DE2722577A1 - Vorrichtung/verfahren zur beruehrungsfreien abstands- bzw. dickenmessung - Google Patents
Vorrichtung/verfahren zur beruehrungsfreien abstands- bzw. dickenmessungInfo
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Description
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT Unser Zeichen
Berlin und München <a VPA 77 P 7 0 5 1 BRD
Vorrichtung/Verfahren zur berührungsfreien Abstands- bzw. Dickenmessung.
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung bzw. ein Verfahren zur berührungslosen Bestimmung von Abständen bzw. Dicken, wie es im
Oberbegriff des Patentanspruches 1 angegeben ist.
Derartige Verfahren sind z.B. in der DT-OS 2 157 813 (VPA 71/7141),
der DT-OS 2 546 714 (VPA 75 P 7196) und in der DT-PS 2 501 015 (VPA 75 P 7005) beschrieben.
Diesen Verfahren bzw. Vorrichtungen ist gemeinsam, daß die Dicke durch das Messen der Abstände von der oberen bzw. unteren Seite
des Meßobjektes zu einer virtuellen Nullebene bestimmt wird. Wieviele Abstände zwischen der oberen und unteren Seite des Meßobjektes
zur virtuellen Nullebene für die Bestimmung der Dicke bestimmt werden müssen, hängt von der Lage des Meßobjektes zur
Nullebene ab. Für planparallele Gegenstände, die parallel zur Nullebene stehen oder sich bewegen, genügt es, je einen Abstand von
der oberen und unteren Seite des Meßobjektes zur Nullebene zu messen. Die Dicke des Gegenstandes wird dann durch Subtrahieren
der beiden Abstände ermittelt. Die Bestimmung der Dicke von zur Nullebene verkippten Meßobjekten ist komplizierter. Zwischen der
Dicke und den gemessenen Abständen besteht dabei kein linearer Zusammenhang.
Aufgabe der Erfindung ist es, die Meßgenauigkeit einer derartigen Vorrichtung noch weiter zu erhöhen.
16.5.1977 /Rtdi Htr «09848/0112
-j?-2> 77 P 7 0 5 1 BRD
Diese Aufgabe wird durch eine Vorrichtung, wie eingangs genannt,
gelöst, die erfindungsgemäß die Merkmale des Kennzeichens des
Patentanspruches 1 aufweist.
Im folgenden werden die Erfindung und ihre Vorteile anhand der Figuren, die prinzipielle Ausführungsbeispiele zeigen, erläutert.
Fig. 1 zeigt einen Laser L und einen Laserstrahlablenker BD, mit denen ein beweglicher Lichtstrahl 1 erzeugbar ist. Ein Photodetektor,
z.B. eine Photodiode PD , kann Licht nur aus einer
Richtung aufnehmen, dazu dienen die Schlitzblenden Ap1 und A
mit einer Abbildungsoptik IL. Nur Lichtstrahlen längs der Visierlinie 2 werden also vom Detektor PD registriert. Die Visierlinie
bildet mit der Vertikalen auf der (virtuellen) Nullebene ZPl den
Winkel β . Zum Zeitpunkt t ist der Laserstrahl 1 so gerichtet,
daß er die Visierlinie 2 im Punkt Z auf der Nullebene ZPl schneide
Gegenüber der Vertikalen auf der Nullebene hat der Laserstrahl zu diesem Zeitpunkt einen Winkel '* . Zu diesem Zeitpunkt wird ein
Teilstrahl des Laserstrahles von einer einstellbaren Bezugsebene RPL, diese ist z.B. eine optisch vergütete Glasplatte, auf einen
Photodetektor PDR geworfen, d.h. dieser Detektor gibt zum Zeitpunkt
t ein Signal. Zum Zeitpunkt tffl schneiden sich die Visierlinie
und der Laserstrahl im Punkt Mp auf einem Meßobjekt, der
einen Abstand d von der Nullebene hat.
Die Messung basiert auf einer Messung der Zeit, die der periodisch
abgelenkte Laserstrahl 1 bei jeder Ablenkung benötigt, um vom Anfangspunkt Z auf der Nullebene ZPl zum Meßpunkt M^ auf dem Meßobjekt
3 zu gelangen.
Das auf dem Meßobjekt diffus gestreute Licht des periodisch abgelenkten
Laserstrahls kann nur dann, wenn es vom Punkt M ausgeht, von der Photodiode PDm empfangen werden. Nur in diesem Fall
entstehen durch die diffuse Streuung auf dem Objekt 3 Lichtstrahlen,
die mit der Visierlinie zusammenfallen. Der Meßabstand d zwischen Nullebene ZPl und Meßebene MPl, die zueinander parallel
sind, ist gegeben durch
= A . -^ . CQS ft (I)
sin ( ·χ + λ + ,Υά) cosx ' KIJ
809848/01 1 2
^
77 P 70 5 1 BRD
A ist der Abstand zwischen dem Laserstrahlablenker BD und der Nullebene ZPl, yd ist der Ablenkwinkel des Laserstrahls vom Null
punkt Z bis zum Meßpunkt M.
