DE2522022C3 - Verfahren zum Anbringen einer Drahtverbindung zwischen einer Kontaktstelle auf einer Halbleiteranordnung und einem Zuführungsleiter - Google Patents
Verfahren zum Anbringen einer Drahtverbindung zwischen einer Kontaktstelle auf einer Halbleiteranordnung und einem ZuführungsleiterInfo
- Publication number
- DE2522022C3 DE2522022C3 DE2522022A DE2522022A DE2522022C3 DE 2522022 C3 DE2522022 C3 DE 2522022C3 DE 2522022 A DE2522022 A DE 2522022A DE 2522022 A DE2522022 A DE 2522022A DE 2522022 C3 DE2522022 C3 DE 2522022C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- wire
- welding
- recess
- chisel
- contact point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
- H01L24/78—Apparatus for connecting with wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/4501—Shape
- H01L2224/45012—Cross-sectional shape
- H01L2224/45015—Cross-sectional shape being circular
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45144—Gold (Au) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/4846—Connecting portions with multiple bonds on the same bonding area
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/4847—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond
- H01L2224/48472—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond the other connecting portion not on the bonding area also being a wedge bond, i.e. wedge-to-wedge
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
- H01L2224/7825—Means for applying energy, e.g. heating means
- H01L2224/78268—Discharge electrode
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
- H01L2224/7825—Means for applying energy, e.g. heating means
- H01L2224/783—Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
- H01L2224/78313—Wedge
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
- H01L2224/7825—Means for applying energy, e.g. heating means
- H01L2224/783—Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
- H01L2224/78313—Wedge
- H01L2224/78314—Shape
- H01L2224/78317—Shape of other portions
- H01L2224/78318—Shape of other portions inside the capillary
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85009—Pre-treatment of the connector or the bonding area
- H01L2224/8503—Reshaping, e.g. forming the ball or the wedge of the wire connector
- H01L2224/85035—Reshaping, e.g. forming the ball or the wedge of the wire connector by heating means, e.g. "free-air-ball"
- H01L2224/85045—Reshaping, e.g. forming the ball or the wedge of the wire connector by heating means, e.g. "free-air-ball" using a corona discharge, e.g. electronic flame off [EFO]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/852—Applying energy for connecting
- H01L2224/85201—Compression bonding
- H01L2224/85205—Ultrasonic bonding
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L24/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01006—Carbon [C]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01013—Aluminum [Al]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01014—Silicon [Si]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01033—Arsenic [As]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01082—Lead [Pb]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/013—Alloys
- H01L2924/014—Solder alloys
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/19—Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/1901—Structure
- H01L2924/1904—Component type
- H01L2924/19041—Component type being a capacitor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Pressure Welding/Diffusion-Bonding (AREA)
Description
50
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren tntsprechend dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Ein Verfahren dieser Art ist aus »Solid Sltate
Technology«, Bd. 16(1973). H. 10,S. 49 bekannt. 5'.
Von den verschiedenen bekannten Methoden, Draht-Verbindungen
an Halbleiteranordnungen anzubringen, Wie sie z. B. in »SCP and Solid State Technology«, Bd. 10
11967), H. 8, S. 45 bis 52 beschrieben sind, kann die Methode, bei der eine am Ende des Drahtes gebildete
Kugel verwendet wird, vorteilhaft sein. Durch den Verhältnismäßig großen Inhalt, den die Kugel hat, und
durch die größe Verbiridüngsfläche wird eine solide
Verbindung erhalten, die eine günstige Lebensdauer hat.
Ein weiterer Vorteil ist, daß ein harter Draht verwendbar ist Nach dem Verbinden des Drahtes mit
dem Zuführungsleiter wird der Draht an einer Stelle, die an die Schweißstelle grenzt, abgetrennt und damit
dieses Abtrennen auf reproduzierbare Weise erfolgt, ist ein harter Draht erwünscht Beim Verbinden des
Drahtes mit dem Halbleiterkörper muß jedoch vermieden werden, daß der spröde Halbleiterkörper beschädigt
wird. Die meistens mit einer Gasflamme gebildete Kugel ist viel weicher als der ursprüngliche Draht, so
daß eine Beschädigung nicht auftreten wird.
Im allgemeinen wird die Drahtverbindung mit Hilfe einer Kapillare angebracht (siehe Fig. 8 der züietztgenannten
Literaturstelle). Der Draht ragt durch die Kapillare und der untere Rand der Kapillare dient als
Schweißfläche. Die Form dieser Schweißfläche ist nicht günstig, um eine starke Verbindung mit dem Zuführungsleiter
zu erhalten. Nach der Herstellung dieser ^weiten Schweißverbindung wird am Draht gezogen
und dieser bricht bei einem an die zweite Schweißstelle grenzenden abgeschwächten Teil. Bekanntlich muß die
Kapillare dabei zunächst etwas aufwärts bewegt werden. Die Kapillare stützt die soeben hergestellte
Schweißverbindung also nicht beim Abtrennen des Drahtes, was die Stärke der Schweißverbindung
beeinträchtigt. Die Aufwärtsbewegung erfordert eine zusätzliche Manipulation. Die Verwendung einer
Kapillare erschwert es weiter, um eine gewünschte Bogenform des Drahtes zwischen den zwei Schweißstellen
auf reproduzierbare Weise zu erhalten.
Es ist ebenfalls begannt, die Kugel mit dem Draht in
horizontaler Lage mit der Kontaktstelle des Halbleiterkörpers zu verschweißen, und zwar mit Hilfe eines
Schweißmeißels (siehe Fig. 9 der zuletztgenannten Literaturstelle). Bei diesem bekannten Verfahren muß
zunächst die Kugel genau über die Kontaktstelle gebracht werden, woncch eine horizontale Schweißfläche
des Meißels die Schweißverbindung herstellt. Die Übertragung der Schweißenergie dieses Meißels auf die
Kontaktstelle ist jedoch nicht optimal. Weiter muß eine gesonderte Schweißvorrichtung die Schweißverbindung
mit den Zuführungsleitern herstellen, was für eine mechanisierte Massenherstellung sei.;· nachteilig ist.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren der eingangs genannten Art zu schaffen, bei
dem mit einem einzigen Schweißmeißel eine günstige Verbindung sowohl mit dem Halbleiterkörper als auch
mit den Zuführungsleitern erhalten wird, während zugleich eine weitgehende Mechanisierung ermöglicht
wird.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im kennzeichnenden Teil des Anspruchs 1 genannten
Merkmale gelöst.
Durch Anwendung einer elektrischen Funkenentladung kann eine sehr genau dosierte Schmelzenergie für
den Draht erhalten werden, was bedeutet, daß der Durchmesser der Kugel innerhalb enger Grenzen
einstellbar ist. Die Funkenenergie wirkt sehr kurz und örtlich; dadurch wird die Härte des Drahtes jenseits der
Kugel nicht beeinträchtigt werden, während die Kugel weich genug ist. Wenn der Schweißmeißel in Richtung
der Kontaktstelle auf dem Halbleiterkörper bewegt wird, wird die Kugel in der Ausnehmung gefangen,
wodurch automatisch die Lage der Kugel bei der Schweißverbindung eindeutig bestimmt ist Zugleich
wird mit der Ausnehmung erreicht, daß die Übertragung
der Schweißenergie des Schweißmeißels optimal ist, beispielsweise beim Ultraschallschweißen, Der Übergang
von der geschweißten Kugel zum Draht bleibt beim erfindungsgemäßen Verfahren unbeschädigt, was
die Lebensdauer der Halbleiteranordnung erhöht. Nach dem Verschweißen der Kugel mildem Halbleiterkörper
wird mit demselben Meißef zwischen dem Draht und dem Zuführungsleiter eine Schweißverbindung hergestellt
Der Schweißmeißel wird dazu über den Zuführungsleiter gebracht und infolge der Ausnehmung
in der Schweißfläche wird eine zweiteilige sehr solide Schweißverbindung hergestellt Während der Meißel
die gebildete Schweißverbindung noch unterstützt wird nun am Draht gezogen, wodurch dieser bei einem an dia
Schweißverbindung grenzenden abgeschwächtem Teil bricht Die Schweißverbindung wird durch dieses
Abtrennen des Drahtes also nicht beeinträchtigt
Die Erfindung ermöglicht es, mit einem mechanisierten Verfahren sehr solide Schweißverbindungen zu
erhalten.
Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in den Zeichnungen dargestellt und wird im folgenden näher
beschrieben. Es zeigt
Fig. 1 einen Schweißmeißel mit dem an einem Halbleiterkörper zu verbindenden Draht,
F i g. 2 einen Schweißmeißel mit einer dm Draht
gebildeten Kugel,
F i g. 3 die Bewegung des Schweißmeißels in Richtung einer Kontaktstelle auf einem Halbleiterkörper,
F i g. 4 die Herstellung einer Schweißverbindung zwischen dem kugelförmigen Drahtende und der
Kontaktstelle,
F i g. 5 die Bildung eines Drahtbogens bei der Bewegung des Schweißmeißels in Richtung des
Zuführungsleiters,
F i g. 6 die Herstellung einer Schweißverbindung mit dem Zuführungsleiter.
In Fig. 1 ist ein Halbleiterkörper 1 mit einer Kontaktstelle 2 dargestellt. Der Halbleiterkörper ist auf η
einem Träger 3 angeordnet; im dargestellten Ausführungsbeispiel ist der Halbleiterkörper mit einem Träger
verlötet, der einen Teil einer allgemein bekannten kammförmigen metallenen Leiterkonstruktion bildet.
Der Kamm , uht auf einem Amboß 4. Ein Schweißmeißel -w
5 ist auf und ab beweglich über dem Amboß angeordnet. Der Schweißmeißel hat eine Schweißfläche S mit einer
Drahtzuführungsöffnung 7. Die Schweißfläche 6 ist mit einer rillenförmigen Ausnehmung 8 versehen. Der
Schweißmeißel ist an einer nicht dargestellten Anordnung zum Erzeugen von Ultraschallschwingungen
befest:gt. Durch die Drahtzuführungsöffnung 7, die sich
neben der Schweißfläche befindet, ist ein Draht 9 geführt, der meistens aus Gold besteht Der Draht
erstreckt sich unter der Schweißfläche 6 des Meißels 5. w Das Ende des Drahtes ragt um einen vorbestimmten
Abstand bis jenseits der Ausnehmung 8.
In der Nähe des Endes des Drahtes wird eine Elektrode 10 angeordnet, mit deren Hilfe eine
elektrische Funkenentladung zwischen dem Drahtende v-, und der Elektrode erhalten werden kann. Die
Funkenentladung kann auf verschiedene Weise erzeugt werden. Es hat sich als günstig erwiesen, eine (nicht
dargestellte) Spule zu verwenden, deren Primärwicklung durch einen sich entladenden Kondensator gespeist w>
wird. Die Entladungszeit des Kondensators ist regelbar und kann sehr kurz sein, beispielsweise in der
Größenordnung Von 5 ms und weniger. Die Entladungsenergie kann durch geeignete Wahl der Kondensator^
spannung geregelt werden. Wenn der Kondensator an die Primärwicklung der Spule angeschlossen wird, wird
in der Sekundärwicklung der Spule eine hohe Spannung
entstehen, die zwischen der Elektrode 10 und dem in den Sekundärkreis liegenden Drahtende eine Funkenentladung
erzeugt Durch diese Funkenentladung schmilzt ein Teil des Endes des Drahtes, wodurch sich eine Kugel
11 bildet (siehe Fig.2). Durch die sehr kurze
Entladungszeit wird der Draht nur örtlich erhitzt Die Struktur des Drahtes jenseits der entstandenen Kugel
11 wird durch die Funkenentladung nicht geändert. Durch eine geeignete Kondensatorspannung wird eine
Funkenentladungsenergie erhalten, die auf besonders reproduzierbare Weise eine gewünschte Drahtmenge
zum Schmelzen bringt und auf diese Weise eine Kugel 11 mit einem vorbestimmten Durchmesser bildet Diese
Kugel ist weicher als der ursprüngliche Draht und eignet sich dadurch dazu, mit einem spröden Halbleiterkörper
verschweißt zu werden, ohne daß dabei eine Beschädigung desselben auftritt Das Ende des Drahtes 9 wird
soweit bis jenseits der Ausnehmung 8 geführt (Fig. 1),
daß die zu bildende Kugel sich gerade unter der Ausnehmung befindet wie dies in F i g. 2 dargestellt ist
Nachdem die Kugel 11 gebi! '.t ist, wird der
Schweißüieißcl in Richtung des Trägers 3 bewegt, wie
dies in F i g. 3 dargestellt ist Die Ausnehmung 8 nimmt dabei die Kugel 11 auf und richtet auf diese Weise die
Kugel äußerst genau gegenüber einer Kontaktstelle 2 auf derr Halbleiterkörper 1 aus.
Fig.4 zeigt die Form der Schweißverbindung, die
vorzugsweise mit Hilfe von Ultraschallenergie hergestellt worden ist Die Vorrichtung, die die Ultraschalischwmgung
auf den Meißel 5 üDe-trägt, ist nicht dargestellt Die Ausnehmung 8 dient außer als Hilfe
beim Ausrichten der Kugel zugleich dazu, eine gute Energieübertragung vom SchweiOmeißel 5 auf die
Kugel 11 zu erhalten. Die Forn der entstandenen Schweißverbindung ist aus der Figur ersichtlich. Durch
Verwendung des dargestellten Schweißmeißels zusammen mit einer Kugel an einem sich fast parallel zu der
Kontaktoberfläche erstreckenden Draht wird eine besonders günstige Schweißverbindung erhalten Dabei
tritt zugleich der Vorteil auf, daß der Übergang der aus der Kugel gebildeten Schweißverbindung zum Draht
fa.·. nicht abgeschwächt ist.
Nach der Herstellung der ersten Schweißverbindung muß der Draht mit einem Stromzuführungsleiter 12
verbunden werden. Dazu wird der Meißel über die Schweißstelle dieses Zuführungsleiters gebracht. In
Fig. 5 ist ersichtlich, daß die Bahn, die der Meißel 5 dabei beschreibt, derart sein kann, daß der Drahtteil
zwischen den zwei Schweißverbindungen eine gewünschte Form annimmt, wobei mit Gewißheit
vermieden wird, daß der Draht einen weiteren Kontakt mit dem Halbleiterkörper macht Danach wird, wie in
F i g. 6 dargestellt, die Schweißverbindung des Drahtes mit dem Zuführungsleiter 12 hergestellt. Auch dabei
kann die Schweißverbindung mit Hilfe von Ultraschallschweißenergie
hergestellt werden. Di: Form der Schweißfläche 6 hat zur Folge, daß in einer Bewegung
eine zweifache Schweißverbindung erhalten wird, wobei die beiden Schweißteile auf beiden Seiten der
Ausnehmung 8 lii.gen. Diese zweifache Schweißverbindung hat eine große Stärke, was für die Lebensdauer
von besonderer Bedeutung ist Die Ausnehmung 8 im Schweißmeißel dient dabei einerseits dazu, die Kugel 11
auszurichten und eine gute Energieübertragung beim Schweißen zu erhalten und die Ausnehmung 8
ermöglicht es andererseits, eine solide zweiteilige Schweißverbindung des Drahtes mit dem Zuführungsleiter 12 zu erhalten.
Während der Schweißmeißel 5 noch auf die gerade
gebildete Schweißverbindung drückt, wird am Draht gezogen, wodurch dieser am abgeschwächten Teil, der
an die zweite Schweißverbindung grenzt (F i g. 6), bricht. Beim Abtrennen des Drahtes kann also die gerade
hergestellte Schweißverbindung nicht beschädigt wer^
den. Der Schweißmeißel 5 wird nun wieder in die Lage gebracht, die in Fig. 1 dargestellt ist, der Draht wird
wieder um den gewünschten Abstand bis jenseits der Ausnehmung 8 geführt und es wird wieder eine Kugel 11
gebildet und ein Folgender Drahtteil kann auf die! bereits beschriebene ArI! und Weise angebracht werden.
In den Figuren ist die rillenförmige Ausnehmung 8
senkrecht zur Längsrichtung des Drahtes 9 dargestellt.
Vorzugsweise entspricht die Breite der Rille 8 etwa dem
doppelten Durchmesser des Drahtes 9. Die Rille ist V-förmig dargestellt mit einem Scheitelwinkel von etwa
120°, die Rille kann jedoch auch eine andere Form haben. Es ist weiter möglich, für die Ausnehmung 8 eine
Form zu wählen, die nicht rillenförmig ist, sondern beispielsweise kegelförmig.
Das erfindungsgemäße Verfahren ist zum Befestigen einer Drahtverbindung an einer Halbleiteranordnung
beschrieben worden, die metallene Leiter enthält, die aus einem kammförmigen Streifen gebildet sind. Die
Erfindung ist ebenfalls anwendbar, wenn die Leiter auf eine andere Art und Weise gebildet sind, beispielsweise
wenn sie aus einem Metallmuster bestehen, das auf einem isolierenden Substrat angebracht ist Weiter ist
der Schweißtrieißel in den Figuren mit einer Drahtzuführungsöffnung
7 Versehen; diese Drahtführung im Schweißmeißel kann durch eine Führung außerhalb des
Schweißmeißeis, beispielsweise ein Loch in einer Platte, ersetzt werden, wobei diese Platte zusammen mit dem
Schweißmeißel beweglich ist. Wichtig dabei ist, daß der Draht Von der Seite der Schweißfläche 6 Unter die
Schweißfläche geführt wird.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (5)
1. Verfahren zum Anbringen einer Drahtverbindung zwischen einer Kontaktstelle auf einer
Halbleiteranordnung und einem Zuführungsleiter mittels SchweiQung, bei dem ein Schweißmeißel
verwendet wird, dessen Schweißfläche mit einer Ausnehmung versehen ist, und der Draht unter die
Schweißfläche geführt wird, bis das Ende um einen vorbestimmten Abstand bis jenseits der Ausneh- IQ
mung ragt, und bei dem der Draht zunächst mit der Kontaktstelle auf der Halbleiteranordnung in einer
Lage verschweißt wird, danach mit einem Zuführungsleiter verschweißt wird und schließlich durch
Zug auf den Draht nach der letzten Schweißstelle abgebrochen wird, dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen einer Elektrode (10) und dem Ende des Drahtes (9) eine elektrische Funkenentladung
gezündet wird mit einer Entladungsenergk, die den Drahi gerade bis unter die Ausnehmung
schmelzen läßt, daß die durch den geschmolzenen Draht gebildete Kugel (11) durch die Ausnehmung
(8) in der Schweißfläche (6) des Schweißmeißels (5) festgehalten, sodann gegen die Kontaktstelle (2) auf
der Halbleiteranordnung bzw. gegen den Zuführungsleiter
(12) gedrückt und ve-schweißt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausnehmung (8) in der Schweißfläche
(6) des Meißels (5) durch eine Rille gebildet wird, die sich quer zur Drahtrichtung erstreckt.
3. Verfahr η nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Rille (8) eine freite hat, die von der
Größenordnung des doppelten Drahtdurchmessers ist.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausnehmung (8) in der Schweißfläche
(6) des Meißels (5) durch einen kegelförmigen Hohlraum gebildet wird, wobei der Scheitelwinkel
des Kegels in der Größenordnung von 120" liegt.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrische Funkenentladung
mit Hilfe einer Spule erhalten wird, deren Primärwicklung durch einen sich entladenden
Kondensator gespeist wird, wobei die Entladungszeit des Kondensators kleiner als 5 ms gewählt wird,
und die Energie der Funkenentladung durch die Kor.densatorspannung bestimmt wird.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL7406783A NL7406783A (nl) | 1974-05-21 | 1974-05-21 | Werkwijze voor het aanbrengen van een draad- verbinding aan een halfgeleiderinrichting. |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2522022A1 DE2522022A1 (de) | 1975-12-11 |
DE2522022B2 DE2522022B2 (de) | 1979-05-17 |
DE2522022C3 true DE2522022C3 (de) | 1980-01-10 |
Family
ID=19821385
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2522022A Expired DE2522022C3 (de) | 1974-05-21 | 1975-05-17 | Verfahren zum Anbringen einer Drahtverbindung zwischen einer Kontaktstelle auf einer Halbleiteranordnung und einem Zuführungsleiter |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5118477A (de) |
DE (1) | DE2522022C3 (de) |
FR (1) | FR2272491B1 (de) |
GB (1) | GB1502965A (de) |
HK (1) | HK1079A (de) |
IT (1) | IT1038208B (de) |
NL (1) | NL7406783A (de) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1600021A (en) * | 1977-07-26 | 1981-10-14 | Welding Inst | Electrical inter-connection method and apparatus |
NL8005922A (nl) * | 1980-10-29 | 1982-05-17 | Philips Nv | Werkwijze voor het vormen van een draadverbinding. |
AU569998B2 (en) * | 1981-03-27 | 1988-03-03 | Dow Chemical Company, The | Process for preparation of diene styrene alpha- methylstyrene block polymers |
FR2555813B1 (fr) * | 1983-09-28 | 1986-06-20 | Hitachi Ltd | Dispositif a semi-conducteurs et procede de fabrication d'un tel dispositif |
CH673908A5 (de) * | 1987-05-26 | 1990-04-12 | Vyacheslav Gennadievich Sizov | |
JPH0614322U (ja) * | 1992-07-28 | 1994-02-22 | 東洋化学株式会社 | 合成樹脂製軒樋継手 |
-
1974
- 1974-05-21 NL NL7406783A patent/NL7406783A/xx not_active Application Discontinuation
-
1975
- 1975-05-16 IT IT2343475A patent/IT1038208B/it active
- 1975-05-16 GB GB2084075A patent/GB1502965A/en not_active Expired
- 1975-05-17 DE DE2522022A patent/DE2522022C3/de not_active Expired
- 1975-05-19 JP JP5877875A patent/JPS5118477A/ja active Granted
- 1975-05-21 FR FR7515783A patent/FR2272491B1/fr not_active Expired
-
1979
- 1979-01-04 HK HK1079A patent/HK1079A/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1502965A (en) | 1978-03-08 |
HK1079A (en) | 1979-01-12 |
JPS5310427B2 (de) | 1978-04-13 |
FR2272491A1 (de) | 1975-12-19 |
FR2272491B1 (de) | 1978-10-27 |
DE2522022B2 (de) | 1979-05-17 |
NL7406783A (nl) | 1975-11-25 |
JPS5118477A (en) | 1976-02-14 |
IT1038208B (it) | 1979-11-20 |
DE2522022A1 (de) | 1975-12-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0655020B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur herstellung einer kontaktmetallisierung | |
EP0651407B1 (de) | Verfahren zum Kontaktieren des Wicklungsdrahtes einer Spule mit einem Anschlussstift | |
DE2832050C2 (de) | ||
CH496387A (de) | Verfahren zum Verdrahten einer elektrischen Schaltungsanordnung und Vorrichtung zur Ausführung des Verfahrens | |
DE3343738A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum anheften eines duennen elektrisch leitenden drahtes,insbesondere aluminiumdrahtes, an elektrische kontaktstellen bzw. -flaechen (bonden) von elektrischen oder elektronischen bauteilen, insbesondere halbleiter-bauelementen | |
DE4317131A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Durchführung eines drahtkontaktierens unter Verwendung von Lötdraht | |
DE3134498C2 (de) | Verfahren zur Verbindung von Einzelteilen durch Schweißen und gleichzeitiges Verlöten oder nur Verlöten | |
DE2522022C3 (de) | Verfahren zum Anbringen einer Drahtverbindung zwischen einer Kontaktstelle auf einer Halbleiteranordnung und einem Zuführungsleiter | |
DE3300549A1 (de) | Gedruckte schaltungsplatine und verfahren zu ihrer herstellung | |
DE4013391C2 (de) | ||
DD205294A5 (de) | Verfahren zur herstellung einer drahtverbindung | |
DE4022664A1 (de) | Bondwerkzeug und vorrichtung zum befestigen und kontaktieren eines elektrischen leiters auf bzw. mit einer kontaktflaeche | |
DE3629864A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zum schweissen von draehten geringer dicke | |
DE3313456C2 (de) | Impuls-Lötverfahren | |
DE2646233A1 (de) | Schweissgeraet | |
DE2343365A1 (de) | Elektroschweissgeraet | |
DE1665253C3 (de) | Verfahren zum Verbinden mindestens eines Anschlußdrahtes mit einer Mikroschaltung | |
DE2509763C3 (de) | Mehrdraht-Sauerstoffelektrode und Verfahren zur Herstellung derselben | |
EP0789923B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum kontaktieren des wicklungsdrahtes einer spule | |
DE2125748A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Verschweißen eines Drahtes mittels einer Thermokompressionsverbindung | |
DE4329708A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Verbindungsherstellung | |
DE10326351B4 (de) | Vorrichtung mit Elektroden für die Bildung einer Kugel am Ende eines Drahts | |
EP1166331B1 (de) | Verfahren zum verbinden eines stromzuführungsdrahtes mit einem kontaktblech einer elektrischen lampe | |
DE2855058A1 (de) | Anoden- und kathodenleitungsdrahtaufbau fuer festkoerperelektrolytkondensatoren | |
DE2809423C2 (de) | Verfahren zum Herstellen eines elektrischen Kondensators |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |