DE2513860A1 - Verfahren zur herstellung einer aus tantal bestehenden schicht fuer duennschichtkondensatoren bzw. duennschichtwiderstaenden - Google Patents
Verfahren zur herstellung einer aus tantal bestehenden schicht fuer duennschichtkondensatoren bzw. duennschichtwiderstaendenInfo
- Publication number
- DE2513860A1 DE2513860A1 DE19752513860 DE2513860A DE2513860A1 DE 2513860 A1 DE2513860 A1 DE 2513860A1 DE 19752513860 DE19752513860 DE 19752513860 DE 2513860 A DE2513860 A DE 2513860A DE 2513860 A1 DE2513860 A1 DE 2513860A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- thin
- layer
- tantalum
- etching solution
- film resistors
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 title claims description 16
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 16
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims description 11
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 6
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 239000000654 additive Substances 0.000 claims description 7
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 7
- 239000004922 lacquer Substances 0.000 claims description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 4
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 claims description 3
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 2
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 6
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000002318 adhesion promoter Substances 0.000 description 1
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000009987 spinning Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000010301 surface-oxidation reaction Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/005—Electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/702—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof of thick-or thin-film circuits or parts thereof
- H01L21/707—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof of thick-or thin-film circuits or parts thereof of thin-film circuits or parts thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N97/00—Electric solid-state thin-film or thick-film devices, not otherwise provided for
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
- Materials For Photolithography (AREA)
- Weting (AREA)
Description
SIEISITS AKTIEIiC-SSEII1SCaIPT !.Tünchen 2, den 27MRZ 197
Eerlin und München Witteisbacherplatz 12
2513860 ™ 75 P 6 0 h 6 BRD
Verfahren zur Herstellung einer aus Tantal bestehenden Schicht
für Dünnschichtkondensatoren bsAV. Dünnschichtwiderständen
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung einer aus Tantal bestehenden Schicht für Dünnschichtkondensatoren bzw.
Dünnschichtwiderständen, wobei auf einem Substrat eine Tantalschicht und danach eine Photolackschicht aufgebracht wird, und
wobei anschließend das so hergestellte Produkt getrocknet, balichtet,
entwickelt> in "/asser gespült, der Lack ausgehärtet,
die Tanta!schicht sodann geätzt wird, woran sich eine Spülung
in V,rasser, ein Ablösen der Laektnaske urdein weiterer Spülvorgang
anschließen.
Ss ist bekannt, die Tantalschicht von Dünnschichtkondensatoren
es·.·/. Dünnschichtwiderständen an vorgegebenen Bereichen in Plußsäure-Salpetersäure-Gemischen
wegzuätzen. Dabei werden die Stellen, die nicht wegzuätzen sind, durch Photolithographie mit
einer Laeknaske versehen. Häufig reicht jedoch die Haftung der Lackmaske nicht aus, so daß je nach Beschaffenheit und Dicke
der Tantalschicht eine starke Uxiterätzung und/oder Abschwimmen der Xaeknaske vor Beendigung des Ätzprozesses auftreten können.
Zur Vermeidung dieses Hachteils ist es üblich, die Haftung von
Photolacken durch Ausheizen der Substrate durch spezielle Lackzusätze oder Haftvermittler zu erhöhen. Ein derartiges Vorgehen
verbietet sich jedoch bei Tantalschichten. Bei ihnen ist nämlich ein Trocknen bei einer Temperatur oberhalb 1500C problematisch,
da hierbei bereits Diffusionsvorgänge sov/ie Oberflächenoxydation
auftreten. Bekannte Lackzusätze sind dagegen für die Anwendung
VPA 9/610/4003 GS/Bo - 2-
609840/0623
auf dem Gebiet der Tantaldünnschichttechnik nicht ausreichend
oder bedingen einen hohen bearbeitungstechnischen Aufwand.
Es ist Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren zur Herstellung einer aus Tantal bestehenden Schicht anzugeben, die an den entsprechend
der Elektrodenkonfiguration zu entfernenden Bereichen v/eggeätzt werden soll, wobei ein Angreifen bzw. eine Unterätzimg
der Lackniaske vermieden wird.
Das Verfahren gemäß der Erfindung besteht darin, daß die Ätzlösung,
durch die die Tantalschicht an den nicht durch die Lackmaske abgedeckten Stellen weggeätzt wird, mit in an sich bekannter
Weise mit einem Essigsäure-Zusatz versehen wird.
Ätzlösungen mit Essigsäure-Zusätzen sind zwar bekannt. Bei ihnen
dient jedoch der Essigsäure-Zusatz lediglich zur Pufferung, Alle bisherigen bekannten Bemühungen, die Unterätzung und/oder das
Abschwimmen der Lackmaske zu verhindern, richteten sich ausschließlich auf die Beschaffenheit oder Behandlung der lackmaske.
Durch das erfindungsgemäße Verfahren wird nun überraschender Weise eine größtmögliche Schonung dex' Iiackmaske erreich.
Demnach kann das Ausheizen bei hohen Temperaturen entfallen, das wegen der oben aufgeführten Nachteile problematisch ist. Der aus
Essigsäure bestehende Zusatz zum Ätzmittel übertrifft weiterhin die Wirkung der bekannten lackzusätze um ein Vielfaches. Gleichzeitig
wird der bekannte Puffer-und Verdünnungseffekt der Essigsäure ausgenutzt.
Im folgenden wird das Verfahren anhand eines Ausführungsbeispiels näher erläutert:
Das Ausführungsbeispiel betrifft ein Verfahren zur Herstellung
der Grundelektrode eines Tantal-Dünnschichtkondensators.
VPA 9/610/4003 . - 3 -
609840/0623
Das Grundmaterial bestellt aus einem Hart glas substrat, das
durch Kathodenzerstäubung mit einer Tantal-Schicht von etwa 4-500 A beschichtet wird. Danach wird ohne spezielle Trocknung
des beschichteten Hartg\Lassubstrats eine etwa 2 u dicke Photolackschicht
durch Schleudern aufgebracht. Eine sich anschließende Trocknung erfolgt bei 800C eine halbe Stunde lang im Umluftofen.
Danach wird das Produkt mit einer 200 ¥ starken Belichtungsmaschine etwa 12 Sekunden lang belichtet und in einem
verdünnten alkalischen Entwickler etwa 50 Sekunden lang entwickelt,
!lach einer Spülung in Wasser (10 Minuten) und einer
Aushärtung des leckes von einer 1/2 Stunde bei 1500C im Unlux'tofen
erfolgt das Eintauchen des Produkts bei Raumtemperatur in ein C-eniisch, das aus 40 jiiger Flußsäure, 65 $iger Salpetersäure
und Essigsäure im Verhältnis 1:3:3 besteht. Dabei wird die Tantalschicht
an den nicht abgedeckten Stellen in 90 Sekunden vollständig weggeätzt. Anschließend erfolgt eine Spülung in V/asser
10 I.Iinuten lang und ein Ablösen der Lackmaske in Azeton z.B. bei
einer Temperatur von 800C, einninütiger Dauer und einer Spülung
in Wasser.
2 Patentansprüche
VPA 9/610/4003 - 4 -
609840/0623
Claims (2)
1. Verfahren zur Herstellung einer aus Tantal bestehenden
Schicht für Dünnschichtkondensatoren bzw. Dünnschichtwiderständen, wobei auf einem Substrat eine Tantalschicht und
danach eine Photolackschicht aufgebracht wird, und wobei anschließend
das so hergestellte Produkt getrocknet, belichtet, entwickelt, in V/asser gespült, der Lack ausgehärtet, die Ta.ntalschicht
sodann geätzt v/ird, woran sich eine Spülung in Wasser, ein Ablösen der Lackniaske und ein weiterer Spülvorgang
anschließen, dadurch gekennzeichnet,
daß die Ätzlösung, durch die Tantalschicht an den nicht durch
die lackmaske abgedeckten Stellen v/eggeätzt wird, mit in an sich bekannter V/eise mit einem Essigsäure-Zusatz versehen wird,
2. Pur das Verfahren nach Anspruch 1 verwendete Ätzlösung, da durch
gekennzeichnet , daß die Ätzlösung
aus einem Gemisch von etwa 40 $iger- Flußsäure, etwa
65 zeiger Salpetersäure und Essigsäure im Verhältnis von etwa
1:3:3 besteht.
VPA 9/610/4003
6098A0/0623
Priority Applications (10)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752513860 DE2513860C3 (de) | 1975-03-27 | Verfahren zur Herstellung einer aus Tantal bestehenden Schicht für Dünnschichtkondensatoren bzw. Dünnschichtwiderständen | |
CH96476A CH604352A5 (de) | 1975-03-27 | 1976-01-27 | |
SE7602902A SE7602902L (sv) | 1975-03-27 | 1976-02-27 | Forfarande for framstellning av skikt av tantal for tunnskiktskondensatorer resp.- motstand |
DK89176A DK141107C (da) | 1975-03-27 | 1976-03-02 | Fremgangsmaade til fremstilling af en af tantal bestaaende filmtil tyndfilmkondensatorer eller tyndfilmmodstande |
GB10433/76A GB1504264A (en) | 1975-03-27 | 1976-03-16 | Etching of tantalum layers |
FR7608510A FR2305838A1 (fr) | 1975-03-27 | 1976-03-24 | Procede pour la fabrication d'une couche en tantale pour realiser des condensateurs ainsi que des resistances a couches minces |
IT21523/76A IT1058515B (it) | 1975-03-27 | 1976-03-24 | Procedimento per formare uno strato di tantalio per condensatori a strato sottile o per resistori a strato sottile |
NL7603138A NL7603138A (nl) | 1975-03-27 | 1976-03-25 | Werkwijze voor het aanbrengen van een uit tanta- lium bestaande laag voor dunnelaagkondensatoren respektievelijk dunnelaagweerstanden. |
JP51034115A JPS5823735B2 (ja) | 1975-03-27 | 1976-03-26 | 薄膜コンデンサ−ないし薄膜抵抗用のタンタルから成る層の製法 |
BE165593A BE840074A (fr) | 1975-03-27 | 1976-03-26 | Procede pour la fabrication d'un couche en tantale pour realiser des condensateurs ainsi que des resistances a couches minces |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752513860 DE2513860C3 (de) | 1975-03-27 | Verfahren zur Herstellung einer aus Tantal bestehenden Schicht für Dünnschichtkondensatoren bzw. Dünnschichtwiderständen |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2513860A1 true DE2513860A1 (de) | 1976-09-30 |
DE2513860B2 DE2513860B2 (de) | 1977-06-08 |
DE2513860C3 DE2513860C3 (de) | 1978-01-26 |
Family
ID=
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5823735B2 (ja) | 1983-05-17 |
NL7603138A (nl) | 1976-09-29 |
DK141107B (da) | 1980-01-14 |
DE2513860B2 (de) | 1977-06-08 |
BE840074A (fr) | 1976-09-27 |
FR2305838A1 (fr) | 1976-10-22 |
CH604352A5 (de) | 1978-09-15 |
SE7602902L (sv) | 1976-09-28 |
DK141107C (da) | 1980-07-07 |
IT1058515B (it) | 1982-05-10 |
JPS51121174A (en) | 1976-10-22 |
GB1504264A (en) | 1978-03-15 |
DK89176A (da) | 1976-09-28 |
FR2305838B1 (de) | 1981-02-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3501675A1 (de) | Mittel und verfahren zur entfernung von fotoresist- und stripperresten von halbleitersubstraten | |
DE3723402A1 (de) | Verfahren zum spuelen eines substrats | |
DE2722557A1 (de) | Verfahren zum aufbringen von metallisierungsmustern auf einem halbleitersubstrat | |
DE2447225A1 (de) | Verfahren zum loesen von positivem photolack | |
DE2439300A1 (de) | Verfahren zum aetzen abgeschraegter raender, insbesondere an siliziumoxidschichten | |
DE1597756A1 (de) | Maske zum Herstellen einer Maskierung durch Belichten und Herstellungsverfahren | |
DE1622333A1 (de) | Herstellungsverfahren fuer eine Maske zum Herstellen einer Maskierung | |
DE2336511A1 (de) | Verfahren zum selektiven entfernen eines anteils eines polyimidsubstrats | |
DE2227344A1 (de) | Verfahren zum aufbringen einer selektiv geaetzten, organischen schicht auf eine halbleiteroberflaeche | |
DE2513860A1 (de) | Verfahren zur herstellung einer aus tantal bestehenden schicht fuer duennschichtkondensatoren bzw. duennschichtwiderstaenden | |
US2283170A (en) | Method of coloring etched stainless steel | |
DE2302148A1 (de) | Verfahren zur herstellung eines phosphosilikatglasschichtmusters auf einem substrat und mit einem durch dieses verfahren hergestellten schichtmuster versehene anordnung | |
DE2513860C3 (de) | Verfahren zur Herstellung einer aus Tantal bestehenden Schicht für Dünnschichtkondensatoren bzw. Dünnschichtwiderständen | |
DE1293456B (de) | Verfahren zum nachbehandeln aromatischer polyimidfolien oder -formkoerper | |
US3684569A (en) | Process of producing conductive gold patterns | |
DE2225366A1 (de) | Verfahren zum Entfernen von Vor Sprüngen an Epitaxie Schichten | |
DE1920932A1 (de) | Kopierlack fuer die Halbleitermaskierung | |
DE2007693C3 (de) | ||
DE2410880A1 (de) | Verfahren zum herstellen eines maskierenden musters aus photolack | |
DE2637105B2 (de) | Verfahren zum gleichmäßigen Verteilen eines Lackes | |
DE2061942A1 (de) | Stripperbadzusammensetzung | |
DE2263645C2 (de) | Elektrolumineszente Wiedergabevorrichtung sowie Herstellungsverfahren hierfür | |
DE2416543A1 (de) | Verfahren zum bilden eines elektronennegativlackmusters | |
DE2321013A1 (de) | Verfahren zum aetzen eines musters in einer siliciumnitridschicht und halbleiteranordnung, die durch dieses verfahren hergestellt ist | |
DE1052206B (de) | Verfahren zum Einschichtemaillieren eines Bleches |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |