DE2422706C3 - Vorrichtung zum Messen der Ab- oder Durchbiegung von Konstruktionen und Konstruktionsteilen - Google Patents
Vorrichtung zum Messen der Ab- oder Durchbiegung von Konstruktionen und KonstruktionsteilenInfo
- Publication number
- DE2422706C3 DE2422706C3 DE19742422706 DE2422706A DE2422706C3 DE 2422706 C3 DE2422706 C3 DE 2422706C3 DE 19742422706 DE19742422706 DE 19742422706 DE 2422706 A DE2422706 A DE 2422706A DE 2422706 C3 DE2422706 C3 DE 2422706C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- detector
- deflection
- detectors
- bundled
- light beam
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000013508 migration Methods 0.000 claims description 5
- 230000005012 migration Effects 0.000 claims description 5
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 12
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 7
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 4
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 206010044565 Tremor Diseases 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000006386 memory function Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Messen der Ab- oder Durchbiegung von Konstruktionen und
Konstruktionsteilen, bei der mit Hilfe eines von einer Lichtquelle ausgehenden gebündelten Lichtstrahls, insbesondere
eines Laserstrahls, und an der Konstruktion oder dgl. angebrachter photoempfindlicher Detektoren
Bezugslinien festlegbar und jeweils bei relativer Auswanderung des Detektors und des Lichtstrahls ein von
der Auswanderung abhängiges Signal erzeugt wird.
Es ist eine Vorrichtung zur kontinuierlichen Messung von Verschiebungen oder von Verformungen von Ge-
«Tpnctänrlpn nr] Aa\ mit Hilf» unn I ocorcu-ohlnn ω.
C-' —C7-- — *- -~ —
bekannten Anordnung trifft iL-r Laserstrahl in jeder
Stellung aui die photoempfindhche f lache der Meß/e!
Ie. die ihrerseits auf die Änderung der Auftreffstelle des
Laserstrahls auf diese Fläche anspricht.
Es ist weiterhin eine Vorrichtung mit einer Lichtquu
Ie als Bezugspunkt und einem von der Lichtquelle jus
«ehenden Lichtstrahl als Be/ugsltnie bekannt, der auf
ein in einem Rotor /entrisch angeordnetes phntoelektrisches
Element auftrifft. Der Rotor weist auf seinem Umfang in Abständen verleihe Blendenlöcher oder
Blendenschlit/e auf, durch die der Lichtstrahl auf das
photoelektrische Element treffen kann. Der Rotor lauft mit konstan'T Umlaufgeschwindigkeit um. Eine dem
Meßelement vorgeschaltete Kondenserlinse fokusiert den Lichtstrahl auf das photoelektrische Element.
Wenn das Meßelement in seiner Lage quer zu der Bezugslmie abweicht, gelangt der Lichtstrahl auf einen anderen
Bereich der Linse, die den Lichtstrahl nicht mehr entlang der Achse der Linse auf das photoelektrische
Element fokusiert. sondern unter einem dazu verlaufenden Winkel. Der Lichtstrahl gelangt also durch eine
Blendenöffnung auf das photoelektiische Element in einer vom normalen Fall abweichenden Winkelstellung
der Blendenöffnung. Die auf diese Weise erzeugten Lichtimpulse werden also gegenüber der Drehbewegung
des Rotors in Abhängigkeit von den Abweichun gen phasenverschoben (vgl. brit. Patentschrift
13 23104).
Um die Vibrationscharakteristik einer Turbinenschaufel testen zu können, ist es bekannt, einen Laserstrahl
mit Hilfe eines transparenten Spiegels in zwei Strahlen aufzuspalten. Der durch den Spiegel durchgelassene
Strahlenanteil wird über eine Linse aufgefächeit. so daß der Strahl eine photographische Platte
gleichförmig ausleuchtet. Der an dem durchlässigtn Spiegel reflektierte Strahl wird ebenfalls durch ein ähnliches
System aufgefächert, wobei die Anordnung so getroffen wird, daß dieser zweite aufgefächerte Strahl
die eine Oberfläche einer Turbinenschaufel vo!'ständig ausleuchtet, die so angeordnet ist. daß das Streulicht
von der Turbinenschaufel ebenfalls auf die photographische
Platte fällt. Die Schaufel wird mit Hilfe einer Vibrationseinrichtung in vorbestimmte Schwingungen
verse'zt. Auf diese Weise erhält man ein Hologramm auf der photographischen Platte, welches Auskunft
über das Vibrationsverhalten der Turbinenschaufel gibt (vgl brit. Patentschrift 12 18 865).
Es ist weiterhin eine Einrichtung zum objektiven Prüfen der Neigung der Verbindungslinie zweier Punkte
bekannt, bei der eine Sendeeinrichtung für einen Lichtstrahl zugleich als photographische Empfangseinrichtung
für den Lichtstrahl ausgebildet ist. Dieser Sende- und Empfangseinheit sind mehrere räumlich von
einander getrennte Zentralspiegel zugeordnet, die mit der Einheit nacheinander anvisiert werden können, um
für verschiedene Punkte der zu vermessenden Konstruktion oder dgl. zu erhalten. Hiermit ist es jedoch
nicht möglich, von einer sich mit der Zeit ändernden Durchbiegung eines Konstruktionsteils Momentaufnahmen
zu machen (vgl. deutsche Patentschrift 4 94 957).
Demgegenüber ist es Aufgabe der Erfindung, eine Vorrichtung der eingang.', näher bezeichneten Art so
weiterzubilden, daß ausgehend von einer Lichtquelle und einem gebündelten Lichtstrahl an der gleichen zu
vermessenden Konstruktion an verschiedenen Stellen die auftretenden Auswanderungen, Durchbiegungen
kannt, bei der ein einziger, von einem fest aufgestellten Laser ausgehender gebündelter Laserstrahl verwendet
wird (vgl. DT-OS 19 13 399). Dieser Laserstrahl trifft bei seiner Ausrichtung auf die Bezugslinie auf zwei
Meßzelien, die an der Auswanderungsbewegung teilnehmen.
Die eine Meßzelle weist dabei eine gleichbleibende und die andere eine sich in Abhängigkeit von
der Auswanderung zwischen den Meßzellen und dem Laserstrahl sich ändernde Empfindlichkeit, auf. Beide fts
Meßzellen sind an eine Vergleichseinrichtung angeschlossen, welche die relative Auswanderung der Meßzeilen
gegenüber itm Laserstrahl feststellt. Bei dieser
oder dgl gleichzeitig dun.li *<
>rrclicrenilo Mcv.nigcifestgestellt
werden können.
[iiese Aufgabe wird erfindungsgemaU il.ulun.-h ge
löst, daß cine gegenüber der Lichtquelle tesie. don gebündelten
Lichtstrahl in wenigstens drei gleichzeitig
parallel zueinander oder unter Hinschliel.tu.ig vorbestimmten
Winkel austretende gebündelte Teilstrahlen
aufteilende Hinrichtung vorgesehen isl und die Signalausgange
der den Teilstrahlen zugeordneten Detektoren gemeinsam an einer Hinrichtung /ur Ermittlung der
Be/.ugslinie und der dieser gegenüber auftretenden Ah
we:hungen angeschlossen sind.
Damit wird die Möglichkeit eröffnet. Informationen übei Schwingungen sowie über Resonanzphänomene
in komplizierten Durchbiej-^mustern von Konstruktionen
und Konstruktionsteilen zn erhalten. Häufig vv.rd
es erst dadurch möglich, -lie Urs -u -■ für unerwünschte
Schwingungen testzubtdle... Ai. : kann man Informationen
über die Struktur der ·' ■.. -,truktionen erhalten.
hin weiterer wesentü:..lC, Vorteil besteht darin, daß
die Lichtquelle unabK-n.»ig gegenüber dem Konstruktionsteii
frei auf. >. s»*lli oder auch bewegt werden kann
und nicht in eine Si_.rre Beziehung zj dem zu kontrollierenden
oder zu vermessenden Konr.truktionsteil gebracht werden muß. Durch die korrelierende Messung
der gleichzeitig vorliegenden verschiedenen Meßwerte werden die Bewegungen der Lichtquelle gegenüber
dem Konstruktionsteil automatisch kompensiert.
Eine besonders zuverlässige und einfache Anordnung erhält man. wenn man als den gebündelten Strahl
aufteilende Einrichtung ein optisches System vorsieht, das aus einer Vielzahl von rechtwinkligen Prismen mit
halbdurchlässigen Oberflächen zusammengesetzt ist.
Zweckmäßigerweise ist jedem Detektor eine Nachstelleinrichtung zugeordnet, die in Abhängigkeit von
der relativen Auswanderung von Teilstrahl und Detektor den betreffenden Detektor selbsttätig derart nachstellt,
daß die Lage des Auftreff-Fleckes des Teilstrahls auf der photoempfindlichen Fläche des Detektors unverändert
beibehalten wird, und daß von der Nachstelleinrichtung ein der Nachstellbewegung entsprechendes
Signal abgeleitet wird. Bei dieser Weiterbildung kann eine größere Verschiebung des Detektors in bezug auf
das diesem zugeordnete Teilstrahlbündel zugelassen werden, als dies mit einer Linse bei feststehenden Detektoren
möglich ist. Auch wird es dadurch möglich, daß über die Zeitkonstante des den Nachstelleinrich-'ungen
zugeordneten Srrvorsystems verhindert werden
kann, daß kurze, durch Erschütterungen verursachte Schwankungen Einfluß auf das Meßergebnis erhalten
können.
Auch besteht die Möglichkeit, bei Anwendung entsprechender Detektoren Durchbiegungen in zwei Richtungen
in einer zur Ausbreitungsrichtung des Teilstrahlenbündels rechtwinklig verlaufenden Ebene zu messen.
Die Erfindung wird nachfolgend an Hand schematischer
Zeichnungen an nicincfcü Aü5iü!~rurigsbc;sp;c!cri
näher erläutert.
Es zeigen:
F i g. 1 eine Vorrichtung gemäß der Erfindung mit sechs Detektoren,
F i g. 2 ein Schaubild, welches die mit der Vorrichtung nach F i g. 1 möglichen Messungen und deren. Bewertung
veranschaulicht,
F i g. 3 die Ansicht einer den gebündelten Lichtstrahl in gebündelte Teilstrahlen aufteilende Einrichtung und
F i g. 4 ein abgewandeltes Ausfiihrungsbeispiel der
neuen Vorrichtung.
'1Ii-- .-ι 1 'g ' -ei anschjulichte Von κ i,:ir g .'':.'■
einen 'awl I. der euii-n Lichtstrahl e-zeiit" w ■. . ' <. '
in ' Mille einer geeigneten Optik 2 .' ·■■'■ in >!■ ^e:.
LiehiNtiahlenbiindel gesammelt win! Dieses ■ ■ fn
strahlenbündel vwrd in cnen Strahlenauiteikr i .t'c
■lChn'kl. welcher weiter hiiürn naher beschrieben «ei
den wird und von welchem sechs '!ciistrdhlenhundi i 4
ausgehen die alle dieselbe Lichtstarke haben D.i La
ic: 1 d.is optische Svsie'ii 2 und der StrahlenautleJe: I
sind relativ zueinander fixiert und biUten suuii: e.in
Linheii. von weicher d;e leilstrahlenbundei .im ',mci
Relation zwischen den Bahnen der einzelnen Str.ihk-n
ausgesendet wcden.
An e:nem Kons:rukiions;eil. dessen Durchbiegung
gemessen werden soll, und das in F 1 g. 1 durch einen
Träger S repräsentier1 wird, ist eine· Anzahl photoempfindiicher
Detektoren 6 angebracht, die so verteilt sind,
daß jeder Detektor von einem Teilstrahl aus der Strahlenquelle 1, 2. 3 getroffen wird. Vor jedem Detektor ist
eine Linse angeordnet, die dafür sorgt, daß die gesamte
Energie des betreffenden TeilstrjMes in den Deu-ktor
gelangt und auf dessen photoempfindliche Oberfläche
fällt.
Die benutzten Detek ;en sind von derjenigen Art.
die ein Signal mit einer char ktenstischen Größe abgeben,
welche davon abhängig ist. -"O das Lichtstrahlenbündel
auf die photoempfindliche Oberfläche trifft Folglich wird die charakteristische Größe des Ausgangssignais
geändert, wenn der Träger 5 ν ter Beanspruchung
seine Lage in einer rechtwinklig zum Strahlenbündel verlaufenden Richtung ändert '.ind dadurch
die Detektoren versetzt. Die Ausgänge der Detektoren sind durch Leitungen 8 mit einem Rechner 9 verbunden,
in welchem die charakteristischen Größen der Detektor-Ausgangssignale
zwecks Ableitung der zu jedem Zeitpunkt gewünschten Auskünfte über die Durchbiegung
des Trägers verarbeitet werden. Zu diesem Zweck kann der Rechner 9 Verstärker, Lineansierungsglieder,
Filter, Begrenzerschaltunger·,
spitzenwertregistrierende Glieder und ähnliehe Schaltungen
zur Verarbeitung der charakteristischen Größen der Ausgangssignale enthalten. Ferner kann der
Rechner einen Analog/Digital-Umsetzer und entsprechende
Ausrüstungen für die digitale Verarbeitung der Signale sowie Ausrüstung zur Darstellung der Meßergebnisse
umfassen, wie beispielsweise Schreiber, Oszillographen, analoge oder digitale Ausgabeeinheiten sowie
Registriergeräte für den Anscnluß an Datenverarbeitungsanlagen.
Im Rechner 9 erfolgt also eine Verarbeitung der Ausgangssignale der Detektoren 6, bei welcher in Übereinstimmung
mit den gewünschten Auskünften an Hand der Ausgangssignale eine Bezugslinie festgelegt und in
bezug auf diese Bezugslinie die Durchbiegung des Trägers angegeben wird, so wie es im folgenden unter Bezugnahme
auf F i g. 2 als Beispiel erläutert wird.
τ- : - ο .»„:„( a;„a Pelho Μ^βρτσρΚηίςςρ dip mit der
in F i g. 1 veranschaulichten Vorrichtung bei Belastung des Trägers 5 hätten erzielt werden können. Diese
Me3ergebnisse sind durch eine Kurve A miteinandpr
verbunden. Nachdem die Detektoren der Vorrichtung zu einem Zeitpunkt, zu welchem der Träger unbelastet
war und angenommen wird, daß er sich m viner neu
tralen Stellung befand, zuerst auf Null gesell! worden
waren, wurde der Träger einer Belastung ausgesetzt, deren Resultat in der Form einer Durchbiegung gemessen
werden soll. Wenn der Träger hierdurch an einer Stelle niedergedrückt wird, folgt der Detektor - dieser
Stelle mit, was darin resultiert, daß sich der Auftrefffleck
des Teilstrahlenbündels auf der photoernpfindlichen Oberfläche des Detektors nach oben verschiebt.
Diese Verschiebung, die in der charakteristischen Größe im Ausgangssignal des Detektors, z. B. in der Höhe
der Ausgangsspannung des Detektors, zum Ausdruck kommt, ist für jeden der sechs Detektoren in der Form
derjenigen Meßpunkte abgetragen, die durch die Kurve A miteinander verbunden sind.
Im Rechner 9 wird eine Verarbeitung dieser Ausgangssignale vorgenommen, und im vorliegenden Beispiel
sind die beiden Detektoren, die an den Enden des Trägers angebracht sind. ?ur Festlegung der Bezugslinie
benutzt. Der Rechner bildet die Differenz zwischen der geraden Linie zwischen den Endpunkten der Kurve
A und der eigentlichen Kurve A. so daß sich die Kurve B ergibt, weiche einen direkten Ausdruck für die
Durchbiegung des Trägers 5 aus seiner neutralen Lage in bezug auf die Endpunkte des 11 agers darstellt.
Es liegt auf der Hand, daß auch andere Punkte des Trägers zur Festlegung einer Bezugslinie benutzt werden
können.
Aus F i g. 2 ist ersichtlich, daß die Bezugslinie, die auf
Grundlage der der Kurve A entsprechenden Messungen gebildet ist. in bezug auf die waagerechte Achse,
welche die Bezugslinie im neutralen Zustand des Trägers, in welchem die Detektoren nullgestellt sind, gedreht
ist. Diese Änderung der Bezugslinie kann zwei Ursachen haben. Erstens kann sich durch die Belastung
oder aus anderen Gründen in der Zeit zwischen der Nullstellung der Detektoren und der Messung unter
Belastung die Lage des Trägers geändert haben. Zweitens kann die aus dem Laser 1, der Optik 2 und dem
strahlenaufteilenden System 3 bestehende Einheit ihre Lage in bezug auf den Träger geändert haben. Unangesehen
der Änderungen der Bezugslinie und der Ursachen hierfür gibt die Kurve B trotzdem die Durchbiegung
des Trägers in bezug auf die vorgeschriebene Bezugslinie an. und die erfindungsgemäße Vorrichtung
weist somit den großen Vorteil auf, daß diese Durchbiegung mit Hilfe einer lichtaussendenden Einheit gemessen
werden kann, die nicht starr mit den Detektoren verbunden zu sein braucht, sondern deren Lage in
bezug auf die Detektoren geändert werden kann, da der Rechner dann die erforderliche Korrektur des
Meßergebnisses vornimmt.
Als strahlenaufteilendes System 3 kann die in F i g. 3
wiedergegebene Zusammensetzung aus rechtwinkligen Prismen Anwendung finden, deren der Hypotenuse
entsprechende Seitenflächen die Hälfte des Lichtes hindurchlassen und die andere Hälfte reflektieren. Durch
HinzufügUi.g rechtwinkliger Prismen, deren der Hypotenuse
entsprechende Seitenflächen das gesamte auf sie auftreffende Licht reflektieren und die in F i g. 3 durch
Doppellinien dargestellt sind, ergibt sich ein Strahlengang,
wie der strichpunktiert angedeutete, bei weichen die beiden oberen und die vier unteren Teilstrahlen jeweils
ein Achtel der Energie des Eingangsstrahls enthalten, während der durch einen Doppelpfeil gekennzeichnete
Teilstrahl ein Viertel der Energie enthälL
In Fig.4 ist eine zweite Ausführungsform einer erfindungsgemäßen
Vorrichtung wiedergegeben, bei wel-'cher die aus dem Laser 1, der Optik 2 und einem strahlenaufteilenden
System 3' bestehende Lichtquelle ein-S stückig ist. In diesem Fall bildet das strahlenaufteilende
System eine Anzahl Tcilstrahlenbündel, die einen Winkel
miteinander bilden. Diese Teilstrahlenbündel sind, wie bei der Ausführungsform nach Fig. 1, auf Detektoren
6 gerichtet, die mit Linsen 7 versehen sind. Der
ίο Übersichtlichkeit halber sind nur zwei dieser Detektorsysteme
eingezeichnet.
Bei der in Fig.4 gezeigten Konstruktion wird zur
Bildung der Teibirahlen ein System 3' benutzt, welches
den Laserstrahl in zeitmultiplexer Form in die verschleiß
denen Teilstrahlenbündel aussendet, wobei jedes Teilstrahlenbündel aus Impulsen besteht. Das System 3
kann zu diesem Zweck eine Reihe verschiedener Prismen enthalten, die nacheinander in die Bahn des Laserstrahls
gebracht werden. Damit es an Hand der Msssungen von den Detektoren möglich gemacht wird, die
Durchbiegung in bezug auf eine Bezugslinie festzulegen,
muß der Rechner 9 Bausteine mit Speicherfunktion enthalten, so daß die von sämtlichen Detektoren
gelieferten Informationen im Rechner 9 gleichzeitig zur Verfugung stehen.
In der Vorrichtung nach F i g.4 sind Detektoren benutzt,
die jeweils auf einer verschieblichen Welle eines Servosystems 10 befestigt sind, welches vom Ausgangssignal
des Detektors 6 gesteuert wird und das Teil-..irahlenbündel
konstant in der Mitte des photoempfindlichen Bereiches des Detektors zu halten sucht. Als
Ausgangssignal, welches der Verschiebung des Detektors
proportional ist, v/ird dem Servosystem 10 ein Signal
entnommen. Diese Konstruktion des Detektors und dessen Steuerung hat den Vorteil, daß eine größere
Verschiebung des Detektors 6 in bezug auf das zugeordnete Teilstrahlenbündel zugelassen werden kann,
als es die Linse 7 bei feststehenden Detektoren zulassen würde, so daß man sich einer kleineren Einfallöffnung
im Linsensystem 7 bedienen kann. Da das Servosystem im übrigen eine gewisse /eilkonstanic hat. er
hält man hierdurch eine zweckmäßige Weise, um zu verhindern, daß schnelle, durch Erschütterungen verursachte
Schwankungen Einfluß auf das Meßergebnis er-
4s halten können.
Die Erfindung ist nicht auf die auf der Zeichnung dargestellten Ausführungsformen beschränkt, sondern
innerhalb des Rahmens der Erfindung sind verschiedene Kombinationen möglich. Beispielsweise wäre es
möglich, stati eines Lasers eine gewöhnliche Lichtquelle zu benutzen, doch ist der Laser voTuziehen. da dieser
monochromatisches Licht erzeugt, welches sich leicht filtrieren Jäßt Die benutzten photoempfindlichen
Detektoren könnten ferner so eingerichtet sein, daß sie
>5 zwei Ausgangssignale erzeugen, die rechtwinklig zueinander
verlaufende Koordinaten für den Auftreffpunkt des Teilstrahlenbündek repräsentieren, wodurch ermöglicht
würde, eine zweidimensionale Darstellung der
Durchbiegung des Konstruktionsteils zu erreichen.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (3)
1. Vorrichtung /um Messen der Ab- oder Durch
biegung von Konstruktionen und Konstruktionstei· s
len, bei der mit Hilfe eines von einer Lichtquelle ausgehenden gebündelten Lichtstrahls, insbesondere
eines Laserstrahls, und an der Konstruktion oder dgl. angebrachter fotoempfindlicher Detektoren
Bezugslinien festlegbar und jeweils bei relativer v>
Auswanderung des Detektors und des Lichtstrahls ein von der Auswanderung abhängiges Signal erzeugt
wird, dadurch gekennzeichnet, daß
eine gegenüber der Lichtquelle (1, 2) feste, den gebündelten Lichtstrahl in wenigstens drei gleichzeitig in
parallel zueinander oder unter Einschließung vorbestimmter Winkel austretende gebündelte TeiLtrahlen
aufieilende Einrichtung (3) vorgesehen ist und die Signalausgänge der den Teilstrahlen (4) zugeordneten
Detektoren (6) gemeinsam an einer Einrichtung (9) zur Ermittlung der Bezugslinie und der
diese·· gegenüber auftretenden Abweichungen angeschlossen
sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß als den gebündelten Strahl aufteilende Einrichtung (3) ein optisches System vorgesehen ist,
das aus einer Vielzahl von rechtwinkligen Prismen mit halb durchlässigen Oberflächen zusammengesetzt
ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2. dadurch gekennzeichnet, daß jeaem Detektor (6) eine Nachstel'einrichtung
(10) zugeordnet ist, welche in Abhängigkeit von der relativen Auswanderung von Teilstrahl und Detektor den betreffenden Detektor
selbsttätig derart nachstellt, daß die Lage des Auf- 3s
trefffleckes des Teüsti ahies auf der fotoempfindlichen
Fläche des Detektois unverändert beibehalten wird und daß von der Nachstelleinrichtung ein der
Nachstellbewegung entsprechendes Signal abgeleitet wird.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19742422706 DE2422706C3 (de) | 1974-05-10 | Vorrichtung zum Messen der Ab- oder Durchbiegung von Konstruktionen und Konstruktionsteilen |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19742422706 DE2422706C3 (de) | 1974-05-10 | Vorrichtung zum Messen der Ab- oder Durchbiegung von Konstruktionen und Konstruktionsteilen |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2422706A1 DE2422706A1 (de) | 1975-11-13 |
| DE2422706B2 DE2422706B2 (de) | 1976-07-15 |
| DE2422706C3 true DE2422706C3 (de) | 1977-03-03 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE2657938C2 (de) | ||
| DE3700906A1 (de) | Verschluessler | |
| DE2440321C3 (de) | Vorrichtung zur automatischen Messung von Tunnel-Profilen | |
| DE2637361A1 (de) | Vorrichtung zum messen der bewegung eines ersten teiles relativ zu einem zweiten teil | |
| DE19539004A1 (de) | Polarisationsabhängigkeit eliminierende Spektrummeßvorrichtung | |
| DE4018005C2 (de) | Optische Prüfvorrichtung zum Prüfen eines optischen Systems | |
| EP0491749B1 (de) | Vorrichtung zur absoluten zweidimensionalen positionsmessung | |
| DE2758149B1 (de) | Interferometrisches Verfahren mit lambda /4-Aufloesung zur Abstands-,Dicken- und/oder Ebenheitsmessung | |
| EP0245198A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Erzeugung eines telezentrischen Lichtstrahls und Verfahren zur Herstellung eines holographischen Elements | |
| DE3200508C2 (de) | ||
| DE2526454B2 (de) | Spektrometer und Verfahren zur Untersuchung der spektralen Lichtzusammensetzung | |
| EP0218151B1 (de) | Messverfahren und Vorrichtung zur berührungslosen Durchmesserbestimmung dünner Drähte | |
| DE2658399A1 (de) | Interferometrisches verfahren | |
| CH616508A5 (de) | ||
| DE2422706C3 (de) | Vorrichtung zum Messen der Ab- oder Durchbiegung von Konstruktionen und Konstruktionsteilen | |
| EP0346601B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Strömungsgeschwindigkeit, insbesondere in einem Windkanal | |
| DE2637844A1 (de) | Verfahren und anordnung zur getrennten auswertung von bildinhalten nach zwei koordinatenrichtungen der bewegung | |
| CH684026A5 (de) | Verfahren zur Messung von relativen Winkeln. | |
| EP0626564B1 (de) | Lichtelektrische Längen- oder Winkelmesseinrichtung | |
| DE2422706B2 (de) | Vorrichtung zum messen der ab- oder durchbiegung von konstruktionen und konstruktionsteilen | |
| DE3789363T2 (de) | Gerät zur optischen Analyse eines Gegenstandes unter Verwendung der Vierwellen-Mischungstechnik. | |
| EP0576885B1 (de) | Mehrarmiges Interferometer | |
| DE3300208C2 (de) | Vorrichtung zum Zentrieren für die Herstellung eines Mittelloches in Platten | |
| DE1926979A1 (de) | Verfahren zur Pruefung von Anschliffflaechen eines Werkstueckes,insbesondere einer Rasierklinge | |
| DE3730093C2 (de) |