DE2613858B1 - Verfahren und vorrichtung zum pruefen elektronischer baugruppen - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zum pruefen elektronischer baugruppenInfo
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
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- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
-
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- G01R1/06705—Apparatus for holding or moving single probes
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Description
- Im Folgenden wird die Erfindung anhand des in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispieles näher erläutert. Die dargestellte Figur zeigt eine Vorrichtung 1, die mittels Taststiften 2 mit Kontaktierungsstellen 3 einer elektronischen Baugruppe 4 kontaktiert ist. Die Taststifte 2 sind mittels eines frei beweglichen elektrischen Leiters 5 über Leiterbahnen 6 einer Leiterplatte 7, die an der den Kontaktierungsstellen 3 zugewandten Seite der Vorrichtung 1 angeordnet ist, mit von der Vorrichtung 1 wegführenden Prüfleitungen 8 verbunden, über welche der Baugruppe 4 die elektrischen Prüfimpulse zugeleitet werden. Die Taststifte 2 sind in pneumatischen Kolben der Vorrichtung 1 längsverschiebbar gelagert und werden durch Spiralfedern 10 in Richtung der Kontaktierungsstellen 3 gedrückt Wird nun ein Kolben mit Druckluft beaufschlagt, so setzt die Spitze des entsprechenden Kontaktstiftes zunächst auf die Kontaktierungsstelle 3 auf, während der Kolben noch weiter bewegt wird. Aus der Mantelfläche des Taststiftes 2 ragt ein Stift 11 radial heraus, der in einen schräg zur Längsachse des Taststiftes 2 verlaufenden Schlitz 12 des Kolbens 9 eingreift. Die Verdrehung des Taststiftes 2 ergibt sich somit aus der Verschiebung des Kolbens 9 gegenüber dem Taststift 2. Die Spitze des Taststiftes 2 ist als seitlich abgeflachter Kegel ausgebildet. Die Abflachung kann so gestaltet werden, daß das Zentrum der Berührungsstelle zwischen dem Taststift 2 und der Kontaktierungsfläche 3 außerhalb der Drehachse 13 des Taststiftes 2 liegt.
Claims (8)
- Patentansprüche: 1. Verfahren zum Prüfen elektronischer Baugruppen mittels in einer Vorrichtung angeordneten Taststiften, die mit ihren scharfkantigen Enden auf geeignete Kontaktierungsstellen der Baugruppen aufgesetzt werden, dadurch gekennzeichn e t, daß nach dem Aufsetzen der Taststifte (2) ihre Spitzen auf den Oberflächen der Kontaktierungsstellen (3) geringfügig bewegt werden.
- 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Taststiftspitzen an den Oberflächen geradlinig verschoben werden.
- 3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die gesamte Vorrichtung (1) verschobenwird.
- 4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Taststifte (2) um ihre Längsachse (1) gedreht werden.
- 5. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Taststiftspitzen als seitlich abgeflachte Kegel ausgebildet sind.
- 6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Zentrum der Berührungsstellen zwischen einem der Taststifte (2) und einer Kontaktierungsfläche (3) außerhalb der Drehachse (13) des Taststiftes (2) liegt
- 7. Vorrichtung nach Anspruch 5. oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Taststifte (2) in der Vorrichtung (1) längs verschiebbar geführt sind und daß aus ihrer Mantelfläche ein Stift (11) radial herausragt, der in einen schräg zur Längsachse (13) des Taststiftes (2) verlaufenden Schlitz (12) der Vorrichtung (1) eingreift.
- 8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Taststifte (2) in der Vorrichtung (1) federnd gelagert sind.Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens zum Prüfen elektronischer Baugruppen mittels in einer Vorrichtung zusammengefaßten Taststiften, die mit ihren scharfkantigen Enden auf geeignete Kontaktierungsstellen der Baugruppen aufgesetzt werden.In der DT-OS 24 26 337 ist eine Kontaktiervorrichtung zum simultanen Abtasten der Kontaktstellen von gedruckten Leiterplatten beschrieben. Die Vorrichtung weist federnde Taststifte auf, die auf die Kontaktstellen der Leiterplatte aufgesetzt werden. Dabei besteht die Gefahr einer fehlerhaften Kontaktgebung infolge von Oberflächenverunreinigungen oder schädlichen Oxydschichten. Häufig besteht die Ursache darin, daß auf den Kontaktierungsstellen Flußmittelrückstände verbleiben, die von den Kontaktstiften nur sehr schwer durchstoßen werden können. Aus diesem Grunde ist der Endbereich der Stifte zu einer Spitze oder Schneide geformt, wodurch das Durchstoßen der Oxydschichten bzw. der Flußmittelrückstände erleichtert werden soll. Zur Erhöhung der Kontaktsicherheit werden für jede Kontaktierungsstelle zwei unabhängig voneinander federnde Taststiftspitzen vorgesehen. Die Taststifte sind als gestreckte Enden zweier bifilar gewickelter Spiralfedern ausgebildet und in einem rohrartigen Endstück der Vorrichtung geführt. Da hier die beiden Taststifte auf engstem Raum einander benachbart sind, können sie nur einen geringen Querschnitt aufweisen. Damit sie sich in dem gemeinsamen Führungsrohr nicht gegenseitig verklemmen, muß die Kontaktkraft begrenzt bleiben. Es besteht somit die Gefahr, daß die Flußmittelrückstände nicht vollständig durchstoßen werden, insbesondere wenn beide Kontaktstiftspitzen auf solche treffen.Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, bei Vermeidung der vorstehenden Nachteile die Qualität und Sicherheit der Kontaktgebung zu erhöhen. Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß nach dem Aufsetzen der Taststifte ihre Spitzen auf den Oberflächen der Kontaktierungsstellen geringfügig bewegt werden. Das bedeutet, daß die scharfkantigen Taststiftspitzen eine kratzende Bewegung etwa senkrecht zur Kraftrichtung der Taststifte ausüben, wodurch die Flußmittelrückstände bzw. die Oxydschichten leicht durchdrungen werden können. Dadurch wird die Kontaktsicherheit so stark verbessert, daß nur noch ein Taststift benötigt wird und daß dessen Andrückkraft verringert werden kann.Damit können insbesondere aufgrund des geringeren konstruktiven Aufwandes die Abstände zwischen den Taststiften verkleinert werden und somit auch eng beieinanderliegende Kontaktierungsstellen gleichzeitig kontaktiert werden.Gemäß einer Ausgestaltung der Erfindung werden die Taststiftspitzen an den Oberflächen geradlinig verschoben. Dies kann z. B. dadurch erzielt werden, daß die gesamte die Taststifte aufnehmende Vorrichtung parallel zur Ebene der Kontaktierungsstellen bewegt wird, wodurch die Relativbewegung in einfacher Weise realisiert ist.Nach einer Weiterbildung der Erfindung werden die Taststifte um ihre Längsachse gedreht. Da hier die Relativbewegung auf einem sehr engen Raum stattfindet, ist selbst bei kleinen Kontaktierungsflächen die Gefahr gering, daß Kontaktstiftspitzen außerhalb der Kontaktierungsflächen geraten. Die Taststiftspitzen können als seitlich abgeflachte Kegel ausgebildet sein, wodurch eine bohrerartige Wirkung erzielt wird, was das Durchdringen der Oxydschichten b7w. Flußmittelrückstände erleichtert. Dies ist besonders dann der Fall, wenn das Zentrum der Berührungsstelle zwischen Taststift und Kontaktierungsfläche außerhalb der Drehachse des Taststiftes liegt. Die Drehbewegung der Taststifte kann in vorteilhafter Weise dadurch erzielt werden, daß die Taststifte in der Vorrichtung längs verschiebbar geführt sind und daß aus ihrer Mantelfläche ein Stift radial herausragt, der in einen schräg zur Längsachse des Taststiftes verlaufenden Schlitz der Vorrichtung eingreift. Nach dem Aufsetzen der Taststifte auf die Kontaktierungsstellen kann die Vorrichtung bzw. die Teile der Vorrichtung, in welchen die Taststifte gelagert sind, noch weiter in Richtung der Kontaktierungsstellen bewegt und damit die Taststifte verdreht werden. Am einfachsten läßt sich dies erreichen, wenn die Taststifte in der Vorrichtung federnd gelagert sind.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19762613858 DE2613858B1 (de) | 1976-03-31 | 1976-03-31 | Verfahren und vorrichtung zum pruefen elektronischer baugruppen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19762613858 DE2613858B1 (de) | 1976-03-31 | 1976-03-31 | Verfahren und vorrichtung zum pruefen elektronischer baugruppen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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DE2613858B1 true DE2613858B1 (de) | 1977-07-14 |
Family
ID=5974049
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE19762613858 Withdrawn DE2613858B1 (de) | 1976-03-31 | 1976-03-31 | Verfahren und vorrichtung zum pruefen elektronischer baugruppen |
Country Status (1)
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---|---|
DE (1) | DE2613858B1 (de) |
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-
1976
- 1976-03-31 DE DE19762613858 patent/DE2613858B1/de not_active Withdrawn
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BHN | Withdrawal |