DE2634260A1 - Integrierte speicherschaltung mit feldeffekttransistoren - Google Patents

Integrierte speicherschaltung mit feldeffekttransistoren

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DE2634260A1
DE2634260A1 DE19762634260 DE2634260A DE2634260A1 DE 2634260 A1 DE2634260 A1 DE 2634260A1 DE 19762634260 DE19762634260 DE 19762634260 DE 2634260 A DE2634260 A DE 2634260A DE 2634260 A1 DE2634260 A1 DE 2634260A1
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DE
Germany
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diodes
column
transistors
memory
memory circuit
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Application number
DE19762634260
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Inventor
Bernhard Gnoth
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Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Original Assignee
Licentia Patent Verwaltungs GmbH
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
    • G11C11/417Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/418Address circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

  • "Integrierte Speicherschaltung mit Feldeffekt-
  • transistoren" Die Erfindung bezieht sich auf eine integrierte Speicherschaltung mit Feldeffekttransistoren, mit matrixförmig in Zeilen und Spalten angeordneten Speicherzellen, bei der in jeder Speicherzelle mindestens zwei rückgekoppelte Schalttransistoren und zwei Lasttransistoren vorgesehen sind.
  • Eine Speicherzelle einer solchen Speicherschaltung mit in Form einer bistabilen Kippstufe verbundenen MOS-Beldeffekttransistoren ist beispielsweise aus der Zeitschrift "Elektronik", Heft 5 (1973), Seite 170 bekannt.
  • Während derartige in MOS-Technologie hergestellte Kippschaltungen im Vergleich zu ebenfalls bekannten Kippschaltungen mit bipolaren Transistoren den Vorteil einer größeren Packungsdichte und eines geringeren Leistungsverbrauchs aufweisen, sind sie den letztgenannten in bezug auf die erreichbare Schaltgeschwindigkeit unterlegen.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Speicherschaltung der eingangs genannten Art sowohl hinsichtlich einerlaeduzieiune ihres Leistungsverbrauchs im Betriebsbereitschaftszustand als auch hinsichtlich einer Erhöhung ihrer Schaltgeschwindigkeit zu verbessern.
  • Diese Aufgabe wird durch die im Patentanspruch 1 angegebene Erfindung gelöst.
  • Weiterbildungen der Erfindung gehen aus den in den Unteransprüchen enthaltenen Merkmalen hervor.
  • Die Erfindung wird nachfolgend unter Bezug auf die Zeichnung erläutern Dabei zeigt.
  • Fig. 1: Die bekannte Schaltung einer statischen NOS-Speicherzelle, Fig 2: einen Teil einer integrierten Speicherschaltung mit den erfindungsgemäßen Merkmalen.
  • Zum besseren Verständnis der Erfindung wird zunächst unter Bezug auf Figur 1 eine bekannte Schaltung einer statischen MOS-Speicherzelle erläutert. Diese besteht aus zwei über Kreuz gekoppelten Feldeffekttransistoren T3' und T5', die eine bistabile Kippstufe bilden, Mit T2' und T4' sind als Lastwiderstände dienende Feldeffekttransistoren bezeichnet. Die weiteren in der Schaltung enthaltenen Feldeffekttransistoren T8', T9', T10' und Teil' sind für die Ansteuerung der als Speicherzelle dienenden bistabilen Kippstufe aus den Feldeffekttransistoren T3' und T5' notwendig. Zur Adressierung der Speicherzelle wird gleichzeitig an die X- und Y-Auswahlleitungen das Potential -UDD gelegt. Bei Einschreiben einer On in die Speicherzelle, wird die ~011-Lese-Schreib-Leitung auf das gleiche Potential, also U gelegt, während die "L"-Lese-Schreib-Leitung auf Nullpotential liegt. Dabei entsteht eine leitende Verbindung über die Feldeffekttransistoren T9' und T11' zu dem mit B bezeichneten Enotenpunkt. Damit wird der Feldeffekttransistor T3' leitend und 5' gesperrt. Bei Wegfall der Adressierung bleibt der vorhan-Ebene Zustand der bistabilen Kippstufe durch die Lastwiderstände T2' und T41erhalten.
  • Bei einem Auslesevorgang werden die mit A und B bezeichteten Knotenpunkte mit den Lese-Schreib-Leitungen verbunden, dir ihrerseits über nicht eingezeichnete Widerstände auf Nullpotential liegen. Über die Feldeffekttransistoren T8' und T 10' fließt dann auf der "O"-Lese-Schreib-Leitung ein einer #ogischen "O" entsprechender Strom, wenn T8', T9',T10' und T 11' durch entsprecnende Adressierung angesteuert werden.
  • Diene bekannte Schaltung tritt für eine bitorientierte Adres-Siebung zu Bei Zusammenfassung mehrerer derartiger Speicherzellen zu einem Wort entfallen die mit T8' und T9' bezeichnetdn Feldeffekttransistoren. Bei einem Adressiervorgang wird z,B.
  • durch die 1-Auswahl leitung dann ein ganzes Speicherwort erfaßt.
  • Durch die stets vorhandenen Schaltungskapazitäten entstehen bei solchen Speicherzellen sehr große Zeitkonstanten; insbesonderte an dem jeweiligen Transistor der bistabilen Kippstufe, dAr grade in den Sperrzustand schaltet. Die Zykluszeiten solcher Speicheranordnungen, die in der Größenordnung einiger 100 Nanosekunden liegen, sind also wesentlich größer als die beispielsweise mit TTL-Schaltkreisen erreichbaren Arbeitsgeschwindigkeiten Bei der in Fig. 2 dargestellten, die erfindungsgemäßen Merkmale aufweisenden Schaltungsanordnung0 stimmen die fär die 1-Auswvhl bzw. Y-Auswahl vorgesehenen Mittel mit jenen der in Fig. 1 darqestellten Schaltungsanordnung überein. Die mit T8 und T9 beziichneten Transistoren übernehmen die Y-Auswahl während die Transistoren T10 und T 11 für die X-Auswahl verantwortlich sind.
  • Wie die in Fig. 1 dargestellte bekannte Schaltungssnordnwlg enthält auch die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung zwei rückgekoptelte Feldeffekttransistoren T3 und T5 und zwei LssttransistorenlT2 und T4 Auf die Funktion der darüber hinaus vorgesehenen Transistoren T6 und T7 sowie der Dioden D1 und D2 wird n2chfolgend noch eingegangen.
  • Eine große Anzahl dieser Speicherzellen ist in einer Speicherschaltung matrixförmig in Zeilen und Spalten angeordnet. Jeder Spalte bzw. Zeile des Speichers ist ein weiterer mit T1 bezeichneter Feldeffekttransistor zugeordnet, der mit seinem Steueranschluß (Gate)an die Y-Auswahl-Leitung bzw. X-Auswahl-Leitung führt, dessen Source-Anschluß zu dem die Lasttransistoren T2 und T4 verbindenden Leitungszug führt, und dessen Drain-Anschluß mit der Betriebsspannung UDD verbunden ist. Wird z.B über die Y-Auswahl-Leitung eine Spalte der Speicherschaltung adressiert, wird neben den Transistoren T8 und T9 auch Transistor T1 durchgeschaltet, der nun die ganze Spalte der Speicheranordnung an die relativ große Betriebsspannung -UDD legt. Damit fließt in allen Speicherzellen einer Spalte der Speicheranordnung ein relativ großer Strom über die Lasttransistoren T2 und T49 Es werde angenommen, daß gerade Transistor T3 leitend sei. Der über den Lasttransistor T2 und den weiteren Transistor T6 fließende Strom wird über den durchgeschalteten Transistor T3 abfließen. In diesem Fall ist andererseits der zweite der rückgekoppelten Schalttransistoren, T5, gesperrt und der über den Lastwiderstand T4 fließende Strom gedie in Lurchlaßriohturiç bft=~e; wird, langt über die Diode D2# zu einer Leitung, an der eine Vorspannung Uc liegt.
  • Bei Beendigung eines Adressiervorgangs, wenn also auf der Y-Auswahl-Leitung keine Steuerspannung vorhanden ist, befindet sich Transistor T1 im Sperrzustand und es kann kein großer Strom über die Lasttransistoren T2 T4 sowie durch die Diode D1 oder D2 fließen. Damit wird auf vorteilhafte Weise während des Betriebsbereitschaftszustands der Leistungsbedarf dieses Bereiches der Speicherschaltung reduziert. Um einen definierten Zustand der bistabilen Kippstufe, zum Beispiel T3 leitend und T5 gesperrt, sicherzustellen, fließt durch den Transistor T6 ein Speicherruhestrom. Dieser kann relativ klein gehalten werden, weil die Spannung Uc zweckmäßig so klein wie möglich gewählt wird. Beispielsweise kann Uc in der Größenordnung der Schwellspannungen der Transistoren T3 plus T6 liegen. Die Transistoren T6 und T7 haben also im wesentlichen die Aufgabe, einen definierten hochohmigen Widerstand zu bilden, wenn die jeweils zugeordnete Diode D1 bzw, D2 gesperrt ist, Winter Umständen können die den Dioden D1,D2 parallel geschalteten Transistoren T6 und T7 auch weggelassen werden, wenn es gelingt, die Dioden mit einem definierten hochohmigen Sperrwi-Zustand herzustellen.
  • L e e r s e i t e

Claims (3)

  1. ! Patentansprüche t Integrierte Speicherschaltung mit Feldeffekttransistoren, mit; matrixförmig in Zeilen und Spalten angeordneten Speicher--zelFen, bei der in jeder Speicherzelle mindestens zwei rückgtekpppelte Schalttransistoren und zwei Lasttransistoren vorgesehen sind, dadurch gekennzeichnet, daß für jede Spalte der Speicheranordnung ein Transistor (T1) vorgesehen ist, der durch einen an seine Steuerelektrode angelegten Y-Auswahl-Impu in den leitenden Zustand versetzbar ist und im leitenden Zustand die Speicherzellen der Spalte mit der vollen Betriebsspannung verbindet, daß weiterhin mit entgegengesetzter Polaritat in Reihe geschaltete Dioden (D1, D2) vorgesehen sind, deren gemeinsamer Verbindungspunkt an eine Vorspannungsleitung (Uc) führt, deren jeweils anderer Anschluß an die Verbindungsleitungen zwischen den rückgekoppelten Schalttransistoren (T3, T5) und den jeweils zugeordneten Lasttransistoren (T2, T4) führt.
  2. 2. Speicherschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zu jeder der Dioden (D1, D2) ein Feldeffekttransistor (T6, T7) parallel geschaltet ist, damit ein definierter Sp#ri'w1'#erstand der Dioden erzeugt wird.
  3. 3. Speicherscnaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Dioden (D1 und D2) in Vorwärtsrichtung als Clainping-Dioden und in Sperrichtung als Lastwiderstände dienen.
DE19762634260 1976-07-30 1976-07-30 Integrierte speicherschaltung mit feldeffekttransistoren Pending DE2634260A1 (de)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3128195A1 (de) * 1980-10-23 1982-06-03 Standard Microsystems Corp., 11787 Hauppauge, N.Y. Dual - speicherzelle mit geringer leistungsaufnahme

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE3128195A1 (de) * 1980-10-23 1982-06-03 Standard Microsystems Corp., 11787 Hauppauge, N.Y. Dual - speicherzelle mit geringer leistungsaufnahme

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