DE2854750A1 - Solarzelle mit schottky-sperrschicht - Google Patents
Solarzelle mit schottky-sperrschichtInfo
- Publication number
- DE2854750A1 DE2854750A1 DE19782854750 DE2854750A DE2854750A1 DE 2854750 A1 DE2854750 A1 DE 2854750A1 DE 19782854750 DE19782854750 DE 19782854750 DE 2854750 A DE2854750 A DE 2854750A DE 2854750 A1 DE2854750 A1 DE 2854750A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- solar cell
- zone
- schottky barrier
- barrier layer
- amorphous silicon
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 title claims description 43
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 claims description 37
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 36
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 36
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 claims description 19
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 claims description 15
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 9
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 8
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 5
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 2
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 claims 1
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 claims 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims 1
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 claims 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000011630 iodine Substances 0.000 claims 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 44
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 38
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 4
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N Phosphine Chemical compound P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 2
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KEAYESYHFKHZAL-UHFFFAOYSA-N Sodium Chemical compound [Na] KEAYESYHFKHZAL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 210000002457 barrier cell Anatomy 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 cesium nitride Chemical class 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000002003 electron diffraction Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 1
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 229910000073 phosphorus hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 150000003376 silicon Chemical class 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 229910000104 sodium hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012312 sodium hydride Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229940071182 stannate Drugs 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/06—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
- H01L31/07—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the Schottky type
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Description
Dr.-lng. Reimar König ■ Dkti.-lng. Klaus Bergen
I»·
18. Dezember 1978 32 633 B
RCA Corporation, 30 Rockefeiler Plaza,
New York. N.Y. 10020 (V.St.A.)
"Solarzelle mit Schottky-Sperrschicht"
Die Erfindimg betrifft eine Silizium-Solarzelle mit Schottky-Sperrschicht,
mit einem Substrat und einem elektrischen Kontakt an der Schottky-Sperrschicht. Sie betrifft ferner ein
Verfahren zum Herstellen einer amorphes Silizium mit einer Schottky-Sperrschicht enthaltenden Solarzelle mit vergrößerter
Leerlaufspannung.
Mit Hilfe von aufgrund des Sperrschicht-Fotoeffekts arbeitenden Bauelementen, z.B. Solarzellen, kann Sonnenstrahlung
in verwertbare elektrische Energie umgewandelt werden. Die Energieumwandlung erfolgt dabei in bekannter Weise in zwei
Stufen: Zunächst erzeugt im Halbleiter absorbierte Sonnen- »trahlung Elektronen und Löcher, die dann durch ein "eingebautes"
elektrisches Feld in der Halbleiter-Solarzelle voneinander getrennt werden. Durch diese Trennung von
Elektronen und Löchern entsteht ein elektrischer Strom. Ein "eingebautes" elektrisches Feld kann in einer Solarzelle
z.B. durch eine Schottky-Sperrschicht erzeugt sein. Die an dem Metall/Halbleiter-Übergang erzeugten Elektronen
fließen in Richtung auf den Halbleiterkörper, wo sie gesammelt werden können.
Sogenannte PIN-Solarzellen mit amorphem Silizium haben
ORIGINAL INSPECTED
909845/0630
■ - ε-
höhere Leerlaufspannungen als Solarzellen mit Schottky-Sperrschicht
an amorphem Silizium; die durch PIN-Solarzellen erzeugten Kurzschlußströme sind jedoch infolge von
Verlusten durch Rekombination von Löchern und Elektronen niedriger als diejenigen von Schottky-Sperrschicht-Solarzellen.
Die Spannungen von Schottky-Sperrschicht-Solarzellen mit hydriertem, amorphem Silizium sind im wesentlichen
deshalb niedriger, weil die Höhe des Potentialwalls der Metalle hoher Austrittsarbeit durch Oberflächenzustände
bzw. durch diejOberflächenbeschaffenheit begrenzt ist.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Leerlaufspannung
einer Schottky-Sperrschicht-Solarzelle mit hydriertem, amorphem Silizium zu erhöhen und dabei den hohen Wert der
Kurzschlußstromdichte zu erhalten.
Gelöst wird diese Aufgabe bei einer Solarzelle mit Schottky-Sperrschicht
eingangs genannter Art erfindungsgemäß durch einen aus hydriertem, amorphem Silizium bestehenden Körper
mit einer N^-leitenden, das Substrat kontaktierenden, ersten Zone, einer eigenleitenden, zweiten Zone sowie einer
der Sonnenstrahlung zuzuwendenden, P-Ieitenden, dritten Zone und eine mit der dritten Zone eine Schottky-Sperrschicht
bildenden Metallschicht eines Metalls hoher Austrittsarbeit,
wobei die dritte Zone in Abhängigkeit von ihrer Dicke und Dotierstoffkonzentration durch die Schottky-Sperrschicht
völlig ionisiert ist.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung besteht ein Verfahren
zum Herstellen einer amorphes Silizium mit einer Schottky-Sperrschicht enthaltenden Solarzelle mit vergrößerter
Leerlaufspannung darin, daß auf eine eigenleitende Zone aus hydriertem, amorphem Silizium vor dem Aufbringen
einer eine Schottky-Sperrschicht bildenden Metall-
909845/0630
schicht eines Metalls hoher Austrittsarbeit eine P-leitende
Zone aus hydriertem, amorphem Silizium solcher Dicke und Dotierstoffkonzentration aufgebracht wird, daß die P-leitende
Zone durch das Schottky-Sperrschicht-Metall völlig ionisiert wird.
Im Kern betrifft die Erfindung demgemäß eine Schottky-Sperrschicht-Solarzelle
mit einem Körper aus amorphem, insbesondere hydriertem Silizium, der mit einer dünnen dotierten
Zone an das Schottky-Sperrschicht-Metall angrenzt. Die Höhe des Potentialwalls wird erfindungsgemäß durch eine
dünne, hochdotierte, P-leitende Zone aus hydriertem, amorphem Silizium, welche zwischen das Schottky-Sperrschicht-Metall
hoher Austrittsarbeit und einen Körper aus eigenleitendem, hydriertem, amorphem Silizium eingefügt ist, vergrößert.
Mit der Höhe des Potentialwalls werden die Leerlaufspannung und der Kurzschlußstrom der Schottky-Grenzschicht-Solarzelle
mit hydriertem, amorphem Silizium ebenfalls angehoben. Die Kurzschlußspannung steigt dabei deshalb, weil eine größere
Höhe des Potentialwalls eine Verminderung des Sättigungs-Sperrstroms zur Folge hat. Der Kurzschlußstrom kann wegen
eines Ansteigens des eingebauten Potentials eine kleine Vergrößerung erfahren. Erfindungsgemäß sollen die Dotierstoffkonzentration
und die Dicke der P-leitenden Zone so ausgewählt bzw. eingestellt werden, daß die hochdotierte,
P-leitende Zone durch das Metall hoher Austrittsarbeit vollkommen ionisiert werden kann.
Teilweise anhand der schematischen Darstellung eines Ausführungsbeispiels
werden weitere Einzelheiten der Erfindung erläutert. In der Figur ist eine Schottky-Sperrschicht-Solarzelle
mit einer dünnen, hochdotierten, P-leitenden, an die Schottky-Sperrschicht angrenzenden
Zone dargestellt.
909845/0630
Die erfindungsgemäßen Schottky-Sperrschicht-Solarzellen
mit hydriertem, amorphem Silizium enthalten eine dünne semitransparente Metallschicht mit hoher Austrittsarbeit,
welche eine Schottky-Sperrschicht mit dem Körper des hydrierten, amorphen Siliziums bildet. Die Kennwerte bzw.
Eigenschaften des Übergangs zwischen dem Schottky-Sperr— schicht-Metall und dem hydrierten, amorphen Siliziumkörper
sind kritisch bestimmende Parameter der Leistung der Solarzelle. Unter anderem bestimmt der Schottky-Sperrschicht-Ubergang
die Leerlaufspannung (VqC) der Silizium-Solarzelle.
Die Leerlaufspannung hängt ab von dem Kurzschlußstrom, dem Diodengütefaktor und der Säüigungsstromdichte.
Bei der erfindungsgemäßen Schottky-Sperrschicht-Solarzelle
sind der Dioden-Gütefaktor verbessert und die Höhe d«s Schottky-Potentialswalls vergrößert, um die Kurzschlußspannung
(VqC) über diejenige herkömmlicher Schottky-Sperrschicht-Solarzellen
mit hydriertem, amorphem Silizium anzuheben.
Die erfindungsgemäße Schottky-Sperrschicht-Solarzelle mit hydriertem, amorphem Silizium ist in der Zeichnung insgesamt
mit 10 bezeichnet worden. Alle Schichten oder Zonen der Solarzelle 10 sind in bestimmter Weise in bezug auf die
einfallende Sonnenstrahlung 10 ausgerichtet. Zu der Solarzelle 10 gehört ein Substrat 12 aus elektrisch gutleitendem
und einen ohmschen Kontakt mit einem hydriertem, amorphem Siliziumkörper 14 bildenden Material. Als Substratmaterial
sind beispielsweise geeignet: Aluminium, Chrom, rostfreier Stahl, Niob, Tantal, Eisen, Molybdän,
Titan, Indium-Zinn-Oxid auf Glas mit Indium-Zinn-Oxid ale leitendes Material und ähnliches.
Der hydrierte, amorphe Siliziumkörper 14 kann durch Glimmentladung
hergestellt werden seinj geeignete Verfahren
909845/0630
sind beschrieben in US-PS 4 064 521, US-Patentanmeldung
Ser.No. 727 659 vom 29. September 1976 oder US-Patentanmeldung Ser.No. 710 186 vom 30. Juli 1976. Bei dem unter
der Bezeichnung "Glimmentladung" bekannten Verfahren zum Abscheiden der jeweiligen Schichten, wird durch ein Gas relativ
geringen Drucks, d.h. etwa 600 bis 700 Pa (etwa 5 Torr) oder weniger elektrisch entladen.
Amorph nennt man Stoffe, die keine gerichtete (kristalline) Anordnung ihrer kleinsten Bauelemente zeigen. Die Länge geordneter
Ketten von durch Glimmentladung in Silan hergestelltem amorphem Silizium ist in der Regel kleiner als
2 nm. Die amorphe Struktur des durch Glimmentladung in Silan hergestellten, amorphen Siliziums kann durch Röntgenstrahlung
oder durch Elektronenbeugung festgestellt werden.
Der Siliziumkörper 14 gemäß Zeichnung kann ganz und gar aus elgenleitendem, amorphem Silizium 14b bestehen, welches
durch Glimmentladung in im wesentlichen reinen Silan hergestellt worden ist. Die N+-leitende, in engem Kontakt mit
dem Substrat 12 stehende Zone 14c des Siliziumkörpers 14 verbessert jedoch den ohmschen Kontakt mit dem Substrat
12 gegenüber dem Fall des eigenleitenden, amorphen Siliziums 14b. Die N+-leitende Zone 14ckann aus Silan bei
gemischtem Dotiergas bis zu einer Dicke von etwa 10 bis etwa 50 nm niedergeschlagen sein. Normalerweise wird als
N+-Dotiergas z.B. Phosphin oder Ars Jn verwendet. Es eignen
sich auch Stoffe wie Antimon, Wismut, Cäsiumnitrid und Natriumhydrid. Nach Fertigstellung der N+-leitenden
Zone 14c wird das Dotiergas aus dem System abgepumpt,
und das Abscheiden des Siliziums wird in Silan allein derart fortgesetzt, daß eine Zone 14b mit eigenleitendem
909845/0630
hydriertem, amorphem Silizium entsteht. Diese Zone 14b
soll etwa 200 "bis etwa 1000 nm dick werden. Dann wird eine
dünne hochdotierte P-leitende Zone 14a auf die eigenleitende Zone 14b aufgebracht, bevor eine Schottky-Sperrschicht-Metallschicht
16 hoher Austrittsarbeit niedergeschlagen wird.
Die P-leitende Zone 14a unterscheidet die erfindungsgemäße Zelle von bekannten Schottky-Sperrschicht-Zellen mit hydriertem,
amorphem Silizium. Die. dünne, hochdotierte, P-leitende Zone 14a hebt nämlich die Höhe des Schottkyschen
Potentialwalls an und verbessert die Leistung der Solarzelle. 10. Die P-leitende Zone 14a soll vorzugsweise eine
Dicke zwischen etwa 5 und etwa 10 nm haben. Zum P-Dotieren der Zone 14a eignen sich beispielsweise Stoffe wie Bor,
Aluminium und ähnliche mit einer Konzentration zwischen etwa 0,001 und etwa 1,00 % an P-Dotierstoff in der P-dotierten
Silanatmosphäre der Reaktionskammer. Vorzugsweise wird eine P-Dotierstoff konzentration von etwa 0,1096 der P-dotierten
Silanatmosphäre benutzt. Eine solche P-Dotierstoffkonzentration führt zu einer P-leJtenden Zone mit einer
Dotierstoffkonzentration von etwa 5 χ 10 bis etwa 5 χ
P-Dotierstoffteilchen pro cm . Durch die dünne, hoch-P-dotierte,
an das Metall der Schottky-Sperrschicht angrenzende, aus hydriertem, amorphem Silizium bestehende
Zone 14a wird ein Diodengütefaktor im Dunkeln und unter Beleuchtung erreicht, der größer als 1 ist. Diese Vergrößerung
wird ohne Verminderung des Kurzschlußstroms erzielt.
Beim Herstellen erfindungsgemäßer Solarzellen werden die Dotierstoffkonzentration und die Dicke der P-leitenden
Zone 14a vorzugsweise so eingestellt, daß diese P-leitende Zone durch das an sie angrenzende Schottky-Sperrschicht-Metall
vollkommen ionisiert wird. Wenn die Zone 14a zu
dick ist, wird sie nicht vollständig durch das Schottky-
909845/0630
■Λ0-
Sperrschicht-Metall 16 ionisiert und die Solarzelle 10 wirkt wie eine normale PIN-Zelle mit einem infolge von Rekombination
in der dicken P-leitenden Zone kleinen Strom. Ist dagegen die hoch-P-leitende Zone 14a zu dünn, so reicht
sie nicht aus, die Höhe des Potentialwalls der Sperrschicht anzuheben.
Die Metallschicht 16 soll wenigstens semitransparent für Sonnenstrahlung sein und ein elektrisch gut leitendes Metall
mit einer hohen Austrittsarbeit, d.h. 4,5 eV oder mehr, enthalten. In diesem Sinne sind z.B. Gold, Platin, Palladium,
Chrom, Iridium, Rhodium und ähnliche Metalle geeignet. Die Metallschicht 16 kann eine Einzelschicht eines Metalls sein
oder aus mehreren Teilschichten bestehen. Im letzteren Fall soll die erste auf dem Siliziumkörper 14 liegende Schicht
Platin sein, um einen hohen Schottky-Potentialwall sicherzustellen, während als zweite, auf der ersten Platinschicht
liegende Schicht, z.B. Gold oder Silber, wegen der guten elektrischen Leitfähigkeit sehr geeignet sind. Die Metallschicht
16 soll nur etwa 5,0 m dick sein, um zu erreichen, daß die Metallschicht 16 zumindest semitransparent gegenüber
Sonnenstrahlung ist.
Im Ausführungsbeispiel ist die Schottky-Sperrschicht-Metallschicht
16 mit einer aus einem elektrisch gut leitenden Metall bestehenden Gitterelektrode 18 kontaktiert. Die
Gitterelektrode 18 soll nur einen Teil der Oberfläche der Metallschicht 16, z.B. nur etwa 5 bis 10% einnehmen, da
auf die Gitterelektrode 18 auffallende Sonnenstrahlung von dem Körper 14 wegreflektiert werden könnte. Die Gitterelektrode
18 hat die Aufgabe, den an der Metallschicht 16 gesammelten Strom gleichmäßig abzuführen. Außerdem stellt
909845/0630
. /to·
die Gitterelektrode 18 einen niedrigen Reihenwiderstand der Solarzelle 10 sicher.
Mit abnehmender Größe der zu bestrahlenden Fläche der Solarzelle nimmt das Erfordernis nach der Gitterelektrode
18 ab. Bei einer kleinen Solarzelle kann eine transparente, leitende Oxidschicht 20 mit einem spezifischen Flächenwiderstand
von weniger als 10 Ohm/Quadrat zum Abführen des in der Solarzelle bei Betrieb erzeugten Stromes ausreichen. Im gezeichneten
Ausführungsbeispiel ist eine transparente, leitende Oxidschicht 20 dargestellt worden, die gleichzeitig
als Antireflexionsbeschichtung und als Zusatzelektrode zu dem Metallgitter 18 wirkt. Die Oxidschicht 20 liegt dabei
auf dem Metallgitter 18 und auf der Metallschicht 16. Das
verwendete transparente, leitende Oxid kann z.B. Zinnoxid, Indium-Zinnoxid, Kadmiumstannat oder ähnliches sein.
Durch die folgenden Beispiele wird die Erfindung noch näher erläutert.
Ein aus Molybdän bestehendes Substrat von etwa 1 mm Dicke wurde in einer Gleichstromentladung bei einem Druck von
etwa 80 Pa (0,6 Torr) in einer etwa 50% Argon und etwa
50% Wasserstoff enthaltenden Atmosphäre bei einer Temperatur von etwa 3000C während einer Zeitdauer von etwa 4 Minuten
sprühgereinigt.
Auf das gereinigte Substrat wurde eine N+-leitende Zone
βμβ einer etwa 98,0% Silan etwa 2,0% PH3 enthaltenden
Atmosphäre bei einer Temperatur von etwa 3300C niedergeschlagen.
Zum Niederschlagen wurde eine Gleichstromentladung benutzt. Dabei betrug die Stromdichte am Kathoden-
909845/0630
. /fa-
schirm etwa 0,45 Milliampere (mA)/cm bei einem Druck
von etwa 86,5 Pa (0,65 Torr). Der Abstand zwischen dem
Kathodenschirm und dem Substrat betrug etwa 5 mm. Innerhalb von etwa 15 Sekunden wurde eine Schichtdicke von
etwa 15 mn niedergeschlagen.
Die Reaktionskammer wurde dann leergepumpt. Nach dem Einlassen von reinem Silan wurde das Abscheiden für ungefähr
8 Minuten fortgesetzt, so daß eigenleitendes, hydriertes, amorphes Silizium in einer Dicke von etwa 500 nm niedergeschlagen
wurde.
Zu dem Silan wurde dann Diboran (B2Hg) in solcher Menge
hinzugefügt, daß das Diboran etwa 1% der Silan-Diboran-Atmosphäre
betrug. Das Abscheiden wurde dann für etwa Sekunden fortgesetzt, derart, daß hochdotiertes, P-Ieitendes,
hydriertes, amorphes Silizium in einer Schichtdicke von etwa 10 nm (bei einer Temperatur von 300 C) entstand.
Auf die P-dotierte Zone wurde dann ein Platinfilm von etwa 5 nm Dicke aufgedampft, um die Schottky-Sperrschicht zu
bilden. Schließlich wurden nochmals 40 nm Platin und dann etwa 1000 nm Aluminium in dem Muster einer Gitterelektrode
aufgedampft.
Bei den Beispielen 2 bis 4 wurde ebenso wie in Beispiel 1 verfahren, jedoch wurde die Diboran-Konzentration der
Silan-Diboran-Atmosphäre sutfenweise auf 0,1%, 0,01% und
0,001% verändert.
Eine herkömmliche Schottky-Grenzschicht-Solarzelle mit
909845/0630
•/13·
amorphem Silizium wurde ebenso wie im Beispiel 1 jedoch ohne eine dünne hochdotierte, P-leitende Zone Tiergestellt.
Tabelle I zeigt Vergleichswerte der Leerlaufspannung (VqC),
des Kurzschlußstroms (JgC) und des Umwandlungswirkungsgrades
(N) für eine herkömmliche Schottky-Sperrschicht-Solarzelle (Kontrolle) und für die Beispiele 1 bis 4 der erfindungsgemäßen
Schottky-Sperrschicht-Solarzelle mit hydriertem,
amorphem Silizium und einer dünnen, an das Schottky-Metall
angrenzenden, hoch P-dotierten Zone.
B2H6W) | Tabelle I | ρ JgC(mA/cm ) |
N (96) | |
Beispiel | 0 | Voc (mV) | 5,50 | 1,41 |
Kontrolle | 1,00 | 493 | 4,75 | 1,24 |
1 | 0,10 | 543 | 6,00 | 1,93 |
2 | 0,01 | 644 | 5,50 | 1,54 |
3 | 0,001 | 561 | 5,75 | 1,63 |
4 | 546 | |||
Die Meßergebnisse der Tabelle I sind in Abhängigkeit von
der effektiven Dotierstoffkonzentration im Verhältnis zur Silankonzentration der Vakuumkammer angegeben. Ausgehend
von 0,10% Diboran nimmt die Kurzschlußspannung V c für
größere und kleinere Diboran-Konzentrationen ab. Bei der Diboran-Konzentration von 0,1096 hat außerdem der Umwandlungs-Wirkungsgrad
N ein Maximum - nämlich gegenüber dem Kontrollwert eine Verbesserung von 37%. Im ganzen ergibt
sich also, daß bei der 0,1096-Diboran-Konzentration sowohl die Leerlaufspannung als auch der Kurzschlußstrom
und der Wirkungsgrad der Zelle den höchsten Wert erreichen.
909845/0630
Die effektive Dotierstoff konzentration von 0,10% Diboran
in der Silan/Diboran-Atmosphäre stellt also beim Abscheiden
der erfindungsgemäß wesentlichen P+-leitenden hydrierten,
amorphen Siliziumschicht ein Optimum dar.
909845/0630
Claims (11)
- RCA Corporation, 30 Rockefeller Plaza, New York. N.Y. 10020 (V.St.A.)Patentansprüche;Silizium-Solarzelle mit Schottky-Sperrschicht, mit einem Substrat und mit einem elektrischen Kontakt an der Schottky-Sperrschicht, gekenn zeichnet durch einen aus hydriertem, amorphem Silizium bestehenden Körper (14) mit einer N+-leitenden, das Substrat kontaktierenden ersten Zone (14c), einer eigenleitenden, zweiten Zone (14b) sowie einer der Sonnenstrahlung zuzuwendenden, P-leitenden, dritten Zone (14a) und eine mit der dritten Zone (i4a) eine Schottky-Sperrschicht bildende Metallschicht (16) eines Metalls hoher Austrittsarbeit, wobei die dritte Zone (14a) in Abhängigkeit von ihrer Dicke und Dotierstoffkonzentration durch die Schottky-Sperrschicht völlig ionisiert ist.
- 2. Solarzelle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß die dritte, P-leitende Zone (14a) eine Dicke zwischen etwa 5 und etwa 10 mn aufweist.
- 3. Solarzelle nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet , daß die P-Dotierstoff-Konzentration zwischen etwa 5 χ 10 und etwa 5 χ 10 Atomen/cnr liegt.
- 4. Solarzelle nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 3s dadurch gekennzeichnet ,909845/0630•a·daß die P-Dotierstoff-Konzentration der zum Herstellen der P-leitenden, dritten Zone (14a) verwendeten Silan-Dotierstoff-Atmosphäre zwischen etwa 0,001% und etwa 1% liegt.
- 5. Solarzelle nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet , daß die P-Dotierstoffkonzentration in der Silan-Dotierstoff-Atmosphäre etwa 0,10% beträgt.
- 6. Solarzelle nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet , daß der P-Dotierstoff als Diboran vorliegt.
- 7. Solarzelle nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet , daß die P-leitende dritte Zone (i4a) eine Dicke von etwa 10 nm hat.
- 8. Solarzelle nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der aus hydriertem, amorphem Silizium bestehende Körper (14) durch Glimmentladung in einer Silizium enthaltenden Verbindung hergestellt ist.
- 9. Solarzelle nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet , daß die Silizium enthaltende Verbindung Silan ist.
- 10. Solarzelle nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß der aus amorphem Silizium bestehende Körper (14) durch eine Glimmentladung in einer Silizium-, Wasserstoff- und Halogenatome enthaltenden Gasatmosphäre909845/0630hergestellt ist, wobei als Halogen Chlor-, Brom- oder Jodgas vorgesehen und in dem Körper (14) in einem Betrag von Ms zu 7 Atomprozent enthalten sind.
- 11. Verfahren zum Herstellen einer amorphes Silizium mit einer Schottky-Sperrschicht enthaltenden Solarzelle mit vergrößerter Leerlaufspannung, dadurch g e ke η η ζ e i c h η e t , daß auf eine eigenleitende Zone (14t)) aus hydriertem, amorphem Silizium - vor dem Aufbringen einer eine Schottky-Sperrschicht bildenden Metallschicht (16) eines Metalls hoher Austrittsarbeit eine P-leitende Zone (I4a) aus hydriertem, amorphem Silizium solcher Dicke und Dotierstoffkonzentration aufgebracht wird, daß die P-leitende Zone durch das Metall der Schottky-Sperrschicht völlig ionisiert wird.9 fu90&845/06 3D
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/901,256 US4163677A (en) | 1978-04-28 | 1978-04-28 | Schottky barrier amorphous silicon solar cell with thin doped region adjacent metal Schottky barrier |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2854750A1 true DE2854750A1 (de) | 1979-11-08 |
DE2854750C2 DE2854750C2 (de) | 1994-01-13 |
Family
ID=25413829
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2854750A Expired - Fee Related DE2854750C2 (de) | 1978-04-28 | 1978-12-19 | Silizium-Solarzelle und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4163677A (de) |
JP (1) | JPS54143086A (de) |
CA (1) | CA1113594A (de) |
DE (1) | DE2854750C2 (de) |
FR (1) | FR2424634B1 (de) |
GB (1) | GB2020095B (de) |
HK (1) | HK77986A (de) |
IT (1) | IT1192597B (de) |
NL (1) | NL7812588A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2944913A1 (de) * | 1979-03-12 | 1980-09-25 | Rca Corp | Solarzelle mit amorphem siliziumkoerper |
EP0042467A2 (de) * | 1980-06-20 | 1981-12-30 | International Business Machines Corporation | Zusammengesetzte Solarzelle |
Families Citing this family (60)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4282537A (en) * | 1979-08-20 | 1981-08-04 | Rca Corporation | Silicon MOS inductor |
JPS5913392B2 (ja) * | 1979-10-03 | 1984-03-29 | 極東開発工業株式会社 | タンクロ−リにおけるタンク頂部カバ− |
JPS5670675A (en) * | 1979-11-13 | 1981-06-12 | Shunpei Yamazaki | Manufacture of photoelectric converter |
US4291318A (en) * | 1979-12-03 | 1981-09-22 | Exxon Research & Engineering Co. | Amorphous silicon MIS device |
US4326126A (en) * | 1979-12-28 | 1982-04-20 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | High speed photodetector |
US4251289A (en) * | 1979-12-28 | 1981-02-17 | Exxon Research & Engineering Co. | Gradient doping in amorphous silicon |
JPS5795677A (en) * | 1980-12-03 | 1982-06-14 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | Amorphous silicon type photoelectric tranducer |
US4400409A (en) * | 1980-05-19 | 1983-08-23 | Energy Conversion Devices, Inc. | Method of making p-doped silicon films |
JPS5760231U (de) * | 1980-09-27 | 1982-04-09 | ||
FR2503457B1 (fr) * | 1981-03-31 | 1987-01-23 | Rca Corp | Systeme de cellules solaires connectees en serie sur un substrat unique |
US4443651A (en) * | 1981-03-31 | 1984-04-17 | Rca Corporation | Series connected solar cells on a single substrate |
US4379943A (en) * | 1981-12-14 | 1983-04-12 | Energy Conversion Devices, Inc. | Current enhanced photovoltaic device |
DE3219606A1 (de) * | 1982-05-25 | 1983-12-01 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schottky-leistungsdiode |
DE3234096A1 (de) * | 1982-09-14 | 1984-03-15 | Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8000 München | Bauelemente und arrays aus silizium zur detektion von infrarotem licht |
DE3308269A1 (de) * | 1983-03-09 | 1984-09-13 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh | Solarzelle |
US4589733A (en) * | 1984-06-29 | 1986-05-20 | Energy Conversion Devices, Inc. | Displays and subassemblies having improved pixel electrodes |
FR2579775B1 (fr) * | 1985-04-02 | 1987-05-15 | Thomson Csf | Procede de realisation d'elements de commande non lineaire pour ecran plat de visualisation electro-optique et ecran plat realise selon ce procede |
US5155565A (en) * | 1988-02-05 | 1992-10-13 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Method for manufacturing an amorphous silicon thin film solar cell and Schottky diode on a common substrate |
US4954864A (en) * | 1988-12-13 | 1990-09-04 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Millimeter-wave monolithic diode-grid frequency multiplier |
US4982246A (en) * | 1989-06-21 | 1991-01-01 | General Electric Company | Schottky photodiode with silicide layer |
US5010018A (en) * | 1989-06-21 | 1991-04-23 | General Electric Company | Method for forming Schottky photodiodes |
US5019530A (en) * | 1990-04-20 | 1991-05-28 | International Business Machines Corporation | Method of making metal-insulator-metal junction structures with adjustable barrier heights |
US6121541A (en) * | 1997-07-28 | 2000-09-19 | Bp Solarex | Monolithic multi-junction solar cells with amorphous silicon and CIS and their alloys |
US6077722A (en) * | 1998-07-14 | 2000-06-20 | Bp Solarex | Producing thin film photovoltaic modules with high integrity interconnects and dual layer contacts |
US6111189A (en) * | 1998-07-28 | 2000-08-29 | Bp Solarex | Photovoltaic module framing system with integral electrical raceways |
US20030073302A1 (en) * | 2001-10-12 | 2003-04-17 | Reflectivity, Inc., A California Corporation | Methods for formation of air gap interconnects |
US7645933B2 (en) * | 2005-03-02 | 2010-01-12 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Carbon nanotube Schottky barrier photovoltaic cell |
US20080047602A1 (en) * | 2006-08-22 | 2008-02-28 | Guardian Industries Corp. | Front contact with high-function TCO for use in photovoltaic device and method of making same |
US20080047603A1 (en) * | 2006-08-24 | 2008-02-28 | Guardian Industries Corp. | Front contact with intermediate layer(s) adjacent thereto for use in photovoltaic device and method of making same |
US20080105299A1 (en) * | 2006-11-02 | 2008-05-08 | Guardian Industries Corp. | Front electrode with thin metal film layer and high work-function buffer layer for use in photovoltaic device and method of making same |
US8203073B2 (en) * | 2006-11-02 | 2012-06-19 | Guardian Industries Corp. | Front electrode for use in photovoltaic device and method of making same |
US20080302414A1 (en) * | 2006-11-02 | 2008-12-11 | Den Boer Willem | Front electrode for use in photovoltaic device and method of making same |
US8076571B2 (en) * | 2006-11-02 | 2011-12-13 | Guardian Industries Corp. | Front electrode for use in photovoltaic device and method of making same |
US7964788B2 (en) * | 2006-11-02 | 2011-06-21 | Guardian Industries Corp. | Front electrode for use in photovoltaic device and method of making same |
US20080178932A1 (en) * | 2006-11-02 | 2008-07-31 | Guardian Industries Corp. | Front electrode including transparent conductive coating on patterned glass substrate for use in photovoltaic device and method of making same |
US20080105293A1 (en) * | 2006-11-02 | 2008-05-08 | Guardian Industries Corp. | Front electrode for use in photovoltaic device and method of making same |
US8012317B2 (en) * | 2006-11-02 | 2011-09-06 | Guardian Industries Corp. | Front electrode including transparent conductive coating on patterned glass substrate for use in photovoltaic device and method of making same |
US20080105298A1 (en) * | 2006-11-02 | 2008-05-08 | Guardian Industries Corp. | Front electrode for use in photovoltaic device and method of making same |
US8334452B2 (en) | 2007-01-08 | 2012-12-18 | Guardian Industries Corp. | Zinc oxide based front electrode doped with yttrium for use in photovoltaic device or the like |
US20080169021A1 (en) * | 2007-01-16 | 2008-07-17 | Guardian Industries Corp. | Method of making TCO front electrode for use in photovoltaic device or the like |
US20080223430A1 (en) * | 2007-03-14 | 2008-09-18 | Guardian Industries Corp. | Buffer layer for front electrode structure in photovoltaic device or the like |
US20080308146A1 (en) * | 2007-06-14 | 2008-12-18 | Guardian Industries Corp. | Front electrode including pyrolytic transparent conductive coating on textured glass substrate for use in photovoltaic device and method of making same |
US7888594B2 (en) * | 2007-11-20 | 2011-02-15 | Guardian Industries Corp. | Photovoltaic device including front electrode having titanium oxide inclusive layer with high refractive index |
US20090194155A1 (en) * | 2008-02-01 | 2009-08-06 | Guardian Industries Corp. | Front electrode having etched surface for use in photovoltaic device and method of making same |
US20090194157A1 (en) * | 2008-02-01 | 2009-08-06 | Guardian Industries Corp. | Front electrode having etched surface for use in photovoltaic device and method of making same |
US8551558B2 (en) * | 2008-02-29 | 2013-10-08 | International Business Machines Corporation | Techniques for enhancing efficiency of photovoltaic devices using high-aspect-ratio nanostructures |
US8022291B2 (en) * | 2008-10-15 | 2011-09-20 | Guardian Industries Corp. | Method of making front electrode of photovoltaic device having etched surface and corresponding photovoltaic device |
EP2421026A4 (de) * | 2009-04-15 | 2017-11-29 | Huilong Zhu | Substratstruktur zur herstellung einer halbleitervorrichtung und herstellungsverfahren dafür |
US20110168252A1 (en) * | 2009-11-05 | 2011-07-14 | Guardian Industries Corp. | Textured coating with etching-blocking layer for thin-film solar cells and/or methods of making the same |
US20110186120A1 (en) * | 2009-11-05 | 2011-08-04 | Guardian Industries Corp. | Textured coating with various feature sizes made by using multiple-agent etchant for thin-film solar cells and/or methods of making the same |
US8502066B2 (en) * | 2009-11-05 | 2013-08-06 | Guardian Industries Corp. | High haze transparent contact including insertion layer for solar cells, and/or method of making the same |
US8115097B2 (en) | 2009-11-19 | 2012-02-14 | International Business Machines Corporation | Grid-line-free contact for a photovoltaic cell |
US20120318350A1 (en) * | 2010-02-23 | 2012-12-20 | Kyocera Corporation | Dopant material, semiconductor substrate, solar cell element, and process for production of dopant material |
JP5269010B2 (ja) * | 2010-08-17 | 2013-08-21 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
US9099578B2 (en) | 2012-06-04 | 2015-08-04 | Nusola, Inc. | Structure for creating ohmic contact in semiconductor devices and methods for manufacture |
WO2014145306A1 (en) * | 2013-03-15 | 2014-09-18 | Nusola Inc. | Infrared photovoltaic device and manufacturing method |
US20140360584A1 (en) * | 2013-06-07 | 2014-12-11 | National Dong Hwa University | Manufacturing method of solar cell |
DE102015102055A1 (de) * | 2015-01-16 | 2016-07-21 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Bearbeiten einer Halbleiteroberfläche |
US10090420B2 (en) | 2016-01-22 | 2018-10-02 | Solar Junction Corporation | Via etch method for back contact multijunction solar cells |
US9680035B1 (en) | 2016-05-27 | 2017-06-13 | Solar Junction Corporation | Surface mount solar cell with integrated coverglass |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2632987A1 (de) * | 1975-07-28 | 1977-02-10 | Rca Corp | Halbleiterbauelement |
DE2711365A1 (de) * | 1976-03-22 | 1977-09-29 | Rca Corp | Halbleiteranordnung mit schottky- grenzschicht |
US4064521A (en) * | 1975-07-28 | 1977-12-20 | Rca Corporation | Semiconductor device having a body of amorphous silicon |
DE2743141A1 (de) * | 1976-09-29 | 1978-03-30 | Rca Corp | Amorphes silizium aufweisende bauelemente |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT1092849B (it) * | 1977-03-28 | 1985-07-12 | Rca Corp | Dispositivo fotovoltaico presentante una elevata efficienza di assorbimento |
US4126150A (en) * | 1977-03-28 | 1978-11-21 | Rca Corporation | Photovoltaic device having increased absorption efficiency |
US4117506A (en) * | 1977-07-28 | 1978-09-26 | Rca Corporation | Amorphous silicon photovoltaic device having an insulating layer |
-
1978
- 1978-04-28 US US05/901,256 patent/US4163677A/en not_active Expired - Lifetime
- 1978-10-30 CA CA314,697A patent/CA1113594A/en not_active Expired
- 1978-12-14 IT IT30854/78A patent/IT1192597B/it active
- 1978-12-19 DE DE2854750A patent/DE2854750C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1978-12-20 GB GB7849183A patent/GB2020095B/en not_active Expired
- 1978-12-22 JP JP16089478A patent/JPS54143086A/ja active Granted
- 1978-12-22 FR FR7836100A patent/FR2424634B1/fr not_active Expired
- 1978-12-27 NL NL7812588A patent/NL7812588A/xx not_active Application Discontinuation
-
1986
- 1986-10-16 HK HK779/86A patent/HK77986A/xx unknown
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2632987A1 (de) * | 1975-07-28 | 1977-02-10 | Rca Corp | Halbleiterbauelement |
US4064521A (en) * | 1975-07-28 | 1977-12-20 | Rca Corporation | Semiconductor device having a body of amorphous silicon |
DE2711365A1 (de) * | 1976-03-22 | 1977-09-29 | Rca Corp | Halbleiteranordnung mit schottky- grenzschicht |
DE2743141A1 (de) * | 1976-09-29 | 1978-03-30 | Rca Corp | Amorphes silizium aufweisende bauelemente |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2944913A1 (de) * | 1979-03-12 | 1980-09-25 | Rca Corp | Solarzelle mit amorphem siliziumkoerper |
EP0042467A2 (de) * | 1980-06-20 | 1981-12-30 | International Business Machines Corporation | Zusammengesetzte Solarzelle |
EP0042467A3 (en) * | 1980-06-20 | 1982-03-10 | International Business Machines Corporation | Tandem solar cell |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2020095A (en) | 1979-11-07 |
NL7812588A (nl) | 1979-10-30 |
FR2424634A1 (fr) | 1979-11-23 |
FR2424634B1 (fr) | 1985-10-18 |
JPS54143086A (en) | 1979-11-07 |
GB2020095B (en) | 1982-07-28 |
IT1192597B (it) | 1988-04-20 |
HK77986A (en) | 1986-10-24 |
CA1113594A (en) | 1981-12-01 |
DE2854750C2 (de) | 1994-01-13 |
US4163677A (en) | 1979-08-07 |
IT7830854A0 (it) | 1978-12-14 |
JPS6138870B2 (de) | 1986-09-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2854750A1 (de) | Solarzelle mit schottky-sperrschicht | |
DE2944913C2 (de) | ||
DE3650012T2 (de) | Halbleitervorrichtung. | |
DE19912961B4 (de) | Halbleiterdünnfilm, Herstellungsverfahren dafür, sowie den Halbleiterdünnfilm aufweisende Solarzelle | |
DE2632987C2 (de) | Fotovoltaisches Halbleiterbauelement und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE69411078T2 (de) | Isotopenbatterien | |
DE2429705C3 (de) | Schottky-Diode und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE3015706A1 (de) | Solarzelle mit schottky-sperrschicht | |
DE977615C (de) | Verfahren zur Herstellung eines fuer Signaluebertragungsvorrichtungen bestimmten Halbleiterelements | |
DE2743141A1 (de) | Amorphes silizium aufweisende bauelemente | |
DE2711365C2 (de) | ||
DE3780817T2 (de) | Sonnenzelle mit verbesserten elektrischen kontakten. | |
DE3732619C2 (de) | ||
EP0219763A1 (de) | Solarzelle | |
DE102013219561A1 (de) | Verfahren zum Herstellen einer photovoltaischen Solarzelle mit zumindest einem Heteroübergang | |
DE2246115A1 (de) | Photovoltazelle mit feingitterkontakt und verfahren zur herstellung | |
DE2805442A1 (de) | Verfahren zum herstellen eines schottky-sperrschicht-halbleiterbauelementes | |
EP0123309A2 (de) | Verfahren zum Herstellen von stabilen, niederohmigen Kontakten in integrierten Halbleiterschaltungen | |
DE3851402T2 (de) | Integrierte sonnenzelle und herstellungsverfahren. | |
DE4420052A1 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Gates in einer Halbleitereinrichtung | |
DE3140139C2 (de) | ||
DE3015362C2 (de) | ||
DE3109074C2 (de) | ||
DE3021876C2 (de) | ||
DE2812547A1 (de) | Fotoelement |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |