DE2604471C2 - Interferometrische Einrichtung - Google Patents
Interferometrische EinrichtungInfo
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Description
densein untersucht werden soll, charakteristisch ist, ein
Signal aufweisL Es wird also gewissermaßen ein Fenster gebildet, durch das ein schmaler Ausschnitt des Interferogramms
betrachtet wird.
Die Erfindung schafft ein einfach aufgebautes und kostengünstig herstellbares Gerät zum Erkennen von
Substanzen, die ein periodisches Absorptionsspektrum haben. Dabei wird der Umstand ausgenutzt, daß bei
einem periodischem Absorptionsspektrum eine charakteristische optische Wegdifferenz existiert, bei der das
Interferogramm ein Signal zeigt
Im folgenden wird unter Bezugnahme auf die einzige Figur der Zeichnung ein Allsführungsbeispiel der Erfindung
näher erläutert.
Die in der Zeichnung dargestellte interferometrische Einrichtung weist eine Strahlungsquelle S auf, deren
Licht durch das zu untersuchende Gas hindurchgeht Im Strahlenweg ist ein einziges doppelbrechendes Plättchen
24 angeordnet, vor dem ein Polarisator P und hinter dem ein Analysator A angeordnet ist Die Dicke des
Plättchens 24 ist so bemessen, daß die charakteristische optische Wegdifferenz Δ des gesuchten Moleküls entstehtHinter
dem Analysator A ist ein Objektiv Tz angeordneL Die in der Brennebene des Objektivs 25 auftretenden
Interferenzen werden ausgewertet Der Aus-Wertungsbereich der Interferenzstreifen wird durch eine
Blende 26 auf den mittleren Bereich (in der Nähe der optischen Achse) beschränkt, wo die optische Wegdifferenz
nur geringfügig variiert
Durch Ersetzen des doppelbrechenden Plättchens 24, das beispielsweise aus Quarz bestehen kann, durch ein
Plättchen mit anderer Stärke kann die interferometrisehe
Einrichtung auf unterschiedliche Gase abgestimmt werden.
Die Modulation des Lichtflusses erfolgt durch Drehen des Polarisators P oder des Analysators A. Das durch
die Blende 26 hindurchgehende Licht wird von dem fotoelektrischen Detektor 27 erfaßt und in elektrische Signale
umgesetzt.
Das beschriebene Gerät kann für die Analyse aller optischen Substanzen mit periodischen Absorptionsstreifen
benutzt werden. Es kann bis in den Infrarotbereich hinein betrieben werden, um die Vibrations- und
Rotationsbänder der Moleküle mit auszunutzen.
45
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
50
55
60
65
Claims (2)
1. Interferometrische Einrichtung zur Erkennung bei zahlreichen Gasen auftreten. Das Interferogramm
einer Substanz mit periodischem Absorptionsspek- 5 hat daher eine sehr geringe Amplitude. Es gibt aber eine
trum mit charakteristische optische Wegdifferenz A0, bei der ein
Gas mit periodischem Absorptionsspektrum größere
- einer Strahlungsquelle, in deren Strahlenweg Amplituden zeigt, die für das Gas, z. B. SO2. charakteridie
Substanz, ein Polarisator, ein doppelbrech- stischsind.
endes Element, ein Analysator und ein Detektor io Bei den bekannten Interferometern wird der gesamte
angeordnet sind. Bereich der optischen Wegdifferenz A ausgewertet, in-
dem ein doppelbrechendes Element so variiert wird, daß
dadurchgekennzeichnet, die Wegdifferenz der beiden Ausgangsstrahlen einen
großen Bereich überstreicht Das auf diese Weise ermit-
- daß das doppelbrechende Element ein Platt- 15 telte Interferogramm wird dann in einen Computer gedient)
ist, dessen Dicke die optische Wegdif- gebenen (oder analog verarbeitet) der hieraus das
ferenz zwischen den beiden senkrecht zueinan- Spektrum berechnet, das anschließend ausgewertet
der polarisierten Strahlen bestimmt, und wird. Dieses Prinzip läßt sich auch für die Analyse sol-
- daß diese optische Wegdifferenz gleich der cha- eher Gase anwenden, die kern periodisches Absorprakterisuschen
optischen Wegdifferenz der ge- 20 tionsspektrum haben. Bei der Untersuchung von Lu tsuchten-Sabstanz
ist verschmutzung und ähnlichen Aufgaben, soll beispielsweise der Gehalt von SO2 oder anderen Gasen mit klei-
2. Interferometrische Einrichtung nach An- nen Molekülen und periodischem Absorptionsspektrum
spruch 1 dadurch gekennzeichnet, daß das Plättchen ermittelt werden. Hierzu werden die zu Analysezwek-(24)
gegen ein Plättchen, dessen Dicke eine andere 25 ken üblicherweise benutzten Interferometer eingesetzt,
optische Wegdifferenz bestimmt, auswechselbar ist die das gesamte Interferogramm aufzeichnen und aus-
p 6 werten. Hierzu ist eine kontinuierliche Veränderung der
durch das doppelbrechende Element verursachten optischen Wegdifferenz erforderlich, da nur anhand des
30 Verschiebungsmaßes der beiden optischen Keile der je-
Die Erfindung betrifft eine interferometrische Ein- weilige Wert der Wegdifferenz A ermittelt.werden kann,
richtung nach den: Oberbegriff des Patentanspruchs 1. Es ist somit erforderlich, eine vollständige Kurve zu
Eine bekannte interferometrische Einrichtung dieser erfassen, um die einzelnen Kurvenwerte einander zu-An(US-PS
38 4&001)weis*c im Strahlengang der Licht- ordnen zu können.
quelle einen Polarisator, ein doppelbrechendes Element 35 Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde^ eine.ntein
Form zweier mit ihren SchrägfläcUn gegeneinander- ferometrische Einrichtung nach dem Oberbegriff des
cresemer Prismen, einen um die optische Achse herum Patentanspruchs 1 zu schaffen, die es ermöglicht mit
rotierenden Analysator und einen lichtempfangenden einfachen Mittein das Vorhandensein Destimmier mö,e-Detektor
zur Umsetzung des empfangenden Lichts in küle zu erkennen, ohne ein gesamtes Interferogramm
elektrische Signale auf. Die die Prismen bildenden opti- 40 auswerten zu müssen.
sehen Keile werden gegeneinander verschoben, um die Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt erfindungsgernaß
Dicke des doppelbrechenden Elementes kontinuierlich durch die Merkmale des kennzeichnenden Teils des Pazu
verändern. Auf diese Weise wird die optische Weg- tentanspruchs 1.
differenz der beiden Strahlen, die die doppelbrechende Nach der Erfindung wird nur der Bereich um die cha-
Einrichtung verlassen, verändert, um den gesamten Be- 45 rakteristische optische Wegdifferenz A.herum unterreich
der optischen Wegdifferenz von Null an zu durch- sucht, während alle anderen optischen Wegd.fferenzen
laufen. Um diejenige Stellung des doppelbrechenden weder festgestellt noch ausgewertet werden. Das dop-Elementes
zu ermitteln, bei der die optische Wegdiffe- pelbrechende Element in der Form eines Plattchens errenz
Null ist, kann hinter dem doppelbrechenden EIe- zeugt Strahlen mit fester optischer Wegdifferenz. Diese
ment eine weitere doppelbrechende Einrichtung ange- 50 Wegdifferenz entspricht der charakteristischen optiordnet
sein, die einen bestimmten Betrag der optischen sehen Wegdifferenz der Moleküle, deren Vorhanden-Weedifferenz
wieder rückgängig macht Die bekannten sein erkannt werden soll. Auf diese Weise wird eine sehr
Interfereomter liefern ein vollständiges Interfere- einfache interferometrische Einrichtung geschaffen, die
gramm d. h. die doppelbrechende Einrichtung wird kon- (mit Ausnahme des Polarisators oder des Analysator)
tinuierlich so verändert, daß die optische Wegdifferenz 55 keine bewegbaren Teile enthält. Dabei wird nur d.ejemdas
gesamte zu untersuchende Absorptionsspektrum ge Strahlung ausgewertet, die längs der optischen Achse
des Gases, dessen Anwesenheit festgestellt werden soll, des Systems verläuft. Für die Untersuchung unterdurchläuft
Das für die Untersuchung zur Verfügung schiedlicher Gase braucht man lediglich entsprechende
stehende Spektrum setzt sich zusammen aus dem steti- Plättchen unterschiedlicher Dicke zu verwenden. Langs
gen Spektrum der Lichtquelle und dem Absorptions- 60 der optischen Achse des Systems entsteht an dem Despektrum
des Gases. Beide Anteile überlagern sich ge- tektor ein Signal, wenn die optische Wegdifferenz, die
« genseitig. Bei einem Gas mit periodischem Absorptions- von dem Plättchen erzeugt wird, der Penodendauer ρ
Il spektrum weist das Gesamtspektrum diskrete Einbrü- im Absorptionsspektrum entspricht.
?| ehe auf die gleiche Abstände ρ voneinander haben, wel· Die erfindungsgemäße Einrichtung ist kern »Inter e-
ehe die Periodizität des Gas-Spektrums kennzeichnen. 65 rometer«, weil ein Interferometer stets das gesamte In-
Das Interferogramm eines Gases gibt das am Detektor terferogramm aufzeichnet. Nach der Erfindung wird nur
ft auftretende Signal in Abhängigkeit von der optischen geprüft, ob das Interferogramm bei einer ganz best.rnm-
Weedifferenz Δ der interferierenden, von dem doppel- ten Wegdifferenz, die für die Moleküle, deren Vorhan-
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Families Citing this family (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2506961A1 (fr) * | 1981-05-27 | 1982-12-03 | Centre Nat Etd Spatiales | Dispositif de spectroscopie et son application a l'observation de la terre depuis un satellite a defilement |
FR2566532B1 (fr) * | 1984-06-22 | 1986-09-12 | Elf France | Detecteur de gaz par interferometrie |
FR2581190B1 (fr) * | 1985-04-25 | 1987-06-19 | Elf France | Detecteur interferometrique de gaz |
FR2595820B1 (fr) * | 1986-03-13 | 1990-01-05 | Bertin & Cie | Dispositif a fibres optiques pour la detection a distance d'une grandeur physique, en particulier de la temperature |
JPS62251627A (ja) * | 1986-04-25 | 1987-11-02 | Hitachi Ltd | 偏光干渉計 |
DE3812334A1 (de) * | 1988-04-14 | 1989-10-26 | Hartmann & Braun Ag | Interferometrische einrichtung |
DE3825683C1 (de) * | 1988-07-28 | 1989-12-28 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch, De | |
FR2641074B1 (de) * | 1988-12-23 | 1991-02-22 | Elf Aquitaine | |
DK0427797T3 (da) * | 1989-03-03 | 1994-10-17 | Buehler Ag | Polarisationsinterferometer |
US5225926A (en) * | 1991-09-04 | 1993-07-06 | International Business Machines Corporation | Durable optical elements fabricated from free standing polycrystalline diamond and non-hydrogenated amorphous diamond like carbon (dlc) thin films |
GB9314302D0 (en) * | 1993-07-10 | 1993-08-25 | Univ Court Of The University O | Improved spectrometer |
GB2294778B (en) * | 1993-07-10 | 1997-10-22 | Siemens Plc | Fourier transform spectrometer with birefringent component between polarisers |
US5469259A (en) * | 1994-01-03 | 1995-11-21 | International Business Machines Corporation | Inspection interferometer with scanning autofocus, and phase angle control features |
AU4934896A (en) * | 1995-03-21 | 1996-10-08 | Sci-Tec Instruments Inc. | Optical correlation gas analyzer |
GB2305257B (en) * | 1995-09-12 | 1999-08-18 | Siemens Plc | Improvements in or relating to spectrometers |
GB9614363D0 (en) * | 1996-07-09 | 1996-09-04 | Council Cent Lab Res Councils | Optical pulse autocorrelator |
DK78096A (da) * | 1996-07-12 | 1998-01-13 | Foss Electric As | Interferometer |
US5703684A (en) * | 1996-09-23 | 1997-12-30 | International Business Machines Corporation | Apparatus for optical differential measurement of glide height above a magnetic disk |
US5926266A (en) * | 1996-09-23 | 1999-07-20 | International Business Machines Corporation | Optical apparatus for rapid defect analysis |
US5784163A (en) * | 1996-09-23 | 1998-07-21 | International Business Machines Corporation | Optical differential profile measurement apparatus and process |
AUPO790997A0 (en) | 1997-07-16 | 1997-08-07 | Australian National University, The | Modulated solid state spectrometer |
EP1234164A1 (de) | 1999-12-02 | 2002-08-28 | Ecolotrol, Inc. | Filter |
GB0005069D0 (en) * | 2000-03-02 | 2000-04-26 | Ecolotrol | A controlled interference spectrometer |
US6618142B1 (en) | 2001-06-26 | 2003-09-09 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Compact birefringent spectrometer |
GB0215248D0 (en) * | 2002-07-02 | 2002-08-14 | Qinetiq Ltd | Imaging apparatus |
US10302494B2 (en) | 2014-12-18 | 2019-05-28 | Palo Alto Research Center Incorporated | Obtaining spectral information from a moving object |
US10048192B2 (en) * | 2014-12-18 | 2018-08-14 | Palo Alto Research Center Incorporated | Obtaining spectral information from moving objects |
JP2017125834A (ja) * | 2015-11-11 | 2017-07-20 | 富士電機株式会社 | 分光装置及び分光方法 |
US10510624B2 (en) * | 2016-03-29 | 2019-12-17 | Applied Materials, Inc. | Metrology systems with multiple derivative modules for substrate stress and deformation measurement |
CN106289527B (zh) * | 2016-08-03 | 2017-12-12 | 南京理工大学 | 一种基于偏振干涉的高光谱成像装置及其成像方法 |
CN107941329B (zh) * | 2017-10-13 | 2019-12-27 | 华东师范大学 | 一种高阶干涉仪 |
CN109781260B (zh) * | 2019-02-19 | 2020-04-28 | 西安交通大学 | 超紧凑型快照式偏振光谱成像探测装置及探测方法 |
CN112596144A (zh) * | 2020-12-15 | 2021-04-02 | 山东大学 | 基于溴化亚汞晶体的偏振棱镜/偏振分光棱镜 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3146294A (en) * | 1959-02-13 | 1964-08-25 | American Optical Corp | Interference microscope optical systems |
US3653765A (en) * | 1970-06-17 | 1972-04-04 | Hewlett Packard Co | Acousto-optic light spectrum analysis |
JPS54656B1 (de) * | 1971-06-18 | 1979-01-13 | ||
US3868168A (en) * | 1973-01-16 | 1975-02-25 | American Optical Corp | Combination of birefringent elements for polarizing interferential systems |
FR2216565B1 (de) * | 1973-02-06 | 1977-10-28 | Anvar |
-
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US4320973A (en) | 1982-03-23 |
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DE2604471A1 (de) | 1976-08-26 |
FR2300998B2 (de) | 1977-12-02 |
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