DE2942386C2 - Ionenquelle - Google Patents
IonenquelleInfo
- Publication number
- DE2942386C2 DE2942386C2 DE2942386A DE2942386A DE2942386C2 DE 2942386 C2 DE2942386 C2 DE 2942386C2 DE 2942386 A DE2942386 A DE 2942386A DE 2942386 A DE2942386 A DE 2942386A DE 2942386 C2 DE2942386 C2 DE 2942386C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- electrode
- molecular beam
- ions
- vacuum
- laser
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 41
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 2
- 235000009355 Dianthus caryophyllus Nutrition 0.000 claims 1
- 240000006497 Dianthus caryophyllus Species 0.000 claims 1
- 230000002940 repellent Effects 0.000 claims 1
- 239000005871 repellent Substances 0.000 claims 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
- H01J49/161—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission using photoionisation, e.g. by laser
- H01J49/162—Direct photo-ionisation, e.g. single photon or multi-photon ionisation
Description
Die Erfindung betrifft eine Ιοί enquelle nach dem
Oberbegriff des Patentanspruchs.
Eine derartige Ionenquelle ist aus der Druckschrift »Z. Naturforsch.« 33a (1978) 1546-1548 bereits
bekannt. Di« s bekannte Ionenquelle ist jedoch bezüglich der lonenausbeute in bezug auf die zugeführfenster
4 im Gehäuse 1 so in den Molekularstrahl M fokussiert, daß der Fokus F 0,5 mm vor der Düse und
damit auf der Achse der Durchgangsöffnungen 8, 8' liegt Die Wellenlänge des Laserlichts kann sowohl im
sichtbaren wie im UV-Bereich liegen; es müssen aber sowohl das Absorptionsverhalten wie das niedrigste
lonisationspotential des zu ionisierdenden Moleküls bei
der Wahl der Wellenlänge berücksichtigt werden, um gute lonenausbeute zu erhalten.
Um breite Anwendbarkeit dieser Ionenquelle auf möglichst viele Molekülsorten zu erreichen, kann der
Einsatz weiterer L^ser, insbesondere eines weiteren
gepulsten Lasers, vorteilhaft sein. Durch zeitlich synchronisiertes Zusammenwirken der beiden Laser-
ten Moleküle nicht optimiert F:ne Ionenquelle mit
mehreren in der Wellenlänge veränderlichen, gepulsten, 35 strahlen und deren Abstimmung auf das moleküispezifi-
fokussierten Laserstrahlen ist aus ck>- US-PS 39 14 655 sehe Absorptionsverhalten kann eine Ionisation auch
bekannt von mit nur einem Laserstrahl nicht ionisierbaren
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Ionenquelle nach Molekülen bewirkt werden. Dazu müssen sich die Foci
dem Oberbegriff des Patentanspruchs derart weiterzu- des ersten und zweiten Laserbündels überdecken. Das
bilden, daß eine optimale lonenausbeute bezüglich der 40 wird z. B. erreicht wenn das zweite Laserbündel in der
zugeführten Moleküle erreicht wird.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe durch die im Kennzeichen des Patentanspruchs aufgeführten Maßnahmen
gelöst
_ Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung an Hand der Zeichnungen beschrieben.
Es zeigt
F i g. 1 schematisch den Aufbau einer Ionenquelle in einer Sciinittebene, die durch die Ionen-Flugrichtung
und den Molekularstrahl festgelegt ist
F i g. 2 schematisch die ionenquelle nach F i g. 1 in einer Schniiiebene, die durch die ionen-Flugrichtung
und den Laserstrahl bestimmt ist.
F i g. 3 schematisch einen Schnitt durch ein Flugzeit-Ebene, die durch das LaserbünJei L und den
Molekularstrahl Mdefiniert ist, liegt und in entgegengesetzter
Richtung zu L durch ein zweites Fenster 4' mit einer zweiten Fokussieroptik in den Molekularstrahl M
fokussiert wird. Durch Feinjustierung dieser zweiten Fokussieroptik werden beide Foci zur Deckung
gebracht Die Elektroden 6 und 7 haben einen Abstand von 7 mm, die Elektroden 7 und T von 2 mm. Die
Durchgangsöffnungen 8, 8' haben einen Durchmesser von 5 mm. Alle Elek'roden haben einen Gesamtaußendurchmesser
von 45 mm. Sie bestehen aus Edelstahl. Abstandhalter zwischen den Elektroden und Isoiierunjen
für die Spannungsversorgung bestehen aus Keramik. Durch die Kombination der Elektroden 7 und
Massenspektrometer mit der Ionenquelle nach den 55 T werden die Ionen aus dem Fokus abgezogen und in
" ' ' ~ der Ionenflugrichtung / schwach fokussiert Das
Abzienen der ionen kann aucn aurcn aie tiektrode 7
alleine erreicht werden. Die Elektroden und die Düse 3 werden so auf Potential gelegt, daß die Düse die
Ausbildung rotationssymmetrischer Äquipotentialflächen zwischen den Elektroden 6 und 7 möglichst wenig
stört Die Optimierung der Potentiale erfolgt durch Justieren der angelegten' Spannung auf maximalen
Ionenstrom. Ein Satz optimaler Spannungen sind z. B. +50 V an Elektrode 6, +37,5 V an Düse 3, +24,8 V an
Elektrode 7 und 0 bis -10 V an Elektrode T.
Die in Fig. J und 2 dargestellte Ionenquelle läßt sich gemäß Fig.3 zu einem Flugzeitmassenspektrometer
Fig. 1 und 2.
Die in den F ί g. 1 und ζ dargestellte ionenquelle ist m
einem kontinuierlich evakuierbaren Gehäuse 1 untergebracht. In dieses führt ein Gaseinlaßrohr 2, durch
weiches ein Gas zu einer Düse 3 strömt, die aus einer
Kanüle von etwa 0,2 mm Innendurchmesser und 25 mm Länge besteht. Die JDüse 3 ragt radial in eine als ;
Ionenabzugseinrichturig wirkende Elektrodenabordnung,
die von einer scheibenförmigen Elektrode 6 und zwei zu dieser Elektrode parallelen blendenförmigen
Elektroden 7, T mit je einer Durchgangsöffnung 8, 8' gebildet ist hinter der Düse 3 bildet sich ein gebündelter
Molekularstrahl M aus. Die parallel zu der ersten
besonders einfacher Bauart erweitern. Dazu werden folgende Eigenschaften der beschriebenen Ionenquelle
ausgenutzt:
A) Da eine gepulste Laserlichtquelle benützt wird, die
8 ns lange Lichtimpulse erzeugt, entstehen alle Ionen zu einem genau definierten Zeitpunkt
gleichzeitig.
B) Bedingt durch die gute Fokussiereigenschaft von Laserlicht entstehen die Ionen in einem sehr
kleinen Volumen, so daß sich alle Ionen auf gleichem Ausgangspotential befinden. Außerdem
können die so erzeugten ionen mit einfachen Mitteln wieder auf Weine Volumina iefckussiert
werden.
C) Da monochromatisches Laserlicht tingeseu.. »..rd
und die Wellenlänge auf die sue- ;!;'* La,=-; des
lonisationspotentials einer M<:'feküiso · abgestimmt
werden kann, sind die en***-.i>euden Ionen
monoenergetisch.
Da also alle Ionen schon unter gleichen Ausgangsbedingungen,
was Zeit, Ort und Energie betrifft, erzeugt werden, werden zum Bau eines Flugzeitmassenspekirometers
nur noch zusätzlich eine feste Flugstrecke von
7. B. 30 cm, die durch ein Distanzrohr 9 festgelegt wird,
und ein Meßgerät 10 zum Nachweis der Ionen und ihrer Flugzeit benötigt.
