DE2501015C2 - Beruehrungsfreies Dickenmessverfahren - Google Patents
Beruehrungsfreies DickenmessverfahrenInfo
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Description
sin
cos ,>
COS η
ti =
id, - d}\(dt + d2) -t- (t/,
d, = A ■
(ι = 1.2.3.4)
ermittelt und hieraus die Dicke d des Werkstücks (10) aus der Beziehung
{dt - (Z4)U/, »
<Z:) -t- (ι/, + (Z4)I(Z3 - «Ζ,)
bestimmt wird, wobei d die Abstände des registrierten
/-ten Streupunktes von der Nullebene, γι die
Winkelbereiche zwischen den / Ablenkrichtungen bei Meßbeginn und den 1 Empfangsrichtungen, Ai die
Abstände zwischen der Nullebene und den letzten Umlenkspiegeln (U bis 14) sind, und γι positiv
(negativ) gewählt wird, wenn sich die Einfallswinkel
der Teilstrahlen auf den Oberflächen des Werkstücks vergrößern (verkleinern).
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der vom Lasersender (1) ausgesandte
Lichtstrahl von einem piezoelektrischen Strahlablenker (2) abgelenkt und anschließend in Teilstrahlen
(4,5) aufgespalten wird.
3. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlen (4, 5)
durch Prismen (8,9) aufgespalten werden.
4. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zur Dickenmessung eines
Körpers (10), der um alle Achsen gegen die Nullebene (24) Kippbewegungen ausführt, vier
Teilstrahlen (15,16,17,18) verwendet werden.
5. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet daß zur Dickenmessung eines
Körpers (10), der nur um eine Achse parallel zur Nullebene (24) Kippbewegungen ausführt, drei
Teilstrahlen (15, 16, 17) verwendet werden, wobei ώ = Λ gesetzt wird.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum berührungsfreien Messen der Dicke eines durch planparallele
Oberflächen begrenzten Werkstücks, wobei Laserstrahlen schrittweise über die gegenüberliegenden Oberflächen
des Werkstücks gelenkt werden, von dort diffus reflektiert werden und jeweils von in Abstand von den
Werkstücksoberflächen angeordneten, der Zahl der Laserstrahlen entsprechenden Detektoren registriert
werden, die nur Licht aus je einer bestimmten Richtung «ufnehmen können, und wobei die Lage der Oberflächenpunkte,
bei denen die reflektierten Lichtstrahlen von den Detektoren registriert werden, aus der
Zeitdifferenz zwischen dem Beginn der Lichtstrahlablenkung jedes Lichtablenkers und dem Empfang eines
Lichtsignals im entsprechenden Detektor bestimmt wird.
In der DT-PS 2124 444 ist ein Verfahren zur
Dickenmessung beschrieben, bei welchem von mehreren oberhalb des Werkstücks angeordneten akustooptischen
Lichtablenkern von mehreren Lasersendern ausgesandte Lichtstrahlen schrittweise über die Oberfläche
des Werkstücks geführt werden, dort diffus reflektiert werden und von in einem Abstand von der
Oberfläche angeordneten Detektoren registriert werden, die ebenfalls nur Licht aus je einer Richtung
aufnehmen können. Die Abmessungen werden aus der Zeitdifferenz zwischen dem Beginn der Strahlablenkungen
und den Detektorsignalen bestimmt. Die Nachteile dieses Meßverfahrens bestehen darin, daß zwei
komplette Laseranlagen und zwei Lichtablenker benötigt werden. Die Meßgenauigkeit kann durch äußere
Einflüsse beeinträchtigt werden, da jede Laseranlage getrennt aufgestellt ist.
Bekannt sind außerdem Dickenmeßverfahren nach der DT-OS 21 10 374 oder den DT-AS 10 51 016 und
68 473 für bewegtes Walzgut. Bei diesen Verfahren werden elektromagnetische Strahlen auf zwei die Dicke
bestimmende Oberflächenpunkte von planparallelen Werkstücken gelenkt, dort gestreut und von den
Detektoren registriert. Eine an diese Detektoren angeschlossene Elektronik ermittelt aus den beiden
Streuorten die Werkstücksdicke. Die ermittelte Dicke stimmt jedoch dort in allen Fällen nur dann mit der
tatsächliche Dicke überein, wenn die planparallelen Oberflächen der Werkstücke parallel zu festen von der
Meßapparatur abhängigen virtuellen Ebenen liegen.
25 Ol
Sobald ein Werkstück verkippt zu dieser virtuellen Ebene vorliegt, würde dort der ermittelte Wert für die
Dicke-größer sein als der tatsächlich.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine Differenzmeßmethode für die Dicke eines planparallelen
Werkstücks anzugeben, mit welcher unabhängig von äußeren Einflüssen auch die Dicke von beliebig gegen
eine Nullebene verkippten Wertstücken bestimmt werden kann.
Diese Aufgabe wird erfindun^sgemäß dadurch gelöst,
daß der von einem Lasersender ausgesandte Lichtstrahl in drei oder vier Teilstrahlen aufgespalten wird, von
welchen bei der Lichtablenkung durch den Lichtablenker tin oder zwei Teilstrahlen über eine erste
Oberfläche des Werkstücks und ein oder zwei Teilstrahlen über die der ersten gegenüberliegende
IO zweite Oberfläche des Werkstücks periodisch hin- und hergeführt werden, wobei die Schnittpunkte der
Teilstrahlen bei MeEbeguja mit den Empfangsrichtungen
der zugehörigen Detektoren in einer Nullebene liegen, deren Normale mit den Teilstrahlen bei
Meßbeginn einen Winkel <x und mit den Empfangsrichtungen
einen Winkel β bilden, und daß eine Meßschaltung durch Bestimmung der Ablenkzeiten ader Teilstrahlen
zwischen Meßbeginn und Detektorregistrierung die Abstände
sin
cos ;t
J =
Id1
d2)
d})(d2~ d, = A1- .
Sin (n + fi ± γ,) COS <i
(i = 1 2. 3.4)
ermittelt und hieraus die Dicke d des Werkstücks aus der Beziehung
d2)
bestimmt wird, wobei d· die Abstände des registrierten
/-ten Streupunktes von der Nulleberj, y, die Winkelbereiche
zwischen den / Ablenkrichhingen bei Meßbeginn
und den / Empfangsrichtungen, A, die Abstände
zwischen der Nullebene und den letzten Umlenkspie- :>
geln sind, und γ, positiv (negativ) gewählt wird, wenn sich die Einfallswinkel der Teilstrahlen auf den
Oberflächen des Werkstücks vergrößern (verkleinern).
Dieses Verfahren weist den Vorteil einer großen Meßgeschwindigkeit auf; es ist nur gering störempfindlieh
auf äußere Einflüsse; die Meßgenauigkeit wird durch Längsverschiebungen oder Verdrehungen der
Umlenkspiegel nicht beeinflußt Es lassen sich die Dicken von beliebige Kippbewegungen ausführenden
Werkstücken bestimmen. Für die Messung der Dicke wird nur ein einziger Lasersender und ein einziger
Strahlablenker benötigt
Die Erfindung wird an Hand von Ausführungsbeispielen in der Figurenbeschreibung erläutert
F i g. 1 zeigt einen erfindungsgemäßen Aufbau zur Dickenmessung in Aufsicht,
F i g. 2 denselben Aufbau aus einer anderen Blickrichtung und
F i g. 3 den Strahlenverlauf in der Nähe des zu vermessenden Körpers.
In der F i g. 1 ist ein Dauerstrichlaser 1 dargestellt, der Lichtstrahlen auf einen Lichtablenker 2 führt Die
senkrecht zur Zeichenebene abgelenkten Strahlen werden durch ein Prisma 3 in zwei entgegengesetzte
Richtungen 4 und 5 aufgespalten und durch Umlenkspiegel 6 und 7 zu zwei Prismen 8 und 9 hingeführt,
zwischen welchen das zu vermessende Werkstück 10 angeordnet ist
Die Prismen 8 und 9 weisen halbdurchlässige Spiegel 11 bzw. 12 und vollständig verspiegelte Flächen 13 bzw. ss
14 auf. Dadurch werden die Strahlen 4 und 5 in vier Teilstrahlen 15, !6, 17 und 18 aufgespalten. Die
Teilstrahlen 15 und 16 gelangen auf eine die Dicke d begrenzende Oberfläche 19 des Werkstücks 10 und
überstreichen dieses auf Strecken senkrecht zur f>o Zeichenebene. Gleichzeitig werden sie zu zwei nicht
gezeichneten Detektoren außerhalb der Zeichenebene gestreut Dasselbe gilt für die Teilstrahlen 17 und 18. Die
vier zugehörigen Detektoren sind außerhalb der Zeichenebene so angeordnet, daß ihre Empfangsrichtungen
zu je einem Punkt auf den von den Strahlen 15 bis 18 durchlaufenen Strecken führen. Diese von den
Detektoren registrierbaren Streupunkte 20 bis 23
^ - J1 f
weisen von der später erläuterten Nullebene 24 die Abstände ώ, ώ, ώ und Λ auf. Die Abstände der Punkte,
von welchen die vier Teilstrahlen 15 bis 18 an den letzten Spiegelflächen 11, 12, 13 und 14 umgelenkt
werden, von der Nullebene 24 betragen A 1. A 2, A 3 und A 4.
Zur weiteren Erläuterung des Verfahrens zum Messen der Dicke d des Werkstücks 10 wird auf die
F i g. 2 verwiesen, in welcher eine Draufsicht auf die Anordnung der F i g. 1 in der Richtung A dargestellt ist.
Auch in der Papierebene der Fig.2 ist das
Werkstück 10 verkippt Hier sind wieder die letzten Umlenkspiegel 13 und 14 der Teilstrahlen 15 und 17
dargestellt Die halbverspiegelten Flächen 11 und 12 der Prismen 8,9 liegen in dieser Darstellung außerhalb der
Papierebene. Die Lichtstrahlen 15 und 17 werden hier in der Papierebene von links nach rechts und umgekehrt
abgelenkt 15 und 17 geben mit den optischen Achsen 30 und 29 im Schnittpunkt 31 die Nullebene an, 15' und 17'
diejenigen Ablenkrichtungen, welche zur Abbildung des Streulichtes in den Detektoren 25 und 26 führen. Durch
die Optiken 27 und 28 ist gewährleistet, daß die Detektoren 25 und 26 nur Licht aus den Richtungen 29
bzw. 30 registrieren können.
Die Nullebene 24 trennt die Bauelemente 11,13 und 25 von den Bauelementen 12,14 und 26.
Die Strahlen 17 und 15 bilden mit der Normalen 3Γ
auf der Nullebene einen Winke! α und die optischen Achsen 29 und 30 mit der Normalen 31' einen Winkel ß.
Alle Detektoren sind zusammen mit dem Lichtablenker 2 über eine Meßschaltung verbunden, welche die
Ablenkzeiten aller Teilstrahlen von ihren Ablenkrichtungen (15, 17) bei Meßbeginn bis zu den registrierbaren
Ablenkrichtungen (15', 17') mißt Die Meßschaltung rechnet diese Zeiten in die Winkel γ\ bis ß* um und
ermittelt gleichzeitig aus diesen Winkeln γι, aus den durch die Konfiguration der Anordnung vorgebbaren
festen Winkel <x und β und aus den ebenso fest vorgebbaren Abständen A<
die Abstände ώ. Da die Dicke d des Werkstücks 10 eine Funktion dieser
Abstände d, ist, läßt sich c/für planparallele Werkstücke
in jeder Kipplage sehr schnell und mit hoher Genauigkeit bestimmen.
An Stelle der Aufspaltung des Lichtstrahls in vier Teilstrahlen genügt eine Aufspaltung in drei Teilstrahlen,
von welchen zwei die eine Oberfläche des Werkstücks überstreichen, während der dritte die
gegenüberliegende Oberfläche überstreicht, wenn das
25 Ol 015
Werkstück 10 nur um eine Achse in der Nullebene 24 verkippt ist, welche senkrecht zur Verbindungsgeraden
36 der Streupunkte 32 und 33 verläuft.
Dieser Fall ist in der F i g. 3 dargestellt Die genannte Verbindungsgerade ist mit 36, die beiden Streupunkte
der zur Registrierung führenden Ablenkrichtungen 15' und 16' mit 32 und 33 bezeichnet Das Werkstück 10 ist
also um eine Achse 34 gegen die Nullebene 24 verkippt. Die Streupunkte 32 und 33 auf der nach obengewandten
Oberfläche des Werkstücks 10 weisen von der Nullebene 24 die Abstände d\ bzw. di auf, die zur
Registrierung durch den Detektor 26 führende Ablenkrichtung 17', die die nach unten gewandte Oberfläche
des Werkstücks 10 im Streupunkt 35 trifft, weist von der Nullebene 24 den Abstand ώ auf.
Zur Ermittlung der Dicke ddes Werkstücks 10 genüg
ein auf die untere Oberfläche des Werkstücks K gerichteter Teilstrahl, da alle Punkte auf diesi
Oberfläche parallel zur Richtung 34 auch parallel zu Nullebene 24 verlaufen.
Hier kann also die Dicke d des Werkstücks 10 schoi
bei Kenntnis der Abstände d\, ώ und ώ bestimm
werden. In der obengenannten Beziehung für c/wird d gleich ώ gesetzt.
Die Messung der Dicke eines unverkippten Werk
Stücks (oder Verkippung < 3°) kann mit nur zwe Strahlen (z. B. 17 und 15) erfolgen (ein Sitrahl von obei
und ein Strahl von unten); wenn man für di = d\ unc ώ = ώ einsetzt, erhält man für d = d\ — ώ.
Hierzu 3 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
1. Verfahren zum berührungsfreien Messen der Dicke eines durch planparaUele Oberflächen be- s
grenzten Werkstücks, wobei Laserstrahlen schrittweise über tße gegenüberliegenden Oberflächen des
Werkstücks geleckt werden, von dort diffus reflektiert werden und jeweils von in Abstand von
den Werkstücksoberflächen angeordneten, der Zahl der Laserstrahlen entsprechenden Detektoren registriert
werden, die nur Licht aus je einer bestimmten Richtung aufnehmen können, und wobei die Lage
der Oberflächenpunkte, bei denen die reflektierten Lichtstrahlen von den Detektoren registriert wer- is
den, aus der Zeitdifferenz zwischen dem Beginn der Lichtstrahlablenkung jedes üchtablenkers und dem
Empfang eines Lichtsignals im entsprechenden Detektor bestimmt wird, dadurch gekennzeichnet,
daß der von einem Lasersender (1) ausgesandte Lichtstrahl in drei oder vier Teilstrahlen
(15, 16, 17, 18) aufgespalten wird, von welchen bei der tichtabfenkung durch den Lichtablenker (2) ein
oder zwei Teilstrahlen (15, 16) über eine erste Oberfläche (19) des Werkstücks (10) und ein odei
zwei Teilstrahlen (17, 18) über die der erst« gegenüberliegende zweite Oberfläche des Werk
Stücks (10) periodisch hin- und hergeführt werden wobei die Schnittpunkte (31) der Teilstrahlen (ζ. Η
15,17) bei Meßbeginn mit den Empfangsriohtungei
(29,30) der zugehörigen Detektoren (25,26) in einen
Nullebene (24) liegen, deren Normale (31') mit der Teilstrahlen (15,17) bei Meßbeginn einen Winkel ,3
und mit den Empfangsrichmngen (29, 30) einer Winkel β bilden, und daß eine Meßschaltung durcr
Bestimmung der Ablenkzeiten aller Teilstrahler zwischen Meßbeginn und Detektorregistrierung die
Abstände
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