DE3037544A1

DE3037544A1 - Integrationszeitdetektor fuer photographische vorrichtungen

Info

Publication number: DE3037544A1
Application number: DE19803037544
Authority: DE
Inventors: Mamoru Aihara; Tsuyoshi Ina Nagano Matsuura; Yoshio Hachioji Tokyo Nakajima; Yutaka Takahashi
Original assignee: Olympus Optical Co Ltd
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 1979-10-05
Filing date: 1980-10-03
Publication date: 1981-04-09
Also published as: JPS5653484A; US4329030A; JPS621225B2; DE3037544C2

Description

DR.-ING. FRANZ TUESTHOFF

PATEN TAMViLTE _{DR pHIL}_ _{pREDA TÜESTHOFF}

DIPL.-CHJEM. DR. E.FREIHERR VON PECHMANN PROFESSIONAL REPRESENTATIVES BEFORE THE EUROPEAN PATENT OFFICE DR.-ING. DIETER BEHRENS

MANDATAIRES AGREES PRES !.'OFFICE EUROPEEN DES BREVETS DIPL₁-INCJDIPL₁-VIRTSCH₁-INCRUPERTGOETz

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D-8000 MÜNCHEN 90 SCHWEIGERSTRASSE 2

1A-53 949

Telefon: (085) 66zo ji

Olympus Optical Company telegramm: protectfatent

Limited, Tokyo, Japan telex: j24070

Beschreibung

Integrationszeitdetektor für photographische

Vorrichtungen

Die Erfindung betrifft einen Integrationszeitdetektor zur Verwendung in einer photographischen Vorrichtung.

Eine Integrationsschaltung wird z.B. in einer Photometerschaltung eines Photoapparates, insbesondere in einer direkten photometrisehen Schaltung verwendet» Die Integrationsschaltung kann Lichtstrom integrieren, der von einem lichtelektrischen Wandlerelement in Abhängigkeit vom Einfall des von einem zu photographierenden Objekt reflektierten Lichts erzeugt wird, um die Belichtungsdauer festzulegen, die dem vom Objekt kommenden Licht entspricht. Eine solche Schaltung hat jedoch den Nachteil, daß die Integration nicht über längere Zeit hinweg erfolgen kann, da die Integrationsperiode durch Merkmale des verwendeten integrierenden Kondensators, beispielsweise dessen Leckstrom oder Kriechstrom begrenzt ist. Wenn die Integrationsschaltung in einer photographischen Kamera verwendet wird, bedeutet das, daß die Kombination keine Belichtungsdauer von höherem Wert für die Kamera möglich macht. Wenn andererseits eine solche Integrationssehaltung unter Bedingungen mit sehr geringer Beleuchtungsstärke benutzt wird, z.B.

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beim Photographieren mit einem Mikroskop, besteht ein Kachteil darin, daß eine lange Integrationszeit nötig ist.

Aufgabe der Erfindung ist es, die genannten Kachteile des Standes der Technik durch Schaffung eines Integrationszeitdetektors für eine photographische Vorrichtung zu umgehen, mit dem selbst bei längerer Integrationazeit die benötigte IntegrationsZeitspanne in einem früheren Zeitpunkt errechnet werden kann, indem eine Bezugsspannung, mit der eine integrierte Spannung zum Feststellen der Integrationszeitspanne verglichen wird, geändert wird.

Gemäß der Erfindung wird eine Bezugsspannung, mit der eine integrierte Spannung verglichen wird, geändert, um bei längerer Dauer der Integrationszeit die Errechnung der benötigten Integrationszeitspanne in einem früheren Zeitpunkt zu ermöglichen, ehe die tatsächliche Integrationszeitspanne abläuft. Auf diese Weise wird der nachteilige Einfluß des Kriechstroms eines integrierenden Kondensators ausgeschaltet, selbst wenn es sich um eine Integrationszeitspanne von größerer Länge handelt. Wird mit einem Mikroskop photographiert, wobei die Beleuchtungsstärke gering ist, so daß eine lange Integrationszeit nötig ist, dann kann die benötigte Integrationszeitspanne in einem früheren Zeitpunkt errechnet werden.

Dadurch daß eine Bezugsspannung, mit der eine integrierte Spannung verglichen wird, gemäß einer in einem Rechner gespeicherten Zeitfunktion verringert wird, kann ein Integrationszeitdetektor gemäß der Erfindung eine Integrationszeitspanne innerhalb verkürzter Zeit ableiten.

Im folgenden ist die Erfindung mit weiteren vorteilhaften Einzelheiten anhand eines schematisch dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert. In den Zeichnungen zeigt:

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Fig. 1 ein elektrisches Blockschaltbild eines Integrationszeitdetektors gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung;

Fig. 2 eine graphische Darstellung der Wahl einer Bezugsspannung zur Erläuterung des Betriebs des in Fig. 1 gezeigten Detektors;

Fig. 3 ein Schema einer Integrationszeitspanne, die mit dem Detektor gemäß Fig. 1 als Funktion der Filmenrpfindlichkeit und Beleuchtungsstärke feststellbar ist.

Fig. 1 zeigt die elektrische Schaltung eines Integrationszeitdetektors gemäß der Erfindung, der insbesondere ein lichtelektrisches Wandlerelement 1 aufweist, welches auf Licht von einem zu photographierenden Objekt unter Erzeugung eines Ausgangslichtstroms anspricht, der seinerseits mittels einer Integrationsschaltung 2 integriert wird. Ein Ausgang der Integrationsschaltung 2 bzw. eine integrierte Spannung wird an einen Spannungskomparator 8 angelegt, der außerdem von einer Rechen- und Steuerschaltung 9 eine Bezugsspannung erhält. Die Integrationssehaltung 2 ist einem Schalttreiter 7 zugeordnet, der das Entladen der integrierten Spannung steuert.

Insbesondere gehört zur Integrationsschaltung 2 ein Betriebs- ' verstärker 3, an dessen einem Eingang der Ausgangslichtstrom des Wandlerelements 1 anliegt, sowie ein integrierender Kondensator k-_t der an den Eingangs- und Ausgangsanschluß des Verstärkers angeschlossen ist, sowie eine Reihenkombination aus einem Entladungswiderstand 5 und einem Schalter 6, die im Nebenschluß zum Kondensator vorgesehen ist. Aufgabe der Reihenkombination aus Entladungswiderstand 5 und Schalter 6 ist es, die integrierte Spannung am Kondensator freizugeben bzw. su entladen, sobald der Detektor die Integrätionszeitspanne festgestellt hat.

Die Rechen- und Steuerschaltung 9 weist eine Einrichtung 11 in Form einer Reihe oder Bank von Schaltern auf,

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Vh 9

die zum vorherigen Einstellen der Filmempfindlichkeit benutzt werden, sowie eine Koppel schaltung 12, die auf die von der Schalterreihe 11 gelieferte Information hinsichtlich der Filmempfindlichkeit so anspricht, daß sie diese in ein Spannungsniveau umwandelt, welches für einen nachgeschalteten Rechner 10 passend ist,ferner einen Decodierer/Zwischenspeicher 13» der verschiedene Steuerangaben vom Rechner über eine Adressenleitung 1OA bzw. eine Datenleitung 1OB empfängt und zeitweilig speichert und diese Angaben decodiert, und einen Digital-Analog-Umsetzer Ik₃ dem vom Decodierer/Zwischenspeicher 13 eine Bezugsspannung darstellende digitale Information zugeführt wird, die der Umsetzer in eine analoge Bezugsspannung umwandelt, und schließlich eine Anzeigevorrichtung 15» die Angaben über die Integrationszeitspanne anzeigt, welche vom Decodierer/Zwischenspeicher 13 geliefert werden. Die vom Digital-Analog-Umsetzer"14 erzeugte analoge Bezugsspannung liegt an einem Eingang des Sp&nnungskomparators 8 an, vo sie mit der integrierten Spannung von der Integrationsschaltung 2 verglichen wird, die am anderen Eingang der Vergleichsschaltung anliegt. Wenn die integrierte Spannung der analogen Bezugsspannung entspricht oder diese übersteigt, erzeugt der Komparator ein Ausgangssignal, welches in den Rechner 10 eingegeben wird. Auf der Basis der von der Schalterreihe 11 gelieferten Information hinsichtlich der Filmempfindlichkeit entwickelt der Rechner 10 eine Bezugsspannung, die dem Spannungskomparator 8 über den Analog-Digital-Umsetzer 14 zugeführt wird, und überwacht das Vergleichsergebnis, um die Integrationszeitspanne festzustellen. Wenn die Integrationszeitspanne bestimmt ist, liefert der Rechner 10 ein die beendete Integration anzeigendes Signal, welches an den Schalttreiber 7 angelegt wird, der daraufhin den Schalter 6 der Integrationsschaltung 2 schließt, um auf diese Weise die integrierte Spannung am Kondensator 4 über den Entladungswiderstand 5 zu entladen. Damit ist ein Integrationsvorgang beendet und die Schaltung für den Beginn eines weiteren

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Operationszyklus bereit. Es sei noch erwähnt, daß der Decodierer/Zwischenspeicher I3 in der Rechen- und Steuerschaltung 9 ein bei I7 gezeigtes Steuersignal liefern kann, mit dessen Hilfe ein hier nicht gezeigter Verschluß bei vom Rechner 10 festgestellter Beendigung der Integrationszeitspanne geschlossen wird.

Ein Merkmal des Integrationszeitdetektors gemäß Fig. 1 besteht darin, daß die an einem Eingang des Spannungskomparators 8 anliegende Bezugsspannung unter Steuerung durch den Rechner 10 geändert wird. Die Änderung der Bezugsspannung hängt auch von der von der Schalterreihe 11 gelieferten Information hinsichtlich der Filmempfindlichkeit ab. Die Art und Weise in der der Rechner 10 die Bezugsspannung ändert, damit im Fall einer längeren Integrationszeitspanne diese in einem früheren Zeitpunkt festgestellt werden kann, soll anhand von Fig. 2 näher erläutert werden.

In Fig. 2 ist auf der Ordinate eine integrierte Spannung V gezeigt, die über einer Integrationszeit t auf der Abszisse eingetragen ist. Die graphische Darstellung gemäß Fig. 2 entspricht der Anwendung des in Fig. 1 gezeigten Integrationszeitdetektors in einer photometrischen Schaltung einer photographischen Kamera mit direkter Photornetrie. In Fig. 2 entspricht eine Bezugs spannung V-, ^ einer Filmempfindlichkeit des ASA-Wertes l6, während eine Bezugsspannung Vo₂₀₀ einem ASA-Wert 3200 der Filmempfindlichkeit entspricht. Die Bezugsspannung V hat bei geringer Filmempfindl'ichkeit einen höheren Wert und bei hoher Filmempfindlichkeit einen niedrigeren Wert. Gemäß Fig. 2 ist die Photometrie für einen Bereich von Filmempf indl ic hke it en von ASA 16 bis ASA 3200 möglich. Auf der Abszisse ist eine minimale Integrationszeitspanne t _in und eine maximale Integrationszeitspanne t eingetragen, die

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die während direkter Photometrie mögliche Mindestintegrationszeitspanne bzw. die maximal mögliche Integrationsffiitspanne bedeuten. Mit einer herkömmlichen photometrischen

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Schaltung ist eine perfekte Fhotometrie nur viährend einer Belichtungsdauer möglich, die einer Integrationszeitspanne von t . bis t entspricht. Ist die Integrationszeitspanne

größer als t„,„ . so hat der Leckstrom bzw. Kriechstrom des max

integrierenden Kondensators einen nachteiligen Einfluß auf die Integrierwirkung und verhindert, daß die richtige Belichtungsdauer festgestellt wird. Außerdem kann die Peststellung bei längerer Dauer der Integrationszeitspanne nur nach deren Beendigung erfolgen.

In Fig. 2 ist als Ausgangspunkt eine Integrationszeitspanne t„ und eine integrierte Spannung des Wertes Null festgelegt. Vom Ausgangspunkt erstreckt sich eine Anzahl gerader Linien, die integrierte Spannungen V_Lmax, V_f, V_Lm(l6), V_e und V_Lmin anzeigen und unterschiedlichen Werten der Beleuchtungsstärke L als Parameter entsprechen. Von den verschiedenen Werten der Beleuchtungsstärke L_max, L_f, L^-^^)» L_e und L_min stellt

der Wert L__„ die maximale Beleuchtungsstärke und der Wert

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L . die minimale Beleuchtungsstärke dar, die photometrisch feststellbar ist. Für die Zwecke der vorliegenden Darstellung wird davon ausgegangen, daß die Beleuchtungsstärke einen Wert von L_f hat, und daß der ASA-Wert der Filmempfindlichkeit <X* ist. In diesem Fall hat die Bezugs spannung V einen Wert V₀^ , wie er auf der Ordinate eingetragen ist. Die mittels Photometrie festgestellte richtige Belichtungsdauer ist die Kurve V-, die eine integrierte Spannung für die Beleuchtungsstärke L.p darstellt und die Bezugs spannung V₀^ kreuzt bzw. einen Schnittpunkt f zwischen der integrierten Spannung V- und einer vom Wert V_04- auf der Ordinate ausgehenden horizontalen Linie hat. Da die Integrationszeitspanne t~ in diesem Fall zwischen dem Minimal- und dem Maximalwert t . und

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t liegt, läßt sie sich im üblichen direkten photometrischen Verfahren errechnen, so daß die Bezugs spannung V₀^ nicht geändert werden muß.

Betrachtet man jedoch die Beleuchtungsstärke L und die Be-

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• /fO·

zugsspannung V-^ , so zeigt sich, daß die die Integrationsspannung V für die Leuchtstärke L darstellende gerade Linie die der Bezugsspannung V₃₆ entsprechende horizontale Linie nicht kreuzen kann, ehe die maximale Integrationszeitspanne t erreicht ist. Mit anderen Worten, die die integrierte Spannung V darstellende Linie kreuzt die der Bezugsspannung V₀₆ entsprechende horizontale Linie in einem Punkt e, der jenseits der maximalen Zeitspanne t liegt.

IXl cL-Λ-

Die dem Schnittpunkt e entsprechende Integrationszeitspanne ist t . Es ist also eine längere Zeit nötig als die maximale Integrationszeitspanne t ,um die Integrationszeitspanne t mit der üblichen direkten Photometrie festzustellen. In diesem Fall wird der Integrationsvorgang durch den Kriechstrom des integrierenden Kondensators beeinflußt, und es kann, wie schon gesagt, die richtige Belichtungsdauer nicht bestimmt werden. Gemäß der Erfindung wird jedoch eine in Fig. 2 gezeigte gerade Linie ab definiert. Diese Linie ab verbindet einen Punkt a auf der der Be zugs spannung V, g entsprechenden horizontalen Linie mit einem Punkt b auf einer anderen horizontalen Linie, die der Be zugs spannung Vo₂₀O entspricht. Durch Verwendung der geraden Linie ab kann die Integrationszeitspanne vorzeitig bestimmt werden, um den Einfluß des Leckstroms des integrierenden Kondensators auszuschalten. Jegliche Bezugsspannung, die einem Punkt auf der Linie ab entspricht, ist im Rechner 10 gespeichert und wird dem Spannungskomparator 8 zugeführt. Beim Beispiel, mit der Beleuchtungsstärke L und der Bezugsspannung V^ wird ein dem ASA-Wert der Filmempfindlichkeit C6 entsprechender Wert in der Schalterreihe 11 des Integrationszeitdetektors gemäß Fig. 1 festgelegt und dieser Wert über die Koppelschaltung 12 in den Rechner 10 eingegeben. Der Rechner 10 errechnet die dem ASA-Wert der Filmempfindlichkeit entsprechende Bezugsspannung ^ unter Verwendung eines im Innenspeicher gespeicherten Werts, der unter Programmsteuerung manipulierbar ist,und liefert diesen über die Datenleitung 1OB an den Decodierer/Zwischenspeicher I3 unter Steuerung durch die

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Adressenleitung 1OA. Daraufhin wandelt der Digital-Analog-Umsetzer 14 die Spannung in eine entsprechende analoge Bezugsspannung um, die dann an einen Eingang des Sparnungskomparators 8 angelegt wird. Bei Beginn der Fhotoraetrie wird die am anderen Eingang des Spannungskomparators 8 von der Integrationsschaltung 2 anliegende integrierte Spannung V mit der Be zugs spannung ¹^v verglichen. V/ie schon erwähnt, kann die integrierte Spannung V die der Bezugsspannung ν_Λ entsprechende horizontale Linie nicht kreuzen, ehe die maximale Integrationszeitspanne t erreicht ist. Wenn jedoch

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eine Integrationszeitspanne t nach dem Beginn der Photo-

metrie erreicht ist, kreuzt die der Bezugsspannung V₀^ entsprechende horizontale Linie die Linie ab in einem Schnittpunkt c. Der Bechner 10 speichert nicht nur die Bezugsspannungswerte entsprechend der Linie ab sondern auch den Wert der Be zugs spannung V₀^ , der für die Photometrie benutzt wird, ebenso wie den Wert jeder entsprechenden Filmempfindlichkeit. Deshalb nimmt er im Moment der Integrationszeit t diese Integrationszeit t unter Programmsteuerung c c

ohne weiteres wahr und ändert die nachfolgende Bezugsspannung zu einem abgewandelten Wert um, der entsprechend dem Ansprechvermögen gemäß der Linie ä"b unterschiedlich ist. Die Bezugsspannung, die sich längs der Linie ab unterscheidet, wird,also über den Decodierer/Zwischenspeicher und den Digital-Analog-Umsetzer an den Spannungskomparator 8 gegeben. Die Bezugsspannung ändert sich allmählich längs der Linie ab in der durch Pfeil k angedeuteten Richtung. Im Zeitpunkt t. hat die

integrierte Spannung V einen Wert V'ι±\, der einem Punkt ej

^e e ^ j ;

auf der die integrierte Spannung V darstellenden Linie entspricht, während die unter Steuerung durch den Rechner 10 am Spannungskomparator 8 anliegende Bezugsspannung einen Wert V. annimmt, der einem Punkt j auf der Linie ab entspricht. Der Ausgang des Spannungskomparators 8 ändert sich in diesem Zeitpunkt also nicht. Wenn jedoch im Verlauf der Zeit die Integrationszeit t-, erreicht wird, kreuzt die integrierte Spannung eine der Bezugsspannung V, entsprechende Linie in

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• /fa-

einem Schnittpunkt d, wodurch der Spannungskornparator 8 einen Ausgang erzeugt. Dieser Ausgang wird an den Rechner 10 weitergegeben und die entsprechende ..Integrationszeitspanne t, im Bechner 10 gesteuert.

Wenn die den Schnittpunkt der integrierten Spannung mit der abgewandelten Bezugsspannung darstellende ·Integrationszeitspanne t-, festgestellt wird, errechnet der Rechner 10 die richtige Integrationszeitsparme t für die Beleuchtungsstärke L und die anfängliche Bezugs spannung V₀J, unter Verwendung der Integrationszeitspanne t,, der entsprechenden Bezugsspannung V,, der anfänglichen Bezugs spannung V₀^. sowie der geraden Linie, die die integrierte Spannung V für die Beleuchtungsstärke L darstellt, in folgender Weise:

Wenn man die der Linie ab entsprechende Bezugs spannung als V = f(t) darstellt, ist die Bezugsspannung V, auf einmalige Weise als V, = ^f^rt^ ^zu erhalten. Folglich läßt sich die Gleichung (1) wie folgt umschreiben:

Anhand der obigen Beschreibung ist klar, daß die tatsächliche Integrationszeitsparme t ohne weiteres in einem frühe ren Zeitpunkt t, errechnet werden kann, der vor dem Ende der maximalen Integrationszeitspanne t liegt, auch wenn die Integrationszeitsparme t die maximale Zeitspanne t über-

e max

steigt. Auf diese Weise kann der schädliche Einfluß des Kriechstroms des integrierenden Kondensators ausgeschaltet werden.

Bei Betrachtung der geraden Linie, die die integrierte Spannung V_Lmax für die maximal photometrisch zu bestimmende Be-

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leuchtungsstärke L darstellt, zeigt sich, daß sie die Bezugsspannung V, g entsprechend dem ASA-Wert l6 der Filmempfindlichkeit in einem Schnittpunkt g schneidet, was einer Integrationszeitspanne von t entspricht, und daß sie

auch die einem ASA-Wert der Filmempfindlichkeit 3200 entsprechende Bezugsspannung V„₂₀₀ in einem Schnittpunkt h schneidet, der die minimale Integrationszeitspanne t . darstellt. Die die integrierte Spannung V- . für die minimale Beleuchtungsstärke L . darstellende gerade Linie kreuzt die Bezugsspannung Voono entsprechend dem ASA-Wert 3200 der Filmempfindlichkeit im Zeitpunkt der maximalen Integrationszeitspanne t . Die die integrierte Spannung V,. _m/-\t\ für die Beleuchtungsstärke L -„f-i η darstellende gerade Ldnie kreuzt die Be zugs spannung V-, /- entsprechend dem ASA-Wert l6 der Filmempfindlichkeit im Zeitpunkt der maximalen Integrationszeitspanne t_max.

In Fig. 3 ist der Betriebsbereich des anhand von Fig. 1 und 2 beschriebenen Integrationszeitdetektors als Funktion der ASA-Werte der Filmempfindlichkeit sowie der Beleuchtungsstärke schematisch dargestellt. Auf der Abszisse sind die ASA-Werte der Filmempfindlichkeit von l6 bis 3200 eingetragen, während die Ordinate die feststellbare Integrationszeitspanne angibt. Auf der Ordinate ist die mininiale Integrationszeitspanne t . am weitesten oben und die im direkten photometrischen Verfahren feststellbare maximale Integrationszeitspanne t _„ darunter gezeigt. Die maximale Inte-

in ax

grationszeitspanne T _x, die mit dem Integrationszeitdetektor gemäß der Erfindung feststellbar ist, ist unten im Diagramm eingetragen. Die verschiedenen Pegel der Beleuchtungsstärke L _x» L . /,/u ^i ^s^-ⁿ^ durch schräg nach links oben gerichtete Pfeile angedeutet. Es sei erwähnt, daß der gleiche Wert der Beleuchtungsstärke in der durch den jeweiligen Pfeil angedeuteten Richtung vorherrscht. Der Bereich A in Fig. 3 stellt denjenigen Bereich dar, in dem die Photometrie mit einer herkömmlichen Integrationsschaltung in einem direkten photometrischen Verfahren möglich ist, während

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der Bereich B den Bereich angibt, der mit einem Integrationszeitdetektor gemäß der Erfindung feststellbar ist. Der Bereich A reicht vom Minimum zum Maximum der Integrationszeitspannen t . bis t für ASA-Werte der Filmempfindlichkeit von l6 bis 32ΟΟ bei Beleuchtungsstärken von L bis L .. Im Gegensatz dazu ist bei Benutzung des Integrationszeitdetektors gemäß der Erfindung die feststellbare maximale Integrationszeitspanne bis zu einem Wert von T ausgedehnt.

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L e e r s e i t e

Claims

Patentansprüche

Integrationszeitdetektor für eine photographische Vorrichtung mit einer Integrationseinrichtung zum Integrieren eines Eingangssignals zur Schaffung eines Integralsignals und einer Vergleichseinrichtung zum Vergleich des von der Integrationseinrichtung abgegebenen Integralsignals mit einem Bezugssignal zur Ausgabe eines Koinzidenzsignals, wenn beide Signale zusammenfallen,

gekennzeichnet durch eine Einrichtung (10), die der Vergleichseinrichtung (8) ein gegebenes Bezugssignal zum Vergleich mit dem Integralsignal liefert, bis eine gegebene Zeitspanne erreicht ist, und die der Vergleichseinrichtung (8) ein sich änderndes Bezugssignal liefert, welches sich als gegebene Punktion der Zeit nach der gegebenen Zeitspanne ändert, außer wenn das Integralsignal den gegebenen Bezugswert nicht innerhalb der gegebenen Zeitspanne erreicht, wobei eine Zeit festgestellt wird, zu der das Integralsignal mit der sich ändernden Bezugsspannung zusammenfällt, und wobei die Einrichtung (10) eine IntegrationsZeitspanne entsprechend dem gegebenen Bezugssignal auf der Basis der Zeit, zu der die Koinzidenz festgestellt wird, des gegebenen Bezugssignals und der gegebenen Funktion der Zeit errechnet.

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2. Integrationszeitdetektor nach Anspruch 1, gekennze ichne t durch eine Einrichtimg (11) zum Voreinstellen von Informationen, die dem gegebenen Bezugssignal entsprechen, mit dem das Integralsignal der Integrationseinrichtung (8) verglichen wird, wobei die Recheneinrichtung (10) das gegebene Bezugssignal erzeugt, welches der voreingestellten Information für eine gegebene Zeitspanne entspricht, die dem gegebenen Bezugssignal entspricht.
3. Integrationszeitdetektor nach Anspruch 1, gekennze ichne t durch eine Anzeigevorrichtung (15), die mit der Recheneinrichtung (10) verbunden ist und die von der Recheneinrichtung abgeleitete Integrationszeitspanne anzeigt.
^. Integrationszeitdetektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß die Recheneinrichtung einen Rechner (10) aufweist.
5. Integrationszeitdetektor nach Anspruch ^, dadurch gekennzeichnet , daß die Recheneinrichtung (10) zusätzlich einen Decodierer/Zwischenspeicher (13) zum zeitweiligen Speichern und Decodieren unterschiedlicher, vom Rechner (10) gelieferter Informationen, sowie einen Digital-Analog-Umsetzer (1^) aufweist, der digitale Informationen vom Decodierer/Zwischenspeicher (13)» die dem Bezugssignal entsprechen, in ein entsprechendes analoges Bezugssignal zur Anlage an die Vergleichseinrichtung (8) umwandelt.
6. Integrationsdetektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß eine Koppelschaltung (12) vorgesehen ist, die mittels der Voreinstelleinrichtung (11) im voraus eingestellte Informationen in ein Signal umwandelt, welches für die Recheneinrichtung (10) geeignet ist.

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7. Integrationszeitdetektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß die Integrationseinrichtung (2) einen integrierenden Betriebsverstärker (3) aufweist, an dessen einem Eingang ein Eingangssignal entsprechend einer elektrischen Umwandlung von Licht von einem zu photographierenden Objekt anliegt, welches photometrisch bestimmt ist, sowie einen integrierenden Kondensator (4), der an den anderen Eingang des Betriebsverstärkers (3) und dessen Ausgangsanschluß angeschlossen ist, sowie eine Reihenschaltung mit einem Widerstand (5) und einem Schalter (6), die mit dem integrierenden Kondensator (4-) im Nebenschluß vorgesehen sind, und daß die Vergleichseinrichtung (8) einen vergleichenden Betriebsverstärker (8) aufweist, dessen einer Eingang mit dem Ausgang des zuerst genannten Betriebsverstärkers (3) verbunden ist und dessen anderer Eingang so vorgesehen ist, daß er das Bezugssignal der Recheneinrichtung (10) empfängt, wobei ein Ausgangssignal des vergleichenden Betriebsverstärkers (8) an der Recheneinrichtung (10) anliegt.

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