DE2914106A1 - Pruefgeraet zum pruefen gedruckter schaltungskarten - Google Patents

Pruefgeraet zum pruefen gedruckter schaltungskarten

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DE2914106A1
DE2914106A1 DE19792914106 DE2914106A DE2914106A1 DE 2914106 A1 DE2914106 A1 DE 2914106A1 DE 19792914106 DE19792914106 DE 19792914106 DE 2914106 A DE2914106 A DE 2914106A DE 2914106 A1 DE2914106 A1 DE 2914106A1
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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
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Description

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Beschreibung:
Die Erfindung betrifft ein Prüfgerät zum Prüfen gedruckter Schaltungskarten, welches eine Anzahl programmierbarer Treiber/Sensor-Schaltungen enthält, welche jeweils mindestens eine Datenanschlußschaltung und mindestens eine programmierbare Anschlußschaltung aufweisen, welche selektiv programmierbar ist, und zwar entweder als Eingang in Abhängigkeit von einem von einer zu prüfenden Schaltungskarte kommenden Signal, oder als Ausgang in Abhängigkeit von einem an den genannten Dateneingangsanschluß angelegten Signal, und welches ferner Kopplungseinrichtungen enthält, um die programmierbaren Anschlüsse mit entsprechenden Anschlüssen einer zu prüfenden Schaltungskarte zu koppeln.
In neuerer Zeit verwendete gedruckte Schaltungskarten können eine Vielzahl unterschiedlicher Arten von Logikschaltungen, einschließlich verschiedenartiger Logikschaltungsfamilien, enthalten-
Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, ein Prüfgerät der oben genannten Art zu schaffen, welches bei der Prüfung von gedruckten Schaltungskarten äußerst vielseitig ist.
Diese Aufgabe wird durch die im Patentanspruch 1 definierte Erfindung gelöst. Zweckmäßige Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Es sei darauf hingewiesen, daß es durch das Vorsehen von Abschlußeinrichtungen, welche die in dem Prüfgerät gemäß Anspruch 1 beschriebenen Merkmale aufweisen, möglich ist, auch gedruckte Schaltungskarten zu prüfen, welche Einrichtungen mit offenen Kollektor- oder offenen Emitter-Signalleitungen enthalten, ohne daß es erforderlich ist,
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externe Pull-up- oder Pull-down-Widerstände vorzusehen.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im folgenden anhand von Zeichnungen beschrieben. In diesen zeigt:
Fig. 1A eine perspektivische Ansicht eines Ausführungsbeispiels des erfindungsgemäßen tragbaren digitalen Prüfgerätes und einer zu prüfenden Schaltungskarte; Fig. 1B das Tastenfeld, die Anzeige und das
Mehrfach-Meßinstrument des in Fig. 1A dargestellten digitalen Prüfgerätes;
Fig. 2 ein Blockschaltbild des Prozessorsystems und der Prozessor-Sammelleitung einschließlich der elektronischen Schaltungen, die erforderlich sind, um die Verbindung zwischen der zu prüfenden Schaltungskarte und der Prozessor-Sammelleitung herzustellen;
Fig. 3A ein Blockschaltbild einer der Treiber/ Sensor-Einheiten der Fig. 2;
Fig. 3B eine Logikschaltung eines Teils einer der Treiber/Sensor-Schaltungen, welche in der in Fig. 3A dargestellten Treiber/Sensor-Einheit verwendet v/erden;
Fig. 3C eine Logikschaltung des übrigen Teils der Treiber/Sensor-Schaltung der Fig. 3B;
Fig. 3D den Aufbau einer der in Fig. 3B enthaltenen Halteschaltungen;
Fig. 4 ein detaillierteres Blockschaltbild der in Fig. 2 enthaltenen Prozessor-Einheit;
Fig. 5 ein ausführlicheres Blockschaltbild der Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Einheit der Fig. 2;
Fig. 6A ein detailliertes Blockschaltbild eines Teils der Anschlußeinheit für Peripheriegeräte der Fig. 2; und
Fig. 6B ein detailliertes Blockschaltbild des übrigen Teils der Anschlußeinheit für Peripheriegeräte der Fig. 2.
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Das erfindungsgemäße digitale Prüfgerät, das auch als tragbarer Wartungsprozessor bezeichnet wird, ist ein Prozessor-orientiertes tragbares Prüfgerät, das insbesondere zum Prüfen gedruckter Schaltungskarten geeignet ist. Es ist ein digitales logisches Schaltungsprüfgerät, welches Fehler auf digitalen gedruckten Schaltungskarten feststellen und orten kann. Aufgrund seines transportablen Aufbaus und seiner Fähigkeit, Fehler automatisch zu orten, ist es für zahlreiche Feldwartungs- bzw. Kundendienstanwendungen geeignet. Da das Prüfgerät ein auf einem Allzweck-Mikroprozessor aufgebautes Datenverarbeitungssystem ist, können mit ihm auch eine Reihe anderer Wartungs- oder Kundendienstaufgaben durchgeführt werden, wie dies im folgenden noch beschrieben wird.
Das vollständige tragbare Prüfgerät 10 ist in Fig. 1A dargestellt. Eine zu prüfende gedruckte Schaltungskarte 18 ist in eine Steckerleiste 19 des Prüfgeräts eingesteckt. Es sei darauf hingewiesen, daß verschiedene Komponenten auf der Schaltungskarte 18 mit Buchstaben bezeichnet sind; durch diese Bezeichnungen ist es möglich, daß das Prüfgerät die Bedienungsperson informiert, welche Knoten während eines Fehlerortungsvorgangs jeweils zu untersuchen sind, wie dies im folgenden noch näher beschrieben wird. Ein Tastenfeld 12 ermöglicht der Bedienungsperson, Daten und Befehle in das Prüfgerät einzugeben.
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Das Tastenfeld und ein Anzeigefeld sind in Fig. 1B im einzelnen dargestellt, woraus ersichtlich ist, daß eine Anzahl von Tasten umschaltbare und nicht umschaltbare Zeichen und außerdem einzelne Wortbefehle, wie beispielsweise RUN, CATALOG, usw., tragen. Die "oberen" oder "umgeschalteten" Zeichen werden durch Betätigen der Umschalttaste eingegeben; die Befehlsworte werden durch Verwendung einer Befehlstaste oder CMD-(Command-)Taste eingegeben. Das Bedienungsfeld des Prüfgerätes 10 enthält ferner eine Anzeigeeinheit 16, welche ein Anzeigefeld 16* besitzt, das alphanumerische Zeichen anzeigt, die Informationen über den Zustand des Prüfgerätes, Instruktionen an die Bedienungsperson oder gerade von der Bedienungsperson eingegebene Informationen wiedergeben. Auf dem Bedienungsfeld befindet sich ferner ein Mehrfach-Meßinstrument 17, dessen Zweck noch im einzelnen beschrieben wird.
Ein Meßfühler 13 wird von der Bedienungsperson dazu verwendet, verschiedene Knoten der zu prüfenden Schaltungskarte 18 in Abhängigkeit von auf der Anzeigeeinheit 16 angezeigten Instruktionen zu untersuchen, und zwar gemäß einem gesteuerten Untersuchungssystem und -verfahren, welches im folgenden noch näher beschrieben wird.
Das Prüfgerät wird von dem in Fig. 1B dargestellten Tastenfeld gesteuert. Das Tastenfeld 12 besitzt drei Ebenen von Zeichen, so daß es sowohl als ein Standard-Tastenfeld, beispielsweise zur typen- oder zeichenmäßigen Eingabe von Angaben, als auch als flexibles Steuerfeld mit einer Ein-Tasten-Eingabe von Befehlen dienen kann. Das Normal-Tastenfeld wird durch die nicht umgeschalteten Tasten gebildet, welche Buchstaben, Zahlen sowie verschiedene Interpunktionszeichen, wie Punkt, Komma und Semikolon, enthalten. Die alphanumerischen Zeichen werden durch Großbuchstaben gebildet.
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Die Umschalttaste wird in herkömmlicher Weise zur Eingabe von Zeichen und Svmboien des "Umschalt"- oder oberen Bereichs der Tasten verwendet, nämlich zur Eingabe der übrigen Interpunktionszeichen sowie verschiedener Steuerfunktionen. Die Eingabe eines "Umschalt11- oder "oberen" Zeichens erfolgt in der Weise, daß die Umschalttaste unten gehalten und die gewünschte Taste gedrückt wird.
Die Befehlstaste CMD wird dazu verwendet, um Anweisungs-Kennwörter einzugeben, welche als Systembefehle oder in Programmanweisungen verwendet v/erden können. Dadurch ist es möglich, Systembefehle durch eine einzige Betätigungsoperation einzugeben, wodurch Schreib- bzw. Eingabefehler vermieden werden. Die Befehlstaste CMD wird unten gehalten und die das gewünschte Kennwort in ihrem unteren Teil tragende Taste wird gedrückt. Jedes Kennwort kann allerdings auch durch Eintippen des vollständigen Kennwortes, wie beispielsweise REWIND, ohne Verwendung der Befehlstaste CMD eingegeben werden.
Ein "Zwischenraum" oder "Abstand" kann durch Drücken der Leertaste an der Unterseite des Tastenfeldes herbeigeführt werden, jedoch wird immer dann, wenn ein Kennwort unter Verwendung der Befehlstaste eingegeben wurde, nach diesem Kennwort automatisch ein Zwischenraum vorgesehen.
Das Tastenfeld 12 enthält drei spezielle Operationstasten, nämlich die ATTENTION-Taste ATTN, die EXECUTE-Taste und eine DELETE-Taste DEL. Die Bedienungsperson kann das Prüfgerät 10 zu jeder Zeit durch Drücken der ATTN-Taste unterbrechen. Dadurch gelangt das Prüfgerät in einen BEREIT-Zustand, in welchem es einen neuen Befehl erwartet. Die EXECUTE-Taste wird gedrückt, um eine in das
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Tastenfeld eingegebene Zeile auszuführen; wenn die Zeile am Beginn eine "Zeilennummer" enthält, dann wird die in diese Zeile eingetastete Information von einer Tastenfeld-Pufferschaltung beim Drücken der Execute-Taste in den Hauptspeicher des Prüfgeräts übertragen. Ist jedoch keine einleitende Zeilennummer vorhanden, dann wird der Befehl oder die Programmanweisung unmittelbar nach dem Drücken der Execute-Taste ausgeführt. Wird die Delete-Taste DEL gedrückt, dann wird das letzte in die Tastenfeld-Pufferschaltung eingegebene Zeichen gelöscht.
