DE2734772A1 - Verfahren zur herstellung eines siliciumnitridgegenstandes - Google Patents
Verfahren zur herstellung eines siliciumnitridgegenstandesInfo
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Description
US-861 - Dr.K/Ja
Verfahren zur Herstellung eines Siliciumnltridgegenstandes
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung eines Siliciumnitridgegenstandes.
Gemäß der Erfindung wird ein Verfahren zur Bildung eines
Siliciumnitridgegenstandes angegeben. Ein Gegenstand mit mindestens einem Anteil an Siliclumteilchen darin wird in
einer Art und Welse gebildet, die ein gewisses Ausmaß der Porosität des Gegenstandes liefert. Die Siliciumteilchen des
Gegenstandes sind mit Stickstoff zur Bildung von Siliciumnitrid reaktionsfähig. Dann wird der Gegenstand auf eine
Temperatur unterhalb einer Reaktionstemperatur erhitzt, bei
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der das Stickstoffgas mit den Siliclumteilchen reagiert.
Der Gegenstand ist von einer Atmosphäre umgeben, die mindestens etwas Stickstoffgas enthält. Die Reaktionszone
ist auf mindestens einen Teil des Oberflächenbereiches des Gegenstandes eingestellt. Die Reaktionszone hat eine Temperatur oberhalb der Reaktionstemperatur, wodurch die Siliciumteilchen in der Reaktionszone mit dem Stickstoffgas
unter Bildung von Siliciumnitrid umgesetzt werden. Die Reaktionszone bewegt sich von der Oberfläche des Gegenstandes in das Innere des Gegenstandes, wodurch der Gegenstand fortschreitend nach einwärts in der Masse von seiner
Oberfläche her nitridiert wird.
Im allgemeinen gibt es zwei Herstellungsverfahren zur Herstellung von Siliciumnitridgegenständen. Diese beiden Verfahren bestehen in der Heißverpressung und der Reaktionssinterung. Die Heißverpressung von Siliciumnitridpulver ergibt einfache Formen aus Siliciumnitrid mit einer Dichte
von 95 bis 100 % der theoretischen. Die Reaktionssinterung ist ein vielseitiger anwendbares Herstellungsverfahren.
Komplexe Formen können aus Siliciumteilchen durch solche Verfahren, wie Schlickergußformung und Spritzgußformung hergestellt werden. Beispielsweise werden bei dem Schlickergußverfahren die Siliclumteilchen anfänglich zu einem Gegenstand der gewünschten Form gegossen. Dieser Gegenstand wird
dann in Siliciumnitrid in einem Reaktionssinterungsarbeitsgang überführt, bei der der Gegenstand auf eine hohe Temperatur In Gegenwart von Stickstoff erhitzt wird.
Die üblichen Nltridierverfahren erfordern die Einführung des
Gegenstandes der in einem Formungsarbeltsgang hergestellten Gegenstände aus Siliciumteilchen in eine Stickstoffgas enthaltende Atmosphäre. Der Gegenstand wird auf eine Temperatur
erhitzt, bei der das Silicium und der Stickstoff unter Bildung von Siliciumnitrid reagieren können. Dieses Nitridier-
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verfahren erfordert eine Porosität des Gegenstandes aus
den Siliciumteilchen, sodaß die gesamten Slliciumtellchen für die Stickstoffgasatmosphäre zugänglich sind. Wenn jedoch die NitridlerreaMlon fortschreitet, muß die Porosität
des Gegenstandes aufrecht erhalten werden, um eine vollständige Nitrldlerung sämtlicher Siliciumteilchen sicherzustellen.
Falls Teile des SillciumkOrpers für Stickstoffgas nicht zugänglich sind, besteht das erhaltene Produkt aus einer
Matrix von Siliciumnitrid mit Inseln aus unumgesetztem Silicium. Dieser Zustand tritt üblicherweise auf, falls
die üblichen Nitridierverfahren auf Gegenstände angewandt werden, wenn Gegenstände mit abschließender Dichte höher
als 2,75 g/cm' hergestellt werden sollen. Das Vorliegen
von freiem Silicium in einem Gegenstand 1st schädlich für das schließlich erhaltene Siliciumnitrldprodukt. Das Vorhandensein von Silicium ist nachteilig deswegen, well die
thermischen Schockbeständigkeiten, Oxidationsbeständigkeit und Hochfestigkeitseigenschaften insgesamt gegenüber
denjenigen verringert werden, die erhältlich sind, falls das gesamte Silicium in geeigneter Weise nitridiert wäre.
Demzufolge besteht eine Hauptaufgabe der Erfindung in einem
Verfahren zur Nitridierung von Silicium, das zur Nitridierung praktisch des gesamten In einem Gegenstand vorliegenden
Slliciums wirksam ist.
Die Erfindung befaßt sich somit mit einem Verfahren zur Bildung eines Siliciumnitridgegenstandes, Insbesondere einem
Verfahren zur Bildung eines Siliciumnitrldgegenstandes,
worin der Nitrldlerarbeitsgang mit den in dem Gegenstand
enthaltenen Siliciumteilchen ausgeführt wird, bis praktisch die gesamten derartigen Teilchen in Siliciumnitrid umgesetzt sind.
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Gemäß der allgemeinen Lehre der Erfindung wird ein Gegenstand mit mindestens einem Anteil an darin befindlichen
Siliclumteilchen gebildet, die mit Stickstoff unter Bildung von Siliciumnitrid.realttonsfähig sind. Der Gegenstand
wird nach einem Verfahren hergestellt, welches die Bildung des Gegenstandes mit einer niedrigeren als der vollständigen
Dichte erlaubt, wodurch der Gegenstand zumindest ein Ausmaß der Porosität darin besitzt, welches die Durchdringung desselben durch Stickstoff gas erlaubt. Der Gegenstand wird auf
eine Temperatur unterhalb der Reaktionstemperatur, bei der Stickstoffgas mit Siliciumteilchen reagiert, erhitzt. Dann
wird der Gegenstand mit einer Atmosphäre umgeben, die mindestens etwas Stickstoff gas enthält. Die Reaktionszone wird
in mindestens einem Teil des Oberflächenbereiches des Gegenstandes eingestellt. Die Reaktionszone hat eine Temperatur
oberhalb der Reaktionstemperatur von Siliclumteilchen und Stickstoffgas, wodurch die Siliciumteilchen in der Reaktionszone mit dem Stickstoffgas unter Bildung von Siliciumnitrid
reagieren können. Die Reaktionszone bewegt sich von der Oberfläche des Gegenstandes in der Innere des Gegenstandes in
fortschreitender Weise, wodurch der Gegenstand fortschreitend nach einwärts in der Masse von der Oberfläche desselben her
nitridiert wird. Dieses Verfahren erlaubt es, daß Stickstoffgas durch den noch porösen tatsächlichen Teil des Gegenstandes
strömt, während der Vorderteil desselben bereits nitridiert ist.
Gemäß den spezifischen Lehren einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens wird die Reaktionszone von der
Oberfläche des Gegenstandes in das Innere des Gegenstandes durch allmähliche Erhöhung der Temperatur des Teiles des
Oberflächenbereiches des Gegenstandes bewegt, in den die Reaktionszone eingestellt war. Nach einer weiteren AusfUhrungsform des erflndungsgemäßen Verfahrene bewegt sich die
Reaktionszone von der Oberfläche des Gegenstandes In das Innere
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des Gegenstandes, indem die Temperatur des Teiles des
Oberflächenbereiches des Gegenstandes, vorauf die Reaktionszone eingestellt war, stufenweise in bestimmten
Anteilen nach bestimmten Zeltdauern erhöht wird.
des erfindungsgemäßen Verfahrens geeigneten Apparatur,
Fig. 2 eine schematlsche Wiedergabe der Einleitung des
erfindungsgemäßen Verfahren und
Flg. 3 eine schematische Darstellung zur Erläuterung des
Fortschreitens des erfindungsgemäßen Verfahrene zr Erzielung eines vollständig nitridierten Gegenstandes
Im Rahmen d er ausführlichen Beschreibung bevorzugter Ausführungeformen 1st In Fig. 1 eine geschlossene Kammer zu
sehen, die allgemein mit der Bezugsziffer 10 bezeichnet 1st. Diese Kammer 1st mit einem allgemein mit Bezugsziffer
12 bezeichneten Vakuumsystem verbunden· Das Vakuumsystem enthält eine Vakuumpumpe 14, eine Vakuumleitung 16 und ein
Ventil 18. Die Kammer hat auch hiermit verbunden ein Stickst offgaszufuhreystem, das allgemein mit der Bezugsziffer
20 bezeichnet ist. Dieses System enthält eine Stickstoffgasquelle 22, eineStickstoffzufuhrgasleitung 24 und ein Ventil 26.
Innerhalb der geschlossenen Kammer 10 sind induktiv erhitzbare Suszeptoren 28 untergebracht· Eine induktive Heizeinheit, die allgemein mit der Bezugsziffer 30 bezeichnet
ist, ist außerhalb der geschlossenen Kammer untergebracht. Wie auf dem Fachgebiet bekannt, bringt die Entwicklung eines
alternierenden Hagnetfeldes durch Induktive Heizungseinheiten einen Anstieg der Temperatur des Suszeptors Innerhalb
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der Kammer hervor. Eine allgemein mit der Bezugsziffer 32 bezeichnete elektrische Hllfsheizungsquelle kann gleichfalls vorliegen, um beim Erhitzen der Kammer zu unterstützen. Die geschlossene Kammer 10 umfaßt hierin einen
Sillciumteilchenkompaktkörper 34. Dieser Kompaktkörper hat mindestens eine Fläche 35 oder einen Teil derselben
in Flächenbeziehung zu einer Fläche 37 des Suszeptors.
Die Fläche 37 des Suszeptors strahlt Wärme auf die Fläche 35 des SiliciumkompaktktSrpers aus.
Der Siliciumkompaktkörper 34 kann nach Jeden Verfahren
hergestellt werden, das einen Gegenstand ergibt, der eine wesentliche Menge an Siliciumteilchen sowie einen Gegenstand mit einer niedrigeren als der vollständigen Dichte
umfaßt. Falls der Gegenstand eine niedrigere Dichte als die vollständige Dichte hat, hat der Gegenstand ein Ausmaß der Porosität, welches die Strömung von Stickstoffgas
durch den Gegenstand erlaubt, sodaß es mit den Siliciumteilchen reagieren kann. Geeignete Verfahren zur Herstellung von SiliciumkompaktkOrpern umfassen die auf dem
Fachgebiet bekannten, beispielsweise Schlickerguß von Siliciumteilchen oder Spritzgußverformung derartiger
Teilchen mit einem Binder, der anschließend vor dem Nitridierarbeltsgang entfernt wird. Der Kompaktkörper
muß ausreichend porös sein, sodaß das Stickstoff gas eine Möglichkeit besitzt, in die Umgebung sämtlicher darin enthaltener Siliciumteilchen zu gelangen. Der Kompaktkörper
kann in Argon vorgesintert werden, um die Handhabungefestigkeit desselben zu erhöhen.
Nachdem der Siliciumkompaktkörper 34 gebildet ist, wird er
in die geschlossene Kammer 10 gebracht. Die Kammer wird
durch öffnung des Ventiles 18 und Betätigung der Vakuumpumpe 14, die über die Vakuumleitung 16 arbeitet, zur Entfernung der gesamten Luft aus der geschlossenen Kammer eva-
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kuiert. WBhrend der Entfernung der Luft kann elm elektrisch·
Hilfsheizquelle 32 zum Erhitzen der Kammer auf eine geringfügig
niedrigere Temperatur als derjenigen, bei der die Siliciumteilchen mit Stickstoffgas reagieren, d.h. eine
Temperatur geringfügig unterhalb 1040TC (19000P),betätigt
werden. Die elektrische Hilfsheizquelle kann auch verwendet werden, um den Kompaktkörper auf diese Temperatur
zu bringen oder alternativ kann durch die induktive Heizeinheit 50, die durch den Susceptor 28 arbeitet, die Kammer
auf die geeignete Temperatur erhitzt werden. Es wird bevorzugt, beide Heizsysteme anzuwenden, um die Kammer auf
die geeignete Temperatur zu bringen. Wenn die Reaktionstemperatur von Silicium und Stickstoff erreicht ist, wird
die Vakuumpumpe 14 abgeschaltet und das Ventil 18 gegenüber dem Vakuumsystem 12 geschlossen. Stickstoffgas 22
aus dem Stickstoffgaszuführsystem 20 wird dann mit dem
Inneren der geschlossenen Kammer 10 duroh öffnung des
Ventiles 26 zum Eintritt gebracht und das Stickstoffgas
tritt in die Kammer duroh die Stickstoffördergasleitung
ein. Ein positiver Druck des Stickstoffgases kann in der
Kammer eingestellt werden und dann wird das Ventil 26 geschlossen.
Der Siliciumkompaktkörper ist jetzt von Stickstoffgas
umgeben und aufgrund der Porösität des Kompaktkörpers
kann das Stickstoffgas in den Kompaktkörper zur Umsetzung mit den Siliciumteilchen eindringen. Die induktive Erhitzungsdnheit
30 wird betätigt, um die Temperatur des Susceptore zu erhöhen, sodafi duroh Strahlung v>n deren Fläche 37 die
Fläche 35 des Kompaktkörpers auf eine Temperatur geringfügig oberhalb der Temperatur, bei der das Silicium mit
dem Stickstoffgas unter Bildung von Siliciumnitrid reagiert, erhitzt wird. Dieser Zustand ist in Figur 2 gezeigt, worin
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Tr die Reaktionstemperatur angibt. Es ist darauf hinzuweisen,
daß ein geringes Band oder eine schmale Zone 36
aus Siliciumnitrid an und geringfügig unterhalb der Oberfläche gebildet wird, wenn diese Zone auf eine Temperatur
oberhalb der geeigneten Reaktionstemperatur erhitzt wird. Der Druck des Stickstoffgases in der Kammer kann gemessen
werden. Palis der Druck abfällt, weiß man, daß die Reaktion fortschreitet. Innerhalb eines begrenzten Zeitanteiles
stabilisiert sich der Druck des Stickstoffes erneut, was bedeutet, daß die Reaktion aufgehört hat. Zu diesem Zeitpunkt
wird die Leistung der induktiven Erhitzungseinheit erhöht, sodaß die Temperatur des Susceptors 28 erhöht wird,
wodurch wiederum die Oberflächentemperatür des Silicium»
kompaktkörpers erhöht wird, sodaß eine Zunahme der Temperatur an und unterhalb der Oberfläche des Kontaktkörpers verursacht
wird, sodaß eine weitere Zone des Materials auf eine Temperatur oberhalb der Reaktionstemperatur kommt, wodurch
eine 2. Reaktionszone ausgebildet wird. Dieses Verfahren wird in stufenweiser Art wiederholt und die Reaktionszone
in dem Siliciumkompaktkörper bewegt sich allmählich durch
den Kompaktkörper von der Oberfläche in dessen Masse. Der Portschritt der Reaktion ist in Figur 3 gezeigt, worin eine
Reaktionszone dargestellt ist, die sich über einen wesentlichen Teil des Kompaktkörpers bewegt hat. Ee ist darauf hinzuweisen,
daß mehr als die Hälfte des Kompaktkörpers dort eine Temperatur oberhalb der Reaktionstemperatur besitzt.
Das unumgesetzte Kompaktmaterial ist immer noch ausreichend porös, um die Strömung des Stickstoffgases in den Kompaktkörper
zu der Zone zu erlauben, wo die Reaktion ausgeführt werden soll.
Anstelle der Ausführung des Nitridierarbeitsganges
in differenzieller oder stufenweiser Art kann die Leistung
der induktiven Erhitzungseinheit 10 kontinuierlich erhöht
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werden, sodaß kontinuierlich die Temperatur des Susceptors
erhöht wird und kontinuierlich die Temperatur der Fläche 35 des Siliciumkompaktkörpers 34 erhöht wird. Die kontinuierliche
Erhöhung der Temperatur in der Oberfläche des Kompaktkörpers wird auf das Innere des Kompaktkörpers übermittelt,
wodurch eine Reaktionslinie sich über den Kompaktkörper einstellt. Die Reaktionslinie kann als Linienbewegung
der Reaktionszone in den Kompaktkörper betrachtet werden, wenn die Temperatur des Kompaktkörpers fortschreitend auf
eine Temperatur oberhalb der Reaktionstemperatur ansteigt.
Sowohl beim stufenweisen als auch beim kontinuierlichen Verfahren wird das Erhitzen der Fläche 35 des Siliciumkompaktkörpers
34 bis zu dem Zeitpunkt fortgesetzt, wo sich die Reaktionstemperatur von der Vorderfläche bis zur rückseitigen
Fläche des Körpers bewegt hat, sodaß eine vollständige Nitridierung des Kompaktkörpers erhalten wird.
Im vorstehenden wurde das allgemeine Verfahren gemäß der Erfindung beschrieben. Es gibt zahlreiche Alternativwege,
mit der man die gleiche Behandlung ausführen kann, wie nachfolgend abgehandelt. Wie vorstehend angegeben t kann
die gesamte geschlossene Kammer 10 auf eine geringfügig unterhalb der Silicium-Stickstoff-Reaktionstemperatur liegende
Anfangstemperatür durch beide Kraftqellen gebracht werden.
Nachdem die Kammer diese Temperatur erreicht bat, übernimmt die induktive Erhitzungseinheit 10 die Einleitung des Temperaturgradienten
im Siliciumkompaktkörper 34· Andererseits kann man den Kompaktkörper induktiv von Raumtemperatur auf
die Reaktionstemperatur erhitzen, wobei der Temperaturgradient im Kompaktkörper während des gesamten Zeitraumes
induziert wird.
Der Siliciumkompaktkörper 34 kann auch mittels eines üblichen Nitridierarbeitsganges vornitridiert werden, und
dann kann die Fertignitridierung desselben mittels des
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erfindungsgemäßen Verfahrens ausgeführt werden. Das einzige Erfordernis ist, daß der vornitridierte Kompaktkörper
ausreichend porös ist, sodaß Stickstoffes in denselben eindringen und mit dem verfügbaren
Silicium reagiert.
Der Temperaturgradient für den SiIiciumkompaktkörper
kann auch durch andere Maßnahmen als durch induktive Erhitzung erreicht werden.Beispielsweise kann
die auf höhere Temperaturen zu erhitzende Fläche des Kompaktkörpers in einem Arbeitsgang als Schichterhitzung
erhitzt werden. Ferner kann auch mehr als eine Fläche des Kompaktkörpers in dieser Weise erhitzt
werden, sofern mindestens eine Fläche oder mindestens ein Oberflächenbereich des Kompaktkörpers offen
ist, durch den Stickstoffgas in den Kompaktkörper zur
Reaktionszone eindringen kann.
Es wird hier ein Verfahren zur Nitridierung eines Siliciumkompaktkörpers angegeben, welches einen Fertiggegenstand
mit praktisch der theoretischen Dichte des Siliciumnitrids liefert. Die Erfindung wurde vorstehend
anhand bevorzugter Ausführungsformen beschrieben, ohne daß sie hierauf beschränkt ist.
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Claims (9)
- PatentansprücheVerfahren zur Herstellung eines Siliciumnitridgegenstandes, dadurch gekennzeichnet, daßein Gegenstand mit mindestens einiges Siliciumteilchen darin, die mit Stickstoff unter Bildung von Siliciumnitrid reaktionsfähig sind, hergestellt wird, wobei der Gegenstand weniger als die vollständige Dichte hat und der Gegenstand mindestens ein gewisses Ausmaß der Porösität besitzt,der Gegenstand auf eine Temperatur unterhalb der Reaktionstenperatur, bei der das Stickstoffgas mit den Siliciumteilchen reagiert, erhitzt wird,der Gegenstand mit einer mindestens einen Anteil an Stickstoff gas enthaltenden Atmosphäre umgeben wird, eine Reaktionszone an mindestens einem Teil des Oberflächenbereiches des Gegenstandes ausgebildet wird, wobei die Reaktionszone eine Temperatur oberhalb der Reaktionstemperatur hat, sodaß die SiliciumteCLchen in der Reaktionszone mit dem Stickstoffgas unter Bildung von Siliciumnitrid reagieren, unddie Reaktionszone von der Oberfläche des Gegenstandes zum Inneren des Gegenstandes bewegt wird, sodaß der Gegenstand fortschreitend nach einwärts in seine Masse von der Oberfläche desselben her nitridiert wird.
- 2. Verfahren nach Anspruch 1,dadurch gekennzeichnet, daß die Reaktionszone von der Oberfläche des Gegenstandes zu dem Innern des Gegenstandes durch allmähliche Erhöhung der Temperatur des Teiles des Oberflächenbereiches des Gegenstandes, worauf die Reaktionszone ausgebildet war, bewegt wird.809807/061 5ORK3INAU
- 3. Verfahren nach Anspruch 1,dadurch gekennzeichnet, daß die Reaktionszbne von der Oberfläche des Gegenstandes in das Innere des Gegenstandes durch Erhöhung der Temperatur des Teiles des Oberflächenbereiches des Gegenstandes, worauf die Reaktionszone ausgebildet war, in stufenweiser Art in bestimmten Anteilen nach bestimmten Zeitdauern bewegt wird.
- 4. Verfahren zur Bildung eines Siliciumnitridgegenstandes, insbesondere nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daßein Gegenstand mit darin befindlichen Siliciumteilchen, die mit Stickstoff unter Bildung von Siliciumnitrid reaktionsfähig sind, gebildet wird, wobei der Gegenstand eine niedrigere als die vollständige Dichte hat und mindestens ein bestimmtes Ausmaß and Porösität besitzt, der Gegenstand in eine Stickstoffgas enthaltende Umgebung gebracht wird,der Gegenstand auf eine Temperatur kurz unterhalb der Reaktionstemperatur, bei der Silicium mit dem Stickstoffgas unter Bildung von Siliciumnitrid reagiert, gebracht wird,selektiv mindestens ein Teil des Oberflächenbereiches des Gegenstandes auf eine Temperatur oberhalb der Reaktionstemperatur erhitzt wird, wobei die selektive Erhitzung in der Weise ausgeführt wird, daß die Masse des Gegenstandes zumindest anfänglich bei einer Temperatur unterhalb der Reaktionstemperatur verbleibt·, wodurch die Silicium-Stickstoff-Reaktion lediglich in dem selektiv erhitzten Bereich stattfindet,die Temperatur des selektiv erhitzten Teiles der Oberfläche des Gegenstandes so erhöht wird, daß die Temperatur der anstoßenden Teile des Gegenstandes sich in die Masse des Gegenstandes von dem Oberflächenbereich bewegt und dies· auf eine Temperatur oberhalb der Reaktionstemperatür erhitzt809807/0615werden, sodaß die umsetzung *n Silicium und Stickstoff in die Masse des Gegenstandes fortschreitet und die Erhöhung der Temperatur des selektiv erhitzten Teiles des Gegenstandes in der Weise fortgeführt wird, daß die Reaktionszone von Silicium und Stickstoff nach einwärts von der Oberfläche des Gegenstandes in die Masse des Gegenstandes fortschreitet, da die Temperatur entlang einer Reaktionslinie von der Oberfläche des Gegenstandes in die Masse desselben fortschreitend und allmählich auf eine Temperatur oberhalb der Reaktionstemperatur erhöht wird.
- 5. Verfahren nach Anspruch 4, daduroh gekennzeichnet, daß die Temperatur des selektiv erhitzten Teiles des Oberflächenbereiches des Gegenstandes allmählich in einheitlicher Weise erhöht wird, sodaß die Reaktionszone allmählich von der Oberfläche des Gegenstandes in dessen Masse bewegt wird.
- 6. Verfahren nach Anspruch 4» daduroh gekennzeichnet, daß die Temperatur des selektiv erhitzten Teiles des Oberflächenbereiches des Gegenstandes in stufenweiser Art in bestimmten Anteilen nach bestimmten Zeiträumen erhöht wird, sodaß die Reaktionszone in differen· zieller Weise von der Oberfläche des Gegenstandes in die Masse desselben bewegt wird.
- 7. Verfahren nach Anspruch 4» dadurch gekennzeichnet, daß der selektiv erhitzte Teil des Oberflächenbereiches mindestens 2 getrennte Zonen auf dem Gegenstand umfaßt.
- 8. Verfahren nach Anspruch 4t daduroh gekennzeichnet , daß ein in Argon zur Erhöhung der Handhabungsfestigkeit desselben vorgesinterter Form-809807/0615körper für die Erhitzung verwendet wird.
- 9. Verfahren nach Anspruch 4» dadurch g e - k e η η ζ e i c h η e t, daß der Formgegenstand anfäng lich einem Nitridierarbeitsgang unterworfen wird, bevor er dem selektiven Erhitzen eines Teiles des Oberflächenbereiches desselben zugeführt wird.809807/0615
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