DE3028570C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren nach dem Oberbegriff des
Patentanspruchs 1.
Bisher werden Halbleiterbauelemente auf galvanisch veredelten,
zum Beispiel mit Gold, Silber, Nickel oder Aluminium versehenen
oder speziell präparierten (zum Beispiel oxidfreien) Metallober
flächen durch Thermokompression oder Ultraschall angeschlossen.
Dabei werden an die Oberfläche des Anschlußträgers im Bereich
der Anschlußstelle hohe Anforderungen gestellt: Diese Oberfläche
soll möglichst eben sein und keine Riefen aufweisen; auch muß
diese Oberfläche frei von irgendwelchen Verunreinigungen sein.
Ein Verfahren nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 ist
bekannt aus DE-PS 19 66 001. Dabei ist die Verbindung zwischen
dem elektrischen Anschlußträger und dem Kontaktierdraht ziemlich
umständlich und/oder bietet keinen ausreichend zuverlässigen
elektrischen Kontakt.
Ein Verfahren zum Kontaktieren eines Halbleiterbauelements ist
auch aus DE-OS 19 64 668 bekannt. Dabei ist ein dicker Draht,
der über einen Träger elektrisch mit der Kollektor-Elektrode des
Halbleiterbauelements verbunden ist, durch mechanisches Einklem
men zwischen den Wänden des Schlitzes des Trägers fest mit dem
Träger verbunden. Dieser dicke Draht ist jedoch nicht zum direk
ten Kontaktieren des Halbleiterbauelements geeignet. Zum Kontak
tieren des Halbleiterbauelements werden bei dieser Veröffentlichung
dünne Drähte verwendet. Das Kontaktieren des Halbleiterbauelements
erfordert dabei nicht nur zusätzlich einen dicken Draht, sondern
zusätzlich auch noch eine Klemmvorrichtung.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Ver
fahren nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 anzugeben,
das eine Verbindung eines Kontaktierdrahtes, der direkt mit dem
Halbleiterbauelement verbunden ist, mit einem Anschlußträger
ohne besonderen Aufwand erlaubt.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren nach dem
Patentanspruch 1 gelöst.
Vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sind
in den Patentansprüchen 2 bis 7 angegeben.
Ein Verfahren nach der Erfindung bietet folgende Vorteile:
Frei wählbare Bondrichtung (Bondverfahren mit geschlossener Düse),
keine Schwächung des Drahtquerschnitts durch keilförmige Kraft
einleitung (mechanisch oder Ultraschall), alle Trägermaterialien
ohne Oberflächenveredelung verwendbar, alle Feindrähte im wei
ten Durchmesserbereich verwendbar (edelmetallfrei), bisherige
Bondautomaten umrüstbar, keine Temperaturbelastung beim Bonden
erforderlich, Toleranzaufweitung im Abkontaktierbereich, günsti
gere Bogenform des Kontaktierdrahtes, bessere Verankerung des
Anschlußträgers möglich.
Die Erfindung ermöglicht ein wirtschaftliches Drahtbondverfahren
für den trägerseitigen Anschluß. Dabei wird der Kontaktierdraht
durch Zuquetschen oder Verstemmen einer V-förmigen Kerbe oder
eines V-förmigen Einschnitts oder eines U-förmigen Endes des
Anschlußträgers oder eines U-förmigen Vorsprungs des Anschluß
trägers befestigt. Dabei kann eine Kaltverschweißung entstehen,
durch die eine gute elektrische und mechanische Verbindung zwi
schen Kontaktierdraht und dem Anschlußträger gewährleistet
wird.
Die Erfindung ermöglicht, daß
die Anschlußstelle des Anschlußträgers, in die der Kon
taktierdraht eingequetscht wird, konisch zuläuft. Da
durch wird ein einfaches Einführen des Kontaktierdrahtes
in den Anschlußträger vor dessen Quetschung ermöglicht.
Durch diese Quetschung oder Einklemmung oder Verstemmung
wird der Kontaktierdraht im Bereich der Anschlußstelle
mit einem sich kontinuierlichen verändernden Querschnitt
versehen, so daß keine mechanische Schwächung des Kon
taktierdrahtes oder eine Erhöhung von dessen elektri
schem Widerstand auftritt.
Um einen besonders guten Kontakt in der Anschlußstelle
zwischen dem Kontaktierdraht und dem Anschlußträger zu
gewährleisten, können zusätzliche Methoden der Verbin
dungstechnik angewandt werden, zum Beispiel Schweißen,
Löten, Kleben. Das Verschweißen kann dabei ein Ultra
schallschweißen oder ein Widerstandsschweißen sein.
Der konische Verlauf der Anschlußstelle im Anschlußträ
ger kann durch eine konische Nut und/oder konische
Klemmbacken beim Quetschen erzielt werden. Weiterhin
kann beim Quetschen des Anschlußdrahtes durch dessen
Verformen eine Kaltverschweißung auftreten. Auch können
die Oberfläche des Halbleiterkörpers beziehungsweise
der auf diesem Halbleiterkörper angebrachte Kontaktier
draht und die Nut in verschiedenen Ebenen und Richtun
gen verlaufen. Weiterhin kann der Kontaktierdraht vom
Halbleiterkörper zur Anschlußstelle im Anschlußträger
in einem Bogen geführt werden. Damit ist die Kontaktier
richtung frei wählbar.
Der Kontaktierdraht kann auch in einen Einschnitt des
Anschlußträgers eingelegt werden, so daß dann durch
seitliche Krafteinleitung der Kontaktierdraht im Ein
schnitt mit dem Anschlußträger verbunden wird. Weiterhin
ist es möglich, daß der Anschlußträger um den Kontak
tierdraht herum gebogen wird, wobei in diesem Fall die
Krafteinleitung auf den gebogenen Anschlußträger er
folgt, um diesen mit dem Kontaktierdraht zu verbinden.
Es ist auch möglich, daß der Kontaktierdraht in einen
seitlichen Einschnitt des Anschlußträgers eingelegt
wird, und daß dann durch Krafteinleitung in Richtung des
Anschlußträgers dieser mit dem Kontaktierdraht verbunden
wird. Durch das Einquetschen oder Einklemmen oder Ver
stemmen des Kontaktierdrahtes in den Anschlußträger kann
der Kontaktierdraht mit dem Anschlußträger verschweißt
werden. Der Einschnitt kann die Form einer Kerbe aufwei
sen. Weiterhin kann der Anschlußträger mit einem Vor
sprung versehen sein, der um den Kontaktierdraht gebogen
wird, wobei dann die Krafteinleitung senkrecht zum umge
bogenen Teil des Anschlußträgers erfolgt, um diesen mit
dem Kontaktierdraht zu verbinden.
Die Erfindung ermöglicht eine elektri
sche Kontaktverbindung zwischen einem Halbleiterkörper
und einem Anschlußträger, wobei der Anschluß
träger eine keilförmige Vertiefung aufweist, in die ein
mit dem Halbleiterkörper verbundener Kontaktierdraht
eingequetscht oder eingeklemmt ist.
Das erfindungsgemäße Kontaktierverfahren
eignet sich besonders zur Kontaktierung von Leuchtdioden,
Displays, Fotodioden und so weiter. Es ist aber
selbstverständlich auch für beliebige Halbleiterbauele
mente einschließlich integrierten Schaltungen und sogar
allgemein für Bauelemente anwendbar.
Zusätzlich ist der Anschlußträger im Kunststoff eines Ge
häuses gut zu verankern.
Nachfolgend werden Ausführungsbeispiele der Erfindung an Hand der Zeichnung nä
her erläutert. Es zeigt
Fig. 1 die Kontaktierung mit einem Leuchtdioden-An
schlußträger,
Fig. 2 die Kontaktierung mit einem flachen Zeilen-
Anschlußträger,
Fig. 3 die Kontaktierung mit einem flachen Zeilen-An
schlußträger nach einem anderen Ausführungsbei
spiel,
Fig. 4 die Kontaktierung mit einem flachen Zeilen-An
schlußträger nach einem weiteren Ausführungsbei
spiel der Erfindung,
Fig. 5 die Kontaktierung mit einem auf einer Bodenplat
te befestigten Anschlußträger,
Fig. 6 die Kontaktierung mit einem auf einer Bodenplat
te befestigten Anschlußträger nach einem anderen
Ausführungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 7 eine Kerbe, in die der Kontaktierdraht einge
führt ist,
Fig. 8 die Verbindung des Kontaktierdrahtes mit dem An
schlußträger der Fig. 7 durch Quetschen,
Fig. 9 die Verbindung des Kontaktierdrahtes mit dem An
schlußträger der Fig. 7 durch Schweißen,
Fig. 10 ein weiteres Ausführungsbeispiel für den An
schlußträger und den Kontaktierdraht vor dem
Quetschen oder Schweißen,
Fig. 11 die Verbindung des Kontaktierdrahtes mit dem An
schlußträger entsprechend Fig. 10 nach dem Quet
schen oder Schweißen,
Fig. 12 und 13 die Verbindung des Kontaktierdrahtes mit dem An
schlußträger durch Verstemmen.
In den Figuren sind einander entsprechende Bauteile mit
den gleichen Bezugszeichen versehen.
Fig. 1 zeigt einen Träger 1 und einen Anschlußträger 2.
In einer Aushöhlung 3 des Trägers 1 ist der Halbleiter
körper 4 einer Leuchtdiode vorgesehen. Zwischen einer
Kontaktstelle 5 des Halbleiterkörpers 4 und dem An
schlußträger 2 ist ein Kontaktierdraht 6 geführt, der in
einen Einschnitt oder eine Kerbe 7 des Anschlußträgers 2
eingequetscht oder eingeklemmt ist. Das Einquetschen
oder Einklemmen des halbleiterabgewandten Endes des Kon
taktierdrahtes 6 in die Kerbe 7 des Anschlußträgers 2
erfolgt durch seitliche Krafteinleitung in der Richtung
von Pfeilen 8, 9, so daß das halbleiterabgewandte Ende
des Kontaktierdrahtes 6 formschlüssig mit dem Anschluß
träger 2 verbunden wird.
Vor der Krafteinleitung kann der Draht 6 in der Kerbe 7
durch einen Haken, eine Schlaufe oder einen Wickel oder
dergleichen gehalten werden.
Fig. 2 zeigt ein Beispiel für die Kontaktierung mit ei
nem Zeilen-Anschlußträger 2. Bei diesem Ausführungsbei
spiel wird der Kontaktierdraht 6 zwischen zwei Erhöhun
gen 10, 11 des Anschlußträgers 2 durch Krafteinleitung
in der Richtung der Pfeile 8, 9 eingeklemmt oder einge
quetscht.
Diese Erhöhungen 10, 11 können auch aus einer einzigen
Erhöhung oder einer Umbördelung eines seitlichen Vor
sprungs des Anschlußträgers 2 bestehen, wobei in diese
umgelenkte Erhöhung dann eine Kerbe 7 eingebracht ist.
Wie in Fig. 3 gezeigt ist, kann die Richtung der Kerbe 7
auch unter einem spitzen Winkel zu der Seitenfläche des
Halbleiterkörpers 4 verlaufen, die den Anschlußträger 2
zugewandt ist.
Fig. 4 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel der Er
findung gezeigt, bei dem das halbleiterabgewandte Ende
des Kontaktierdrahtes 6 in ein umgebogenes Ende des An
schlußträgers 2 eingeklemmt ist.
Fig. 5 gibt ein Beispiel für eine Bodenplatte 15 an, auf
der der Halbleiterkörper 4 vorgesehen ist. Bei diesem
Ausführungsbeispiel ist der Kontaktierdraht 6 zu einer
Kerbe oder zu einem Einschnitt 7 geführt, die bezie
hungsweise der im Ende eines Anschlußstiftes 16 vorgese
hen ist, der durch eine Isolierung 17 von der Bodenplat
te 15 elektrisch isoliert ist. Auch hier erfolgt das
Einquetschen oder Einklemmen des Kontaktierdrahtes 6 in
die Kerbe 7 des Anschlußstiftes 16 durch seitliche
Krafteinleitung in der Richtung der Pfeile 8, 9.
Fig. 6 zeigt ein von Fig. 5 abgewandeltes Ausführungs
beispiel, bei dem die Kerbe 7 in der Mantelfläche des
Stiftes 16 liegt, so daß das Einquetschen oder Einklem
men durch Krafteinwirkung senkrecht zur Oberfläche des
Halbleiterkörpers 4 in der Richtung eines Pfeils 18
durchgeführt werden kann.
Fig. 7 zeigt die Kerbe 7 mit dem Kontaktierdraht 6 im
Anschlußträger 2 in Einzelheiten. Wie aus Fig. 7 zu er
sehen ist, wird der Kontaktierdraht 6 in das untere Ende
der Kerbe 7 eingelegt. Anschließend erfolgt eine Kraft
einwirkung in der Richtung der Pfeile 8 und 9. Dadurch
wird das obere Ende der Kerbe 7 geschlossen, so daß der
Kontaktierdraht 6 in die Kerbe 7 eingequetscht wird
(vergleiche Fig. 8). Bei noch größerer Krafteinwirkung
wird die Kerbe 7 vollständig geschlossen, und der Kon
taktierdraht 6 wird in der Kerbe 7 mit dem Anschlußträ
ger 2 verschweißt, wie dies in Fig. 9 gezeigt ist.
Fig. 10 gibt ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfin
dung an, bei dem ein Vorsprung 20 des Anschlußträgers 2
nach oben U-förmig gebogen ist. In diesen Vorsprung 20
wird der Kontaktierdraht 6 eingelegt. Dann erfolgt eine
Krafteinwirkung in der Richtung der Pfeile 8, 9, wodurch
der Anschlußdraht 6 zwischen dem Vorsprung 20 und dem
Anschlußträger 2 eingequetscht oder mit diesem ver
schweißt wird, wie dies Fig. 11 zeigt.
In Fig. 12 weißt ein bandförmiger Anschlußträger 2 eine
Kerbe 7 auf, in der ein Kontaktierdraht 6 liegt. Ein
Stempel 21 mit zwei Stempelspitzen leitet Kraft auf bei
den Seiten der Kerbe 7 ein. Dadurch wird der Anschluß
draht 6 in der Kerbe 7 durch Verstemmen mit dem An
schlußträger 2 verbunden.
Claims (7)
1. Verfahren zum Kontaktieren eines Halbleiterbauelements, bei
dem unmittelbar zwischen einem Halbleiterkörper (4) und einem
elektrischen Anschlußträger (2) ein Kontaktierdraht (6) geführt
ist,
dadurch gekennzeichnet, daß das Halblei
ter-abgewandte Ende des Kontaktierdrahtes (6) durch formschlüssi
ges Zuquetschen oder Verstemmen einer im Anschlußträger (2) vor
handenen V-förmigen Kerbe (7) oder eines im Anschlußträger (2)
vorhandenen V-förmigen Einschnitts (7) oder eines im Anschluß
träger (2) vorhandenen U-förmigen Endes oder eines im Anschluß
träger (2) vorhandenen U-förmigen Vorsprungs befestigt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß für den An
schlußträger (2) ein Material ohne Oberflächenveredelung verwen
det wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß das Material
für den Anschlußträger (2) ein Nichtedelmetall verwendet wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die Anschluß
stelle zwischen dem Kontaktierdraht (6) und dem Anschlußträger
(2) zusätzlich verschweißt wird.
5. Verfahren nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die Anschluß
stelle zwischen dem Kontaktierdraht (6) und dem Anschlußträger
(2) zusätzlich mittels Ultraschall-Schweißen oder Widerstand-
Schweißen verschweißt wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß im Anschluß
träger (2) für die Befestigung des Kontaktierdrahtes (6) eine
Nut (7) verwendet wird, die in einer anderen Ebene und in einer
anderen Richtung liegt als die Oberfläche des Halbleiterkörpers
(4).
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet, daß der Kontak
tierdraht (6) vom Halbleiterkörper (4) zur Anschlußstelle im
Anschlußträger (2) in einem Bogen geführt wird.
Priority Applications (4)
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DE19803028570 DE3028570A1 (de) | 1980-07-28 | 1980-07-28 | Verfahren zum kontaktieren von halbleiterbauelementen |
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DE3028570C2 true DE3028570C2 (de) | 1990-05-17 |
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ID=6108284
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- 1981-07-24 JP JP56116286A patent/JPS5753953A/ja active Pending
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