Die Flugze'.tunterschiede At\ der Ionen, die kleinste
auflösbare Zeit At> des Meßgerätes 10, sowie die
zeitliche Verschmierung At^, die z. B. durch die Dauer
des Laserimpulses oder Inhomogenitäten des Abzugsfeldes erzeugt werden, müssen so abgestimmt werden,
daß
Aufgrund der Eigenschaften A, B, C ist die beschriebene Ionenquelle auch für andere hochauflösende
Massenspekirometer bei hohen ionenausbeuten sowie für Ionenimplantationseinnchtungen geeignet.
Für die letztgenannte Anwendung muß der Molekularstrahl im allgemeinen durch einen Atomstrahl ersetzt
werden.
Insbesondere bei der Anwendung der Ionenquelle für
ein FlugzeitmasEenspektrometer ist darauf zu achten, daß die Dichte der Moteküle im Molekularstrahl so
niedrig gehalten wird, daß keine thermisch· Aufheizung im Fokus eintritt, weil dann die entstehenden Ionen
nicht mehr monoenergetisch sind.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Ionenquelle mit einer Laseranordnung zum Erzeugen eines in der Wellenlänge veränderlichen, gepuisien, fokussierten Laserstrahls, mit einem aus einer Kanüle von etwa 0,2 mm Innendurchmesser austretenden, auf den Fokus des Laserstrahls gerichteten Molekularstrahl und mit einer Ionenabzugseinrichtung zum Trennen der im Fokus erzeugten Ionen vom Molekularstrahl, die eine mit einer Durchtrittsöffnung für die Ionen versehene und die Ionen anziehende Elektrode aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß die Ionenabzugseinrichtung (6, 7, T) eine weitere, die im Fokus erzeugten Ionen abstoßende Elektrode (6) aufweist, daß die Kanüle (3) zwischen die anziehende Elektrode (7) und die abstoßende Elektrode (6) ragt und auf einem solchen Potential liegt, daß die Ausbildung rotations-Elektrode 6 ausgerichtete Düse 3 hat von dieser Elektrode einen Abstand von 3 mm und ihr Ende ist von der Achse der Durchgangsöffnungen 8, 8' 03 mm entferntMit dieser Anordnung erzielt man eine hohe Moleküldichte im Schnittpunkt des Molekularstrahls M mit der Achse der Durchgangsöffnungen 8, 8' bei möglichst geringem Gesamt-Gasdurchsatz. Der Molekularstrahl M ist direkt in die Ansaugöffnung einerίο Vakuumpumpe gerichtet, so daß das Vakuum im Vakuumgehäuse 1 möglichst wenig belastet wird und je nach Anwendung der Ionenquelle von 0,1 Pa bis ins Ultrahochvakuum reicht. Für Massenspektrometeranordnungen sollte dieses Vakuum besser als 10~3 Pa sein..5 Senkrecht zur Ausbreitungsrichtung des Molekularstrahis und zur Achse der Durchtrittsöffnung 8 verläuft ein Laserbündel L· Es wird durch eine gepulste und in der Wellenlänge kontinuierlich abstimmbare Laserlichtqueiie, insbesondere durch einen Farbstofflaser, erzeugtsymmetrischer Äquipotentialflächen zwischen den 20 und mittels einer Fokussieroptik 5 durch ein Emtritts-Elektroaen (6, 7) möglichst wenig gestört wird, und daß die Karnle (3) 0,5 mm vor der Symmetrieachse der Ionenabzugseinrichtung (6,7, T) endet.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2942386A DE2942386C2 (de) | 1979-10-19 | 1979-10-19 | Ionenquelle |
US06/349,322 US4433241A (en) | 1979-10-19 | 1982-02-16 | Process and apparatus for determining molecule spectra |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2942386A DE2942386C2 (de) | 1979-10-19 | 1979-10-19 | Ionenquelle |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2942386A1 DE2942386A1 (de) | 1981-04-30 |
DE2942386C2 true DE2942386C2 (de) | 1984-01-12 |
Family
ID=6083918
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2942386A Expired DE2942386C2 (de) | 1979-10-19 | 1979-10-19 | Ionenquelle |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4433241A (de) |
DE (1) | DE2942386C2 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4305981A1 (de) * | 1993-02-26 | 1994-09-01 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Kalibration stark fluktuierender Meßsignale für die quantitative Analyse von Gasgemischen mittels resonanter Lasermassenspektrometrie |
DE19539589A1 (de) * | 1995-10-25 | 1997-04-30 | Boesl Ulrich Priv Doz Dr | Gepulstes Ventil für die Kopplung einer Gaschromatographie-Kapillare an ein sekundäres Spurenanalysegerät mittels eines Überschallstrahles |
DE10014847A1 (de) * | 2000-03-24 | 2001-10-04 | Gsf Forschungszentrum Umwelt | Verfahren und Vorrichtung zum Nachweis von Verbindungen in einem Gasstrom |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57191950A (en) * | 1981-05-22 | 1982-11-25 | Hitachi Ltd | Charged-particle source |
US4893019A (en) * | 1987-05-27 | 1990-01-09 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Ion current generator system for thin film formation, ion implantation, etching and sputtering |
DE3900252C1 (de) * | 1989-01-05 | 1990-05-23 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung Ev, 8000 Muenchen, De | |
JP2947813B2 (ja) * | 1989-04-21 | 1999-09-13 | 三菱電機株式会社 | イオン流生成装置 |
JP2564404B2 (ja) * | 1989-09-20 | 1996-12-18 | 株式会社日立製作所 | 質量分析方法 |
US5015848A (en) * | 1989-10-13 | 1991-05-14 | Southwest Sciences, Incorporated | Mass spectroscopic apparatus and method |
GB9127557D0 (en) * | 1991-12-31 | 1992-02-19 | Secr Defence | Explosives detector |
DE4232509A1 (de) * | 1992-09-29 | 1994-03-31 | Holstein & Kappert Maschf | Verfahren zur Bestimmung von Kontaminaten in Behältern |
US5631462A (en) * | 1995-01-17 | 1997-05-20 | Lucent Technologies Inc. | Laser-assisted particle analysis |
DE19822674A1 (de) | 1998-05-20 | 1999-12-09 | Gsf Forschungszentrum Umwelt | Gaseinlaß für eine Ionenquelle |
US6630664B1 (en) * | 1999-02-09 | 2003-10-07 | Syagen Technology | Atmospheric pressure photoionizer for mass spectrometry |
US6614018B1 (en) * | 1999-09-01 | 2003-09-02 | Peter J. Schubert | Process and apparatus for continuous-feed all-isotope separation in microgravity using solar power |
US7022980B2 (en) * | 2004-02-02 | 2006-04-04 | Agilent Technologies, Inc. | Spectral axis transform |
CN102519885B (zh) * | 2011-12-14 | 2013-07-10 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 材料表面局部光谱测量装置及测量方法 |
US10541122B2 (en) * | 2017-06-13 | 2020-01-21 | Mks Instruments, Inc. | Robust ion source |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2938116A (en) * | 1956-04-02 | 1960-05-24 | Vard Products Inc | Molecular mass spectrometer |
US3478204A (en) * | 1964-08-24 | 1969-11-11 | Jean R Berry | Mass spectrometer ion source having a laser to cause autoionization of gas |
GB1140367A (en) * | 1966-03-21 | 1969-01-15 | Ass Elect Ind | Improvements in and relating to mass spectrometers |
US3521054A (en) * | 1968-02-29 | 1970-07-21 | Webb James E | Analytical photoionization mass spectrometer with an argon gas filter between the light source and monochrometer |
US4334883A (en) * | 1972-07-07 | 1982-06-15 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Isotope separation by laser means |
US3914655A (en) * | 1973-06-28 | 1975-10-21 | Ibm | High brightness ion source |
US4286153A (en) * | 1975-08-19 | 1981-08-25 | Kraftwerk Union Aktiengesellschaft | Method and apparatus for the separation of isotope mixtures |
US4176025A (en) * | 1975-08-27 | 1979-11-27 | Westinghouse Electric Corp. | Isotope dissociation selective electron attachment and separation |
US4140905A (en) * | 1977-05-02 | 1979-02-20 | The Governing Council Of The University Of Toronto | Laser-induced mass spectrometry |
-
1979
- 1979-10-19 DE DE2942386A patent/DE2942386C2/de not_active Expired
-
1982
- 1982-02-16 US US06/349,322 patent/US4433241A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4305981A1 (de) * | 1993-02-26 | 1994-09-01 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Kalibration stark fluktuierender Meßsignale für die quantitative Analyse von Gasgemischen mittels resonanter Lasermassenspektrometrie |
DE4305981C2 (de) * | 1993-02-26 | 1999-03-11 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur quantitativen Analyse von Gasgemischen mittels resonanter Lasermassenspektrometrie bei stark fluktuierenden Meßsignalen |
DE19539589A1 (de) * | 1995-10-25 | 1997-04-30 | Boesl Ulrich Priv Doz Dr | Gepulstes Ventil für die Kopplung einer Gaschromatographie-Kapillare an ein sekundäres Spurenanalysegerät mittels eines Überschallstrahles |
DE19539589C2 (de) * | 1995-10-25 | 1999-01-28 | Boesl Ulrich Priv Doz Dr | Gepulstes Ventil für die Kopplung einer Gaschromatographie-Kapillare an ein sekundäres Spurenanalysegerät mittels eines Überschallstrahles |
DE10014847A1 (de) * | 2000-03-24 | 2001-10-04 | Gsf Forschungszentrum Umwelt | Verfahren und Vorrichtung zum Nachweis von Verbindungen in einem Gasstrom |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2942386A1 (de) | 1981-04-30 |
US4433241A (en) | 1984-02-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2942386C2 (de) | Ionenquelle | |
DE10248814B4 (de) | Höchstauflösendes Flugzeitmassenspektrometer kleiner Bauart | |
DE112007000146B4 (de) | Konzentrierender Ionenleiter eines Massenspektrometers, Spektrometer und Verfahren | |
DE19941670B4 (de) | Massenspektrometer und Verfahren zum Betreiben eines Massenspektrometers | |
DE102009050041B4 (de) | Hochauflösende Ionenmobiltätsspektrometrie | |
DE3517667A1 (de) | Laser-massenspektrometer | |
DE112009001323T5 (de) | Kollisionszelle | |
DE19962160C2 (de) | Vorrichtungen zur Erzeugung von Extrem-Ultraviolett- und weicher Röntgenstrahlung aus einer Gasentladung | |
DE10325581B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung für das Einspeichern von Ionen in Quadrupol-Ionenfallen | |
DE2152467C3 (de) | Gerät zur Elementenanalyse | |
DE19861106B4 (de) | Ionisierungskammer für ein Ionenmobilitätsspektrometer (IMS) | |
DE2439711A1 (de) | Ionenquelle | |
DE1789071B1 (de) | Vorrichtung zur Untersuchung plasmaphysikalischer Vorgaenge | |
DE102012008249A1 (de) | Verbesserte Auflösung für Ionenmobilitätsspektrometer | |
DE2041422A1 (de) | Elementanalysator | |
EP0000865B1 (de) | Ionenquelle mit einer Ionisationskammer zur chemischen Ionisierung | |
DE2642637C2 (de) | Röntgenfluoreszenzspektrometer | |
DE1034884B (de) | Vorrichtung zum Trennen von Ionen verschiedenen Ladungs-Masse-Verhaeltnisses | |
DE2128254C3 (de) | Elektronenstrahlgenerator | |
DE19628093B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Nachweis von Probenmolekülen | |
DE1100188B (de) | Ionenquelle | |
DE1598150B2 (de) | ||
CH650104A5 (de) | Mit bombardierung durch elektronen arbeitende ionenquelle. | |
DE2532552C3 (de) | Flugzeit-Massenspektrometer | |
EP1817788A2 (de) | Flugzeit-massenspektrometer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition |