DE3229263C2 - Optisch-elektrische Meßeinrichtung zum Messen der Lage und/oder der Abmessung von Gegenständen - Google Patents
Optisch-elektrische Meßeinrichtung zum Messen der Lage und/oder der Abmessung von GegenständenInfo
- Publication number
- DE3229263C2 DE3229263C2 DE19823229263 DE3229263A DE3229263C2 DE 3229263 C2 DE3229263 C2 DE 3229263C2 DE 19823229263 DE19823229263 DE 19823229263 DE 3229263 A DE3229263 A DE 3229263A DE 3229263 C2 DE3229263 C2 DE 3229263C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- light beams
- parallel displacement
- parallel
- measuring
- movements
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 22
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 abstract description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 abstract 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 9
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/08—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Bei einer optisch-elektrischen Meßeinrichtung zum Messen der Lage und/oder der Abmessung von Gegenständen werden diese durch zwei parallel zueinander orientierte Abtastlichtstrahlen abgetastet, welche in ihnen jeweils zugeordneten Ebenen Parallel-Verschiebungsbewegungen ausführen, welche durch das Zusammenwirken eines Drehspiegels mit einer Kollimatorlinse erzeugt werden. Die von der Größe des Querschnittes des zu vermessenden Gegenstandes in Abtast richtung abhängige Abschattung der Abtastlichtstrahlen ist am Ausgangssignal eines Detektors meßbar, auf welchen durch Fokussierungsmittel die Abtaststrahlen nach räumlicher Modulation durch den zu vermessenden Gegenstand hingelenkt werden. Meßfehler aufgrund einer Bewegung des zu vermessenden Gegenstandes werden durch eine gleichzeitige, symmetrische, gegenläufige Parallel-Verschiebungsbewegung der beiden Lichtstrahlen und eine Mittelwertbildung der entsprechenden Detektorausgangssignale beseitigt.
Description
Die Erfindung betrifft eine Optisch-elektrische Meßeinrichtung zum Messen der Lage und/oder der Abmessung
von Gegenständen, bei welcher zwei scharf gebündelte Lichtstrahlen mittels einer Ablenkeinrichtung zu
Parallel-Verschiebungsbewegungen innerhalb eines Meßfeldes veranlaßt und jenseits des Meßfeldes von
Fokussierungsmitteln auf eine Detektoreinrichtung hin abgelenkt werden, derart daß die Lichtstrahlen von dem
im Meßfeld befindlichen Gegenstand während der Parallel-Verschiebungsbewegung
für eine bestimmte, von der Größe des Querschnitts in der Abtastrichiung abhängige
und an Detektorausgangssignalen meßbare Zeit abgeschattet werden, wobei die Parallel-Verschiebungsbewegung
eines der Lichtstrahlen zur Parallel-Verschiebungsbewegung des anderen Lichtstrahls bei
etwa parallelem Verlauf aller Lichtstrahlen im Meßfeld gleichzeitig und gegenläufig ist und eine Mittelwertbildung
des von dem einen Lichtstrahl und des von dem anderen Lichtstrahl erzeugten Detektorausgangssignals
zur Bildung eines die Größe des Querschnitts des Gegenstands in der Abtastrichtung angebenden Signals erfolgt.
Eine Meßeinrichtung dieser Art ist aus der DE-OS 23 13 339 bekannt
Gegenüber diesem Stand der Technik liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine gattungsgemäße Meßeinrichtung
so weiterzubilden, daß die gegenläufigen Abtastbewegungen der Lichtstrahlen auch bei hohen
Abtastgeschwindigkeiten mit hoher Genauigkeit zeitlich symmetrisch gehalten werden, damit auch bei vergleichsweise
raschen Bewegungen Λ» den Prüfling bildenden
Gegenstands, etwa aufgrund von Schwingungen, Meßfehler durch die Mittelwertbildung eliminiert
werden können.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß die Ablenkeinrichtung einen für beide Lichtstrahlen gemeinsamen
Drehspiegel zur Erzeugung von Schwenkbewegungen der auf den Drehspiegel gerichteten Lichtstrahlen in
Abtastebenen sowie einen für beide Lichtstrahlen gemeinsamen Kollimator zur Umformung der Schwenkbewegungen
in die Parallel-Verschiebungsbewegungen enthält, daß die Fokussierungsmittel ein für beide Lichtstrahlen
gemeinsames Fokussierungsbauteil aufweisen und daß die Gegenläufigkeit der Parallel-Verschiebungsbewegungen
der beiden Lichtstrahlen im Meßfeld mittels eines im Strahlengang eines der Lichtstrahlen
dem Kollimator nachgeschaltetes Umkehrprisma erzeugt wird.
Die Verwendung ein und desselben Drehspiegels und gemeinsamer Kollimations- und Fokussierungsmittel
hat den Vorteil, daß die Abtastbewegungen der beiden Lichtstrahlen streng symmetrisch und gleichzeitig sind.
Ein großer apparativer Aufwand für die Synchronisierung der Abtastbewegungen ist nicht erforderlich.
Es ist bei optischen Systemen zwar allgemein üblich,
optische Bauteile für zwei getrennte Strahlengänge gemeinsam zu verwenden, bei der Meßeinrichtung gemäß
der Erfindung kommt der Maßnahme, für die beiden Abtast-Lichtstrahlen einen gemeinsamen Drehspiegel
und einen gemeinsamen Kollimator als Ablenkeinrichtung einzusetzen, ganz besondere Bedeutung im Hinblick
auf die oben genannte Aufgabe zu: Verwendet
man nämlich für eine optisch-elektrische Meßeinrichtung der gattungsgemäßen Art getrennte optische Abtast-
und Meßsysteme, müssen die Antriebe für die rotierenden Teile der Ablenkeinrichtung zeitlich genauestens
synchronisiert und in ihrer Phasenlage so eingestellt sein, daß die am Ausgang der Detektoreinrichtung
erscheinenden, die jeweiligen Abtast-Lichtstrahlabschattungen kennzeichnenden Meßsignale genau symmetrisch
zu einer zeitlichen Mittellinie liegen. Andernfalls sind Meßfehler unvermeidbar, wenn die Geschwindigkeit
des Prüflings nicht während der gesamten Meßdauer konstant ist. Dies kann in der Praxis jedoch nicht
vorausgesetzt werden, insbesondere, wenn der Prüfling Erschütterungen und Schwingungen ausgesetzt ist
Bei der Meßeinrichtung gemäß der Erfindung erfolgt ;5
also durch die gemeinsame Verwendung des Drehspiegels und des Kollimators für beide Lichtstrahlen eine
Zwangssynchronisierung der gegenläufigen Abtastbewegungen. Außerdem ermöglicht die Erfindung nicht
nur eine Vereinfachung und Verbilligung des Aufbaus der Meßeinrichtung sondern auch die Abtretung von
Gegenständen mit größeren Querschnitten ohne daß sehr große und damit teure rotierende Ablenk-Prismenblöcke
eingesetzt werden müssen.
Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen beschrieben,
auf die hiermit ausdrücklich verwiesen wird.
Im folgenden sei die Erfindung anhand der Zeichnungen
näher erläutert:
F i g. 1 zeigt eine schematische perspektivische Ansieht
einer Meßeinrichtung gemäß der Erfindung unter teilweise Verwendung von Blocksymbolen,
F i g. 2 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung in einer F i g. 1 entsprechenden Darstellung.
F i g. 1 zeigt schematisch zwei Lichtquellen 1 und 2, welche jeweils scharf gebündelte und zueinander parallele
Lichtstrahlen 3 und 4 auf eine Linse 5 richten. Die Lichtquellen 1 und 2 können von Lasern gebildet sein.
Abweichend von den in den Zeichnungen gezeigten Ausführungsbeispielen können die im Abstand voneinander
parallel verlaufenden Lichtstrahlen 3 und 4 auch durch Strahlteiler und Spiegel von einem einzigen Laser
als Lichtquelle abgeleitet werden.
Die Linse 5 lenkt die Strahlen 3 und 4 auf einen Punkt 6 hin, der auf der Drehachse 7 eine;, mittels eines Antriebsmotors
8 in Umdrehung versetzten Drehspiegels 9 gelegen ist.
Der Punkt 6 befindet sich im Fokus einer Kollimationslinse 10, welche bewirkt, daß die mittels des Drehspiegels
9 erzeugten Schwenkbewegungen der Lichtstrahlen 3 und 4 innerhalb eines Meßfeldes 11 in Paral-Iel-Verschiebungsbewegungen
umgeformt werden.
Der Kollimationslinse 10 unmittelbar nachgeschaltet sind einerseits ein Umkehrprisma 12 und andererseits
ein Glaskörper 13 mit planparallelen Eintritts- bzw. Austrittsflächen, wobei der Glaskörper 13 zum Abgleich
im Wege desjenigen Lichtstrahles, welcher nicht durch das Umkehrprisma 12 geführt ist, vorgesehen
wird.
Durch das Umkehrprisma 12 wird erreicht, daß die Lichtstrahlen 3 und 4 innerhalb des Meßfeldes 11 Parallel-Verschiebungsbewegungen
ausführen, die hochpräzise gleichzeitig und gegenläufig sind, wobei die Richtung
sämtlicher Lichtstrahlen innerhalb des Meßfeldes 11 parallel ist und die beiden gegenläufigen Parallel- f5
Verschiebungsbewegunryn innerhalb von Ebenen verlaufen,
welche einen bestimmten Abstand voneinander haben, derart, daß an dem Prüfling P gleichzeitig Querschnitte
vermessen werden, welche einen Abstand D entsprechend dem Abstand der genannten Ebenen voneinander
haben.
Durch Fokussierungsmittel 14 werden die Lichtstrahlen auf eine Detektoreinrichtung 15 gelenkt, die ein dem
Lichtstrahl 2 entsprechendes Detektorausgangssignal und ein dem Lichtstrahl 4 entsprechendes Detektorausgangssignal
erzeugt Diese beiden Signale werden addiert und das Ergebnis wird halbiert und stellt einen
korrigierten Meßwert dar. Durch Inbeziehungsetzen der Drehspiegelbewegung mit dem zeitlichen Verlauf
des Ausgangssignals der Detektoreinrichtung 15 wird in der Auswerteinrichtung 16 ein Meßwert entsprechend
einer bestimmten Querschnittsabmessung des Prüflings P erhalten. Zu diesem Zwecke ist von dem Drehspiegelantriebsmotor
8 zu der Auswerteinrichtung 16 eine Signalleitung geführt Diesbezügliche Einzelheiten sind
dem Fachmann geläufig und bedürfen keiner näheren Beschreibung.
Die Ausführungsform nach Fig./· besitzt ähnlichen
Aufbau wie die Meßeinrichtung nach F1 g. 1, wobei zur
Bezeichnung einander entsprechender Teile auch jeweils gleiche Bezugszahlen gewählt sind.
Unter Weglassung der Linse 5 sind bei der Ausführungsform nach F i g. 2 die Lichtstrahlen 3 und 4 auf in
bestimmtem Abstand voneinander gelegene Punkte 6a und 6b der Drehachse 7 des Drehspiegels 9 gerichtet
und werden bei Antrieb des Drehsplef eis zu Schwenkbewegungen
in zueinander parallelen, im Abstand voneinander gelegenen Ebenen veranlaßt. Nach Umwandlung
der Schwenkbewegung der Lichtstrahlen 3 und 4 in eine Parallel-Verschiebungsbewegung innerhalb des
Meßfeldes 11 vermittels einer Kollimatorlinse 10 durchdringt
der Lichtstrahl 4 den planparallele Eintritts- bzw. Austrittsflächen aufweisenden Glaskörper 13, während
der Lichtstrahl 3 durch das Umkehrprisma 12 tritt, derart, daß die Parallel-Verschiebungsbewegung des Lichtstrahls
4 im Meßfeld 11 beispielsweise bei Antrieb des Drehspiegels 9 im Gegenuhrzeigersinn von unten nach
oben und die Parallel-Verschiebungsbewegung des Lichtstrahles 3 gleichzeitig und gegenläufig von oben
nach unten verläuft, wie dies in den F i g. 1 und 2 im übrigen durch Schraffurpfeile angedeutet ist.
Der Abstand der Punkte 6a und 6b ist so gewählt, daß
sich die Ebenen, in denen die Parallel-Verschiebungsbewegungen der Lichtstrahlen 3 und 4 innerhalb des Meßfeldes
11 verlaufen, in einer Geraden 17 schneiden, welche durch den Prüfling P geht und vornehmlich eine
Mittellinie eines bestimmten Querschnittes des Prüflings ist. Während also bei der Ausführungsform nach
F i g. 1 Prüflingsquerschnitte im Abstand D abgetastet wurden, erfolgt bei der Ausführungsform nach F i g. 2
eine Abtastung im wesentlichen ein- und desselben Querschnittes des Prüflings durch die beiden gegenläufig
symmetrisch und gleichzeitig bewegten Abtastlichtstrahlen.
Abschließend sei bemerkt, daß sowohl der Glaskörper 13 als auch da. Umkehrprisma 12 an den Lichteintrittsflächen
und den Lichtaustrittsflächen mit Antireflexionsbelägen versehen sein können, um StoreinPüsse zu
vermeiden.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (5)
1. Optisch-elektrische Meßeinrichtung zum Messen der Lage und/oder der Abmessung von Gegenständen
(P), bei welcher zwei scharf gebündelte Lichtstrahlen (3, 4) mittels einer Ablenkeinrichtung
(9,10) zu Parallel-Verschiebungsbewegungen innerhalb
eines Meßfeldes (11) veranlaßt und jenseits des Meßfeldes von Fokussierungsmitteln (14) auf eine
Detektoreinrichtung (15) hin abgelenkt werden, derart daß die Lichtstrahlen (3,4) von dem im Meßfeld
befindlichen Gegenstand (P) während der Parallel-Verschiebungsbewegung für eine bestimmte, von
der Größe des Querschnitts in der Abtastrichtung abhängige und an Detektorausgangssignalen meßbare
Zeit abgeschattet werden, wobei die Parallel-Verschiebüngsbewegung
eines der Lichtstrahlen zur Parallel-Vtischiebungsbewegung des anderen
Lichtstrahls bei etwa paralleiem Verlauf aller Lichtstrahlen
im Meßfeld (11) gleichzeitig und gegenläufig ist und eine Mittelwertbildung des von dem einen
Lichtstrahl (3) und des von dem anderen Lichtstrahl (4) erzeugten Detektorausgangssignals zur Bildung
eines die Größe des Querschnitts des Gegenstands in der Abtastrichtung angebenden Signals erfolgt,
dadurch gekennzeichnet, daß die Ablenkeinrichtung (9,10) einen für beide Lichtstrahlen (3,4)
gemeinsamen Drehspiegel (9) zur Erzeugung von Schwenkbewegungen der auf den Drehspiegel (9)
gerichteten Lichtstrahlen in Aotastebenen sowie einen
für beide Lichtstrahlen gemeinsamen Kollimator (10) zur Umformung der £ nwenkbewegungen
in die Parallel-Verschiebungsbewegungen enthält, daß die Fokussierungsmittel (14) ein für beide Lichtstrahlen
gemeinsames Fokussierungsbauteil aufweisen und daß die Gegenläufigkeit der Parallel-Verschiebungsbewegungen
der beiden Lichtstrahlen im Meßfeld (11) mittels eines im Strahlengang eines der
Lichtstrahlen (3) dem Kollimator (10) nachgeschaltetes Umkehrprisma erzeugt wird.
2. Meßeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zum Ausgleich der optischen Wege
der Lichtstrahlen (3,4) im Strahlengang des nicht durch das Umkehrprisma (12) geführten Lichtstrahls
ein Glaskörper (13) mit planparallelen Flächen angeordnet ist.
3. Meßeinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der erstgenannte (3) und
der weitere Lichtstrahl (4) auf einen Punkt (6) des Drehspiegels im Fokus der Kollimationsmittel (10)
fokussiert (5) werden und daß die Parallel-Verschiebungsbewegungen
der beiden Lichtstrahlen (3,4) in zueinander parallelen Ebenen verlaufen (F i g. 1).
4. Meßeinrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der erstgenannte (3) und
der weitere Lichtstrahl (4) an im Abstand voneinander gelegenen Punkten (6a, 6b) der Drehspiegeldrehachse
(7) auf den Drehspiegel (9) treffen und daß die Ebenen, in denen die Parallel-Verschiebungsbewegungen
des erstgenannten und des weiteren Lichtstrahls verlaufen, sich in einer Geraden (17)
schneiden, welche etwa eine Mittellinie eines Querschnittes des zu untersuchenden Gegenstandes (P)
ist.
5. Meßeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Ein- und Austrittsfläche
des Umkehrprismas (12) und gegebenenfalls die planparallelen Flächen des Ausgleichs-Glaskörpers(13)
Antireflexionsbeläge tragen.
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19823229263 DE3229263C2 (de) | 1982-08-05 | 1982-08-05 | Optisch-elektrische Meßeinrichtung zum Messen der Lage und/oder der Abmessung von Gegenständen |
| CH388983A CH662879A5 (de) | 1982-08-05 | 1983-07-15 | Optisch-elektrische messeinrichtung zum messen der lage und/oder der abmessung von gegenstaenden. |
| GB08321233A GB2124762B (en) | 1982-08-05 | 1983-08-05 | Position and/or dimensions of objects |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19823229263 DE3229263C2 (de) | 1982-08-05 | 1982-08-05 | Optisch-elektrische Meßeinrichtung zum Messen der Lage und/oder der Abmessung von Gegenständen |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3229263A1 DE3229263A1 (de) | 1984-02-09 |
| DE3229263C2 true DE3229263C2 (de) | 1986-11-06 |
Family
ID=6170210
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19823229263 Expired DE3229263C2 (de) | 1982-08-05 | 1982-08-05 | Optisch-elektrische Meßeinrichtung zum Messen der Lage und/oder der Abmessung von Gegenständen |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| CH (1) | CH662879A5 (de) |
| DE (1) | DE3229263C2 (de) |
| GB (1) | GB2124762B (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3607244A1 (de) * | 1986-03-05 | 1987-09-10 | Bat Cigarettenfab Gmbh | Vorrichtung zur erfassung der laengskanten eines stabfoermigen objekts |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10304503A1 (de) * | 2003-02-05 | 2004-08-19 | Hauni Maschinenbau Ag | Vorrichtung und Verfahren zum Messen des Durchmessers eines stabförmigen Gegenstandes insbesondere der tabakverarbeitenden Industrie |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AT233278B (de) * | 1961-07-11 | 1964-04-25 | Erwin Sick | Vorrichtung zum Vergleichen eines Prüflings mit einem Meisterstück |
| DE1909294B2 (de) * | 1969-02-25 | 1971-03-11 | Verfahren zum messen der breite oder des durchmessers eines gegenstandes und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens | |
| US3665202A (en) * | 1969-06-02 | 1972-05-23 | British Steel Corp | Apparatus for detecting objects |
| US3765774A (en) * | 1972-01-31 | 1973-10-16 | Techmet Co | Optical measuring apparatus |
| GB1400253A (en) * | 1972-03-17 | 1975-07-16 | Ti Group Services Ltd | Gauging dimensions |
| US3806252A (en) * | 1972-07-10 | 1974-04-23 | Eastman Kodak Co | Hole measurer |
| US4042723A (en) * | 1976-05-12 | 1977-08-16 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Method for monitoring the properties of plastic coatings on optical fibers |
| DE2809878A1 (de) * | 1977-03-10 | 1978-09-14 | Centre Rech Metallurgique | Verfahren zur bestimmung der abmessungen eines gegenstandes |
-
1982
- 1982-08-05 DE DE19823229263 patent/DE3229263C2/de not_active Expired
-
1983
- 1983-07-15 CH CH388983A patent/CH662879A5/de not_active IP Right Cessation
- 1983-08-05 GB GB08321233A patent/GB2124762B/en not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3607244A1 (de) * | 1986-03-05 | 1987-09-10 | Bat Cigarettenfab Gmbh | Vorrichtung zur erfassung der laengskanten eines stabfoermigen objekts |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2124762B (en) | 1985-09-18 |
| GB8321233D0 (en) | 1983-09-07 |
| GB2124762A (en) | 1984-02-22 |
| CH662879A5 (de) | 1987-10-30 |
| DE3229263A1 (de) | 1984-02-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0565090B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Abmessung eines Objekts | |
| DE2256736C3 (de) | Meßanordnung zur automatischen Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit und Ebenheit einer Werkstückoberfläche | |
| DE2657938C2 (de) | ||
| DE3334460A1 (de) | Mehrkoordinaten-messmaschine | |
| DE2448651A1 (de) | Anordnung zum beruehrungslosen messen der abmessungen eines bewegten messobjekts | |
| DE4103298C2 (de) | ||
| DE69521367T2 (de) | Nivellierinstrument | |
| DE4213428A1 (de) | Vorrichtung zur geradlinigkeitsmessung | |
| DE2602158A1 (de) | Lichtinterferenzgeraet | |
| DE3315576A1 (de) | Einrichtung zur optischen abstandsmessung, insbesondere zur messung von profilen von werkstuecken oder schneidkanten von werkzeugen | |
| DE3229263C2 (de) | Optisch-elektrische Meßeinrichtung zum Messen der Lage und/oder der Abmessung von Gegenständen | |
| DE3401414A1 (de) | Praezisions-interferometer fuer lineare messungen | |
| DE3213149C2 (de) | Optisches System zur Änderung der Bildstellung | |
| EP1931939B1 (de) | Interferometrische messeinrichtung | |
| DE2637844A1 (de) | Verfahren und anordnung zur getrennten auswertung von bildinhalten nach zwei koordinatenrichtungen der bewegung | |
| EP0600048A1 (de) | Verfahren zur messung von relativen winkeln | |
| EP0874215A2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Messung von Längen und Entfernungen | |
| DE3446354A1 (de) | Optoelektronische vergleichsvorrichtung fuer strukturen auf ebenen oberflaechen oder fuer flaechige strukturen | |
| DE102008011761A1 (de) | Justagevorrichtung für eine Mikrolithografie-Projektionsbelichtungsanlage, Beleuchtungssystem mit einer derartigen Justagevorrichtung sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einem derartigen Beleuchtungssystem | |
| WO2022002680A1 (de) | Verfahren zum justieren einer sendeeinheit relativ zu einer empfangseinheit | |
| DE2241443A1 (de) | Verfahren zum automatischen fotoelektrischen einfang von lokalen aenderungen optisch wirksamer objektstrukturen sowie einrichtungen zu seiner durchfuehrung | |
| DE3920117A1 (de) | Zweistrahl-interferometer | |
| DE102004061067B4 (de) | Anordnung zur interferometrischen Weg- und Winkelmessung | |
| DE2422706C3 (de) | Vorrichtung zum Messen der Ab- oder Durchbiegung von Konstruktionen und Konstruktionsteilen | |
| DD220393A1 (de) | Vorrichtung fuer gleichzeitige fluchtungs- und richtungsmessung mit optischem ausgang |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |