DE2811775B2 - Prüfstand für gedruckte Schaltungsplatten - Google Patents
Prüfstand für gedruckte SchaltungsplattenInfo
- Publication number
- DE2811775B2 DE2811775B2 DE2811775A DE2811775A DE2811775B2 DE 2811775 B2 DE2811775 B2 DE 2811775B2 DE 2811775 A DE2811775 A DE 2811775A DE 2811775 A DE2811775 A DE 2811775A DE 2811775 B2 DE2811775 B2 DE 2811775B2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- test stand
- test
- stand according
- circuit board
- tool
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B7/00—Insulated conductors or cables characterised by their form
- H01B7/08—Flat or ribbon cables
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Insulated Conductors (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Communication Cables (AREA)
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft einen Prüfstand gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Ein aus der DE-OS 26 17 190 bekannter Prüfstand dieser Art weist einen druckdicht abschließenden Raum
mit Anschluß an eine Vakuumpumpe auf, wobei eine Wand des druckdicht abschließenden Raumes durch die
zu prüfende gedruckte Schaltungsplatte gebildet wird, die für die Prüfung auf elastisch nachgiebige Ränder der
Raumwände aufge*"egt wird. Bei Anlegen des Vakuums werden dann die Kontaktstifte und/oder die zu prüfende
Schaltungsplatte aufeinander zu bewegt, indem gewisse Randbereiche der Kammer verformt werden. Diese
Vakuumhalterung ist aufwendig und auch nicht immer zuverlässig, da an den elastischen Rändern Vakuumlecks
auftreten können. Darüberhinaus ist bei dem bekannten Prüfstand das Ausrichten der zu prüfenden
Schaltungsplatte mit den Prüfstiften schwierig und aufwendig.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Prüfstand der bekannten Art so zu verbessern, daß
durch Auflegen und Niederdrücken der zu prüfenden Schaitungsplatte die Kontaktverbindungen mit den
Prüfstiften genau an den gewünschten Stellen einfädler
zustande kommen als bisher.
Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt mit den im Kennzeichen des Hauptanspruchs angegebenen Mitteln,
i\i dafür sorgen, daß die durch die unbestückte
Schaltungsplatte gehaltenen und ausgerichteten Prüfstifte auf jeden Fall mit den Lötstellen an den
gewünschten Stellen auf der Unterseite der bestückten Schaitungsplatte /n Berührung sind, da die zunächst
so nicht exakt ausgerichtete, zu untersuchende Schaitungsplatte, wenn sie auf die Auflager gedrückt wird, sich
durch die Führungen exakt nach der die Kontaktstifte halternden und ausrichtenden Halteplatte ausrichtet.
Die den Kontakt herstellenden Köpfe der Kontaktstifte können sich dabei um die erforderliche Strecke
verschieben.
An einem Ausführungsbetspiel wird die Erfindung im folgenden näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 eine perspektivische Ansicht einer bevorzugten Ausführungsform des Prüfstandes im Zustand der Befestigung von Prüfstiften an einer unbesfückten gedruckten Schaitungsplatte,
F i g. 1 eine perspektivische Ansicht einer bevorzugten Ausführungsform des Prüfstandes im Zustand der Befestigung von Prüfstiften an einer unbesfückten gedruckten Schaitungsplatte,
F i g. 2 eine weggebrochene Ansicht eines Teiles des Prüfstandes gemäß Fig. I, wobei nur einige der
Prüfstifte gezeigt sind,
F i g. 3 eine bevorzugte Ausführungsform des Prüfstifts,
I i g. 4 eine teilweise Schnittansicht längs der Ebene
4-4 aus Fig.2, wobei jedoch ein Teil einer gerade
geprüften Schaltungsplatte hinzugefügt ist,
F i g. 5 eine teilweise Schnittansicht längs der Ebene
5-5aus Fig. 1,
F i g, 6 eine teilweise Schnittansicht längs der Ebene 6-6aus Fig. 1,
F i g. 7 eine perspektivische Darstellung eines bevorzugten Verdrahtungswerkzeugs und
F i g. 8 eine weitere Einzelheit des in F i g. 1 dargestellten Prüfstandes.
Eine aus Phenolkunststoff bestehende Grundplatte 10 des in F i g. 1 dargestellten Prüfstandes hat längs
gegenüberliegender Ränder jeweils Langlöcher 100, 102, 104 und 106 zur Aufnahme von Lagerböcken 110,
welche in diesen mittels Zylinderschrauben 112 (F i g. 6)
gehalten werden können, deren Muttern längs erweiterter Bereiche 116 der Langlöchcr 100, 102, 104, 106
bewegt werden können, wenn die Zylinderschrauben 112 gelöst sind.
Die erweiterten Bereiche 116 sind jedoch nicht so weit, daß sie ein Drehen der Muttern 114 erlauben, ϊπ
Blindbohrungen 118 jedes Paares von Lageiiöcken 110
ist jeweils eine Profilschiene 120 bzw. 12? (Fig.2)
drehbar angeordnet Die Profilschienen 120,122 haben die dargestellte parallele und einander entgegengerichtete
Lage, bestehen aus extrudiertem AJumi.iiurr. mit
einem Kreuzquerschnitt wie bei 124 (F i g. 2) und sind mit Kunststoff beschichtet, um Kurzschlüssen entgegenzuwirken.
An den Enden der Profilschienen 120, 122 stehen nur die Teile mit den kreuzförmigen Querschnittsbereichen
126 vor, deren (am besten aus F i g. 6 ersichtlichen) acht äußeren Kanten an jedem Ende in
einer Blindbohrung 118 gelagert sind. Die Profilschienen 120 und 122 können wahlweise gegen Drehung
verriegelt werden, wozu man Arretierungsschrauben 108 (F i g. 6) verwendet
Bei der Montage des Prüfstandes bildet eine unbestückte, d. h. von elektrischen Bauelementen freie
gedruckte Schaltungsplatte 12, welche außer in der Bohrungsgi Jße der zu prüfenden bestückten gedruckten
Schaltungsplatte 119 (Fig.4) entspricht eine Prüfstifthalterung. Sie wird gegen eine untere Fläche
128 eines querverlaufenden Zwischenabschnitts des kreuzförmigen Querschnittbereiches 126 jeder Profilschiene
120,122 mittels eines Paares von mit Kunststoff -*5
beschichteten Aluminium-Klemmkiauen 130 gehalten, von welchen jede eine Nut 132 und einen abgerundeten
Bereich 131 (der ein Drehen der Profilschiene cmöglicht) aufweist. Ein Schraubbolzen 133, welcher
sich durch den kreuzförmigen Bereich 126 hindurch erstreckt, zieht jede Klemmklaue 130 in ihre Arbeitsstellung.
Seift Zylinderkopf ist bei einer Nut 139 zugänglich (F ig. 2).
In Fig.5 ist die unbestückte Schaltungsplatte 12 dargestellt, und zwar in ihrer Stellung zum Anbringen
der Prüfstifte gemäß Fig. I. In der bevorzugten Ausführungsform sind Löcher zur Aufnahme der
Prüfstifte um dieselben Mittelpunkte zu größeren Durchmessern weiter ausgebohrt. Die unteren Oberflächen
134 des kreuzförmigen Querschnittbereiches 126 stehen im Eingriff mit Quernuten 136 eines Verdrahturigswerkzeugs
138 aus Kunststoff (Fig. 7), dessen Schenkel 140 diese Quernuten 136 enthalten. Ein
Federungsvorgang aufgrund von Lar.glöchern 137 ermöglicht ein Niederdrücken und Zurückschnappen f'r>
von Vorsprüngen 135, wenn das Werkzeug 138 eingeführt wird (durcn Orehen der Profilschiene kann
man das Werkzeug 138 wieder entfernen). Ein Ende 142 von isolierenden Schutzhüllen 160,162 einer Vielfachkabelbahn
146 stößt gegen eine Fläche 148 des Werkzeugs 138, und Leiterdrähte 150 und 152 erstrecken sich durch
Fübrungsschlitze 154 im Werkzeug 138.
Die nach oben gerichteten Vorsprünge 182 des Werkzeugs 138 sind auf beiden Seiten eines breiten mit
hinteren Verbindungsöffnungen fluchtenden Vorsprungs 184 der Profilschiene 122 aufgepaßt Vor dem
Einschnappen der Qu^rnut 136 werden die Leiterdrähte 150 und 152 in den Führungsschlitten 154 des
Werkzeugs 138 angeordnet Das Einschnappen des Werkzeugs 138 fixiert die Schutzhüllen 160 und 162
gegen eine Bewegung, wenn die Leiterdrähte 150, 152 durch sie hindurchgezogen werden.
An anderen Enden erfolgt der elektrische Anschluß der Kabelbahn 146 in einer Steckkupplung 190 nach Art
der in Fig. 1 gezeigten sogenannten Ansley-Verbindung,
deren Elemente 192 und 194 zusammengeschnappt werden und vierzig Kontakte bilden. Die
Elemente 192 sind auf Stifte 195 von \ufnahmemodulen 196 gesteckt, welche starr in ein Aufcohmegehäuse !98
aus glasfaserverstärktem Kunststoff eingebaut sind, das in rechtwinkligen öffnungen 200 einer Wand 202 zur
Befestigung der Verbindungseinrichtung angeordnet ist Diese kann mit einer zweiten Etage versehen sein, wie
bei 204 angedeutet, wobei in diesem Fall ein Stützstab
206 vorgesehen ist Die Kabelbahn 146 wird vor dem Abschluß mit der Kupplung 190 und anschließendem
Biegen in die bei 207 gezeigte Gestalt auf Länge geschnitten. Das Aufnahmegehäuse 198 wird in seiner
Längsrichtung festgehalten, wobei jedoch eine geringe Längsbewegung in beiden Richtungen aufgrund von
Federfingern 212 (Fig.8) möglich ist welche jeweils
einstückig mit einer Basis 214 aus Kunststoff ausgebildet sind, die an der Rückseite der Befestigungswand 202
angebracht ist
Zum Betrieb des Prüfstandes werden die Profüschiene 120 an den vorderen Enden der Langiöcher 1.00 und
die Profilschiene 122 derart angebracht, wie es die Größe der zu prüfenden gedruckten Schaltungsplatte
erfordert Die Langiöcher 106 würden beispielsweise bei größeren gedruckten Schaltungsplatten verwendet
werden. Die erste Profilschiene 120 wird nahe der Vorderseite des Prüfstandes mit ihrer Fühmngsfläche
208 der Hinterseite der Grundplatte 10 zugewandt angeordnet. Die zweite Profilschiene 122 wird danach in
die gewählten Langlöcher (hier die Langlöcher 102) eingesetzt, wobei die Führungsflächen 208 nach oben
gerichtet, jedoch nach vorn schwenkbar sind. Eine unbestückte gedruckte Schaltungsplatte von der beschriebenen
Art Wird nun an den Klemmklauen 130 der Profilschiene 120 angebracht und in die in Fig. 1
gezeigte Position gebracht. Mit dem Werkzeug 138 wird oanach die Kabelbahn 146 mit der später anzubringenden
Kupplung 190 sowie mit den Enden vo;i 40 Prüfst.ift-Sockeln 16a, 166 ausgerichtet, welche die
unteren Teile 16 der Prüfstifte 14 (F i g. 3) bilden und die in Fig.6 gezeigte Lage haben. Jeder Leiterdraht 15?
wird danach teiiw-ise so weit aus seiner Schutzhülle 160
bzw. 162 herausgezogen, daß sein Sockel 16a bzw. 166 ir.it einem der in die unbesfückte Platte 12 eingesetzten
Prüfstifte 14 verbunden werden kann (vg . F i g. 1 und 3). Mit Hilfe eines derartigen Prüfstiftes läßt sich jede
Stelle der gedruckten Schalungsplatte 119 (Fig. 4) prüfen, jeder Prüf'ift 14 ist /wischen seinen Enden
befestigt und mit einem kronenförmigen Kopf 20 versehen, welcher begrenzt nachgiebig von oben
vorgespannt ist.
Die unteren Abschnitte des Prüfstiftes werden durch die Grundplatte 10 abgestützt und stützen ihrerseits die
Platte 12 ab.
Es ist vorteilhaft, sämtliche vierzig Leiter und Prüfstift-Sockel jeder einzelnen Kabelgruppe in enger
Nähe als eine »Familie« anzuschließen. Nach Anbringung jeder »Familie« von Prüfstiften werden alle ihre
Leiter fest gegen den Boden der unbestückten Schaltungsplatte 12 gehalten, wozu man zweckmäßig
einen um die Prüfsockel, also die Teile 16. gewickelten
Faden verwendet. Die Leiter werden nach der Verdrahtung am hinteren Ende aus ihrer Schutzhülle
gezogen, bis sie straff sind, und mit dem erwähnten
(nicht gezeigten) Faden zusammengeschnürt. Nun kann die Schaltungsplatte 12 von der Position gemäß Fig. I
in die Position gemäß F i g. 2 herabgelassen werden,
ohne daß die Leiter abfallen, und anschließend mit weiteren Klemmklauen 130 an der Profilschiene 120
festgemacht werden. Ein Biegen der Schaltungsplatte 12 kann durch richtiges Anordnen der Profilschienen 120,
122 und Anziehen der Arretierungsschrauben 108 (Fig. 6) weitgehend vermieden werden. Befindet sich
die Schaltungsplatte 12 einmal in ihrer endgültigen horizontalen Stellung, so wird die Kabelgruppe
abgeschnitten und nach Anbringung ihrer Kuppiing 190 gebogen und eingpsteckl. Jede Kupplung kann vierzig
Leiter aufnehmen, und drei Kupplungen können jeweils in ein Aufnahmegehäuse 138 gestöpselt werden. Eine
horizontale Reihe von vier Kupplungen wird angebracht, bevor eine zweite horizontale Reihe beginnt.
Führungsstifte 210. welche in diagonal gegenüberliegenden
Führungsbohrungen in den unbestückten Schaltungsplatten 12 angebracht sind, entsprechen
Führungsbohrungen in den bestückten gedruckten Schaltungsplatten zur genauen gegenseitigen Positionierung.
Die in den Stützelementen 216 (Fig. t) befestigten Führungsstifte 210 htifen fernti beim
Abstützen der Schaltungsplatte 12 an der Oberfläche der Grundplatte 10. Die zu prüfende bestückte
gedruckte .Schaltungsplatte 119(Fi g. 4) wird durch die
einander zugewandten winkeligen Führungsflächen 208 der Profilschienen 122 und 120 vorbei an der in Fig. 4
gezeigten Zwischenstellung auf koplanare Auflagerflächen 211 geführt. Die Führungsflächen 208 sorgen für
die richtige Ausrichtung zu den Führungsstiften 210. wodurch unbeabsichtigte Beschädigungen der Prüfstifte
14 vermieden weiden, wenn die zu prüfende Schaltungsplatte nach unten gegen die Prüfstifte gedrückt wird.
Wenn dennoch ein Prüfstift beschädigt wird, braucht nur sein oberer Abschnitt ersetzt zu werden, was
besonders vorteilhaft ist. Die auf die Prüfstifte durch die gedruckte Schaltungsplatte 119 aufgebrachten Kräfte
werden in Längsrichtung durch die Prüfstifte übertragen
und schließlich von der Grundplatte 10 aufgenommen.
D.1 die gedruckte Schaltungsplatte 12 eine unbestückte »Zwillingsplatte« zur gedruckten Schaltungsplatte
119 ist. wird das Ausrichten der Prüfstifte auf gewünschte zu prüfende Bereiche erleichtert. Der hier
beschriebene Früfstand eignet sich auch zum Prüfen anderer bestückter oder unbestückter Schaltungsplatten.
Hierzu 4 Blatt Zeichnungen
Claims (10)
1. Prüfstand zum Prüfen der elektrischen Eigenschaften
von Bauelementen, die auf einer gedruckten Schaltungsplatte montiert sind, in der sich Löcher in
einer bestimmten Anordnung befinden, mit einer zweiten Platte aus Isoliermaterial die eine mit den
Löchern der mit Bauelementen bestückten Schaltungsplatte übereinstimmende Anordnung von Löchern
enthält, in welchen Prüfstifte mit federbelasteten Kontaktköpfen eingesetzt sind, die in Anlage mit
Prüfpunkten der mit Bauelementen bestückten Schaltungsplatte bringbar sind, dadurch gekennzeichnet,
daß die zweite, unbestückte Platte (12) zwischen zwei oberhalb einer Grundplatte
(10) drehbar gelagerten Profilschienen (120, 122) befestigbar ist, die bei Drehung in ihre Arbeitsstellung
einander zugewandte schräge Führungsflächen (208) und zueinander koplanare horizontale Auflagerfläciicn
(211) für die mit Bauelementen bestückte Schaltungsplatte (119) aufweisen.
2. Prüfstand nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß sich die unbestückte zweite Platte (12) mittels der unteren Teile (16) der eingesetzten
Prüfstifte (14) auf der Grundplatte (10) abstützt
3. Prüfstand nach Anspruch Ί oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Enden der Profilschienen
(120, 122) in Lagerböcken (UO) drehbar gelagert sind, die zur Änderung des Abstands zwischen den
Profilschienen (120, 122) auf der Grundplatte (10) ve'rschiebb?.- montiert sind.
4. Prüfstand nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Profilsciiienen (120, 122) im
unteren Querschnittsbtrekh (126; kreuzförmig sind,
und daß Klemmklauen (130) tue zweite Platte (12)
gegen den kreuzförmigen Querschnittsbereich (126) spannen.
5. Prüfstand nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die unteren Enden der Profilschienen
(120, 122) ausschließlich aus dem kreuzförmigen Querschnittsbereich (126) bestehen und in Blindbolirungen
(118) der Lagerböcke (110) stecken.
6. Prüfstand nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Profüschienen (120, 122) Strangpreßprofilc
sind.
7. Prüfstand nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Klemmklauen
(130) die unteren Enden der Profüschienen (120,122) auf der Grundplatte (10) abstützen und entlang einer
Kante (131), die Drehung der Profüschienen (120, 122) in den Lagerböcken (110) zulassend, abgerundet
sind.
8. Prüfstand nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfstifte
(14) an ihren unteren, auf der zu ihrem Kopf (20) entgegengesetzten Seite ihrer Befestigung
befindlichen Teilen (16) an eine Kabelanordnung angeschlossen sind.
9. Prüfstand nach einem der Ansprüche 4 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß in einer der Profilschiehen
(122) an vöffi linieren Ende äbgewändtefi
Teilen Ausschnitte für ein Veidrahtungswerkzeug (138) angebracht sind, daß an dem Werkzeug (138)
aufwärtsgerichtete Vorsprünge (182) in die Ausschnitte eingreifen, wodurch das Werkzeug (138)
quer zur Profilschiene positioniert ist. daß am Werkzeug (138) eine quer verlaufende Nut (134) mit
dem unteren Ouerschnittsbercich (126) des Schie-
nenprofils verrastet, und daß bei eingerastetem
Werkzeug (138) eine Vielzahl von Leiterführungsschlitzen (154) auf die Profilschiene (122) zu verläuft
und an einer der Profilschiene (122) abgewandten Fläche (148) des Werkzeugs (138) ein Ende einer
Vielfachkabelbahn (146) anstößt, in der Zuleiterdrähte
(152) längsverschieblich eingelagert sind, um die Kabelbahn bei Zug an den Drähten (152)
festzulegen.
10. Prüfstand nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite
Platte (12) mit der gleichen gedruckten Schaltung wie die bestückte Schaltungsplatte (119) versehen
ist
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/778,505 US4132948A (en) | 1977-03-17 | 1977-03-17 | Test fixture using stock printed circuit board having test pins mounted thereon |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2811775A1 DE2811775A1 (de) | 1978-10-05 |
DE2811775B2 true DE2811775B2 (de) | 1980-12-18 |
DE2811775C3 DE2811775C3 (de) | 1981-10-15 |
Family
ID=25113572
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2811775A Expired DE2811775C3 (de) | 1977-03-17 | 1978-03-17 | Prüfstand für gedruckte Schaltungsplatten |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4132948A (de) |
JP (2) | JPS5925186B2 (de) |
CA (1) | CA1100576A (de) |
DE (1) | DE2811775C3 (de) |
FR (2) | FR2384267A1 (de) |
GB (1) | GB1591575A (de) |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4321532A (en) * | 1978-03-16 | 1982-03-23 | Luna L Jack | Repairable spring probe assembly |
US4211917A (en) * | 1978-07-17 | 1980-07-08 | The Boeing Company | Circuit board testing apparatus and method |
US4374708A (en) * | 1980-02-28 | 1983-02-22 | General Dynamics, Pomona Division | Fine line circuitry probes and method of manufacture |
US4374003A (en) * | 1980-02-28 | 1983-02-15 | General Dynamics, Pomona Division | Fine line circuitry probes and method of manufacture |
US4649338A (en) * | 1980-02-28 | 1987-03-10 | General Dynamics, Pomona Division | Fine line circuitry probes and method of manufacture |
FR2501455A1 (fr) * | 1981-03-04 | 1982-09-10 | Socapex | Procede pour le test d'un circuit du type imprime et dispositif de mise en oeuvre du procede |
JPS581176U (ja) * | 1981-06-26 | 1983-01-06 | 三州工業株式会社 | プリント基板検査機用アダプタ− |
GB2126736A (en) * | 1982-09-01 | 1984-03-28 | Nash Frazer Ltd | Testing printed circuits or wiring strips |
IT1194298B (it) * | 1983-07-04 | 1988-09-14 | Honeywell Inf Systems Italia | Elemento porta-sonde per attrezzatura di collaudo di piastre a circuito stampato |
GB2146849B (en) * | 1983-09-17 | 1987-08-05 | Marconi Instruments Ltd | Electrical test probe head assembly |
US4574236A (en) * | 1983-10-27 | 1986-03-04 | At&T Technologies, Inc. | High frequency test fixture |
US4884024A (en) * | 1985-11-19 | 1989-11-28 | Teradyne, Inc. | Test pin assembly for circuit board tester |
US4935696A (en) * | 1987-04-16 | 1990-06-19 | Teradyne, Inc. | Test pin assembly for circuit board tester |
US4900948A (en) * | 1988-03-16 | 1990-02-13 | Micro Control Company | Apparatus providing signals for burn-in of integrated circuits |
CH676889A5 (de) * | 1988-09-16 | 1991-03-15 | Asulab Sa | |
US6175243B1 (en) | 1998-08-12 | 2001-01-16 | Aql Manufacturing Services, Inc. | Apparatus and method for assembling test fixtures |
US6127835A (en) * | 1998-08-12 | 2000-10-03 | Aql Manufacturing Services, Inc. | Apparatus and method for assembling test fixtures |
ATE371196T1 (de) * | 2002-03-05 | 2007-09-15 | Rika Denshi America Inc | Vorrichtung für eine schnittstelle zwischen elektronischen gehäusen und testgeräten |
TWI233489B (en) * | 2003-01-21 | 2005-06-01 | Leeno Ind Inc | Contact apparatus and test PCB including the contact apparatus used for testing microwave device, and manufacturing method of the test PCB |
US7315176B2 (en) * | 2004-06-16 | 2008-01-01 | Rika Denshi America, Inc. | Electrical test probes, methods of making, and methods of using |
US7046027B2 (en) * | 2004-10-15 | 2006-05-16 | Teradyne, Inc. | Interface apparatus for semiconductor device tester |
US7975369B2 (en) * | 2009-09-23 | 2011-07-12 | General Electric Company | Apparatus for assembly of circuit boards |
CN117225749B (zh) * | 2023-10-20 | 2024-09-03 | 深圳市利和兴股份有限公司 | 一种基于电容的绝缘性电阻测试工装 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE945460C (de) * | 1952-01-19 | 1956-07-12 | Luise Fahrbach Geb Stephan | Einrichtung zum Ordnen und Befestigen von elektrischen Leitungen fuer Schaltverteiler od. dgl. |
US2918648A (en) * | 1956-06-15 | 1959-12-22 | Philco Corp | Testing apparatus |
US3082292A (en) * | 1957-09-30 | 1963-03-19 | Gore & Ass | Multiconductor wiring strip |
DE1615990A1 (de) * | 1967-10-25 | 1970-07-16 | Daimler Benz Ag | Leitungssatz,insbesondere fuer die elektrische Ausruestung von Kraftfahrzeugen od.dgl.,und Verfahren zur Herstellung des Leitungssatzes |
US3584300A (en) * | 1968-07-31 | 1971-06-08 | Bendix Corp | Platen-patch board assembly with spring biased electrical contact means to effect electrical test on an electrical circuit card |
DE1800657C3 (de) * | 1968-10-02 | 1975-05-22 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Kontaktvorrichtung, insbesondere zur elektrischen Prüfung der Leitungszüge gedruckter oder geätzter Schaltungsplatten |
US3728661A (en) * | 1970-03-12 | 1973-04-17 | Honeywell Inf Systems | Modular cabling system |
US3622687A (en) * | 1970-10-12 | 1971-11-23 | Burroughs Corp | Multiconductor composite belt and method of fabricating it |
JPS48102550U (de) * | 1972-03-06 | 1973-12-01 | ||
FR2322437A1 (fr) * | 1973-03-09 | 1977-03-25 | Connecta | Cable electrique plat et procede ainsi que machine pour la fabrication de tels cables |
DE2427118A1 (de) * | 1973-06-05 | 1975-01-23 | Siemens Ag | Adapter zum verbinden einer elektrischen baugruppe mit einer messchaltung |
DE2344239B2 (de) * | 1973-09-01 | 1977-11-03 | Luther, Erich, 3050 Wunstorf; Maelzer, Fritz; Maelzer, Martin; 7910 Reutti Post Neu-Ulm; Türkkan, Tamer, 3011 Laatzen | Kontaktvorrichtung zum anschliessen einer gedruckten schaltung an ein pruefgeraet |
US3941966A (en) * | 1974-05-22 | 1976-03-02 | Applied Materials, Inc. | RF Power transmission line |
US3941996A (en) * | 1974-08-27 | 1976-03-02 | Honeywell Inc. | Automatic focus apparatus |
GB1508884A (en) * | 1975-05-17 | 1978-04-26 | Int Computers Ltd | Apparatus for testing printed circuit board assemblies |
US4027941A (en) * | 1976-11-01 | 1977-06-07 | Thomas & Betts Corporation | Termination method and apparatus for flat flexible cable |
-
1977
- 1977-03-17 US US05/778,505 patent/US4132948A/en not_active Expired - Lifetime
- 1977-11-28 GB GB49435/77A patent/GB1591575A/en not_active Expired
-
1978
- 1978-02-08 CA CA296,473A patent/CA1100576A/en not_active Expired
- 1978-02-15 JP JP53016358A patent/JPS5925186B2/ja not_active Expired
- 1978-03-13 FR FR7807141A patent/FR2384267A1/fr active Granted
- 1978-03-17 DE DE2811775A patent/DE2811775C3/de not_active Expired
- 1978-06-26 FR FR7819028A patent/FR2384332A1/fr not_active Withdrawn
-
1983
- 1983-06-15 JP JP58107603A patent/JPS5939708B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS53116477A (en) | 1978-10-11 |
JPS5915879A (ja) | 1984-01-26 |
JPS5939708B2 (ja) | 1984-09-26 |
DE2811775A1 (de) | 1978-10-05 |
FR2384332A1 (fr) | 1978-10-13 |
FR2384267B1 (de) | 1984-02-24 |
DE2811775C3 (de) | 1981-10-15 |
FR2384267A1 (fr) | 1978-10-13 |
GB1591575A (en) | 1981-06-24 |
US4132948A (en) | 1979-01-02 |
JPS5925186B2 (ja) | 1984-06-15 |
CA1100576A (en) | 1981-05-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2811775C3 (de) | Prüfstand für gedruckte Schaltungsplatten | |
DE69712414T2 (de) | Verfahren und Anordung zum schnellen Anschliessen zweier elektrischen Käbel | |
DE3909263C3 (de) | Elektrische Verbindungsvorrichtung | |
DE3909284A1 (de) | Steckkontaktanordnung | |
DE3843664C2 (de) | ||
DE3320418C2 (de) | Auf einer gemeinsamen Tragschiene montierter Apparatesatz | |
DE2534775B2 (de) | Anordnung bei flachbaugruppen mit frontsteckern | |
DE69103362T2 (de) | Beförderungsschutz- und Einfügungsgerät für mehradrige Kabel. | |
DE19615597B4 (de) | Vorrichtung zum Kontaktieren der Leiteradern von mehreren bandförmig verlaufenden bielektrischen Leitungen mit den Leiteradern von elektrischen Anschlußleitungen eines elektrischen Verbrauchers, insbesondere den Leuchten einer Schienenleuchte | |
DE2718511A1 (de) | Anschliessvorrichtung | |
EP0724104A1 (de) | Zugentlastungs- und Befestigungselement | |
DE2320202A1 (de) | Anordnung zur wechselseitigen elektrischen verbindung einer mehrzahl von bauteiletraegern (z.b. von gedruckten leiterplatten) | |
DE20202835U1 (de) | Optische Verbindungseinrichtung | |
DE3819884A1 (de) | Geraet zum pruefen von elektronischen baugruppen | |
DE29709127U1 (de) | Elektrische Steckvorrichtung | |
DE2020628C3 (de) | System zur Anordnung und Befestigung von Anzeige- und Bedienungselementen in Baueinheiten der Meß-, Steuer- und Regeltechnik | |
DE69825666T2 (de) | Verbinder für flexibles Flachkabel | |
EP1580854A1 (de) | Vorrichtung zum Anbrigen von Kennzeichnungsschildern in einem Schaltschrank | |
DE3206417C2 (de) | Aneinander anreihbare Stromschienenhalter aus Isolierstoff | |
DE69310043T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Montage von Bauelementen mit gebogenen Anschlussklemmen | |
DE102017113811A1 (de) | Anordnung für einen Verteilerkasten | |
DE3710708C2 (de) | ||
CH627305A5 (en) | Male strip connector having plug contacts. | |
DE2834728A1 (de) | Anordnung zum anschluss von in rahmenartigen baugruppentraegern einschiebbaren elektronischen baugruppen | |
DE4337500A1 (de) | Zweiteilige Adaptereinrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OD | Request for examination | ||
OI | Miscellaneous see part 1 | ||
OI | Miscellaneous see part 1 | ||
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |