DE2644940A1 - Aetzverfahren zum abflachen eines siliciumsubstrats - Google Patents

Aetzverfahren zum abflachen eines siliciumsubstrats

Info

Publication number
DE2644940A1
DE2644940A1 DE19762644940 DE2644940A DE2644940A1 DE 2644940 A1 DE2644940 A1 DE 2644940A1 DE 19762644940 DE19762644940 DE 19762644940 DE 2644940 A DE2644940 A DE 2644940A DE 2644940 A1 DE2644940 A1 DE 2644940A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
oxide film
silicon
anisotropic etching
etching
recessed portion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE19762644940
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Kaoru Shinno
Masayoshi Yoshimura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Publication of DE2644940A1 publication Critical patent/DE2644940A1/de
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P50/00Etching of wafers, substrates or parts of devices
    • H10P50/60Wet etching
    • H10P50/64Wet etching of semiconductor materials
    • H10P50/642Chemical etching
    • H10P50/644Anisotropic liquid etching
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W15/00Highly-doped buried regions of integrated devices
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W15/00Highly-doped buried regions of integrated devices
    • H10W15/01Manufacture or treatment

Landscapes

  • Weting (AREA)
  • Element Separation (AREA)
DE19762644940 1975-10-06 1976-10-05 Aetzverfahren zum abflachen eines siliciumsubstrats Ceased DE2644940A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP50119770A JPS5244175A (en) 1975-10-06 1975-10-06 Method of flat etching of silicon substrate

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2644940A1 true DE2644940A1 (de) 1977-04-28

Family

ID=14769758

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19762644940 Ceased DE2644940A1 (de) 1975-10-06 1976-10-05 Aetzverfahren zum abflachen eines siliciumsubstrats

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JPS5244175A (https=)
DE (1) DE2644940A1 (https=)
NL (1) NL7610970A (https=)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4187125A (en) * 1976-12-27 1980-02-05 Raytheon Company Method for manufacturing semiconductor structures by anisotropic and isotropic etching
US4278987A (en) * 1977-10-17 1981-07-14 Hitachi, Ltd. Junction isolated IC with thick EPI portion having sides at least 20 degrees from (110) orientations
JPS6272974U (https=) * 1985-10-28 1987-05-11

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58148131U (ja) * 1982-03-30 1983-10-05 住金鋼材工業株式会社 ブラケツト式サポ−ト足場

Also Published As

Publication number Publication date
NL7610970A (nl) 1977-04-12
JPS5530294B2 (https=) 1980-08-09
JPS5244175A (en) 1977-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2644939A1 (de) Aetzverfahren zum abflachen eines siliciumsubstrats
DE2410786C3 (de) Verfahren zur Herstellung einer integrierten Halbleiteranordnung
DE2641752C3 (de) Verfahren zur Herstellung eines Feldeffekttransistors
DE2628407A1 (de) Verfahren zum herstellen von vergrabenen dielektrischen isolierungen
DE2928923C2 (https=)
DE2845062C2 (de) Halbleiteranordnung und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE2737686A1 (de) Verfahren zur herstellung einer halbleiteranordnung
DE3129558C2 (https=)
EP0006510B1 (de) Verfahren zum Erzeugen aneinander grenzender, unterschiedlich dotierter Siliciumbereiche
DE2449012C2 (de) Verfahren zur Herstellung von dielektrisch isolierten Halbleiterbereichen
DE3545040A1 (de) Verfahren zur herstellung einer vergrabenen schicht und einer kollektorzone in einer monolithischen halbleitervorrichtung
DE3034078A1 (de) Verfahren zur herstellung einer halbleiteranordnung
DE2615754A1 (de) Aus einem substrat und einer maske gebildete struktur und verfahren zu ihrer herstellung
DE2813673A1 (de) Verfahren zur herstellung einer halbleiteranordnung
DE2633714C2 (de) Integrierte Halbleiter-Schaltungsanordnung mit einem bipolaren Transistor und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE3317222A1 (de) Verfahren zum herstellen einer halbleiterstruktur
DE2102897A1 (de) Verfahren zur gleichzeitigen Dop peldiffusion von leitfahigkeitsbestim menden Storstoffen in ein Halbleiter substrat beim Herstellen von Halblei terbauelementen und integrierten Schal tungen
DE3015422A1 (de) Verfahren zur herstellung einer elektrolumineszierenden halbleiteranordnung und durch dieses verfahren hergestellte elektrolumineszierende halbleiteranordnung
DE2923969C2 (de) Verfahren zum Herstellen eines Feldeffekttransistors mit isoliertem Gate für integrierte Halbleiterschaltungen
DE2758283C2 (de) Verfahren zur Herstellung voneinander isolierter Halbleiterschaltungen
DE2438256A1 (de) Verfahren zum herstellen einer monolithischen halbleiterverbundanordnung
DE69025888T2 (de) Halbleiterbauelement mit einem dielektrischen Isolierungsbereich mit der Struktur einer U-förmigen Nut
DE2644940A1 (de) Aetzverfahren zum abflachen eines siliciumsubstrats
DE4035628C2 (de) Verfahren zur Erzeugung von pn-Übergängen in Siliziumträgern
DE2949360A1 (de) Verfahren zur herstellung einer oxidierten isolation fuer integrierte schaltungen

Legal Events

Date Code Title Description
8131 Rejection