Die Prüfgerät-Anzeigeeinheit 16 zeigt Nachrichten und Zustandsinformationen auf einem sechzehn Zeichen umfassenden alphanumerischen LED-Anzeigefeld 16' an. Das alphanumerische Anzeigefeld wird von einem Anzeige-Pufferspeicher gesteuert, welcher die letzten sechzehn Zeichen anzeig't, welche in einem Tastenfeld-Pufferspeicher mit 256 Zeichen gespeichert sind. Eine Anzahl von individuellen LED-Anzeigefeldern geben die Betriebsart des Prüfgerätes und die Prüfergebnisse an. Es sind folgende individuelle Angaben möglich: VON (Spannung ist an die zu prüfende Schaltungskarte angelegt); RUN (das Prüfgerät führt ein Programm aus, das Prüfprogramm wird ausgeführt); PASS (die zu prüfende Schaltungskarte hal·das Prüfprogramm durchlaufen); FAIL (die zu prüfende Schaltungskarte wurde vom Prüfprogramm erfolglos durchlaufen); NPR (kein Druck - dieses Kennwort dient zum Unterdrücken des Drucks von Fehlernachrichten); und DMM (das digitale Mehrfach-Meßinstrument ist verwendungsbereit).
Die auf dem Tastenfeld 12 angegebenen Systembefehls-Kennwörter beinhalten eine Anzahl von Prüfgerät-Grund- Kennwörtern, eine Anzahl von "Schaltungskarten-Prüf-Kennwort-Befehlen"., eine Anzahl von "Programmerzeugung-Kennwort-Befehlen", ein "Verzeichnis-Erstellen-Befehl", und
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eine Anzahl von "Prüfgerät-Operationsart-Kennwort-Befehlen". Im folgenden ist eine Liste verschiedener Befehls-Kennwörter wiedergegeben, welche beim Betrieb des Prüfgerät-Systems verwendet werden; diejenigen Kennwort-Befehle, welche mit einem Sternchen (*) versehen sind, können durch Drücken der CMD-Taste und der entsprechenden Kennwort-Taste und anschließendes Drücken der Execute-Taste eingegeben werden.
Schaltungskarten-Pruf-Kennwort-Befehle
CATALOG*
LOAD*
RUN*
REWIND*
DMM*
RETENS
Programmerzeugung-Kennwort-Befehle
SCRATCH LIST* RESEQ MERGE
Verzeichnis-Erstellen-Befehle
ERASE
LENGTH
MARK
NAME*
SAVE
DATE
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Prüfgerät-Operationsart-Kennwort-Befehle
SOE*
SOF* .
ROE*
ROF*
COF*
PR/NPR*
SNGL*
CONT*
Die oben genannten Kennwörter werden als Systembefehle verwendet, welche entweder unmittelbar ausgeführt werden oder dazu verwendet werden, das Prüfgerät in verschiedene Operations- oder Betriebsarten einzustellen. Das Prüfgerät muß sich im Bereit-Zustand befinden, um die oben genannten Kennwörter eingeben zu können, von denen die meisten durch Drücken der CMD-Taste und der entsprechenden Kennwort-Taste und darauffolgendes Drücken der Execute-Taste eingegeben werden können. Wenn die CMD- und Kennwort-Tasten verwendet werden, dann werden der Zwischenraum (Leertaste) und/ oder andere erforderliche Interpunktionszeichen nach dem Kennwort ebenfalls eingegeben. Wird jedoch das Kennwort unter Verwendung einzelner Buchstaben eingetippt, dann müssen der Zwischenraum und andere erforderlichen Interpunktionszeichen über das Tastenfeld eingegeben werden.
Die oben genannten "Schaltungskarten-Prüfbefehle" werden dazu verwendet, ein Prüfprogramm für eine zu prüfende Schaltungskarte zu finden, zu laden und ablaufen zu lassen, die Magnetbandkassette zurücklaufen zu lassen und das digitale Mehrfach-Meßinstrument zu verwenden. Der Laden-Befehl wird verwendet, um Angaben von der Magnetbandkassette oder der Speicherscheibe eines zentralen Computers in den Speicher
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des Prüfgeräts zu laden. Der RUN-Befehl wird verwendet, um mit der Ausführung des in dem Speicher des Prüfgeräts enthaltenen Prüfprogramms zu beginnen. Das Programm kann in Lauf gesetzt werden beginnend mit der am niedrigsten numerierten Zeile oder mit einer mit einer bestimmten Zeilennummer bezeichneten Zeile. Der REWIND-Befehl wird verwendet, um die Magnetbandkassette zurückzuspulen, so daß sie ohne die Gefahr einer Bandbeschädigung entnommen werden kann. Der DMM-Befehl wird verwendet, um Spannungen, Ströme und Widerstände zu messen und um die Meßwerte auf dem LED-Anzeigefeld 16' anzuzeigen. Der RETENS-Befehl wird verwendet, um eine gleichmäßige Spannung des Magnetbandes herbeizuführen und um die Magnetbandkassette in schnellem Vorlauf bis zum Bandende zu betätigen und dann den Bandrücklauf zu bewirken.
Die "Programmerzeugungs-Befehle" v/erden verwendet, wenn neue Verzeichnisse eingelegt werden sollen. Der SCRATCH-Befehl wird verwendet, um den Prüfgerät-Speicher zu löschen, so daß ein neues Programm vom Tastenfeld eingegeben werden kann. Der LIST-Befehl wird verwendet, um die Angabenzeilen in dem Prüfgerät-Speicher aufzulisten; ausgewählte Angabenzeilen können durch Verwendung der Seilepnummern aufgelistet v/erden. Der RESEQ-Befehl wird verwendet, um die Zeilennummern des Prüfprogramms umzunumerieren, entweder um zusätzliche nicht verwendete Zeilennummern zwischen den Tests vorzusehen oder um die Zeilen vor dem Verschmelzen mit einem anderen Prüfprogramm, das die gleichen Zeilennummern verwendet, umzunumerieren. Der MERGE-Befehl wird verwendet, um ein sichergestelltes Verzeichnis oder sichergestellte Angaben auf einer Magnetbandkassette oder auf der Speicherscheibe eines zentralen Rechners mit dem Programm in dem Prüfgerate-Speicher zu verschmelzen.
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Die "Verzeichnis-Erstellen"-Befehle werden verwendet, wenn auf der Magnetbandkassette Verzeichnisse erstellt oder geändert werden sollen. Der ERASE-Befehl wird verwendet, um eine neue Magnetbandkassette für eine anfängliche Markierung eines Verzeichnis-Raumes vorzubereiten oder um alle Verzeichnisse auf vorhandenen Bandkassetten für eine neue Markierung von Verzeichnis-Raum zu löschen. Der LENGTH-Befehl wird verwendet, um die Länge des Prüfprogramms, der Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Routine und der Bildteile des Speichers zu bestimmen. Der MARK-Befehl wird verwendet, um auf der Magnetbandkassette eine bestimmte Anzahl von Verzeichnissen mit einer definierten Länge zu schaffen. Der NAME-Befehl wird verwendet, um dem Programm im Speicher einen Namen zuzuordnen. Der SAVE-Befehl wird verwendet, um das in dem Prüfgeräte-Speicher befindliche Programm entweder in die Magnetbandkassette oder in die Speicherscheibe des zentralen Rechners abzuspeichern. Der DATE-Befehl wird verwendet, die vorliegende Datums- bzv/. Zeit-Zuordnung zu bestimmen und erforderlichenfalls diese Zuordnung zu ändern.
Die Prüfgerät-Operationsart-Befehle v/erden verwendet, die Operationsarten des Prüfgerätes zu ändern, und werden in großem Ausmaß während der Fehlerbeseitigung im Prüfprogramm verwendet und können auch während der SchaLtkarten-Prüfung benutzt werden, um aussetzende oder intermittierende Fehler festzustellen.
Der SOE-(Stop on end)-Befehl bringt das Prüfgerät in eine Betriebsart, in welcher die Prüfprogramm-Durchführung bei der END-Anweisung anhält; wenn keine Fehler festgestellt wurden, dann leuchtet das PASS-Licht auf dem Anseigefeld 16 auf.
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Der SOF-(StOp on fault)-Befehl bringt das Prüfgerät in eine Betriebsart, in welcher die Prüfprogramm-Durchführung bei der ersten Feststellung eines Fehlers anhält und das FAIL-Licht des Anzeigefeldes 16 leuchtet auf. Es wird eine Standard-Fehlernachricht ausgedruckt, falls das Prüfgerät nicht in der NPR-(No print)-Betriebsart arbeitet.
Der ROE-(Restart on end)-Befehl bringt das Prüfgerät in eine Betriebsart, in welcher die Prüfprogrammausführung nach der END-Anweisung erneut gestartet wird; das PASS-Licht wird eingeschaltet, wenn kein Fehler festgestellt wurde und das Programm läuft erneut ab, wobei es entweder mit der ersten Zeile oder mit einer Zeilennummer beginnt, welche in den ROE-Befehl angegeben ist. Die ROE-Betriebsart kann verwendet werden, um das Prüfprogramm so durchzuführen, daß ausgewählte Signale mit einem Oszilloskop beobachtet werden können. Falls die ROE- und SOF-Betriebsarten zusammen verwendet v/erden, dann läuft das Prüfprogramm solange, bis an der Schaltungskarte alle Prüfvorgänge bzw. Tests durchgeführt wurden und es hält immer dann an, wenn ein intermittierender Fehler einen Prüffehler verursacht.
Der ROF-(Restart on fault)-Befehl bringt das Prüfgerät in eine Betriebsart, in welcher die Prüfprogrammdurchführung wieder gestartet v/ird, sobald ein Fehler festgestellt wurde. Das FAIL-Licht wird eingeschaltet und das Programm läuft wieder, wobei es entweder mit der ersten Zeile oder mit einer Zwilerinuinmer beginnt, welche in dem ROF-Befehl ancjegeben ist.
Der COF-(Continue on fault)-Befehl bringt duii Prüfgerät in eine Betriebsart, in weicher die Prüfprograiuvdurchführung fortfährt, selbst wenn ein Fehler festgestellt:
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wurde. Das FAIL-Licht wird eingeschaltet, es werden jedoch keine _"Gelenkte-Abtastung"-Befohle gedruckt. Der COF-Befehl gestattet die Durchführung des gesamten Prüfprogramms bis zu seinem Ende, unabhängig vom Vorhandensein eines Fehlers.
Der PR-(Print)-Befehl wird verwendet, um das Drucken von Fehlernachrichten durch den Drucker vorzubereiten. Der NPR-(no print)-Befehl wird verwendet, um das Drucken von Fehlernachrichten durch den Drucker zu verhindern.
Der SNGL-(Single)-Befehl wird .verwendet, um eine Zeile des Prüfprogramms durchzuführen. Er kann verwendet werden, um schrittweise durch das Programm zu gehen, wobei eine Zeile pro Schritt ausgeführt wird, oder von einer programmierten STOP-Anweisung zur Ausführung einer Zeile fortzufahren. Der CONT-(Continue)-Befehl wird verwendet, um- nach einer programmierten STOP-Anweisung oder der Verwendung eines SNGL-Befehls die normale Programmdurchführung wieder aufzunehmen.
Wie aus Fig. 2 ersichtlich, enthält der elektronische Teil des Prüfgeräts ein vollständiges Sammelleitungsorientiertes Datenverarbeitungssystem 25, welches eine zweiseitig gerichtete Drei-Zustands-Hauptsammelleitung 27 enthält, welche mit sechs gedruckten Schaltungskarten verbunden ist, nämlich einer Hauptprozessor-Schaltungskarte 28, einer Hochgeschwindigkeits-Stift-Steuerprozessor-Schaltungskarte 29, einer Speicher-Schaltungskarte 30, einer programmierbaren Bezugs-Schaltungskarte 31, einer Bedienungs-' feld-Schaltungskarte 32 und einer Anschlußschaltung-Schaltungskarte 33 für periphere Einheiten.
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Der geführte Tastkopf 13 ist mit der Hochgeschwindigkeits-Prozessor-Schaltungskarte (mit dem in Fig. 5 dargestellten Prioritäts-Codierer 150 derselben) verbunden, wodurch ein beim Prüfen eines Knotens auf der zu prüfenden Schaltungskarte erzeugtes Kennzeichen in das Prozessor- oder Verarbeitungssystem 25 eingegeben wird.
Die Bedienungsfeld-Schaltungskarte 32 ist
mit einer Anzeigeeinheit 35 verbunden, welche das Anzeigefeld 16 (Fig. 1B) und zugeordnete elektronische Schaltungen enthält, wie beispielsweise Zeichengeneratorschaltungen und Treiberschaltungen zum Umformen von von der Hauptsammelleitung 27 und von dem Bedienungsfeld 32 kommenden Informationen in ein zum Erzeugen der gewünschten alphanumerischen Ausgabeinformationen erforderliches Format. Mit der Bedienungsfeld-Schaltungskarte 32 ist ferner eine Einheit 36 verbunden, welche das Tastenfeld und das digitale Vielfach-Meßinstrument umfaßt. Die Ausgabeinformation des digitalen Meßinstruments der Einheit 36 wird auf dem Anzeigefeld 16 angezeigt. In der Einheit 36 enthaltene Tastenfeld-Abtastschaltungen tasten das Tastenfeld 12 ab, um die von der Bedienungsperson vorgenommenen Tastenbetätigungen zu identifizieren und die entsprechenden Informationen in das für die Übertragung auf die Hauptsammelleitung 27 erforderliche Format zu bringen.
Die Hochgeschwindigkeits-Stift-Steuerprozessor-Schaltungskarte 29 verbindet die Hauptsammelleitung 27 (welche eine Sechzehn-Bit-Sammelleitung ist) und die Treiber-Sensor-Schaltungskarten 41, 42 und 43. Leitergruppen 45 und 47 werden allgemein als "Anschlußstift-Sammelleitungen" bezeichnet; es sei darauf hingewiesen, daß die darin enthaltenen Leiter nicht zweiseitig gerichtet sind. Die Bezugszeichen 48, 49 und 50 bezeichnen drei Gruppen von vierundsechzig
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"Anschlußstiften" der in Fig. 1A dargestellten Randkontakt-Anschlußleisten. Jeder "Stift" ist entweder als Eingang zu oder Ausgang von der zu prüfenden Schaltungskarte programmierbar.
Die Anschlußschaltungs-Schaltungskarte 33 für periphere Einheiten erleichtert die Datenübertragung zwischen der Hauptsammelleitung 27 und einem Drucker, einer Kassetteneinheit, einem akustischen Koppler, einer Bandeinheit und einer RS 232-Verbindungseinheit.
Zum besseren Verständnis des Zusammenarbeitens der verschiedenen in Fig. 2 dargestellten Elemente des Prüfgeräts bei der Fehlerortung innerhalb einer zu prüfenden Schaltungskarte ist es zweckmäßig, drei Elemente der Fig. naher kennenzulernen, welche bei dem Fehlerortungs-Verfahren von wesentlicher Bedeutung sind.
Unter Bezugnahme auf die Fig. 3A werden die Hauptbestandteile der Treiber-Sensor-Schaltungskarte 41 beschrieben. (Die Treiber-Sensor-Schaltungskarten 42 und entsprechen vollständig der Treiber-Sensor-Schaltungskarte 41,) Dekodierschaltungen 55Λ und 55B enthalten zusammen vierundsechzig Dekodier-Torschaltungen, welche von der An-Schlußstift-Sammelleitung 47 eine Acht-Bit-Adresse aufnehmen. Die Acht-Bit-Adresse bestimmt einen von den 192 programmierbaren Eingangs-Ausgangsstiften auf einem der drei Treiber-Sensor-Schaltungskarten 41, 42, 43, von denen jede vierundsechzig Dekodier-Torschaltungen und vierundsechzig Eingangs-Ausgangsstifte aufweist. Die Dekodierschaltungen 55A und 55B erzeugen ein Auswählsignal auf einem ausgewählten von vierundsechzig Auswählleitern 57A oder 57Bf wodurch eine von vierundsechzig Schaltungen in den Blöcken 58A und 58B ausgewählt wird, welche im folgenden gelegentlich als "Stift-Steuerschaltungen" bezeichnet werden.
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Die FelilerLeiter 59A und 59B stellen jeweils die logische ODER-Funktion der zweiunddreißig Fehlerausgänge 9 4 der zweiunddreißig Stift-Steuerschaltungen 58A bzw. 58B dar. (Siehe die folgende Beschreibung der Fig. 3A.) Der Aufbau und die Arbeitsweise der Dekodierschaltungen 55A und 55B sind bekannt, so daß sich eine nähere Beschreibung derselben erübrigt.
Jede Stift-Steuerschaltung in den Blöcken 58A und 58B wird verwendet, um einen mit dieser Stift-Steuerschaltung verbundenen Eingangs-Ausgangsstift entweder anzusteuern oder abzutasten. Die Stiftsteuerung 7OA, 7OB ist mit dem Eingang/Ausgang 100 in den Figuren 3B und 3C verbunden. Es sei darauf hingewiesen, daß der erste Teil der Stifhsteuerschaltung 7OA, B in Fig. 3B und der übrige Teil in Fig. 3C dargestellt ist. Die übrigen 191 Stiftsheuerschaltungen der Fig. 3A entsprechen der Stiftsteuerschaltung 7OA, B.
Unter Be::ugiuihme auf die Figuren 3B und 3C sei darauf hingewiesen, daß die Stiftsteuerschaltung 7OA unter Steuerung durch das Programm vier separate Betriebsarten ausführen kann, welche durch vier mögliche Zustände der an die Eingänge 71 und 72 angelegten Eingangssignale A bzw. B bestiitmt werden. Diese vier Betriebsarten sind: (1) Liefern eines logischen Eingangssignals an den Eingangs-Ausgangsstif t 100 der Fig. 3C, wenn A=B=I; wenn das an den Eingang 103 der Fig. 3B angelegte H-Eingangssignal eine logische "1" ist, dann führt der Stift 100 eine logische "1", und wenn H eine logische "0" ist, dann führt der Stift 100 eine logische "0"; (2) Abtasten des Eingangs-Ausgangsstiftes 100 der Fig. 3C, wenn A=B=O; (3) Liefern eines positiven (pull-up) Stromes von einem Milliampere, welcher in den Eingangs-Ausgangsstift 100 hineinfließt,
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während dieser Stift 100 abgetastet,wird, wenn A = 1 und B=O; und (4) Liefern eines negativen (pull-down) Stromes von einem Milliampere, welcher aus dem Stift 100 herausfließt, während der Stift 100 abgetastet wird, wenn A=O und B = 1. Die obigen Betriebsarten sind in der Tabelle 1 zusammengefaßt.
Wie aus Fig. 3B ersichtlich ist, enthält die Stift-Steuerschaltung 7OA eine "Überwachen"- oder "Monitor"-Halteschaltung 75, welche dem Prüfgerät gestattet, entweder an einem oder mehreren der Ausgangsstifte der zu prüfenden Schaltungskarte festgestellte Fehler zu überwachen oder zu ignorieren. (Es sei darauf hingewiesen, daß ein Ausgangsstift der zu prüfenden Schaltungskarte lediglich einer der Eingangs-Ausgangsstifte des Prüfgeräts ist, welcher als ein Ausgang programmiert ist.) Der Informationseingang der Überwachen-Halteschaltung 75 ist mit dem überwachen-Eingang 104 verbunden, an welchen ein mit M bezeichnetes Überwachenoder Monitor-Signal angelegt wird.
Tabelle 1
ABH Funktion
Abtasten (drei Zustände) Abtasten (1 mA Quellenstrom) Abtasten (1 mA Senkenstrom)
Treiben auf V1. (niedriger Pegel) Ju
Treiben auf V„ (hoher Pegel)
ri
0 O X
1 0 X
0 1 X
1 1 0
1 1 1
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Die Stiftsteuerschaltung 7OA enthält ferner
eine "Zustand"-Halteschaltung 74, deren Informationseingang mit dem Eingang 101 verbunden ist. Wenn die Stiftsteuerschaltung 7OA als Empfänger programmiert ist, dann wird die tatsächlich an dem entsprechenden Ausgang der zu prüfenden Schaltungskarte festgestellte Information durch die Vergleichsstufe 106 in Fig. 3C festgestellt und als Signal I auf den Knoten 101 gegeben, welcher an den Eingang der Zustand-Halteschaltung 74 zurückgeführt wird.
Die Stiftsteuerschaltung 7OA enthält eine erste Reihe von Halteschaltungen, welche die Halteschaltungen 76,
78 und 80 (Fig. 3B) enthält, deren Informationseingänge mit dem A-Eingang 71, dem B-Eingang 72 bzw. dem H-Eingang 103 verbunden sind. Die Takteingangssignale für die Halteschaltungen 76, 7 8 und 80 werden durch verschiedene der in Fig. 3B dargestellten logischen Verknüpfungsglieder erzeugt. Die Einzelheiten sind für die Erfindung jedoch nicht von Bedeutung und werden deshalb nicht näher beschrieben. (Die Ausdrücke "Halteschaltung" und "Flip-Flop" werden im folgenden untereinander austauschbar verwendet.)
Die Stiftsteuerschaltung 7OA enthält eine zweite Reihe von Halteschaltungen, nämlich die Halteschaltungen 77,
79 und 81, deren Informationseingänge mit den Ausgängen der Halteschaltungen 76, 78 bzw. 80 verbunden sind, welche die erste Reihe von Halteschaltungen darstellen. Die Takteingänge der Halteschaltungen 77, 79 und 81 sind mit dem Austastimpuls-Eingang 110 verbunden. (Die Halteschaltungen 76 bis 81 sind durch die in Fig. 3D gezeigte Schaltung realisiert.) Dieses Merkmal gestattet es dem Prüfgerät, entweder Eingangsstiftänderungen aufeinanderfolgend vorzunehmen, wobei jeweils.nur ein Eingangsstift seinen Zustand ändert, oder in einem sogenannten "Breitseiten"-Betrieb, wobei alle
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Eingangsstiftänderungen der zu prüfenden Schaltungskarte gleichzeitig erfolgen. Nach einem programmierbaren Austastimpuls, welcher der Eingangsstiftänderung folgt, werden die Ausgangssignale der zu prüfenden Schaltungskarte gleichzeitig in der Zustand-Halteschaltung gespeichert, wo sie später geprüft werden können, um ein Signal zu erzeugen, welches anzeigt, ob einer oder mehrere der Ausgänge der zu prüfenden Schaltungskarte fehlen bzw. fehlerhaft sind.
Diese Arbeitsweise wird erreicht durch (1) Speicherung des gewünschten Eingangs zu der zu prüfenden Schaltungskarte oder (2) Speicherung des erwarteten Ergebnisses von der zu prüfenden Schaltungskarte in die Halteschaltung 80 (welche auch als "Hoch/Niedrig-Halteschaltung" bezeichnet wird) jeder der zur Prüfung der Schaltungskarte verwendeten Stiftsteuerschaltungen 70. Nachdem alle Informationen nacheinander von dem Prozessor erhalten und in der Hoch/Niedrig-Halteschaltung 80 jedes verwendeten Eingangs/Ausgangsstiftes gespeichert wurden, wird ein Austastimpuls XS an den Austastimpuls-Eingang 110 angelegt, welcher gleichzeitig das Eingangsprüfmuster an alle Eingänge der Treiberteile 7OB der Stifttreiberschaltungen 7OA, B anlegt, deren Eingangs/Ausgangsstifte 100 mit den Eingängen der zu prüfenden Schaltungskarte verbunden sind.
Die Gruppe von Verknüpfungsgliedern 115, 116, 117, 118 und 118' der Fig. 3C empfängt die Signale A1 und B' von den Halteschaltungen 77 bzw. 79 der zweiten Reihe und benutzen die A1- und B'-Signale, um Stromquellen-Schaltungen 119, 120, 121 und 122 gemäß der Tabelle 1 zu erregen. (Wie bereits erwähnt nehmen A', B1 und H' die Werte A7 B und H an, wenn das Äustastsignal XS angelegt wird.) Wenn die
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Stromquellenschaltung 119 durch das Ausgangssignal des UND-Gliedes 115 als Ergebnis der Bedingung A= 1, B=O aktiviert ist, erzeugt sie einen Strom von einem Milliampere, welcher in den Eingangs/Ausgangsknoten 100 hineinfließt, während die anderen drei Stromquellenschaltungen abgeschaltet bleiben. In ähnlicher Weise entnimmt die Stromquellenschaltung 121 einen Strom von einem Milliampere aus dem Eingangs/Ausgangsstift 100, wenn A=O und B = 1. Die Stromquellenschaltung 120 ändert den Knoten 100 auf V„ Volt, wenn A = 1 und B = 1. Schließlich bringt die Stromquellenschaltung 122 den Ein'
wenn A = 1 und B = 1 .
schaltung 122 den Eingangs/Ausgangsstift ,100 auf V_ Volt,
Der Eingangs/Ausgangsstift 100 der Fig. 3C ist mit dem Treiber/Sensor-Steckerstift 23C und mit einem Anschluß eines Schalters 26C verbunden. Der andere Anschluß des Schalters 26C ist mit dem Randkontaktsteckerstift 22C und mit dem Randkontaktstift 46 verbunden, welcher mit einem entsprechenden Anschlußstift der zu prüfenden Schaltungskarte in Verbindung steht, wodurch ein Informationsaustausch zwischen der Treiber/Sensor-Schaltung 7OA, B und der zu prüfenden Schaltungskarte bewirkt wird.
Ein Fachmann ist ohne weiteres in der Lage,
zu überprüfen, daß die in Fig. 3B dargestellten Verknüpfungsglieder die in den Tabellen 2 und 3 wiedergegebenen Wahrheitswerttafeln für den Ablauf der Fehlersuche an den Eingangs/Ausgangsstiften 1OO für verschiedene Betriebsarten realisieren.
Die Operation ist im wesentlichen die, daß dann, wenn die TF-(TeSt fault on any pin - Prüffehler an einem Stift)- oder TMF-(TeSt monitored fault - Prüfungsüberwachungsfehler)-Funktionen aufgrund der in der Tabelle 1 angegebenen Logiksignaleingänge erzeugt werden, die
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Fehlerleitung 9 4 in Fig. 3B sich auf einem niedrigen Pegel befindet, wenn an dem Eingangs/Ausgangsstift 100 ein Fehler festgestellt wird und sich auf einem hohen Pegel befindet, wenn an diesem Eingangs/Ausgangsstift 100 kein Fehler festgestellt wird.
M B Tabelle H 2 Funktion Ausgang niedrig 3 Bedingung SO
CS 0 O A 0 Keine Operation Ausgang hoch kein
X 1 X 0 X Prüffehler (irgendein Fehler) Ausgang niedrig: 1 inA, Quellen Fehler 1
0 0 0 X 1 Prüfungs-Überwachungs-Fehler strom
1 0 0 0 0 Prüfzustand Ausgang hoch: 1 inA, Quellenstrom
1 0 1 1 X Vernachlässigung (d.h. nicht Ausgang niedrig: 1 mA, Senken
1 X überwacht) strom
1 0 0 Ausgang hoch: 1 inA, Senkenstrom
1 1 0 0 1 Eingang I = niedrig
1 1 0 0 0 Eingang I = hoch
1 1
1 0 1
1 1 1 1 0
1 0
1 1 1
1 1 1 0 0
1 1 1 1 1
1 1 Tabelle
Funktion
Prüffehler oder
übeir Prüfungs-
wachui laS'-Fehler
Prüffehler oder Prüfungs-Überwachungs-Fehler
Prüfzustand Prüfzustand
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Fehler
Zustand rückgestellt Zustand eingestellt
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Es sei daran erinnert, daß 192 Stiftsteuerschaltungen entsprechend der Schaltung 70 und gemäß Fig. 2 drei Treiber/Sensor-Schaltungskarten vorhanden sind. Sechs Gruppen von zweiunddreißig Fehlerleitungen, wie beispielsweise 94, werden einer logischen ODER-Funktion unterzogen, um sechs Gruppen von "Gruppen-Fehler-Leiter" zu erhalten, welche einem Prioritäts-Codierer 150 des in Fig. 5 dargestellten Hochgeschwindigkeitsprozessors zugeführt werden, wie dies im folgenden beschrieben wird· Das Kabel 13' des geführten Tastkopfes 13 wird als ein weiterer Eingang zu dem Prioritäts-Codierer 150 verwendet.
Wenn der Hochgeschwindxgkeitsprozessor eine Anzeige für einen festgestellten ,Fehler empfängt, dann wird eine diesen Fehler darstellende Information durch den Hochgeschwindigkeitsprozessor auf die HauptSammelleitung 27 gegeben, von wo aus sie zu dem Hauptprozessor 28 übertragen wird. Der Hauptprozessor tritt dann aufgrund dieser Fehler- ■ information in Tätigkeit.
Es sei darauf hingewiesen, daß die "Fehlerleiter11 tatsächlich drei verschiedene Arten von Informationen aufweisen können. Erstens können sie die Information enthalten, daß an mindestens einem Stift der zu prüfenden Schaltungskarte ein Fehler festgestellt wurde. Zweitens können die Fehlerleitungen Informationen führen, welche anzeigen, daß an einem speziell adressierten Stift ein Fehler festgestellt wurde. Schließlich können die Fehlerleitungen auch Informationen führen, welche anzeigen, ob ein adressierter Stift einen hohen oder einen niedrigen Pegel aufweist. Die zuletzt genannte Betriebsart wird verwendet, Daten von dem Stift der zu prüfenden Schaltungskarte abzulesen und diese in ein Schieberegister einzuschieben.
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Die Steuereingangssignale A, B und M zu der Stiftsteuerschaltung 7OA bestimmen, ob der Fehlerleitungsausgang 94 (SO) den festgehaltenen logischen Zustand eines adressierten Eingangs/Ausgangsstiftes, das Vorhandensein eines adressierten, überwachten Eingangs/Ausgangsstiftes, oder das Vorhandensein eines Fehlers auf irgendeinem der überwachten Stifte anzeigt. Diese Flexibilität ermöglicht einem System, alle 192 Eingangs/Ausgangsstifte parallel zu prüfen, um festzustellen, ob irgendein Fehler auf irgendeinem überwachten Stift vorhanden ist. Wenn ein solcher Fehler vorhanden ist, dann ruft das System jeden Eingangs/ Ausgangsstift in einer vorbestimmten Auswählreihenfolge auf und führt Fehlerprüfungen durch.
Es sei darauf hingewiesen, daß das Prüfgerät sowohl ein "Breitseite"-Prüfgerät als auch ein "Serie"-' Prüfgerät simulieren kann, obwohl das Prüfgerät vom Prinzip her ein "Serie"- oder "Aufeinanderfolge"-Prüfgerät ist, welches gleichzeitig nur einen einzigen Eingangs/Ausgangs-Stift prüft. Aufgrund der doppelten Flip-Flop-Reihe in jeder der Stift-Steuerschaltungen, wie 7OA, B in den Figuren 3B und 3C, kann die seriell angelegte Information jedoch in der ersten Reihe von Flip-Flops (d.h. Flip-Flops 76, 78 und 80 in Fig. 3B) gespeichert werden und dann gleichzeitig in die zweite Flip-Flop-Reihe (d.h. 77, 79 und 81 in Fig. 3B) und zu den Eingangs/Ausgangsstiften der zu prüfenden Schaltungskarte während der Vorderflanke des Signals XS weitergegeben werden. Die "Breitseite"-Betriebsart ist häufig für die Prüfung solcher Schaltungskarten oder Vorrichtungen zweckmäßiger, welche Mikroprozessor-Sammelleitungen enthalten. (In manchen Fällen ist es auch zweckmäßig, wenn das Prüfgerät in der Lage ist, andere "Breitseite-Betriebsart"-Prüfgeräte zu emulieren, so daß
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zuvor für solche "Breitseite-Betriebsarf'-Prüfgeräte geschriebene Prüfprogramme auf einfache Weise zur Verwendung in dem erfindungsgemäßen tragbaren Prüfgerät übersetzt werden können. Es sei darauf hingewiesen, daß für eine "Breiteseite"-Prüfung einer Schaltungskarte geschriebene Prüfprogramme normalerweise die zu prüfende Schaltungskarte nicht einwandfrei prüfen, wenn ein aufeinanderfolgendes Anlegen an die Eingänge derselben erfolgt.)
Es sind sechs XS-Austastleitungen, wie die Leitung 110 in Fig. 3B, vorhanden, und zwar jeweils eine für jede Gruppe (wie 58A in Fig. 3A) von zweiunddreißig Stiftsteuerschaltungen, um in den Hoch/Niedrig-Halteschaltungen (wie der Halteschaltung 80 in Fig. 3B) jeder Gruppe von zweiunddreißig Stift-Halteschaltungen gespeicherte Information in die zweite Reihe von Halteschaltungen (wie die Halteschaltung 81 in Fig. 3B) zu bringen. Diese Informationsweitergabe erfolgt beim Auftreten der Vorderflanke des Signals XS. Beim Auftreten der Hinterflanke des Austastsignals XS wird das von jedem der Ausgangsstifte der zu prüfenden Schaltungskarte aufgrund des eingegebenen Prüfmusters empfangene oder festgestellte Verhalten (I) in die entsprechende Zustand-Halteschaltung 74 der Fig. 3B von dem Ausgang 101 der Vergleichsstufe 106 der Fig. 3C eingetastet.
Wie bereits erwähnt,wird das zu erwartende Zustands-Verhalten bzw. die zu erwartende Reaktion der zu prüfenden Schaltunyskarte für jede Treiber/Sensor-Schaltung anfangs in die Hoch/Niedrig-Halteschaltung durch das H-Eingangssignal eingegeben. Der erwartete Zustand wird während der Vorderflanke des Signals XS in die Halteschaltung 81 eingetastet. Der Ausgang der Halteschaltung 81 wird an den Eingang einer EXCLUSIV-ODER-Schaltung 75A (Fig. 3B) angelegt. Der tatsächlich festgestellte Verhal-
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tens-Zustand des entsprechenden Ausgangs der zu prüfenden Schaltungskarte ist das Signal I, welches während der Rückflanke des Signals XS in die Zustand-Halteschaltung 74 eingegeben wird, von wo aus das tatsächliche Verhalten in die EXCLUSIV-ODER-Schaltung 75A gegeben wird, wodurch ein Fehlersignal erzeugt wird, wenn das festgestellte Verhalten der zu prüfenden Schaltungskarte von dem erwarteten Zustand verschieden ist.
Unter Bezugnahme auf die Fig. 5 wird nunmehr der Hochgeschwindigkeits-Stift-Steuerprozessor 29' (welcher den Hauptbestandteil der auf der Schaltungskarte 29 der Fig. 2 befindlichen Schaltung bildet) beschrieben, welcher die Verbindung herstellt zwischen der Hauptsammelleitung 27, welche eine Sechzehn-Bit-Sammelleitung ist, und den "Anschlußstift-Sammelleitungen" 45 und 47, welche aus etwa zwanzig Leitungen bestehen, welche zu den drei Treiber/ Sensor-Schaltungskarten 41, 42 und 43 verlaufen bzw. von diesen kommen.
Die Stift-Sammelleitungs-Eingangsleiter 45 enthalten sechs über eine logische ODER-Funktion verknüpfte "Gruppenfehlerleitungen", wie die Leitungen 59A und 59B in Fig. 3A. Die Gruppenfehlerleitungen führen jeweils die logische ODER-Funktion von zweiunddreißig Fehlerleitungen, wie beispielsweise der Fehlerleitung 9 4 in Fig. 3B. Die Stift-Sammelleitungsleiter 45 enthalten ferner den Tastkopfleiter 13' der Fig. 2. Die Stift-Sammelleitungs-Ausgangsleiter 47 enthalten die oben erwähnte Acht-Bit-Adressen-Sammelleitung, welche dazu verwendet wird, einen von 192 Stift-Steuerschaltungen auszuwählen. Die Stift-Sammelleitungs-Ausgangsleiter 47 enthalten ferner die A-, B-, H-, M-, XS- und AS-Eingänge zu der in Fig. 3B gezeigten Stift-Steuerschaltung.
,»pm«, eO984ff/O6?*
Unter weiterer Bezugnahme auf die Fig. 5 sei darauf hingewiesen, daß eine Taktschaltung 153 eine Anzahl herkömmlicher Zähler, Register, Flip-Flops und einige Steuerverknüpfungs-Schaltungen enthält, um programmierbare Hochgeschwindigkeits-Taktsignale zu erzeugen, welche zur Steuerung der Arbeitsweise des Hochgeschwindigkeits-Prozessors verwendet werden. Der Bereich der Zykluszeit der programmierbaren Taktsignale reicht von 150 Nanosekunden zu etwa 12,5 MikroSekunden in Schritten von 50 Nanosekunden. Die Taktschaltung 153 enthält ein Register, welches von der Hauptsammelleitung 27 geladen wird, um die programmierbare Zykluszeit des Hochgeschwindigkeits-Prozessors zu bestimmen. Die Zykluszeit des Hochgeschwindigkeits-Prozessors steuert die Schrittfolgegeschwindigkeit, mit welcher das Prüfgerät während der Prüfung einer Schaltungskarte von einem Eingangs/Ausgangs-Stift zum anderen fortschaltet. Die Taktschaltung 153 kann auf einfache Weise unter Verwendung von 74LS175-Halteschaltungen, von 74S74-Flip-Flops und von 74S161-Zählern von Texas Instruments als Hauptbestandteile derselben realisiert werden.
Ein Steuerpufferspeicher 154 dient' dazu, dem Hauptprozessor 28 (Fig. 2) das Lesen der gerade durch den Hochgeschwindigkeitsprozessor ausgeführten Adresse zu ermöglichen. Sein Hauptverwendungszweck ist jedoch die Fehlerdiagnose. Er kann realisiert werden durch Verwendung von Signetics-8T9 7-Pufferspeichern als Hauptbestandteile desselben.
Das Zustands-Register 155 ist ein Lese/Schreib-Speicher, welcher verschiedene Markierungen und Zustandsinformationen enthält. Mehrere Eingangs- und Ausgangssignale werden zwischen dem Zustands-Register 155 und verschiedenen Verknüpfungsgliedern des Prüfgerätes übertragen, wie dies
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durch die Bezugszeichen 156 und 157 angedeutet ist. Ein Bit des Zustands-Registers gibt an, ob das Prüfgerät in der oben erwähnten "Breitseite"-Betriebsart oder in der "Serie"-Betriebsart arbeitet, wobei die zuletzt genannte Betriebsart diejenige ist, in welcher gleichzeitig nur ein Eingangs/Ausgangs-Stift geändert wird. Einige der Informationen, beispielsweise ein "Laufen/Halten"-Bit und drei Programmarkierungen, für das Zustands-Register 155 kommen von dem Hauptprozessor 28. Andere Informationen für das Zustands-Register 155 kommen von dem Hochgeschwindigkeitsprozessor selbst, wie beispielsweise der Zustand der Fehlerleitungen und der Zustand des "Daten-Eingabe"-Registers 159 und des "Daten-Ausgabe"-Registers 160. Der Hauptprozessor 28 ist in der Lage, das Zustands-Register 155 als eine Speicherstelle zu lesen, während der Hochgeschwindigkeitsprozessor das Zustands-Register 155 als eine Quelle für Steuersignale verwendet. Das Zustands-Register 155 kann auf einfache Weise durch Verwendung von Texas-Instruments-74LS174-Registern und Signetics-8T97-Pufferspeichern realisiert werden.
Das "Daten-Eingabe"-Register 159 und das "Daten-Ausgabe"-Register 160 enthalten Halteschaltungen mit Drei-Zustands-Ausgängen. Sie können auf einfache Weise durch Verwendung von Signetics-8T10-Drei-Zustands-Halteschaltungen realisiert werden.
Ein Speicher mit wahlfreiem Zugriff (Random Access Memory - RAM) 163 ist als ein Speicher mit 1024 Wörtern zu sechzehn Bits organisiert. Die Befehle für den Hochgeschwindigkeits-Prozessor sind in diesem Speicher 163 (RAM) gespeichert. Die in Verbindung mit dem Hochgeschwindigkeits-Anschluß 170 und der Hochgeschwindigkeits-Sammelleitung 45' verwendeten Daten können ebenfalls in dem RAM 163 gespeichert' sein.
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Ein Schieberegister 166 ist ein parallel
ladbares und parallel lesbares Sechzehn-Bit-Schieberegister. Ein von einem CRC-Generator 180 kommendes CRC-Zeichen kann seriell in das Schieberegister 166 eingeschoben werden, so daß das CRC-Zeichen in einem parallelen Format ausgelesen und auf die Sammelleitung 161 (welche eine interne Sechzehn-Bit-Sammelleitung des Hochgeschwindigkeits-Prozessors ist) und über das "Daten-Ausgabe"-Register 160 und die Hauptsammelleitung 27 zu dem Hauptprozessor 28 ausgegeben wird. Von der Stift-Steuerelektronikschaltung 151 zu dem seriellen Eingang des Schieberegisters 166 führt eine einzelne Leitung 201, welche ein schnelles Lesen von sechzehn Eingangs/Ausgangs-Stiften der zu prüfenden Schaltungskarte durch den Hauptprozessor 28 erlaubt. Der Zustand solcher Eingangs/Ausgangs-Stifte kann mittels sechzehn Schiebeoperationen schnell in das Schieberegister 166 geschoben werden, so daß der Hauptprozessor 28 diese Information dann in einem parallelen Format über die interne Sammelleitung 161 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors und das "Daten-Ausgabe"-Register 160 lesen kann. Diese Fähigkeit ist bei der Prüfung von Schaltungskarten zweckmäßig, welche Mikroprozessoren enthalten. Das Schieberegister 166 kann auf einfache Weise unter Verwendung von Texas-Instruments-74S299-Schiebe-Speicherregistern als Hauptkomponenten realisiert werden.
Der Hochgeschwindigkeitsprozessor besitzt
einen "Daten-Ausschieben"-Befehl, welcher in der Lage ist, die Werte der H-, M-, A- und B-Eingänge zu einer adressierten der Stift-Steuerschaltungen, wie der Schaltung 70A, B der Figuren 3B und 3C, zu übermitteln. Eine solche Information könnte durch Befehle vom Hauptprozessor 2 8 angegeben werden, jedoch kann sie erwünschtenfalls statt dessen auch in die in das Schieberegister 166 einzuschiebende Information eingebaut werden und durch die in dem Befehlsregister 169 enthaltende Information zu den Leitern der Anschlußstift-
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Sammelleitung 47 ausgeschoben werden, und zwar aufgrund von sechzehn Schiebeoperationen, und gelangt dann über die Stift-Steuerlogikschaltung 151 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors 29' zu der adressierten Stift-Steuerschaltung 7OA, B. Diese Fähigkeit ist zweckmäßig für die schnelle Übertragung von Daten auf der Hauptsammelleitung 27 zu der zu prüfenden Schaltungskarte. Dies ist beispielsweise von großem Vorteil für die Prüfung von Schaltungskarten, welche einen Mikroprozessor enthalten, da es in diesem Fall normalerweise erforderlich ist, daß das Prüfgerät sechzehn Informationsbits zu der Mikroprozessor-Sammelleitung der zu prüfenden Schaltungskarte liefert.
Die Mikro-Steuereinheit 165 ist realisiert durch Verwendung einer integrierten Mikro-Steuerschaltungseinheit des Typs "Advanced Micro Devices 2911", welche im wesentlichen eine Adressen-Steuereinheit ist, d.h. eine Adressenfolgeschaltung. Sie enthält die nächste Adresse für den Zugriff zu dem RAM 163. Die Mikro-Steuereinheit 165 besitzt die Fähigkeit , Unterprogramme und Schleifen durchzuführen.
Eine Multiplex-Einheit 167 besitzt eine Anzahl von Eingängen von dem Prioritäts-Codiererabschnitt 150 der Steuerlogikschaltung 151 und dem Befehlsregister 169. Der Prioritäts-Codierer besitzt vier Ausgänge. Einer dieser Ausgänge zeigt an, ob eine der sechs Gruppen von Fehlerleitungen, wie beispielsweise 58A oder 58B in Fig. 3A, einen festgestellten Fehler auf einem^^ Eingangs/Ausgangs-Stift anzeigt. Die anderen drei Ausgänge zeigen an, welche der sechs Gruppen— Fehlerleitungen, von denen Fehlersignale festgestellt wurden, die höchste Priorität besitzt. Um die Durchführung von Verzweigungsoperationen durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor zu ermöglichen, wird normalerweise der Sprungbefehl in das Befehlsregister 169 gegeben. Die zehn stellenwertmäßig
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niedrigsten Bits des Befehls werden in die Multiplexer-Einheit 167 und von dort in die Steuereinheit 165 übertragen. Der Sprungbefehl wird dann ausgeführt. Der Ilochgeschwindigkeits-Prozessor enthält einen "Springen-bei-Unterfehler"-Befehl ("Jump on sub-fault" instruction), welcher unmittelbar auf eine bestimmte Adresse verzweigt, welche auf den vier Ausgängen des Prioritäts-Codierers basiert. Die Funktion der Multiplexer-Einheit 167 besteht darin, diese Verzweigungsoperation zu ermöglichen. Die Multiplexer-Einheit kann unter Verwendung eines 74LS157-Data-Selector/Multiplexer-Bausteins von Texas Instruments als Hauptkomponente realisiert werden.
Der Zähler 168 kann durch Verwendung von
74S161-Zählern von Texas Instruments realisiert werden. Der Zähler 168 wird durch den Hochgeschwindigkeits-Prozessor verwendet, um Schleifenbefehle auszuführen. Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor enthält einen "Zähler-Verrnindern-und-Verzweigen-wenn-nicht-O"-Befehl, worin der Zähler um eine Einheit vermindert wird. Wenn der Inhalt des Zählers 168 gleich Null ist, dann wird in dem Zustandsregister 155 ein Markierungsbit gesetzt. In der Mikro-Steuereinheit 165 befindet sich ein Register, welches eine Adresse enthält, zu welcher eine Verzweigung erfolgt, wenn der Zählerinhalt nicht gleich Null ist.
Wie bereits erwähnt, wird der Ausgang des Tastkopfes 13 in den Prioritäts-Codierer 150 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors 29' eingegeben; siehe Fig. 5 und Fig. 2. Der von dem Tastkopf 13 empfangene Datenstrom (als Ergebnis der Abtastung eines Knotens auf der zu prüfenden Schaltungskarte) wird über den Leiter 179 zu den Eingängen des CRC-Zeichengenerators 180 und dem Stift-Zustand-RAM 181 eingegeben. Der Stift-Zustand-Speicher-RAM 181 ist ein serieller Tausend-Bit-Speicher mit wahlfreiem Zugriff (Random access memory - RAM). Die ersten tausend Zustände des geprüften
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Knotens sind in dem Stift-Zustand-RAM 181 gespeichert, und von dieser Information, welche in den Hauptprozessor eingegeben wird, wird die Eingabeprüfnummer des ersten Übergangs des geprüften Knotens bestimmt und in der später näher beschriebenen Weise in der Geschehenstabelle des Hauptspeichers gespeichert. Wenn während der ersten tausend Prüfungen kein Übergang oder Sprung des geprüften Knotens auftritt, wird eine maximal mögliche Eingangsprüfnummer in der Geschehenstabelle gespeichert, um die Feststellung zu sichern, daß der geprüfte bzw. abgetastete Knoten nicht die Quelle eines Fehlers in einer Schleife der Schaltung der zu prüfenden Schaltungskarte ist, wie dies aus der folgenden Beschreibung noch deutlich wird.
Es ist auch möglich, statt des Stift-Zustands-Speichers RAM 181 eine Schaltung 181 ' zu verwenden, um dj^e Zeit (d.h. die Eingangsprüfnummer) des ersten Übergangs des gerade zu prüfenden Knotens festzustellen. Die Eingangsprüfnummer wird dann direkt in parallelem Format über die Hauptsammelleitung 27 in den Hauptprozessor 28 eingegeben. Die Schaltung 181' kann auf einfache Weise durch Verwendung eines Zählers, eines Flip-Flops, welches den ursprünglichen Zustand des zu prüfenden Knotens speichert, und durch einige EXCLUSIV-ODER-Schaltungen realisiert werden.
Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor 29' besitzt eine begrenzte Gruppe von Befehlen, welche auf die Manipulation von Stiften der zu prüfenden Schaltungskarte gerichtet ist und die Ergebnisse derselben abfragt bzw. abtastet. Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor besitzt zwei voneinander unabhängige Betriebsarten. Die erste ist in der Lage, in der "Verzweigungs"-("Bypass"-)- oder Einzelschritt-Betriebsart zu arbeiten. In dieser Betriebsart wird ein Befehl von dem Hauptprozessor in den Hochgeschwindigkeits-Prozessor gegeben.
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Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor wirkt lediglich als eine Ubertragungs- bzw. Übersetzungs-Vorrichtung und als eine Zeitgabe-Einrichtung, um die übertragung von Befehlen in das Stift-Untersystem zu erleichtern. Unter Bezugnahme auf Fig. 5 sei darauf hingewiesen, daß der Befehl von dem Hauptprozessor 28 auf die Hauptsammelleitung 27 übertragen wird und von dort auf die Sammelleitung 161 des Hochgeschwindigkeits-Prozessnrs und von dort wiederum über das Befehlsregister 169 un<3 die Stift-Steuerschaltung 151' zu den "Stift-Sammelleitungs"-Leitern 47.
Die Stift-Steuerschaltung 151 enthält verschiedene Tor- bzw. Verknüpfungsschaltungen, welche von einem Fachmann auf einfache Weise realisiert werden können, um die erforderlichen Verknüpfungs- und Pufferfunktionen in Abhängigkeit von von den Leitern 172 des Lesespeichers ROM 171 kommenden Signalen durchzuführen, um Informationen von dem Schieberegister 166 oder dem Befehlsregister 169 zu entsprechenden Leitern der Stift-Sammelleitung 47 zu schieben. Beispielsweise liefern acht Bits des Befehlsregisters 169 die Adresse, um eine von den 192 Treiber/Sensor-Schaltungen auszuwählen; diese acht Bits werden an entsprechende Leiter der Stift-Sammelleitung 47 mit Hilfe von herkömmlichen Pufferschaltungen in der Stift-Steuerschaltung 151 angelegt. Andere Signale der Stift-Sammelleitungen 47 und 45 umfassen gesteuerte Verknüpfungsfunktionen, welche komplizierter aufgebaut sind, sich jedoch vom Fachmann ohne weiteres realisieren lassen.
Die Arbeitsweise des Hochgeschwindigkeits-Prozessors in der "Verzweigen"-Betriebsart ist so, daß der Hochgeschwindigkeits-Prozessor tatsächlich seine eigenen Befehle ausführt. In der "Verzweigen"-Betriebsart tastet der ROM-Teil des Hochgeschwindigkeits-Prozessors kontinuierlich das "Dateneingabe"-Register 159 ab. Immer dann, wenn Daten in dem "Dateneingabe"-Register 159 festgestellt werden, werden diese Daten zu der Sammelleitung 161 übertragen und
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in das Befehlsregister 169 gebracht, wo einige von ihnen durch den Lesespeicher ROM 171 dekodiert werden, um die erforderlichen Aktivierungssignale auf den Leitern 172 zu erzeugen, um die Befehle oder Daten über die Stift-Steuerlogikschaltung 151 zu den entsprechenden Leitern der "Stift-Sammelleitungs"-Leiter 47 zu übertragen. Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor versucht dann, einen nächsten Befehl von dem RAM 163 zu erhalten, wird jedoch dazu veranlaßt, in den HALT-Zustand zurückzufallen.
Die zweite Betriebsart für den Hochgeschwindigkeits-Prozessor ist die "Verarbeitungs"-("Process")-Betriebsart. In dieser Betriebsart gelangen die acht höherwertigen Bits aus dem Befehlsregister 169 in den ROM 171 und werden dekodiert, um Steuersignale auf den Leitern 172 zu erzeugen, welche zu verschiedenen anderen Elementen des Hochgeschwindigkeits-Prozessors geleitet werden, um die Ursprungs- und Bestimmungseinheiten für innerhalb des Hochgeschwindigkeits-Prozessors zu übertragende Daten zu steuern. Um den RAM 163 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors zu laden, führt der letztere typischerweise einen Sprung in eine Stellung aus, welche als "Ädresse-minus-1 " bezeichnet wird, die Adresse ist die Adresse des Befehls, welcher von dem RAM 163 geladen werden soll. Der Befehl wird über die Sammelleitung 161 in das Befehlsregister 169 geladen und von hier gelangt er über die Multiplexer-Einheit 167 in die Mikro-Steuereinheit 165. Diese wird automatisch in aufsteigendem Sinne fortgeschaltet, wenn sie damit beginnt, den Inhalt der adressierten Speicherstellung abzurufen. Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor geht an diesem Punkt in die HALT-Betriebsart und das Adressenregister des RAM wird geladen. Normalerweise würde der nächste Befehl sein, Daten in die adressierte Stelle des RAM einzugeben.
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Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor 29' kann
dazu verwendet werden, verschiedene Funktionen in dem Prüfgerät durchzuführen. Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor kann als Taktgenerator verwendet werden, um die Prüfung von Schaltungskarten zu erleichtern, welche Hochgeschwindigkeits-Takteingangssignale benötigen. In dem RAM 163 kann ein Programm gespeichert werden, um solche Taktsignale zu erzeugen. Während der Hochgeschwindigkeits-Prozessor solche Taktsignale erzeugt, gestattet er Unterbrechungen von dem Hauptprozessor 28 zu geeigneten Zeitpunkten. Das Hauptprüfprogramm für die zu prüfende Schaltungskarte ist selbstverständlich in dem Hauptprozessor 28 gespeichert. Der Hauptprozessor 28 kann somit mit dem Hochgeschwindigkeits-Prozessor in einer "verwobenen" Weise zusammenarbeiten, während der Hochgeschwindigkeits-Prozessor als Taktgenerator arbeitet, wobei er sowohl die erforderlichen Prüfmuster für die zu prüfende Schaltungskarte als auch die für die zu prüfende Schaltungskarte erforderlichen Hochgeschwindigkeits-Taktsignale liefert. Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor wird ferner dazu verwendet, als übersetzer für von dem Hauptprozessor 28 kommenden Befehlen hoher Ebene zu dienen, um die Anpassung zwischen der Hauptsammelleitung 27 und den Stift-Sammelleitungen 45, 48 zu erleichtern. In dieser Betriebsart ist ein kleines Übersetzungsprogramm in dem RAM 163 des Hochgeschwindigkeis-Prozessors gespeichert, um die jeweilige Art und Weise zu interpretieren, in welcher auf der Hauptsammelleitung 27 vorhandene Information auf die gewünschten Eingabe/Ausgabe-Stifte der zu prüfenden Schaltungskarte aufzufächern ist. Wenn somit der in dem Hochgeschwindigkeits-Prozessor gespeicherte Mikrocode einen Befehl höherer Ebene von dem Hauptprozessor 28 empfängt, leitet der Mikrocode diesen Befehl zu dem entsprechenden Stift der zu prüfenden Schaltungskarte.
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Der Hochgeschwindigkeits-Prozessor kann außerdem eine Synchronisierungs-Funktion ausführen, um zu bewirken, daß das Prüfgerät mit einer zu prüfenden Schaltungskarte, welche ihre eigene Zeitgabe erzeugt, synchronisiert wird. Bei dieser Betriebsart verwendet der in dem Hochgeschwindigkeits-Prozessor gespeicherte Mikrocode einen WARTEN-Befehl, um den Rest des Prüfgerätes solange "einzufrieren", bis sich ein bestimmtes Signal von der zu prüfenden Schaltungskarte ändert. An diesem Punkt kann der Hochgeschwindigkeits-Prozessor seinen eigenen Mikrocode weiter ausführen oder er kann weitere Befehle vom Hauptprozessor 28 übersetzen oder interpretieren, um die weitere Ausführung des Prüfprogramms für die zu prüfende Schaltungskarte zu erleichtern.
Dies ist ein wesentlicher Vorteil, da selbst
die meisten bekannten "Fabrikprüfgeräte" schwerwiegende Probleme beim Prüfen asynchroner Vorrichtungen, beispielsweise von als Hauptbestandteil einen Mikroprozessor aufweisenden Schaltungskarten, aufweisen. Es ist häufig erforderlich, den Mikroprozessor einer solchen Schaltungskarte hex'auszuziehen und nur die übrigen Komponenten der zu prüfenden Schaltungskarte zu prüfen oder spezielle Merkmale in solche Schaltungskarten einzubauen, um das Prüfen zu erleichtern, wodurch sich jedoch das Produkt zusätzlich verteuert.
Eine andere Anwendung der "Daten-Ausschieben"-Befehle besteht in der Verwendung des Prüfgerätes als ein Lesespeicher-(Read only memory - ROM)-Programmiergerät. Die Schieberegisterbefehle v/erden verwendet, um Adressen-Stifte bzw. Adressen-Anschlüsse des zu programmierenden Lesespeichers ROM unter Verwendung eines "Daten-Ausschieben"-Befehls zu "erstellen"* In ähnlicher Weise tverden auch die Daten-Anschlüsse oder Daten-Stifte unter Verwendung von "Daten-Ausschieben"-Befehlen "erstellt'1. Um die in den zu programmierenden Lese-
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Speicher geschriebenen Daten zu prüfen, werden "Daten-Einschieben"-Befehle verwendet, um die Daten in das Schieberegister und von dort in den Hauptprozessor zu bekommen, welcher die Feststellung trifft, ob die eingeschriebenen Daten richtig sind.
Die X-Anschluß-Schaltung 170 ermöglicht eine
Pufferung zwischen der Hochgeschwindigkeits-Sammelleitung 45' und der internen Sammelleitung 161 des Hochgeschwindigkeits-Prozessors. Diese Sammelleitung kann in bestimmten Fällen verwendet werden, um Eingaben in das System mit hoher Geschwindigkeit vorzunehmen. Mit der Sammelleitung 45' des Hochgeschwindigkeits-Prozessors kann beispielsweise ein Hochgeschwindigkeits-Pseudozufallszahl-Generator verbunden sein, um an die zu prüfende Schaltungskarte Pseudezufalls-Eingangsprüfmuster anzulegen.
Die Anschlußschaltungs-Schaltungskarte 33 für periphere Einheiten ist verantwortlich für die Erzeugung von Adressendekodier- und Sammelleitungs-Antwortsignalen für alle peripheren Einheiten des Systems, unabhängig davon, welcher Schaltungskartc die perLpheren Einheiten zugordnet sind. Die Anschlußschaltung-Schaltungskarte 3 3 erzeugt die Funktion der Anpassung zwischen der Hauptsammelleitung 27 und dem peripheren Untersystem, welches eine 3M-Bandeinheit, eine Kassetteneinheit, einen Drucker, eine RS-232-Verbindungseinheit und einen Akustikkoppler enthält. Ein Blockschaltbild dieser Anschlußschalturiy-Schaltungskarte 33 für periphere Einheiten ist in den Figuren 6A und 6B dargestellt, worin die Hauptsamniulleitung 27 verschiedene Leiter enthält, welche zu Adressendekodier-Schaltungen 251, 252 und 253 und zu zwei Universal-Synch ron-Asynchron--Empfänger-Übertragern USART 254 und 2 55 und zu einer Bandanschlußschaltungs-EinheLt 256 führen. Die beiden Einpfünger-Sender-Einheiten 254 und 255
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können auf einfache Weise durch kommerziell erhältliche integrierte Schaltungen, beispielsweise den Intel 8251, realisiert werden. Die Drucker-Steuerschaltung 260 enthält im wesentlichen eine Acht-Bit-Haltschaltung, ein Flip-Flop und einige Pufferspeicher. Das Bell-System-kompatible MODEM 261 kann durch eine große Anzahl verschiedener kommerziell erhältlicher Modems realisiert werden, wie sie beispielsweise von der Firma Cermetek hergestellt werden.
Die Bezugs-Schaltungskarte 31 ist ebenfalls mit der Hauptsammelleitung 27 verbunden, um Informationen zur Steuerung von vierzehn programmierbaren Spannungsquellen aufzunehmen, welche durch 0,1-Volt-Inkremente auf Spannungen in einem Bereich von -12,8 Volt bis + 12,7 Volt eingestellt werden können, und zwar mit Hilfe verschiedener kommerziell erhältlicher Digital-Analog-Wandler in Form von integrierten Schaltungen, wie beispielsweise den Motorola-MC-14O8L-Baustein. Neun dieser vierzehn programmierbaren Spannungen werden verwendet, um die Spannungspegel der Stift-Steuerschaltungen auf den drei Treiber/Sensor-Schaltungskarten zu programmieren. Diese Spannungen können programmiert werden, um logische Pegel einzustellen, die mit einer beliebigen Kombination von drei verschiedenen Logikschaltungs-Technologien der zu prüfenden Schaltungskarte kompatibel sind, beispielsweise der Transistor-Transistor-Logik, der MOS-Logik und der Emittergekoppelten Logik. Für jede verschiedene Gruppe von Logikpegeln wird für eine logische "1", eine logische "0" und einen Schwellenwertpegel ein programmierter Wert erstellt. Die Bezugsschaltungskarte 31 liefert außerdem zwei Steuersignale, welche die festen +12 Volt- und -12 Volt-Pegel steuern, welche an die zu prüfende Schaltungskarte angelegt werden können. Die Bezugs-Schaltungskarte 31 liefert ferner vier andere programmierbare Bezugsspannungen für vier programmierbare Spannungsquellen, die an die zu prüfende Schaltungskarte angelegt werden können. Eine Spannungsquelle für
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vierzehn Spannungen ist programmierbar, um die Bezugsspannung für den Prüf- oder Abtastvorgang einzustellen. Die Bezugs-Schaltungskarte 31 ist vom Tastenfeld her programmierbar. Die Bedienungsfeld-Schaltungskarte 32 ist verantwortlich für die von der Bedienungsperson vorgenommenen Tastenfeldeinqaben. Die Bedienunqsfeld-Schaltunqskarte enthält auch logische Schaltungen, zur Steuerung des digitalen Mehrfach-Meßinstruments (DMM) mit welchem Spannungen, Widerstände und Ströme gemessen v/erden können, und zur Anzeige der Meßwerte dieses Meßinstruments.
Wie aus Fig. 4 ersichtlich, enthält die Prozessor-Schaltungskarte 2 8 im wesentlichen ein Mikroprozessor-Chip-System 210, welches durch eine Gruppe von integrierten Schaltungschips, beispielsweise durch das Western-Digital-MCPI600-Mikroprozessor-System, realisiert werden kann. Dieses Mikroprozessor-System enthält ein Datenchip 212, welches von dem Hersteller mit der Typenbezeichnung CP1611B versehen ist, und im wesentlichen die Funktion einer arithmetischen logischen Einheit ausführt, verschiedene Register einschließlich eines Befehlsregisters, und ein Adressensystem, Eingabe/Ausgabe-Verknüpfungsschaltungen und andere solche Elemente, welche zur Durchführung herkömmlicher Datenverarbeitung mit gespeichertem Programm erforderlich sind. Die Chipgruppe enthält ferner eine integrierte Schaltung 21 1, welche von dem Hersteller als Steuerchip bezeichnet wird und die Typenbezeichnung CP1621B trägt; dieses ist im wesentlichen eine kundenprogrammierbare Logikanordnung, welche von dem Hersteller so ausgebildet ist, daß sie den individuellen Befehlsgruppen des Benutzers gerecht wird. Die individuelle Befehlsgruppe des Benutzers wird durch ein Chip 213 dekodiert, welches als Mikrocode-Chip oder ROM-Chip bezeichnet wird und die Herstellerbezeichnung CPl631B trägt; dieser Baustein ist ein Lesespeicher (Read only memory - ROM) mit 512 Wörtern zu
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22 Bits, welcher die von dem Benutzer bevorzugten Befehlsgruppen dekodiert, um Signale zu erzeugen, welche für den Betrieb des MCP16OO-MPU-Systems erforderlich sind, wie beispielsweise das Vorladen der MOS-Sammelleitung 27' bei jedem Operationszyklus. Mit der Sammelleitung 27' können jedoch auch weitere Lesespeicher gekoppelt sein, um Mikrocodes zu liefern, welche zur Bildung weiterer Befehle, welche vom Benutzer gewünscht werden, dienen.
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Claims (1)

  1. 29 1 Al
    NCR CORPORATION Dayton, Ohio (V.St.A.)
    Patentanmeldung
    Unser Az.: Case 2718/GER
    PRÜFGERÄT ZUM PRÜFEN GEDRUCKTER SCHALTUNGSKARTEN
    Patentansprüche:
    1.) Prüfgerät zum Prüfen gedruckter Schaltungskarten, welches eine Anzahl programmierbarer Treiber/Sensor-Schaltungen enthält, welche jeweils mindestens eine Datenanschlußschaltung und mindestens eine programmierbare Anschlußschaltung aufweisen, welche selektiv programmierbar ist/ und zwar entweder als Eingang in Abhängigkeit von einem von einer zu prüfenden Schaltungskarte kommenden Signal, oder als Ausgang in Abhängigkeit von einem an den genannten Dateneingangsanschluß angelegten Signal, und welches ferner Kopplungseinrichtungen enthält, um die programmierbaren Anschlüsse mit entsprechenden Anschlüssen einer zu prüfenden Schaltungskarte zu koppeln, dadurch gekennzeichnet, daß jede Treiber/Sensor-Schaltung erste und zweite Abschlußeinrichtungen (119, 121) enthält, welche mit dem programmierbaren Anschluß (100) gekoppelt sind und dazu dienen, entsprechende Pull-up- und Pull-down-Ströme zum Anlegen an den genannten programmierbaren Anschluß (100) zu liefern, und daß in jeder Treiber/Sensor-Schaltung ferner Betriebsart-Steuereinrichtungen (76 - 81, 115 - 118) vorgesehen sind, welche auf Betriebsart-Steuersignale ansprechen, um entweder die erste oder zweite Abschlußeinrichtung (119, 121) wirksam zu machen.
