DE2845100C3 - Speicherschaltung - Google Patents
SpeicherschaltungInfo
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 21
- LSEKLPKUWRDLKY-UHFFFAOYSA-N protoleucomelone Chemical compound C1=CC(OC(=O)C)=CC=C1C1=C(OC(C)=O)C(OC(C)=O)=C(C=2C(=CC(OC(C)=O)=C(OC(C)=O)C=2)O2)C2=C1OC(C)=O LSEKLPKUWRDLKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
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Description
5. Speicherschaltung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Impulssignal, das einem
Anschluß eines Kondensators (C0) zugeführt wird,
der mit dem Gate eines in der Steuerschaltung (Xi) enthaltenen Transistors (Q1) verbunden ist, dsm
gemeinsamen Anschluß (P9) zwischen den Kondensatoren (C Cb) zugeführt ist.
6. Speicherschaltung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Leseverstärkerschaltung
(SA-I) eine Gruppe parallel geschalteter Transistoren
(Qs, Q'%) aufweist, daß das Gate eines dieser Transistorenf<?'5)mitderQuelledesImpulssignals^i),das
einem Anschluß eines Kondensators (C0) zugeführt
wird, der an das Gate eines in der Steuerschaltung (X-i) enthaltenen Transistors (Q,)angeschlossen ist,
verbunden ist und daß das Gate des anderen (Qs) der Transistoren mit der Quelle desjenigen Treibimpulses
(Φ2) verbunden ist, welcher dem gemeinsamen Anschluß (P9) zwischen den Kondensatoren (C,, G)
zugeführt ist.
Die Erfindung betrifft eine Speicherschaltung nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Bekanntlich wird eine integrierte Speicherschaltung zusammen mit einer Leseverstärkerschaltung verwendet.
Ein Beispiel bekannter integrierter Speicherschaltungen mit einer Leseverstärkerschaltung wird nachfolgend
anhand der Fi g. 1 erläutert Die bekannte integrierte Speicherschaltung gemäß F i g, 1 ist in der DE-OS
26 59 248 beschrieben.
Speicherzellen mi, m 2,... mn und eine Hilfszelle d' sind mit einer Bitleitung BL 1 verbunden. Speicherzellen m'l, in'2,... m'n und eine Hilfszelle t/sind mit einer anderen Bitleitung BL 2 verbunden. Die Speicherzelle m 1 umfaßt einen Speicherkondensator C ( und einen Feldeffekttransistor Qm 1 (FET Q-m \). Der FET Q-m 1 wird über eine Wortleitung IVl gesteuert.
Speicherzellen mi, m 2,... mn und eine Hilfszelle d' sind mit einer Bitleitung BL 1 verbunden. Speicherzellen m'l, in'2,... m'n und eine Hilfszelle t/sind mit einer anderen Bitleitung BL 2 verbunden. Die Speicherzelle m 1 umfaßt einen Speicherkondensator C ( und einen Feldeffekttransistor Qm 1 (FET Q-m \). Der FET Q-m 1 wird über eine Wortleitung IVl gesteuert.
Die Hilfszelle d umfaßt einen Hilfskondensator C53,
einen dazu parallel geschalteten FET Q-d i und einen in Reihe geschalteten FET Q-d 2. Der in Reihe geschaltete
FET Q-d2 wird über eine Hilfswortleitung DlW
;5 gesteuert. Die Kapazität des Hilfskondensators C13 ist
etwa halb so groß wie die Kapazität des Speicherkondensators Ci.
Jede der Bitleitungen BL1 und BL 2 ist an eine Leseverstärkerschaltung
SA-I angeschlossen. Die Leseverstärkerschaltung
SA-I umfaßt ein Paar Verbindungs-FET's Q\ und Q2, über welche die Leseverstärkerschaltung SA-I
mit den Bitleitungen BL 1 und BL 2 verbunden ist Der
Hauptteil der Leseverstärkerschaltung SA-I besteht aus einem Paar über Kreuz verbundener FETs Q3 und C»·
Eine Speichergruppe Nr. 1 ist über FETs Qx und Qy
mit einem Paar Busleitungen RL 1 und RL 2 verbunden. Die Busleitungen RL i und RL 2 sind an einen
Differenzverstärker D.A. angeschlossen, der ein Ausgangssignal erzeugt, das als Ausgabe der gesamten
Speicherschaltung der F ig. 1 verwendet wird.
Eine Steuerschaltung Xi zur Steuerung des Gatepotentials
der VerbindungsFETs Ci und Q2 ist an die
Leseverstärkerschaltung SA-I angeschlossen.
Die Schaltung nach F i g. 1 arbeitet folgendermaßen.
Die Schaltung nach F i g. 1 arbeitet folgendermaßen.
Im Anfangszustand sind die Potentiale der Bitleitung BL 1, der Bitleitung 5L2,des Punktes Pi und P2 gleich
der Drainspeisespannung + £ Das Potential des Punktes PZ ist höher als die Spannung -1- E, so daß die
FETs Ci und Q2 zum Leiten gebracht werden.
Spannungen E-Ci und E-CY weiden in den Speicherkondensatoren
Cl bzw. CY gespeichert.
Im zuvor beschriebenen Anfangszustand wird das Auslesen von in der Speicherschaltung gespeicherter
Information folgendermaßen bewirkt. Es sei angenommen, daß die Wortleitung Wi gewählt ist und auf hohen
(im folgenden H abgekürzt) Wert gebracht ist. Gleichzeitig wird die Hilfszelle d gewählt und wird die
Wortleitung DWA der Hilfszelle d auf H-Wert gebracht. Folglich werden die elektrischen Ladungen
von BL 1 und BL 2 nach P5 bzw. PS übertragen, so daß
die Potentiale von BL 1 und BL 2 reduziert werden. Da das Potential E-Cl vor dem Auslesen auf Η-Wert lag,
ist der Betrag der von BL 1 nach P5 übertragenen elektrischen Ladung klein. Da andererseits das Potential
am Punkt PS auf Null lag, bevor die Hilfszelle dgewählt
worden ist, ist der Betrag der von BL 2 nach PS übertragenen elektrischen Ladung relativ groß. Demgemäß
wird das Potential von BL2 mehr reduziert als das Potential von BL 1. Folglich wird zwischen BL 1 und
BL2 eine Potentialdifferenz gebildet Die Potentiale von BL1 und BL 2 werden über die FETs Q\ und Qi an
die Punkte Pl und P 2 übertragen. Demgemäß ist das
Potential bei P1 höher als das Potential bei P2.
Danach wird das Potential Φι an einer Elektrode des
Kondensators G, der in der Steuerschaltung X1 zur
Steuerung der Verbindungs-FETs Ci und Q2 enthalten
ist, auf Η-Wert gebracht. Dann wird der FET C« m den
EIN-Zustand gebracht, da das Gatepotential des FET
Q, ausreichend höher als + £"wird, und das Potential bei
P 3 verringert sich auf den Wert von + £ Demgemäß werden die Übertragungsleitwerte (Transkonduktansen)
der FETs Qi und Qi verringert. Das Potential (P1 an
einer Elektrode des Kondensators C0 wird außerdem
auf das Gate eines in der Leseverstärkerschaltung enthaltenen FET Q's gegeben. Die Empfindlichkeit der
Leseverstärkerschaltung SA-i wird einleitend durch die Funktion des FET Q's mit einem kleinen Strom erhöht,
bevor von der Leseverstärkerschaltung eine hochgradi- to ge Verstärkung eines Eingangssignals durchgeführt
wird. Wenn der FET Q's aufgrund des Anlegens des Potentials Φι an sein Gate in den EIN-Zustand übergeht,
wird das Arbeiten der Leseverstärkerschaltung £4-1 langsam begonnen, die Potentiale an den Punkten PX
und P2 gehen zusammen herab, und die Potentialdifferenz zwischen P1 und P2 nimmt zu.
In diestm Moment wird das Potential Φ2 des Gates
von FET Qs auf Η-Wert gebracht Dann wird das Potential bei P 4 rasch Null, und die aus FETs Q3 und Q4
bestehende Flipflop-Schaltung arbeitet dermaßen, daß die Potentialdiffcrenz zwischen Px und P 2 vergrößert
wird.
In der Leseverstärkerschaltung SAi sind FETs Q\ und Q1 vorgesehen. Die Notwendigkeit für die FETs Qi
und Q2 kann man folgendermaßen erklären. In der
Anfangsperiode des Arbeitens der Leseverstärkerschaltung sind die Übergangsleitwerte der FET's Q\ und Q2
klein, und die FETs Qi und Qi verhindern einen
Ladungsfluß von BL 1 und BL 2 zu den Punkten P1 und
P2, so daß die Potentialdifferenz zwischen P1 und P2
rasch verstärkt wird, und demgemäß wird ein Abfall des Potentials von BL 1, das auf Η-Wert gehalten werd.n
soll, verhindert Würden die FETs Qi und Q2 entfernt
und würden die Bitleitungen BL 1 und BL 2 direkt mit den Punkten P\ und P 2 verbunden, müßte die
Lastkapazität der Bitleitungen BL 1 und BL 2 direkt durch die FETs Q3 und Q4 entladen werden, wenn die
Leseverstärkerschaltung in Betrieb gesetzt wird. Folglich wäre die Geschwindigkeit der Verstärkung der
PotentialJifferenz zwischen Pl und P2 niedrig, so daß
es eine lange Zeit dauern würde, bis das Potential bei P 2, das auf niedrigen (im folgenden L abgekürzt) Wert
gebracht werden soll, Erdpegel erreicht, und die Ladungen von BL 1, die auf Η-Wert gebracht werden
sollen, würden entladen. Somit würde das Potential von BL 1 verringert und demgemäß vvürde keine vollständige
Auffrischung der Η-Werte der Speicherzellen bewirkt.
Es wird nun wieder zur Beschreibung der Vergrößerung der PotentialolJferenz zwischen Pl und P2
zurückgekehrt. In dem Fall, in welchem die Potentialdifferenz !wischen Pi unii P2 klein ist, werden die beiden
Potentiale bei Pl und P2 in großem Ausmaß reduziert,
da beide FETs Q3 und Qa in den EIN-Zustand kommen
und die Übergangsleitwertdifferenz nicht sehr groß ist. Wenn die Potentiale bei Pl und Pl reduziert werden,
wie es zuvor beschrieben worden ist, werden die Übergangsleitwerte der FETs Qi und Qi vergrößert,
und die Abschaltfähigkeiten der FETs Qi und Qi werden μ
verringert Folglich wird erreicht, daß die FETs Qi und Qi EIN sind, so daß der Fluß der Ladungen von den
Bitleitungen BL1 und ÖL 2 durch die FETs Qi und Q?
eine weitere Vergrößerung der Potentialdifferenz zwischen Pi und Pl verhindert. Daraus folgt: selbst
wenn die Leseverstärkerschaltung das ihr zugeführte Signal exakt feststellt und das Potential bei P2 NrII
gemacht wird, entspuchend der anfänglichen Potentialdifferenz, fällt das Potential bei Pl unvermeidlich unter
einen erforderlichen Wert ab. \in solcher Abfall des
Potentials bei Pl macht es unmöglich, die Speicherzellen, aus denen die gespeicherte Information ausgelesen
worden ist, aufzufrischen. Hinzu kommt, daß eine solche Schwierigkeit beim Auffrischen von Speicherzellen
vorwiegend in demjenigen Fall auftritt, in welchem die Anfangspotentiale bei Pl und P2 aufgrund einer
Verringerung der Spannung der Energiequelle abgesenkt sind. Demgemäß weist die bekannte Speicherschaltung
gemäß F i g. 1 die erläuterten Nachteile auf.
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Speicherschaltung mit Speicherzellen, FET's und
einer Leseverstärkerschaltung verfügbar zu machen, bei der die Auffrischungen der Speicherzellen vollkommen
erreicht werden.
Darüberhinaus soll eine Speicherschaltung mit Speicherzellen, FET's und einer Leseverstärkerschaltung
verfügbar gemacht werden, bei der die Spannungszustände an vorbestimmten Punkten dieser Speicherschaltung
so gewählt sind, daß eine vollständige Auffrischung der Speicherzellen tirnöglicht ist
Die Lösung dieser Aufgabe isi im Anspruch 1 gekennzeichnet und in den Unteransprüchen vorteilhaft
weitergebildet
Im folgenden wird die Erfindung anhand von Ausi'uhrungsformen näher erläutert In der Zeichnung
zeigt
Fig. 1 ein schematisches Schaltbild einer bekannten
Speicherschaltung mit einer Leseverstärkerschaltung;
F i g. 2 ein schematisches Schaltbild einer erfindungsgemäßen Ausführungsform einer Speicherschaltung;
F i g. 3 Signalfonnen zum Aufzeigen der Arbeitscharakteristiken
der in F i g. 2 gezeigten Schaltung, und
F i g. 4 die Beziehung zwischen Vc und V, in
Verbindung mit von den Erfindern durchgeführten Experimenten.
Anhand der F i g. 2,3 und 4 wird nun eine bevorzugte
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben.
Speicherschaltung der erfindungsgemäßen Ausführungsform sind in F i g. 2 dargestellt Die Einheit Nr. 1
der Speicherschaltungen umfaßt ein Paar Bitleitungen BL 1 und BL 2, mehrere Speicherzellen m 1, m 2,... mn,
ein Paar Hilfszellen d', d, und eine Leseverstärkerschaltung SA-I, welche die Verbindung.·? FETs Qx und Qi
enthält, die zwischen den Bitleitungen BL 1, BL 2 und den FETs Q3, Q4 angeordnet sind. Anders als in der
Schaltung nach F i g. 1 ist in der Schaltung nach F i g. 2 ein Paar Kondensatoren C1 und Cb vorgesehen. Eine
Elektrode des Kondensators Ca ist mit dem Punkt Pl
verbunden und eine Elektrode des Kondensators Cb ist
mit dem Punkt P2 verbunden. Die anderen Elektroden der Kondensatoren C1 und Cb sind im Punkt P9
miteinander verbunden. Die Punkte P1 und P2 sind die
Verbindungspunkte zwischen FET Qi und FET Q3 bzw.
zwischen FET Q2 und FET Q3. Dem Verbindungspunkt
P9 der Kondensatoren C1 und Cb kann ein Treibimpuls
Φι zugeführt werden, während ein Paar FETs Q3 und Q4
in Betrieb ist.
Die Arbeitsweise der Schaltung nach Fig.2 wird
nachfolgend anhand der in F i g. 3 gezeigten Signalformen erläutert.
Zur Zeit I0 (F i g. 3 (e)) ändert sich das Potential Φο
vom Η-Wert zum L-Wert, um einen Anfangszustand zu realisieren. Zu dieser Zeit sind alle Schaltungen
betriebsbereit gemacht, die Bitleitungen BL 1 und BLl
sind mit einer Spannung vorgeladen, die in der Nähe der
Drainspeisespannung + E liegt, und die Spannung am
Punkt P 3 ist höher als + f. was die FETs Q1 und Q2 zum
Leiten bereit macht.
Das Auslesen und das Auffrischen der Speicherzelle in I kann folgendermaßen erklärt werden.
Es wird wieder ;i.genommen, daß das gespeicherte
Potential E- CI auf H-Wert liegt. Zur Zeit t\
(Fig. 3(a)) sind die Wortleitung VVI und die Hilfsleitung
DWA durch eine (in F i g. 2 nicht gezeigte) Dekodierschaltung gewählt, um auf Η-Wert gebracht zu
werden. Infolgedessen wird das Potential von BL1
etwas abgesenkt, das Potential von Bl. 2 wird weiter erniedrigt (Fig. 3 (Q). und das Potential von PI ist
etwas höher als das von P2(V i g. 3(g)).
Zur Zeil I2 (Fig. 3(b)) wird das Potential Φ vom
I-Wert /um H-Wert geändert. Als Folge davon wird FiT Q'i in den EIN-Zustand gebracht, die Leseverstärkersehaltung
SA\ beginnt langsam /u arbeiten, die ruiemiiiie ijcr Pi -ii'ru P2 folien /üS.iiniViCn ίίίϊύ oiC
Poientialdifferen/ /wischen P I und P2 wird vergrößert
(Fig. 3(g)).
Zur Zeit f). unmittelbar nach dem Zeitpunkt I2
(Fie. 3 (c)). ändert sich das Potential Φ2 vom l.-Wert
/um Η-Wert. Daher werden gemäß den Aufladewirkungen der Kondensatoren (', und C), die Potentia' an den
Punkten P\ und P2 nicht nur an einem Abfallen gehindert, sondern in die Höhe getrieben (Fig. 3 (g)).
Folglich bleiben die Verbindung*-FKTs Q\ und Q2 AUS.
Daher wird die Leseverstärkerschaltung an einer unrichtigen Arbeitsweise gehindert. Selbst wenn das
Potential des Punktes P2 auf Null abfällt, wird das Potential des Punktes PI daher näherungswcise auf + E
gehalten, und es wird verhindert, daß das Potential der
Bitleitung BL I abfällt (Fig. 3(f)). Demgemäß ist ein ausreichendes Auffrischen der Speicherzelle m 1 erhältlich.
Wenn das Potential des Punktes P2 Null wird, wird
der FET Q2 EIN geschaltet, so daß die Bitleitung B2
über FET Q2 entladen und das Potential der Bitleitung
Bl. 2 auf Null gebracht wird.
Zur Zeit u (Fig 3 (d)) wird das Auswahlsignal Φ3-Ι
som L-Wert zum Η-Wert geändert. Daher wird das auf
den Bitleitungen BL 1 und BL 2 existierende Signal zu den Busleitungen RL I und RL 2 übertragen, die zu
einem Differenzverstärker DA. führen, der eine Ausleseausgabe erzeugt.
Zum Vergleich mit dem Stand der Technik sind die Änderungen der Potentiale von BL I und BL 2 und die
Änderungen der Potentiale von P1 und P2 in F i g. 3 (i)
bzw. Fig. 3(j) gezeigt. Man erkennt, daß mit den Signalforrnen d;:· Fig. 3(i) und (j) ein ausreichendes
Auffrischen der Speicherzelle m 1 unmöglich ist. da das Potentia! von BL 1 stark verringert ist.
Als Modifikation der zuvor beschriebenen Ausführungsform können die FETs Q·, und Q2 entweder durch
Auswahl des Wertes des Potentials 2m Punkt P3 oder
durch Absenken des Potentials am Punkt P3 in den AL'S-Zustand gebracht werden, wie es in Fig. 3 (b)
durch eine unterbrochene Linie gezeigt ist und zwar durch die Hilfe der Schaltung X-I. Bei dieser
modifizierten Ausführungsform sind die Wirkungen der Kondensatoren C3 und O- hervorgehoben, so daß selbst
in dem Fall, in welchem die Potentialdifferenz zwischen
den Punkten PI und P2 unmittelbar vordem Arbeiten der Leseverstärkerschaltung klein ist. das Potential der
Bitleitung BL 1 an einem Abfallen gehindert und eine perfekte Auffrischung der Speicherzelle m 1 erreicht
wird.
Die Arbeitsweise der genannten Schaltung X-\ ist folgendermaßen. Zu dem Zeitpunkt, zu welchem eine
Operation der Leseverslärkerschaltung beendet ist. liegt eine der Bitleitungen BL 1 und BL 2 auf H-Wert
und die andere auf L-Wert, die Spannung am Punkt P3 ist + E und der FET Q1 ist EIN. Danach nimmt das
Potential Φα den H-Wert ein, um alle Schaltungen in den
Anfangszustand zu bringen. Dann gelangt das Potential Φι in den L-Zustand, was den FET Q1 AUS schaltet und
das Potential von P3 in einen schwebenden (floating) Zustand bringt, und die zuvor erwähnte L-Wertseite
von BL I und Bl. 2 wird auf H-Wert geschaltet. Diese Änderung vom L-Wert zum H-Wert beeinflußt das
Potential von P3, das sich in einem schwebenden Zustand befindet, in der Weise, daß es über + /.'
angehoben wird. Folglich werden die FETs Q\ und Q2 in
den EIN-Zustand gebracht, vorausgesetzt, daß die Streukapazität am Punkt P3 einen geeigneten Wert
2Mfii'öiri Vtj Aar 7£Jtt in wplrhpr Hip I pspvrrstjirkfrschaltung
arbeitet, wird das Potential Φι auf H-Wert
gehalten. Somit wird die Gatespannung des FET Q., höher als + E. so daß der FET Q4 in den EIN-Zustand
gebracht und das Potential bei P3 auf + E abgesenkt wird.
:■-, Wenn auch in den zuvor beschriebenen Ausführungsformen das dem Verbindungspunkt P6 der Kondensatoren
Cj und Ch zugeführte Signal Φ2 ist. ist es auch
mögli·.:.:. dem Punkt Pl anstelle des Signals Φ2 das
Signal Φ\ zuzuführen. In dem Fall, in welchem das Signal
jo Φι an den Punkt P9 angelegt wird, sind die oben
erläuterten Wirkungen aufgrund des Vorhandenseins der Kondensatoren C1 etwas verringert. Dies deshalb,
weil die Potentiale bei Pl und P2 gemäß den Aufladungs- oder Bootstrap-Wirkungen von C3 und Cf,
!5 eher ansteigen als das Potential bei P3 auf (- E abfällt,
und zwar aufgrund der durch die Schaltung A--I
verursachten Verzögerung, und daher sickern die Ladungen an den Punkten P1 und P2 über die FETs ζ),
und Q2 zu den Bitleitungen BL 1 und BL 2 ab. Dieses
Absickern von Ladungen ist jedoch nicht schwerwiegend. Dies deswegen, weil die Menge der von den
Punkten Pl und P2 zu den Bitleitungen BL I und BL 2
abfließenden Ladungen relativ klein ist. und zwar aufgrund der niedrigen Übergangsleitwerte der FETs
α Q\ und Q2. unter der Bedingung, daß die Bitleitungen
BL 1 und BL 2 beide auf H-Wert liegen, selbst wenn das
Potential des Punktes P3 auf H-Wert liegt.
Eines der Ergebnisse von Experimenten bezüglich der Speicherschaltung nach F i g. 2. die durchgeführt worden
sind, wird nun anhand der F i g. 4 erläutert. In F i g. 4
stellt die Abszisse die Spannung Vc einer Speie',erzelle
dar. bevor ein Auslesen dieser Speicherzelle bewirkt wird, während die Ordinate die aufgefrischte Spannung
Vr der Speicherzelle darstellt, nachdem das Auslesen
und das Auffrischen dieser Speicherzelle durchgeführt sind. Die Kurve K\ erhält man durch die Schaltung nach
F i g. 1. während man die Kurve K2 durch die Schaltung
nach F i g. 2 erhält Auf der Abszisse ist die Bezugsspannung, welche eine Grenze zwischen dem L-Wert und
dem H-Wert festlegt, als Vref angegeben. In dem Fall, in
welchem Vc dicht bei Vref gewählt ist. wie Vc,. ist das
entsprechende Vr in K\. das als Jt; angegeben ist
beträchtlich niedriger als der maximale V,-Wert von Ku
während das entsprechende Vr in K2, das als k2
angegeben ist. gegenüber dein maximalen V^Wert von K2 geringfügig reduziert ist Die Ergebnisse dieses
Experiments ergaben, daß die aufgefrischte Spannung Jti auf der Kurve K-, nicht ausreicht, um das nächste
Auslesen derselben Speicherzelle sicherzustellen; während im Gegensatz dazu die aufgefrischte Spannung k%
auf der Kurve K2 ausreicht, um ein zufriedenstellendes
nächstes Auslesen derselben Speicherzelle sicherzustellen.
Hierzu 4 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. Speicherschaltung mit einem Paar Bitleitungen, mit mehreren mit den Bitleitungen verbundenen
Speicherzellen, mit einer Leseverstärkerschaltung, die ein Paar über Kreuz gekoppelte Transistoren
aufweist, und mit zwischen die Bitleitungen und die Leseverstärkerschaltung geschalteten Verbindungstransistoren, die im Betrieb sind, wenn die
Leseverstärkerschaltung arbeitet, dadurch gekennzeichnet, daß ein Paar Kondensatoren
(C Cb) vorgesehen ist, die mit einem Anschluß an
einem der Verbindungspunkte (Pi, P2) zwischen den Verbindungstransistoren (Qi, Q2) und den über
Kreuz gekoppelten Transistoren (Q3, Q*) angeschlossen
sind und deren andere Anschlüsse zur Bildung eines gemeinsamen Anschlusses (P 9)
miteinander verbunden sind, und daß am gemeinsamen Anschluß (P9) ein Treibimpuls anliegt, während
die Leseverstärkerschaltung (SA-I) arbeitet.
2. Speicherschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Bitleitungen (BLi, BLT)
einer Voraufladung aussetzbar sind, um deren Spannungen näherangsweise auf eine Drainspeisespannung
zu bringen.
3. Speicherschaltung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dtß die Spannungen der
Gateelektroden der Verbindungstransistoren (Q\, Qi) höher als die Voraufladungsspannung der
Bitleitungen (BL 1, BL 2) gehalten sind.
4. Speicherschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine Steuerschaltung (X-i)
vorgesehen ist zur .\bsen!^;ng der Spannung der
Gateelektroden der Verbindungstransistoren (Q\, Q2) auf eine Spannung, die dic-;t bei der Voraufladespannung
der Bitleitungen (BL 1, BL 2) liegt, während die Leseverstärkerschaltung (SAi) arbeitet.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12470477A JPS5457921A (en) | 1977-10-18 | 1977-10-18 | Sense amplifier circuit |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2845100A1 DE2845100A1 (de) | 1979-04-19 |
DE2845100B2 DE2845100B2 (de) | 1980-01-31 |
DE2845100C3 true DE2845100C3 (de) | 1982-07-15 |
Family
ID=14892023
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2845100A Expired DE2845100C3 (de) | 1977-10-18 | 1978-10-17 | Speicherschaltung |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4262341A (de) |
JP (1) | JPS5457921A (de) |
DE (1) | DE2845100C3 (de) |
GB (1) | GB2006562B (de) |
NL (1) | NL7810293A (de) |
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