmeteil (13) einen MIS-Aufbau hat.
9. Kondensator nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Kapazitätsabnahmeteil (13) einen Schottky-Sperrschichtaufbau hat.
DE19813150059 1980-12-18 1981-12-17 Kondensator mit veraenderbarer kapazitaet Withdrawn DE3150059A1 (de)

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