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    2. Prüfgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß jede Treiber/Sensor-Schaltung Abtastschaltungen (106, 74) enthält, welche mit dem zugeordneten programmierbaren Anschluß (100) und mit den zugeordneten Betriebsart-Steuereinrichtungen gekoppelt sind, wobei die genannten Betriebsart-Steuereinrichtungen auf ein Betriebsart-Steuersignal erster Art ansprechen, um die ersten und zweiten Abschlußeinrichtungen (119, 121) zu sperren, und daß die genannten Abtastschaltungen wirksam sind, um das genannte .Signal von der zu prüfenden Schaltungskarte (18) abzutasten.
    3. Prüfgerät nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Betriebsart-Steuereinrichtungen auf ein Betriebsart-Steuersignal zweiter Art ansprechen, um die genannte erste Abschlußeinrichtung (119) wirksam zu machen und die genannte zweite Abschlußeinrichtung (121) zu sperren, wobei die genannten Abtastschaltungen (106, 74) wirksam sind, um das genannte Signal von der zu prüfenden Schaltungskarte (18) abzutasten.
    4. Prüfgerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die genannten Betriebsart-Steuereinrichtungen auf ein Betriebsart-Steuersignal dritter Art ansprechen, um die genannte erste Abschlußeinrichtung (119) zu sperren und die genannte zweite Abschlußeinrichtung (121) wirksam zu machen, wobei die genannten Abtastschaltungen (106, 74) wirksam sind, um das genannte Signal von der zu prüfenden Schaltungskarte (18) abzutasten.
    5. Prüfgerät nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß jede der Treiber/Sensor-Schaltungen entsprechende Treiberschaltungen (120, 122) enthält, welche mit dem genannten programmierbaren Anschluß (100) gekoppelt sind und daß die genannten Betriebsart-Steuereinrichtungen auf ein Betriebsart-Steuersignal vierter Art ansprechen, um zu bewirken, daß die genannten Treiberschaltungen (120, 122)
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    in Abhängigkeit von einem an den genannten Dateneingangs-Anschluß (103) angelegten Signal ein Treibersignal an den genannten programmierbaren Anschluß (100) anlegen.
    6. Prüfgerät nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die ersten und zweiten Abschlußeinrichtungen eine erste und eine zweite Stromquelle (119, 121) enthalten.
    3. April 1979
    909 8 46/U574
DE2914106A 1978-04-13 1979-04-07 Prüfgerät zum Prüfen gedruckter Schaltungskarten Expired DE2914106C2 (de)

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Families Citing this family (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE31828E (en) * 1978-05-05 1985-02-05 Zehntel, Inc. In-circuit digital tester
US4300207A (en) * 1979-09-25 1981-11-10 Grumman Aerospace Corporation Multiple matrix switching system
GB2086103B (en) * 1980-10-27 1985-01-30 Hal Computers Ltd Computer peripheral test equipment
DE3116079A1 (de) * 1981-04-23 1982-11-11 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Pruefsystem
US4417336A (en) * 1981-06-18 1983-11-22 The Bendix Corporation Method of testing with computers
US4517661A (en) * 1981-07-16 1985-05-14 International Business Machines Corporation Programmable chip tester having plural pin unit buffers which each store sufficient test data for independent operations by each pin unit
US4489414A (en) * 1981-10-28 1984-12-18 Hal Computers Limited Computer peripheral testing equipment
JPS58158566A (ja) * 1982-03-17 1983-09-20 Hitachi Ltd 検査装置
US4561093A (en) * 1983-02-22 1985-12-24 Otis Elevator Company Servicing a software-controlled elevator
US4630224A (en) * 1984-04-19 1986-12-16 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Automation initialization of reconfigurable on-line automatic test system
US4641254A (en) * 1984-06-14 1987-02-03 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Test set for a navigational satellite receiver
JPS61292755A (ja) * 1985-06-20 1986-12-23 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
JPS622552A (ja) * 1985-06-27 1987-01-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体検査装置および半導体検査方法
US4771428A (en) * 1986-04-10 1988-09-13 Cadic Inc. Circuit testing system
US4791356A (en) * 1986-09-19 1988-12-13 Zehntel Incorporation In-circuit testing system
US4837764A (en) * 1987-03-26 1989-06-06 Bunker Ramo Corporation Programmable apparatus and method for testing computer peripherals
JPH0227333A (ja) * 1988-07-15 1990-01-30 Konica Corp 合成樹脂製の写真フィルム用マガジン
US5369593A (en) * 1989-05-31 1994-11-29 Synopsys Inc. System for and method of connecting a hardware modeling element to a hardware modeling system
US5353243A (en) * 1989-05-31 1994-10-04 Synopsys Inc. Hardware modeling system and method of use
US5032789A (en) * 1989-06-19 1991-07-16 Hewlett-Packard Company Modular/concurrent board tester
US5287045A (en) * 1990-02-20 1994-02-15 Kabushiki Kaisha Toshiba Fully digital apparatus for controlling operation of electric motor
GB2251081B (en) * 1990-12-18 1995-08-23 Motorola Ltd Automatic analysis apparatus
US5235273A (en) * 1991-07-12 1993-08-10 Schlumberger Technologies, Inc. Apparatus for setting pin driver/sensor reference voltage level
US5414712A (en) * 1991-07-23 1995-05-09 Progressive Computing, Inc. Method for transmitting data using a communication interface box
DE69229389T2 (de) * 1992-02-25 1999-10-07 Hewlett Packard Co Testsystem für Schaltkreise
US5455517A (en) * 1992-06-09 1995-10-03 International Business Machines Corporation Data output impedance control
US5559964A (en) * 1992-12-15 1996-09-24 Rolm Company Cable connector keying
US9063191B2 (en) 2012-02-24 2015-06-23 Power Probe, Inc. Electrical test device and method
US7184899B2 (en) * 2005-01-05 2007-02-27 Power Probe, Inc Energizable electrical test device for measuring current and resistance of an electrical circuit
US5561773A (en) * 1993-04-30 1996-10-01 Unisys Corporation Programmable, multi-purpose virtual pin multiplier
US5581463A (en) * 1993-10-07 1996-12-03 Hewlett-Packard Co Pay-per-use access to multiple electronic test capabilities and tester resources
US5412575A (en) * 1993-10-07 1995-05-02 Hewlett-Packard Company Pay-per-use access to multiple electronic test capabilities
US5453705A (en) * 1993-12-21 1995-09-26 International Business Machines Corporation Reduced power VLSI chip and driver circuit
US5673295A (en) * 1995-04-13 1997-09-30 Synopsis, Incorporated Method and apparatus for generating and synchronizing a plurality of digital signals
US6500070B1 (en) 1999-05-28 2002-12-31 Nintendo Co., Ltd. Combined game system of portable and video game machines
US6371854B1 (en) 1999-08-20 2002-04-16 Ninetendo Co., Ltd. Combined game system
JP4691268B2 (ja) 2001-05-02 2011-06-01 任天堂株式会社 ゲームシステムおよびゲームプログラム
US6851612B2 (en) 2001-07-20 2005-02-08 Siemens Building Technologies, Inc. Portable diagnostic device
JP2005033559A (ja) * 2003-07-14 2005-02-03 Fuji Xerox Co Ltd 故障診断装置
US7360130B2 (en) * 2004-05-24 2008-04-15 Jed Margolin Memory with integrated programmable controller
US7259665B2 (en) * 2004-10-27 2007-08-21 International Business Machines Corporation Battery backed service indicator aids for field maintenance
EP1724599B1 (de) * 2005-05-20 2007-08-22 Agilent Technologies, Inc. Prüfvorrichtung mit Anpassung des Prüfparameters
US8041529B2 (en) * 2007-02-09 2011-10-18 Robert Bosch Gmbh Changing parameters in a tested system using virtual working pages
US7739070B2 (en) * 2007-08-28 2010-06-15 Agilent Technologies, Inc. Standardized interfaces for proprietary instruments
US7525319B1 (en) 2008-08-28 2009-04-28 International Business Machines Corporation Method and apparatus to electrically qualify high speed PCB connectors
US8464143B2 (en) * 2009-01-12 2013-06-11 Board Of Regents Of The Nevada System Of Higher Education Error detection method
US8639474B2 (en) * 2010-08-31 2014-01-28 Toshiba International Corporation Microcontroller-based diagnostic module
JP5533935B2 (ja) * 2012-05-10 2014-06-25 トヨタ自動車株式会社 ソフトウェア配信システム、ソフトウェア配信方法
WO2017161439A1 (en) * 2016-03-21 2017-09-28 Mobile Electronics, Inc. Method and system for a universal programmable voltage module
CN106771983A (zh) * 2017-01-24 2017-05-31 安徽锐能科技有限公司 电池管理系统pcb测试装置
US11860189B2 (en) 2019-12-12 2024-01-02 Innova Electronics Corporation Rotational electrical probe
CN113514759B (zh) * 2021-09-07 2021-12-17 南京宏泰半导体科技有限公司 一种多核测试处理器及集成电路测试系统与方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1591223A1 (de) * 1966-10-10 1970-12-23 Ibm Automatisch arbeitendes Pruefgeraet fuer elektronische Schaltkreise

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3739349A (en) * 1971-05-24 1973-06-12 Sperry Rand Corp Digital equipment interface unit
US3849726A (en) * 1974-01-28 1974-11-19 Sperry Rand Corp Universal programmable digital testing interface line
US4000460A (en) * 1974-07-01 1976-12-28 Xerox Corporation Digital circuit module test system
US3924109A (en) * 1974-07-22 1975-12-02 Technology Marketing Inc Automatic circuit card testing system
US3976864A (en) * 1974-09-03 1976-08-24 Hewlett-Packard Company Apparatus and method for testing digital circuits
US3922537A (en) * 1974-09-26 1975-11-25 Instrumentation Engineering Multiplex device for automatic test equipment
US3976940A (en) * 1975-02-25 1976-08-24 Fairchild Camera And Instrument Corporation Testing circuit
US4012625A (en) * 1975-09-05 1977-03-15 Honeywell Information Systems, Inc. Non-logic printed wiring board test system

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1591223A1 (de) * 1966-10-10 1970-12-23 Ibm Automatisch arbeitendes Pruefgeraet fuer elektronische Schaltkreise

Also Published As

Publication number Publication date
GB2019011B (en) 1982-06-23
JPS54138352A (en) 1979-10-26
FR2451038A1 (fr) 1980-10-03
US4168796A (en) 1979-09-25
JPS6311634B2 (de) 1988-03-15
FR2451038B1 (de) 1983-09-16
DE2914106C2 (de) 1985-03-21
GB2019011A (en) 1979-10-24

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