DE2646245A1 - Speicherschaltung - Google Patents
SpeicherschaltungInfo
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Description
2646245 Dipl.-Phys. O.E. Weber d-s München 71
Patentanwalt ^ Hofbrunnstraße 47
Telefon: (089)7915050
Telegramm: monopolweber münchen
M 425
MOTOROLA., ING.
1303 East Algonquin Road Schaumburg, 111. 60196, USA
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Speicherschaltung
Die Erfindung betrifft allgemein eine Speicherschaltung und bezieht sich insbesondere auf eine Blind-Zellenschaltung
oder Attrappen-Zellenschaltung für einen Random-Speicher mit einem Transistor pro Bit.
Ein Random-Speicher läßt sich auch als Direktspeicher bezeichnen und ist ein solcher Speicher, bei dem die statistische
Erwartung für die Zugriffszeit eines bestimmten Zugriffs unabhängig vom jeweils vorhergehenden Zugriff ist.
Es sind bereits Einzeltransistor-Speicherzellen verwendet worden, um einen Random-Speicher zu bauen. Solche Einzeltransistor-Speicherzellen
haben gewöhnlich einen Feldeffekt-Transistor mit isoliertem Tor, der nachfolgend auch kurz als
IGFET bezeichnet wird. Üblicherweise ist das Tor eines sol-
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• clien IGPET mit einem Auswahlleiter verbunden, während seine
Senke mit einem Schreibabfrageleiter verbunden ist und seine Quelle mit einem Speicherknoten verbunden ist. Solche
Speicherzellen weisen einen Speicherkondensator auf, der zwischen dem Speicherknoten und einem gemeinsamen Spannungsversorgungsleiter
angeordnet ist. Um eine große Anzahl von Speicherzellen auf einer kleinen !Fläche eines Halbleiter-Chips
unterzubringen, ist es erwünscht, daß der Speicherkondensator sehr klein ist. Ein Halbleiter-Chip ist auch
als Halbleiter-Plättchen anzusehen. Eine Mehrzahl solcher Speicherzellen werden zweckmäßigerweise an einen einzelnen
Schreibabfrageleiter angeschlossen und bilden auf diese Weise eine Zeile in einer aus mehreren Zeilen gebildeten
Anordnung, die insgesamt einen rechteckigen Bereich von Speicherzellen darstellt. Polglich ist die dem Schreibabfrageleiter
zugeordnete Kapazität sehr groß im Verhältnis zu der Kapazität des Speicherkondensators jeder Speicherzelle.
Die Abfrage erfolgt durch Auswahl der Speicherzelle, indem ihr IGFET eingeschaltet wird und die auf dem
Speicherkondensator der ausgewählten Speicherzelle gespeicherte Ladung wieder mit der Ladung der Kapazität des
Schreibabfrageleiters verteilt wird, was zu einem verhältnismäßig geringen Spannungsübergang (des Schreibabfrageleiters)
führt, der für den gespeicherten Status der ausgewählten Speicherzelle repräsentativ ist. Aufgrund der
geringen Größe des Spannungsübergangs der Schreibabfrageleiter in Reaktion auf das Abfragen eines gespeicherten
Status in einer Einzeltransistor-Speicherzelle sind beachtliche Schwierigkeiten aufgetreten, wenn IGPET-Abfrageverstärker
zu entwerfen sind, welche ausreichend empfindlich sind und welche mit hinreichender Geschwindigkeit
arbeiten, um einen Speicherstatus zuverlässig zu ermitteln,
den zerstörten logischen Zustand wieder in die ausgewählte Speicherzelle einzuschreiben und ein Verstärkerausgangssignal
zu erzeugen, während dennoch keine unverhältnismäßig große Chip-Pläche benötigt wird. Es sind Blind-
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zellen oder Attrappenzellen verwendet worden, um ein
Bezugsspannungs-Eingangssignal für einen Abfrageverstärker zu liefern, dessen weiterer Eingang ein Schreibabfrageleiter
ist, der an die ausgewählte Speicherzelle angeschlossen ist. Es hat sich jedoch als außerordentlich
schwierig erwiesen, die richtige Spannung auf dem Speicherkondensator der Blind-Speicherzelle aufzubauen,
um die gewünschte Bezugsspannung zu erreichen. Die Blindzellen selbst benötigen einen beachtlichen Raum auf der
Chip-Fläche, und die zum Aufbau einer anfänglichen Spannung auf dem Blindspeicher-Zellenkondensator benötigte
Schaltung hat einen großen Teil der Chip-Fläche eingenommen .
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Blind-Zellenschaltung
für einen IGFET-HaIbleiterspeicher zu schaffen, welche
einen Transistor pro Bit bei den Speicherzellen verwendet und bei welcher die Speicherkapazität der Blind-Speicherzellen
etwa die Hälfte der Speicherkapazität der eigentlichen Speicherzellen darstellt.
Zur Lösung dieser Aufgabe dienen insbesondere die im Patentbegehren
niedergelegten Merkmale.
Bach dem Grundgedanken des Erfinders wird somit eine
Speicherschaltung geschaffen, bei welcher ein Schreibabfrageleiter an eine ausgewählte Speicherzelle angeschlossen
ist, wobei dieser Schreibabfrageleiter einen Eingang für einen regenerativen Abfrageverstärker darstellt, während ein
weiterer Schreibabfrageleiter, der mit einer Blind-Speicherzelle verbunden ist, einen weiteren Eingang für den regenerativen
Abfrageverstärker darstellt, wobei weiterhin ein Abfrage-Bezugspotential des zweiten Schreibabfrageleiters
aufgebaut wird, und zwar durch einen Wert einer Speicher-
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kapazität für die Blind-Speicherζeile. In einer "bevorzugten
Ausführungsform "beträgt die Speicherkapazität einer
Blind-Speicherzelle etwa die Hälfte des Wertes der Speicherkapazität
der eigentlichen Speicherzelle. Die anfängliche Spannung des Blindspeicher-Kondensators entspricht einer
der Energieversorgungsspannungen, und sie wird mit Hilfe
eines IGPET geliefert, der zwischen der Energieversorgungsspannung und dem Blind-Speicherknoten angeordnet ist.
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Die Erfindung wird nachfolgend beispielsweise anhand der
Zeichnung beschrieben; in dieser zeigen:
Fig. 1 ein Schaltschema einer bevorzugten Ausführungsform
des Erfindungsgegenstandes und
IFig. 2 eine teilweise als Blockdiagramm und teilweise als
Schaltbild gezeichnete Darstellung eines Halbleiter-Speicherchips, in welchem die erfindungsgemäße Schaltung
nach Fig. 1 angewandt ist.
Die Fig. 2 veranschaulicht eine Schaltung auf einem Halbleiter-Chip
10, welche eine bevorzugte Ausführungsform des in der Fig. 1 dargestellten Erfindungsgegenstandes ist.Aus
der Fig. 2 ist ersichtlich, daß der Halbleiter-Speicherchip 10 einen linken Bereich 12 aus Einzeltransistor-Speicherzellen
aufweist, der die Speicherzellen 19 und 24 enthält, welche mit dem Schreibabfrageleiter 28 verbunden sind, sowie
die Speicherzellen 22 und 26, welche mit dem Schreibabfrageleiter 30 verbunden sind. Der Speicherchip 10 weist
weiterhin einen rechten Bereich 14 auf, der eine Mehrzahl von identischen Speicherzellen wie 49 enthält, die mit dem
Schreibabfrageleiter 50 verbunden sind sowie eine Mehrzahl
von weiteren Einzeltransistor-Speicherzellen, die mit dem Schreibabfrageleiter 53 verbunden sind. Die gestrichelten
Verlängerungen zeigen eine Erweiterung der Zeilen und Spalten der Speicherzellen an.
Die Konstruktion einer Einzeltransistor-Speicherzelle wird anhand der Speicherzelle 19 beschrieben, welche den Feldeffekt-Transistor
20 mit isoliertem Tor und den Speicherkondensator 32 aufweist.
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In der vorliegenden Beschreibung werden die Bezeichnungen
"Tor", "Senke" und "Quelle" gleichbedeutend mit den aus dem angelsächsischen Sprachgebrauch übernommenen und in
der Bundesrepublik auch weitgehend geläufigen Ausdrucken "Gate" (g-Pol), "drain" (d-Pol) und "source" (s-Pol) verwendet.
Der Feldeffekttransistor mit isoliertem Tor wird nachfolgend auch kurz als IGi1ET bezeichnet.
Die Senke des IGI1ET 20 ist mit dem Schreibabfrageleiter
28 verbunden, und seine Quelle ist mit einem Speicherknoten 19' verbunden, während sein Tor mit dem Spaltenauswahlleiter
65 verbunden ist. Der Speicherkondensator 32 hat eine Elektrode mit der Quelle des IGFET 20 verbunden,
und seine andere Elektrode ist mit dem Spannungsleiter 34- verbunden.