Der gemessene Abstand d ist im allgemeinen nicht direkt dem Ablenkwinkel
V. proportional. Nur unter der Bedingung, daß die Winkelo£ + & = 90° und ^d<:50 sind, ist d dem Ablenkwinkel fd proportional
d = A.^d . (2)
YA ist im Bogenmaß einzutragen. In diesem Fall ist der Fehler
kleiner als 0,2%o.
Ablenker, derenAblenkwinkel eine lineare Funktion der Zeit ist, sind für große Ablenkwinkel und Ablenkfrequenzen von einigen
100 Hz nicht ohne großen Aufwand zu verwirklichen.
Wesentlich einfacher lassen sich Strahlablenker mit Ablenkfrequenzen
bis zu 1000 Hz und Ablenkwinkeln bis zu einigen 10° bauen, wenn das Zeitgesetz für den Ablenkwinkel eine Winkelfunktion
ist. Ein derartiger Strahlablenker ist z.B. in der DT-OS 2 321 211 (VPA 73/7056) beschrieben. Da tei diesem Strahlablenker
der Ablenkwinkel jf, dem Sinusgesetz folgt, gilt für
Jfd im für die Messung interessanten Ablenkbereich:
/ ist die maximale Ablenkamplitude (Spitze-Spitze der Ablenkung),
u, ist die Winkelgeschwindigkeit der Strahlablenkung.
Der Phasenwinkel uit7 kann zwischen 120 und 150° und uit zwischen
wtz und 210 bis 240 gewählt werden. Der Phasenwinkel Qt2 bzw.
der Zeitpunkt t^t der mit der Photodiode PDR und der Bezugsebene
RPl eingestellt wird, bestimmt den Punkt Z auf der Nullebene (Meßabstand d=0) innerhalb einer Ablenkung. Durch die Einführung
der Bezugsebene RPl braucht der Laserstrahl die Nullebene nicht mehr zu berühren. So ist die materielle Nullebene in eine
virtuelle Nullebene umgewandelt worden, t ist der Zeitpunkt, zu
dem der Laserstrahl innerhalb einer Ablenkperiode den Meßpunkt M
809848/0112
erreicht (Meßabstand d).
Bei sinusförmiger Ablenkung ist nach Gleichung (3) der Abstand d gegeben durch:
sin (-^—^-(iifi ^t1, ■· ±in ivt^JJ ccs β
d = : =
Die Zeitdifferenz
t -sin <*ij] cos
At, - t - t (5)
d m ζ
ist also'ein Maß für den Abstand d.
ist also'ein Maß für den Abstand d.
Auf diese Weise kann also der Abstand d einer Fläche von der NuIlebene
ZPl bzw. die Dicke eines auf der Nullebene liegenden Objektes bestimmt werden.
Falls das Objekt nicht auf der Nullebene liegt und/oder zur Nullebene
geneigt ist, müssen mehrere Punkte auf der Ober- und Unterseite
des Objektes in ihrem Abstand zur Nullebene bestimmt werden
Dazu kann der Laserstrahl z.B. in mehrere Teilstrahlen, für *dl«
Ober- bzw. Unterseite, durch Strahlteiler aufgespalten werden.
Für jeden Teilstrahl ist dann ein dem Detektor PD entsprechender Detektor vorzusehen.Es ist auch möglich mehrere Geräte der in
Fig. 1 dargestellten zu verwenden, wobei jedes Gerät einen anderen Punkt auf der Objektober- bzw. Objektunterseite lagemäßig
bestimmt. Aus der Lage der Punkte kann dann die Objektdicke bestimmt werden. :
Da die Abstands- bzw. Dickenmessung auf der Messung der Zeit basiert, die der abgelenkte Laserstrahl benötigt, um von einem
Punkt Z auf der Nullebene bis zu einem Meßpunkt M auf dem Meßobjekt, beide Punkte liegen auf der Visierlinie, zu 'gelangen, ist
die genaue Bestimmung der Meßzeit ausschlaggebend für die Größe
der Meßfehler.
Die Meßzeit wird durch zwei Zeitpunkte t und t bestimmt (Gl. 5).
Der Zeitpunkt t , der die Meßzeit At=O bzw. die Null ebene bestimmt,
wird von dem Impuls UR, der in der Photodiode PD„ entsteht, wenn der Laserstrahl den Punkt Rp auf der BezugsebeneRPl
809848/0112
b
77 P 7 O 5 1 BRD
durchläuft, abgeleitet. Da der Impuls glockenförmig ist (Gaußsche
Verteilung der Lichtintensität) und die Amplitude nur von den geringen LeistungsSchwankungen des Lasers beeinflußt wird
(He-Ne Laser), kann man mit dem Impuls den Zeitpunkt t2 sehr
genau bestimmen, wenn man den Impuls differenziert und als Zeitpunkt t den Nulldurchgang des differenzierten Signals benutzt.
Wesentlich schwieriger erweist sich die Bestimmung des Meßzeitpunktes
tffl beim Meßsignal, da hier die Empfangsleistung von der
Oberflächenbeschaffenheit abhängt und sich bis zu 40 dB ändern kann. Diese Schwankungen der Empfangsleistung verursachen Fehler
bei der Zeitpunktbestimmung mit differenziertem Signal. Weitere Fehler kommen dazu, da die Form des Meßimpulses von Tiefenschärfe,
Abbildungsfehler, Übersteuerung eines dem Detektor PD nachge-
m schalteten Verstärkers (z.B. bei Messung an polierten Oberflächen),
Form der Streulichtkeule der gemessenen Oberfläche abhängt. Diese Einflüsse auf die Meßzeitpunktbestimmung lassen sich reduzieren,
wenn der Meßimpuls,wie nachfolgend beschrieben, aufbereitet und der Meßzeitpunkt daraus bestimmt wird.
20
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Die Schlitzblende vor der Photodiode PD„ bestimmt nicht nur die
Richtung der Visierlinie der Abbildungsoptik, sondern auch das Zeitintervall, in dem das Bild des Lichtflecks des abgelenkten
Laserstrahls auf die Photodiode trifft.
Um die Abbildungsfehler der Abbildungsoptik zu reduzieren und die Tiefenschärfe zu verbessern, wird vor der Linse auf der optischen
Achse eine zweite zur Ebene der Strahlablenkung vertikale Schlitzblende so eingesetzt, daß im ganzen Meßbereich ein symmetrisches
Meßsignal gewährleistet wird.
Der in der Meßphotodiode PD entstehende Meßimpuls wird in einem breitbandigen Verstärker entsprechend verstärkt und über einen
schnellen und empfindlichen Spannungskomparator in einen Rechteckimpuls
verwandelt. Die Dauer des Rechteckimpulses hängt von der Einstellung der Schwellwerte des Spannungskomparators und von der
Amplitude des Meßimpulses ab. Die Breite des Rechteckimpulses verändert sich wegen der sehr hohen Verstärkung des schnellen Komparators
fast symmetrisch zur Mitte des Meßimpulses, wenn sich die
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Meßimpulsamplitude verändert hat. Wenn man für verschiedene Impulsbreiten
die Zeiten von dem Bezugszeitpunkt t (Nullebenezeitpunkt At, = O) bis zur Anstiegsflanke tc und vom Bezugszeitpunkt t£
bis zur Abfallflanke t' des Rechteckimpulses summiert, bleibt
die Summe der beiden Zeiten auch bei veränderter Impulsbreite konstant:
(t - t ) + (t1 - t ) - const. . (16)
v c ζ v c ζ
Somit bleibt die Gesamtzeit unabhängig von der Meßimpulsamplitude.
Die Meßzeit At, ist die Zeitdifferenz zwischen der Meßsignal-
d
mitte t und des Bezugsebeneimpulses t2:
mitte t und des Bezugsebeneimpulses t2:
Da die Meßimpulse im Verstärker vor der Umsetzung in Rechteckimpulse
im Spannungskomparator verstärkt werden, darf der Verstärker auch bei Übersteuerung (starke Meßsignale) keine nennenswerten
Speicherzeiten besitzen, da sonst zusätzliche Meßfehler entstehen.
Weitgehend unabhängig von den Speicherzeiten kann die Meßzeit
ermittelt v/erden, wenn für die Zeitmessung immer z.B. die Anstiegsflanke des Meßsignals benutzt wird. Die zeitliche Ver-Schiebung
der Flanke t des Meßimpulses wegen der Amplituden-Schwankungen des Meßimpulses kann man eliminieren, wenn für die
Messung des Abstandes die Laserstrahlablenkung in beide Richtungen (hin und zurück) benutzt wird:
Während der Ablenkbewegung in der einen Richtung wird zum Zeitpunkt t einSignal, entsprechend der Anstiegsflanke des von der Photodiode PD eräugten ersten Meßimpulses, erzeugt. Während der Ablenkbewegung in der umgekehrten Richtung wird zum Zeitpunkt t ein Signal erzeugt, wiederum entsprechend der Anstiegsflanke eines von der Photodiode PDm erzeugten zweiten Meßimpulses. Zum Zeitpunkt t'z hat der Laserstrahl wiederum dieselbe Richtung wie zum Zeitpunkt t . Unabhängig von der Amplitude der beiden von der Photodiode erzeugten Impulse gilt:
Während der Ablenkbewegung in der einen Richtung wird zum Zeitpunkt t einSignal, entsprechend der Anstiegsflanke des von der Photodiode PD eräugten ersten Meßimpulses, erzeugt. Während der Ablenkbewegung in der umgekehrten Richtung wird zum Zeitpunkt t ein Signal erzeugt, wiederum entsprechend der Anstiegsflanke eines von der Photodiode PDm erzeugten zweiten Meßimpulses. Zum Zeitpunkt t'z hat der Laserstrahl wiederum dieselbe Richtung wie zum Zeitpunkt t . Unabhängig von der Amplitude der beiden von der Photodiode erzeugten Impulse gilt:
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Dabei wird angenommen, daß der bei der Ablenkung in der einen
Richtung entstehende Impuls die gleiche Amplitude hat wie der nachfolgende Impuls bei der Ablenkung in umgekehrter Richtung.
Dies ist gewährleistet, da das Objekt während einer Ablenkperiode seine Lage nicht bzw. nur unwesentlich ändert.
Die MeßzeitAt, hängt nicht nur von dem gemessenen Abstand d,
sondern auch von der Ablenkgeschwindigkeit des mit einem piezokeramisehen
Ablenker abgelenkten Laserstrahls ab. Die Ablenkgeschwindigkeit wird durch die Art der Ablenkung, die Ablenkfrequenz
und die Ablenkamplitude bestimmt. Für eine genaue Messung
muß entweder die Ablenkgeschwindigkeit stabilisiert werden, oder es muß die Ablenkgeschwindigkeit gemessen werden. Dazu dient gemäß
der Figur ein Photodetektor PDq. In diesen Photocteektor, z.B. eine
Photodiode, gelangt, reflektiert von der Bezugsebene RPl, nach dem
Zeitpunkt t während der Ablenkbewegung des Lichtstrahles ein Teillichtstrahl, zu einem Zeitpunkt t_. Die Zeitdifferenz t^ - t ist
ein Maß für die Ablenkgeschwindigkeit und kann z.B. als Steuersignal zur Stabilisierung der Ablenkung benutzt werden, bzw. die Zeitdifferenz
und damit die Ablenkgeschwindigkeit werden bei der Berechnung des Abstandes d berücksichtigt. Aus den gemessenen Zeitintervallen
kann also der Abstand, z.B. mittels eines Microcomputers bestimmt werden.
3 Patentansprüche
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Claims (3)
1. Vorrichtung zur Messung des Abstandes eines Punktes auf einer-Objektoberflache
von einer Nullebene, wobei ein scharf gebündelter Lichtstrahl mittels eines Strahlablenker periodisch
über dem Meßraum, in dem sich das Objekt befindet, ablenkbar ist, und wobei ein Meß-Photodiektor vorgesehen ist, der Licht nur aus
einer Visierrichtung empfangen kann, und mit dem ein Meßzeitpunkt ermittelbar ist, zu dem der auf der Visierlinie liegende
Punkt der Objektoberflache vom Lichtstrahl getroffen wird, wobei
der Abstand ermittelbar ist aus der Zeitdifferenz zwischen dem Meßzeitpunkt und einem Zeitpunkt zu dem der Lichtstrahl auf den
auf der Visierlinie liegenden Punkt auf der Nullebene gerichtet ist, dadurch gekennzeichnet , daß die Impulse
des Meß-Photodätektors (PD ) in Rechteckimpulse umsetzbar sind,
daß der Meß-Photodetektor während der Ablenkbewegung in einer Richtung und während der Ablenkbewegung in der umgekehrten
Richtung einen Meßimpuls erzeugt, daß die Zeitpunkte der Anstiegsflanken (oder Abfallflanken) der aus den Meßimpulsen abgeleiteten
Rechteckimpulse bestimmbar sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Lichtablenker in seiner Ablenkgeschwindigkeit stabilisiert ist.
3. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß ein weiterer Photodetektor (PDn) vorgesehen ist,
in den während der Ablenkbewegung ein Teillichtstrahl einblendbar ist, wobei eine Zeitdifferenz zwischen dem Einblenden des
Teillichtstrahls in diesen weiteren Photodiektor und dem Zeitpunkt,
zu dem der Lichtstrahl auf den auf der Visierlinie (2) liegenden Punkt auf der Nullebene (ZPl) gerichtet ist, bestimmbar
ist.
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ORIGINAL INSPECTED
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