Es ist ersichtlich, daß alle Speicherzellen in den Bereichen 12 und 14 in Zeilen und Spalten angeordnet sind und
daß in jedem Bereich alle Speicherzellen in einer vorgegebenen Zeile ihre Senken des jeweiligen IGFET mit demselben
Schreibabfrageleiter verbunden haben. Es ist weiterhin ersichtlich, daß das Tor jedes IGFET in einer vorgegebenen
Spalte mit demselben Spaltenauswahlleiter verbunden ist, beispielsweise mit dem Spaltenauswahlleiter
65, 66, 68 oder 69.
Der Halbleiter-Speicherchip 10 weist auch zwei Spalten von Blind-Speicherzellen oder Attrappen-Speicherzellen
auf. Die Spalte 16 weist die Blind-Speicherzellen 36 und 36' auf, während die Spalte 18 die Blind-Speicherzellen
48 und 48" enthält. Gemäß den gestrichelten Linien ist jeweils eine Blind-Speicherzelle für jede Zeile von
Speicherzellen in jedem der Bereiche 12 und 14 vorhanden.
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— 7 ~
HO
Jede der Blind-Speiclierzelleii einschließlich der Blind-Speicherzelle
36 ist schematisch den Speicherzellen in den Bereichen 12 und 14 ähnlich. Beispielsweise enthält
die Blind-Speicherzelle 36 den IGPET 38, dessen Senke
mit dem Schreibabtastleiter 28 verbunden ist, dessen Tor mit dem Blind-Speicherzellen-Auswahlleiter 60 verbunden
ist und dessen Quelle mit dem Speicherknoten 40' verbunden ist, wobei eine weitere Verbindung von dort zu einer
Elektrode des Speicherkondensators 4-0 geführt ist, dessen andere Elektrode mit dem gemeinsamen Spannungsleiter 34
verbunden ist.
Wie nachfolgend im einzelnen näher erläutert wird, ist der Wert der Kapazität des Speicherkondensators der Blind-Speicherzellen
wesentlich geringer als die Speicherkapazität der Haupt-Speicherzellen, und die Schaltung dient dazu,
anfänglich die Blind-Speicherkapazität auf das Potential des Leiters 34 vorab aufzuladen, bevor ein Abfragevorgang
erfolgt. Die Blind-Speicherzelle in jeder Zeile jedes Bereichs ist mit dem entsprechenden Schreibabfrageleiter
verbunden, beispielsweise mit 28, 30, 50 oder 53, welcher der entsprechenden Zeile des jeweiligen Bereichs
zugeordnet ist.
Jeder der Spaltenauswahlleiter wie 65 und 66 im Bereich
12 wird durch eine Spalten-Dekodierschaltung 64 getrieben. Die Anordnung der Schaltung in der Spalten-Dekodierstufe
64 läßt sich leicht mit herkömmlichen Mitteln ausführen, und es werden zweckmäßigerweise Dekodiergatter
und Adressierinverter verwendet, wie sie in der US-Patentschrift 3 760 380 (Hoffman et al) der Anmelderin beschrieben
sind.
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- gr -
Die Eingänge zu den Adresseninvertern sind die Adresseneingänge 91» 95 zu dem MOS-Speicher chip 10. In ähnlicher
Weise sind die Spaltenauswahlleiter wie 68 und 69 im rechten Bereich 14 mit der Spalten-Dekodierschaltung 67 verbunden,
welche ähnlich aufgebaut ist wie die Schaltung der Spalten-Dekodierschaltung 64, mit der Ausnahme, daß
verschiedene Adresseneingänge damit verbunden sind.
Ein Abfrageverstärker wie 45 ist zwischen den Schreibabfrageleitern
jedes Bereiches für jede Zeile im Speicher vorgesehen. Beispielsweise ist der Abfrageverstärker 45
zwischen dem Schreibabfrageleiter 28 und dem Schreibabfrageleiter 50 angeordnet. In ähnlicher Weise ist der Abfrageverstärker
52 zwischen den Schreibabfrageleitern 30
und 53 angeordnet.
Jeder Zeile von Speicherzellen und dem entsprechenden Abfrageverstärker
ist eine Eingabe-Ausgabe-Steuerschaltung wie 44' oder 55' zugeordnet. Die Eingabe-Ausgabe-Steuerschaltung
44' weist einen IGi1ET 44 auf, dessen Tor-Elektrode
mit dem Leiter 43' verbunden ist und dessen Senke mit dem Leiter 73 verbunden ist, der seinerseits mit dem
Schreibabfrageleiter 50 verbunden ist. Der IGI1ET 44 hat
seine Quelle mit dem Datenleiter 51 verbunden. Die Eingabe-Ausgabe-Steuerschaltung
441 weist auch einen IGi1ET
4J auf, dessen Tor mit dem Leiter 43' verbunden ist, dessen
Senke mit dem Leiter 42 verbunden ist, der seinerseits mit dem Schreibabfrageleiter 28 verbunden ist, und dessen
Quelle mit dem Datenleiter 51 verbunden ist. Die anderen Eingabe-Ausgabe-Steuerschaltungen, von denen jeweils eine
mit jeder Zeile der Speicherzellen verbunden ist, sind sehr ähnlich aufgebaut. Die Quellen-Elektroden jedes IGi1ET wie
43, 44, 55 und 56 sind mit dem gemeinsamen Datenleiter 51
verbunden. Die Tor-Elektroden dieser IGi1ET sind jeweils mit
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einer Zeilen-Dekodiereinrichtung 46, 47 verbunden, die in einer bevorzugten Ausfuhrungsform derart aufgeteilt ist,
daß die eine Hälfte der Zeilen-Dekodierschaltung auf der rechten Seite der Abfrageverstärker 45 und die andere
Hälfte auf der linken Seite davon angeordnet sind. Die Schaltung in den Zeilen-Dekodierstufen 46 und 47 ist auch
für den Fachmann leicht zu entwerfen und kann ähnlich, aufgebaut sein wie die Spalten-Dekodierschaltung 64 bzw. 67.
Die Steuerschaltung 57 ist mit den Zeilen-Dekodierstufen 46 und 47, mit jeweils der Blind-Speicherzellen-Dekodierstufe
61 bzw. 62 und mit den Spalten-Dekodierstufen 64 und 67 verbunden. Die Dateneingabeklemme 58 und. die Datenausgabeklemme
59 sind ebenfalls mit der Steuerschaltung ^7 verbunden,
wie es auch bei dem Datenleiter 5I der Fall ist. Die Steuerschaltung
^7 dient dazu, in allgemeiner Form eine Zeittaktsteuerung
oder dergleichen und jeweils Eingabe-Ausgabe-Stufen zu repräsentieren, wie sie vom Fachmann leicht vorgesehen
werden können. Hierzu wird auf die obige Patentschrift "Hoffman et al" hingewiesen.
Die Spalten-Adresseneingänge 9^ sind mit der Spalten-Dekodierstufe
64 verbunden, und die Spalten-Adresseneingänge 94 sind
mit der Spalten-Dekodierstufe 67 verbunden. Insgesamt sind M Spaltenadresseneingange vorhanden, wobei 2 die Anzahl der
Spalten im Speicherchip 10 ist. Die Zeilenadresseneingänge 95 sind mit der Zeilen-Dekodierstufe 46, 47 verbunden. Es
gibt N Zeilen-Adresseneingänge, wobei 2^ Zeilen im Speicherchip
10 vorhanden sind.
Es sei darauf hingewiesen, daß der Aufbau und die Arbeitsweise eines IGFET dem Fachmann grundsätzlich bekannt sind.
Im Hinblick auf eine detailliertere Beschreibung eines IGFET, der auch als MOSFET zu bezeichnen ist, sei auf die Veröffent-
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lichung "Physics and Technology of Semiconductor Devices"
von A.S. Grove, John Wiley and Sons, Inc., 1967, hingewiesen.
Es ist zu bemerken, daß die Ausdrücke "Quelle" und "Senke" im Hinblick auf entsprechende Anschlüsse eines
IGFET austauschbar sind, da diese Elektroden eines MOSi1ET
entweder als Quelle oder als Senke arbeiten, was von der jeweiligen Vorspannung abhängt, da ein IGFET als bilaterale
Einrichtung anzusehen ist, soweit es um Schaltvorgänge geht.
Eine bestimmte Kombination einer Zeile mit einer Spalte bzw. eine entsprechende Kombination der Adresseneingange führt zu
der Auswahl einer und nur einer bestimmten Speicherzelle, die in jedem der beiden Bereiche 12 und 14 liegen kann. Mit anderen
Worten, es wird eine Spalte und es wird eine Zeile ausgewählt, und dies führt zu der Auswahl einer Speicherzelle im
entsprechenden Schnittpunkt.
Zur Erläuterung sei angenommen, daß eine logische "1" im Speicherknoten 19' der Speicherzelle 19 gespeichert ist.
Die Speicherzelle 19 wird ausgewählt, indem eine logische "1" an einen Spaltenauswahlleiter 65 mit Hilfe der Spalten-Dekodierschaltung
64 angelegt wird. Dies führt zur Auswahl der gewünschten Spalte. Vor der Spaltenauswahl wurden jedoch
die Schreibabfrageleiter 28 und 50 in ihrem Potential
ausgeglichen. Dies geschieht mit Hilfe der Vorladungsschaltung,
welche entweder dem Abfrageverstärker 45 zugeordnet sein kann oder als getrennte Baueinheit ausgebildet sein
kann. Eine solche Vorladungsschaltung ist an sich bekannt
und bedarf keiner näheren Erläuterung. Wenn der IGFET 20 der Speicherzelle 19 eingeschaltet wird, wird die auf dem
Speicherkondensator 32 gespeicherte Ladung bei dem Kapazitäts-Schreibabfrageleiter
28 neu verteilt. Es wird auch ein bestimmter Ladungsanteil in die Spaltenauswahlleiter 65 und
den Schreibabfrageleiter 28 durch den parasitären Kondensa-
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tor 96 übertragen, der zwischen dem Tor und der Senke des
IGFET 20 dargestellt ist.
Die Arbeitsweise der Speicherschaltung ist derart, daß jeweils
dann, wenn irgendeine Spalte im Bereich 12 ausgewählt wurde, die Blind-Speicherzellen-Dekodierschaltung 62 den
Blind-Speicherzellen-Auswahlleiter 63 dazu bringt, alle
daran angeschlossenen Blind-Speicherzeilen einzuschalten,
so daß der parasitäre Kondensator 98, welcher der Blind-Speicherzelle
48 zugeordnet ist, eine gleiche Ladungsmenge (auf dem parasitären Kondensator 96) auf den Schreibabfrageleiter
50 überträgt. Wenn daher die gesamte Ladung, welche zunächst auf dem Speicherkondensator 32 und dem parasitären
Kondensator des Schreibabfrageleiters 28 gespeichert war, auf dem Speicherkondensator 32 neu verteilt ist, entspricht
der Spannungsunterschied zwischen den Schreibabfrageleitern 28 und 50 nur derjenigen Ladungsmenge, welche für den gespeicherten
logischen Zustand repräsentativ ist, der ursprünglich auf dem Speicherkondensator 32 der ausgewählten
Speicherzelle 19 gespeichert war.
Der Abfrageverstärker 4-5 ist derart ausgebildet, daß er ausreichend
empfindlich ist, um diese Spannungsdifferenz als Anzeichen einer anfänglich gespeicherten logischen "1" oder
einer anfänglich gespeicherten "0" in der Speicherzelle zu erkennen. Vorzugsweise kann der Spannungsunterschied für
eine gespeicherte logische "1" etwa 200 Millivolt für den gegenwärtigen Stand der Technik tragen, obwohl anfänglich
eine Spannung in der Größenordnung von 15 oder mehr Volt als Unterschied gegenüber der Ausgleichsspannung der
Schreibabfrageleiter, die ursprünglich an den Speicherkondensator angelegt war, beispielsweise an den Kondensator
32, wesentlich kleiner ist als die parasitäre Kapazität, welche den Schreibabfrageleitern zugeordnet ist.
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Um die Größe des Spannungsübergangs eines Schreibabfrageleiters zu vergrößern, der einem gespeicherten logischen
Zustand der ausgewählten Speicherzelle entspricht, ist es sehr erwünscht, daß die Schaltung, welche mit den Schreibabfrageleitern
verbunden ist, bei der Durchführung von Lese und Schreibvorgängen eine möglichst geringe Kapazität hinzu
fügt.
Gemäß den obigen Ausführungen erfolgt die Spaltenauswahl mit Hilfe einer an den Leiter 43' durch die Zeilen-Dekodierschaltung
46 angelegten Spannung, so daß dadurch der MOSFET 44 eingeschaltet wird. Während eines Schreibvorganges
werden Eingangsdaten, welche der Dateneingabeklemme 58 zugeführt werden, durch die Schaltung im Abschnitt 57 ^em
Datenleiter 51 zugeführt und dann dem Speicherknoten der
Blind-Speicherzelle der ausgewählten Reihe zugeführt und
gelangen von dort mit Hilfe einer MOSFET-Blind-Speicherzelle
zu dem Schreibabfrageleiter 50» von wo sie dem Abfrageverstärker
45 zugeführt werden, wobei der bisherige Speieherzustand geändert wird, und von dort werden die
Daten dem entgegengesetzten Schreibabfrageleiter zugeführt
und gelangen über den MOSFET 20 zu dem Speicherknoten 32 der ausgewählten Speicherzelle 19.
Aus der Fig. 1 ist ersichtlich, daß der Abfrageverstärker 45 in beiden Fig. 1 und 2 die IGFET 156, 158, 169, 159 und
157 enthält. Der IGFET 156 ist zwischen dem mit Y-pj) bezeichneten
Leiter 34 und dem Schreibabfrageleiter 28 angeordnet
und hat sein Tor mit dem Leiter 155 verbunden, an welches ein Signal 0 angelegt wird. 0 ist ein Steuersignal, welches
intern auf dem Halbleiter-Chip 10 während eines Lesezyklus erzeugt werden kann, um die IGFET 156 und 158 abzuschalten,
wenn die Schreibabfrageleiter 28 und 50 vorab geladen werden
oder im Potential durch den IGFET 157 ausgeglichen wer-
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den. Der IGFET 158 ist zwischen V^ und dem Schreibabfrageleiter
50 angeordnet und hat sein Tor mit 0 verbunden. Der
IGi1ET 169 ist zwischen dem Schreibabfrageleiter 28 und "0 ,
dem Leiter 161 angeordnet und hat sein Tor mit dem Schreibabfrageleiter 50 verbunden. Der IGi1ET 159 ist zwischen dem
Schreibabfrageleiter 50 und j2L, dem Leiter 161 angeordnet
und hat sein Tor mit dem Schreibabfrageleiter 28 verbunden. Der Ausgleichs-IGFET 157 ist zwischen den Schreibabfrageleitern
28 und 50 angeordnet und hat sein Tor mit dem mit 0Λ bezeichneten Leiter 154- verbunden. Die Gesamtkapazität,
welche dem Schreibabfrageleiter 50 zugeordnet ist, wird von dem Kondensator 13 aufgenommen. In einer bevorzugten Ausführungsform
beträgt die Kapazität des Kondensators 13 etwa 100 , wobei C die Kapazität des Speicherkondensators von
jeder der Speicherzellen in dem Halbleiter-Chip 10 ist.
Gemäß Pig. 1 weist die Speicherzelle 49 einen IGi1ET 150 auf,
welcher zwischen dem Schreibabfrageleiter 50 und dem Speicherkondensator
151 angeordnet ist, der die Kapazität C aufweist.
Der Wortzeilenleiter 68 ist mit dem Tor des IGi1ET I50 verbunden.
Der Kondensator 11, dessen Kapazität etwa 100 beträgt, ist
an den Schreibabfrageleiter 28 angeschlossen. Die Blind-Speicherzelle
141 ist an den Schreibabfrageleiter 28 angeschlossen, und sie weist den IGi1ET 38 sowie den Speicherkondensator
40 auf. Der Speicherkondensator 40 hat jedoch eine Kapazität, welche etwa gleich 1/20 beträgt. Der IGi1ET
153 ist zwischen dem Speicherknoten 160 der Blind-Speicherzelle
141 und dem Erdleiter 35 angeordnet und hat ihr Tor mit dem mit 01 bezeichneten Leiter 154 verbunden. (Die
Speicherzelle gemäß Pig. 2, welche mit dem Schreibabfrageleiter
28 verbunden ist, ist in der Pig. 1 zur Vereinfachung nicht dargestellt, und in ähnlicher Weise sind die Blind-
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Speicherzelle 18 gemäß Pig. 2 und. die zusätzlichen Speicherzellen,
welche an den Schreibabfrageleiter 50 angeschlossen sind, ebenfalls zur Vereinfachung in der Fig. 1 nicht dargestellt.)
Während eines Impulses 01 wird der Blindzellen-Speicherkondensator
40 auf Erdpotential entladen, und die Schreibabfrageleiter 28 und 50 werden etwa auf V-n-n-Vn™· Volt vorgeladen,
wobei VrpjT die Schwellenspannung der IGi1ET 156 und
158 ist. Das Potential der Schreibabfrageleiter 28 und 50
wird durch den IGi1ET 157 exakt ausgeglichen, der während
des Impulses 01 eingeschaltet wird.
Zur Erläuterung der Arbeitsweise der Schaltung gemäß ]?ig.1 sei zunächst angenommen, daß eine logische Spannung "1" von
etwa V-Jy0-Vrp-rj Volt im Speicherkondensator 151 gespeichert ist.
Während des Vorganges wird das Signal 01 auf eine niedrige Spannung gebracht. (Es sei angenommen, daß alle MOSFET vom
ΓΓ-Kanal-Typ sind, jedoch wird diese Annahme lediglich zum
Zwecke der vereinfachten Erläuterung getroffen.) Weiterhin wird angenommen, daß die Wortzeilen- und Blindzeilen-Spannungen
auf den Leitern 68 und 60 jeweils dann auf eine verhältnismäßig hohe Spannung gebracht sind, welche etwa VQq-VrpTT-Volt
betragen kann, so daß dadurch sowohl die Speicherzelle 49 als auch die Blindzelle 141 ausgewählt werden, welche
den IGi1ET 38 und den Kondensator 40 aufweisen. Unter Vernachlässigung der Senken-Tor-Kapazitätskopplung zwischen
den IGEET 38 und 150 von dem Schreibabfrageleiter
28 bzw. 50 ist ersichtlich, daß der Schreibabfrageleiter
50 auf im wesentlichen demselben Potential bleibt, auf den er vorab aufgeladen wurde, d.h. auf Vj)jfVma Volt. Der Schreibabfrageleiter
28 wird jedoch geringfügig entladen, da die anfängliche Spannung auf dem Blindspeicherknoten 160 etwa 0
Volt beträgt, und zwar durch die Wirkung des IGFET 153 während des obengenannten Impulses 01. Der Schreibabfrageleiter
28 wird daher einem verhältnismäßig geringen Spannungsüber-
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gang in Richtung auf O Volt unterzogen, weil die Ladungsneuverteilung
zwischen dem Kondensator 11 und dem Blind-Speicherkondensator
40 erfolgt. Der Potentialunterschied zwischen den Schreibabfrageleitern 28 und 50 erscheint dann am Abfrageverstärker
45 und ist für die in der Speicherzelle 49 gespeicherte
logische "1" repräsentativ.
Die Arbeitsweise isiTahnlich, wenn eine logische "0" (d.h. 0 Volt)
auf dem Speicherkondensator 15I gespeichert wird, mit der Ausnahme,
daß der Schreibabfrageleiter 50 ebenfalls entladen wird.
Da die Kapazität des Kondensators 15I etwa der doppelten Kapazität
des Blind-Speicherkondensators 40 entspricht, ist das
Potential des Schreibabfrageleiters 50 nach der Abfrage etwas
geringer als dasjenige des Schreibabfrageleiters 28. Deshalb schaltet der regenerative Abfrageverstärker 45 auf den entgegengesetzten
Zustand gegenüber dem Zustand um, auf welchen er während der Abfrage einer logischen "1" geschaltet war, wie
es oben beschrieben wurde.
Somit ist ersichtlich, daß die Wirkung der Blindspeicherzelle 141 und ihres zugehörigen IGE1ET 153 darin besteht, ein Bezugspotential auf dem Schreibabfrageleiter 28 aufzubauen, welches
etwa in der Mitte zwischen den Spannungen liegt, die auf dem Schreibabfrageleiter 50 während des Abfragens einer gespeicherten
"1" bzw. einer gespeicherten "0" jeweils vorhanden sind.
Es ist weiterhin deutlich geworden, daß dies auf sehr einfache Art ermöglicht wird, ohne daß es notwendig ist, eine Zwischenspannung
zu erzeugen, die in dem Blind-Speicherknoten 160 zu
speichern wäre.
Für den Fachmann ist ersichtlich, daß die exakte Beziehung zwischen
der Kapazität des Blind-Speicherkondensators 40 und der Kapazität des Speicherzellenkondensators I5I berechnet werden
kann, indem einfache Kapazitäts-Spannungsteiler-fformeln ver-
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wendet werden, um den genauen Vert der Bezugs spannung zu
"bestimmen, welche auf dem Schreibabfrageleiter 28 erzeugt
wird. Vorzugsweise liegt die Kapazität des Blind-Speicherkondensators
40 im Bereich, von etwa 0,35 0_ "bis 0,6 C ,
was von den Schaltcharakteristiken des Abfrageverstärkers 45 abhängt.
- Patentansprüche -
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Claims (5)
- PatentansprücheSpeicherschaltung mit einem Abfrageverstärker, der einen ersten Eingang hat, welcher mit einem ersten Leiter verbunden ist, und der einen zweiten Eingang hat, der mit einem zweiten Leiter verbunden ist,um eine Spannungsdifferenz zwischen dem ersten und dem zweiten Leiter ab-• zutasten, wobei weiterhin eine erste Einzeltransistor-Speicherzelle vorhanden ist, die einen Speicherkondensator aufweist, wobei die erste Speicherzelle mit dem ersten Leiter verbunden ist, und wobei eine Blind-Speicherzelle vorhanden ist, welche mit dem zweiten Leiter verbunden ist, dadurch gekennzeichnet , daß ein Blind-Speicherzellen-Kondensator (4-0) vorgesehen ist, welcher mit einem Speicherknoten (160) der Blind-Speicherzelle verbunden ist, um ein Bezugspotential auf dem zweiten Leiter (28) bei einem vorgegebenen Potential zwischen dem Potential einer abgefragten logischen "1" und dem Potential einer abgefragten logischen "0" zu erzeugen, welches auf dem ersten Leiter entsteht, und zwar infolge des Abfragens einer gespeicherten logischen "1" oder einer gespeicherten logischen "0", die jeweils in der ersten Einzeltransistor-Speicherzelle gespeichert ist.
- 2. Speicherschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß die erste Einzeltransistor-Speicherzelle einen ersten IGi1EO? (150) aufweist, dessen Tor-Elektrode mit einem Wortzeilenleiter (68) verbunden ist, dessen Senke mit dem ersten Leiter (50) verbunden ist und dessen Quelle mit einem Speicherknoten verbunden ist, und daß weiterhin ein Speicherkondensator (151) vorgesehen ist, welcher zwischen dem Speicherknoten und einem Spannungsversorgungsleiter angeordnet ist.709818/0708
- 3. Sp e ichers chaHrung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Blind-Speicherzelle einen zweiten IGi1ET (38) aufweist, dessen Tor-Elektrode mit einem Blindzellen-Auswahlleiter (60) verbunden ist, dessen Senke mit dem zweiten Leiter (28) verbunden ist und dessen Quelle mit dem Speicherknoten (150) der Blind-Speicherzelle verbunden ist.
- 4. Speicherschaltung nach Anspruch 3» dadurch gekennzeichnet , daß der Blindspeicherzellen-Kondensator (40) einen zweiten Speicherkondensator (40) aufweist, der zwischen dem Blindspeicherzellen-Speicherknoten (160) und der Spannungsversorgungsleiter-Einrichtung (34) angeordnet ist, wobei weiterhin ein dritter IGJ1ET (153) vorhanden ist, dessen Senke mit dem Blindzellen-Speicherknoten (160) verbunden ist und mit einer zweiten Spannungsversorgungsleiter-Einrichtung (35)> dessen Tor mit einem Signalleiter (154) verbunden ist, um ein Potential des Blindzellen-Speicherknotens aufzubauen, bevor ein Abfragevorgang der Einzeltransistor-Speicherzelle abläuft.
- 5. Speicherschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß eine zweite Einzeltransistor-Speicherzelle (19) vorgesehen ist, die einen Speicherkondensator (32) aufweist, daß die zweite Einzeltransistor-Speicherzelle mit dem zweiten Leiter (28) verbunden ist, daß weiterhin eine zweite Blind-Speicherzelle (48) vorgesehen ist, welche mit dem ersten Leiter (50) verbunden ist, daß weiterhin ein zweiter Blindspeicherzellen-Kondensator vorgesehen ist, welcher mit einem Speicherknoten der zweiten Blind-Speicherzelle verbunden ist, um ein Bezugspotential auf dem ersten Leiter aufzubauen, und zwar auf einem vorgegebenen Potential zwischen dem Potential einer abgefragten logischen "1" und dem Potential einer abgefragten logischen "0", welches auf. dem zweiten Leiter infolge eines Abfragevorganges einer709818/07QSgespeicherten logischen "1" "bzw. einer gespeicherten logischen "0" der zweiten Einzeltransistor-Speicherzelle vorhanden ist.709818/0706
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US62659775A | 1975-10-28 | 1975-10-28 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2646245A1 true DE2646245A1 (de) | 1977-05-05 |
Family
ID=24511071
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19762646245 Pending DE2646245A1 (de) | 1975-10-28 | 1976-10-13 | Speicherschaltung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5255341A (de) |
DE (1) | DE2646245A1 (de) |
FR (1) | FR2330113A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3144001A1 (de) * | 1980-11-07 | 1982-08-26 | Hitachi, Ltd., Tokyo | Integrierte halbleiterschaltung |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57186354A (en) * | 1981-05-13 | 1982-11-16 | Hitachi Ltd | Semiconductor memory storage and manufacture thereof |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE789500A (fr) * | 1971-09-30 | 1973-03-29 | Siemens Ag | Memoire a semiconducteurs avec elements de memorisation a un seul transistor |
FR2239737B1 (de) * | 1973-08-02 | 1980-12-05 | Texas Instruments Inc | |
JPS5040246A (de) * | 1973-08-03 | 1975-04-12 |
-
1976
- 1976-10-13 DE DE19762646245 patent/DE2646245A1/de active Pending
- 1976-10-28 FR FR7632647A patent/FR2330113A1/fr active Granted
- 1976-10-28 JP JP51128913A patent/JPS5255341A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3144001A1 (de) * | 1980-11-07 | 1982-08-26 | Hitachi, Ltd., Tokyo | Integrierte halbleiterschaltung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5255341A (en) | 1977-05-06 |
FR2330113B3 (de) | 1979-07-13 |
FR2330113A1 (fr) | 1977-05-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OHW | Rejection |