DE2325315A1 - Verfahren und vorrichtung zum mechanischen modulieren eines teilchenflusses - Google Patents
Verfahren und vorrichtung zum mechanischen modulieren eines teilchenflussesInfo
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Description
Dlpl.-rng. Β.ΟΕΠΤ2 β·«.
Dlpl-ΪΓ!-. K. C.Af«*S»rtECHT
Dr.-h.g. R.B£ETZJr.
• MQticheη 22, 8tein«dorfetr. 10
• MQticheη 22, 8tein«dorfetr. 10
41O-2O-771P
18. Mai 1973
COMMISSARIAT A L1ENERGIE ATOMIQUE
Paris (Prankreich)
Verfahren und Vorrichtung zum mechanischen Modulieren eines Teilchenflusses
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum mechanischen
Modulieren eines Teilchenflusses sowie auf zum Durchführen eines solchen Verfahrens geeignete Vorrichtungen.
Dabei soll der Ausdruck "Teilchen" in ganz allgemeinem
Sinne verstanden werden und insbesondere -auch Photonen mit einschließen, so daß die Erfindung ganz>
allgemein die Modulation der Intensität einer Strahlung betrifft.
Wenn man eine physikalische Größe messen will, die in
ein Untergrundrauschen eingebettet ist, ist es bekanntlich notwendig, das Nutzsignal mit einer festen Periode und Phase
410-(B 4399.3)-DfBk
309848/1003
zu modulieren, um es mit Hilfe eines SynchronVerstärkers
feststellen zu können.
Wenn es sich bei der zu messenden physikalischen Größe
um einen Teilcherifluß oder um eine Strahlung handelt, fällt die Wahl für den Modulator häufig auf eine mechanische Vorrichtung;
ein solcher Modulator enthält gewöhnlich die Quelle für die Teilchen oder die Strahlung in einer feststehenden
Lage, einen Kollimator und schließlich einen beweglichen Verschluß, der den Weg der Teilchen oder der Strahlung periodisch
unterbricht, um einen modulierten Fluß zu erhalten. Derartige Geräte lassen sich beispielsweise zum Modulieren von Quellen
für sichtbares, infrarotes und ultraviolettes Licht, für
y - oder Röntgenstrahlen oder für Neutronen- oder sonstige
Teilchenstrahlen verwenden.
In manchen Fällen müssen die Messungen in Anwesenheit einer gleichartigen physikalischen Größe, nämlich eines
Teilchenflusses oder einer Strahlung vorgenommen werden, wobei diese andere physikalische Größe entweder von vornherein
vorhanden ist und sich nicht unterdrücken läßt, also eine Störerscheinung darstellt, oder in ihrem Einfluß auf die
Meßergebnisse oder auf die Wirkung des modulierten Signals untersucht werden soll. Als Beispiele für solche Fälle können
genannt werden* die Untersuchung von Fluoreszenz oder Phosphoreszenz
eines Materials, die durch eine modulierte Strahlung in Anwesenheit eines konstanten Flusses gleicher Art ausgelöst
werden, die RÖntgenfluoreszenzanalyse eines seinerseits Kernstrahlung aussendenden Körpers, die Untersuchung des -^'
Ansprechverhaltens eines Kernstrahlungsdetektors mit moduliertem
Fluß in Anwesenheit einer konstanten Strahlung und die Messung der Dichte einer Kernspaltungsprodukte enthaltenden
Mischung durch Absorptionsbestimmung.
309 848/1003
. Die bisher verwendeten mechanischen Modulationsvorrichtungen
enthalten eine oder mehrere Quellen für die Aussendung von Teilchen oder Strahlung; zwischen diesen Quellen und der
Stelle, wo der modulierte Fluß aufgefangen werden soll, ist ein Verschluß eingeschoben, der den Teilchenfluß oder die
Strahlung periodisch unterbricht. Dieser Verschluß besteht aus einer Materialprobe, deren Dicke ausreicht, um etwa
90 % der Intensität des Teilchenflusses oder der Strahlung
zu absorbieren. ■
Diese bekannten Vorrichtungen arbeiten mit einer periodischen Variation der Lage des Verschlusses mit einer Frequenz,
die gleich der Modulationsfrequenz für den zu modulierenden Fluß ist, was dann, wenn bereits von vornherein ein Fluß oder
eine Strahlung vorliegt, den Nachteil hat, daß es zwangsweise zu' einer störenden Svnchronmodulation dieses Flusses oder dieser
Strahlung kommt. Befinden sich nämlich die Strahlungsquelle und die Meßstelle auf entgegengesetzten Seiten des Modulators,
so kommt es zu einer periodischen Dämpfung des von vornherein vorhandenen Flusses durch den Verschluß, während bei einer
Lage von Strahlungsquelle und Meßstelle auf der gleichen Seite des Modulators der von vornherein vorhandene Fluß eine
periodisch variierende Reflexion erfährt, wobei die Frequenz für die Dämpfung oder die Reflexion des von vornherein vorhandenen
Flusses gleich der Modulationsfrequenz für die interessierende Strahlung bzw. den interessierenden Fluß ist.
In beiden Fällen ist es nicht möglich, diese störende Modulation zu beseitigen, wenr nicht auf den beweglichen Ver-Schluß
verzichtet werden kann/ für den Nutzfluß einen möglichst großen Modulationsgrad zu erhalten; dazu ist es nun erforderlich, daß der Verschluß in geschlossener Stellung einen mög-
' der Fluß/'
liehst großen Anteil des Flusses absorbiert, wahrenxi^bei offe-
Außerdem wird meist gewünscht,
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ner Stellung des Verschlusses möglichst intensiv sein soll. •Diese beiden Bedingungen führen zu einem Kompromiß in der
Auswahl für die Dicke des Verschlusses, und dieser Kompromiß wird umso unbefriedigender, je geringer der lineare Absorptions
koeffizient für die betrachtete Strahlung ist.
Die bekannten mechanischen Modulationsvorrichtungen finden insbesondere Anwendung in mit f -Strahlungsabsorption arbeitenden
Analysiergeräten, die zum Messen der Konzentration an Schwermetallen in Lösungen bestimmt sind, die Störquellen
darstellende ^*-Strahler enthalten.
Die interessierende Schwerelementkonzentration ist mit
der Intensität 7 eines ^"-Strahls nach dem Durchgang durch
eine die Meßlösung enthaltende Meßzelle durch die Beziehung I = I„ exp - kc verbunden, in der I0 für die Intensität des
^-Strahls vor dem Durchgang durch die Meßzelle, c für die
Schwerelementkonzentration in Gramm pro Liter und k für einen Koeffizienten stehen, der von dem Element, dessen Konzentration
bestimmt, werden soll, und der Probendicke abhängt.
In diesen bekannten Analysiergeräten dient als •^"-Strahlungsquelle
im allgemeinen eine Quelle, die das Radioisotop
Am enthält. Das Vorhandensein von Kernspaltungsprodukten mit T -Strahlern verschiedener Energie in der in der Meßzelle
enthaltenden Lösung läßt jedoch Störsignale entstehen, deren Stärke tausendfach größer sein kann als die des Nutzsignals
I. Es ist daher unbedingt erforderlich, dieses Störsignal vollkommen zu beseitigen; das wirksamste und gleichzeitig
einfachste Verfahren dafür besteht darin, die interessierende 7" -Strahlung mit bekannter Frequenz und Phase zu modulieren
und mit Hilfe eines Synchronverstärkers wieder zu demodulieren.
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Zum Erzeugen eines modulierten f -Flusses wird im allgemeinen
zwischen die Strahlungsquelle mit dem Isotop Am und die Meßzelle ein Verschluß eingeschoben^ der aus drehen=
den Flügeln besteht,, die den ^"-Strahl periodisch unterbrechen,,
Diese Lösung für die Modulation ermöglicht jedoch keine vollkommene Unterdrückung des Störflusses,, da ein Teil dieses
Flusses durch die drehenden Flügel periodisch reflektiert wird und -daher eine· Modulation mit der gleichen Frequenz erfährt
x-tfie das Nutzsignal„ Dieser'Anteil des Störsignais läßt
sich dann nicht -mehr mit Hilfe des Synchronverstärkers vom Mutzsignal trennen» Außerdem können die Leitungen für die Zu=
führung der zu untersuchenden Lösung zur Meßzelle eine durch die drehenden Flügel vom Strahlungsdetektor getrennte Quelle
für γ -Strahlung bildenj in diesem Fall© kommt es zur Entstehung
eines x-jeiteren modulierten Störflusses,
Dsr Erfindung liegt die Aufgabe zugrundes einen Heg anzugeben^
auf dem sich unter Vermeidung der oben geschilderten
Nachteile eine Modulation für dps Mutzsignal.' als für di©
Störsigpaie'©^halten läßt« · -.--...
Diese7Aufgabe wird b©i einem Verfahren zum mechanischen
Modulieren eines T©ilchenfluss©s erfindungagemiß dadurch gelöst*
daß an ©inei> Stelle für die Aufnahme des modulierten.
Teilchenflusses periodisch und alternierend Teilchen emittier
'rende Quellen und Leerepaollen. vorbeigeführt werden^ die von
solcher Art gind^ daß sio" irar Verlauf ihres» Verschiebung
gleichartige^ &!>©£■ um ©in© Halbp®pipd© yqfü
täten ©^zeugen t-jie dlQ Teilchen ©aitti®FQiiö©n
line zum Dareliflte'en des ©FfindungsgoiiSiQKi
e vorrichtung ist dadureli geteesmgQiotoQfeß ^IqS qIo
einQ alteralo^QBd und mit glelohförmigdra übstaai nit
und LaxSFquelien v©Fi©h©n© gs^iü v&& ©i
b In üqt I-Jeis© a^fcJQistj üaB äio
Teilchenquellen und die Leerquellen periodisch und alternie-•
rend an einer Stelle für die Aufnahme des modulierten Teilchenflusses
vorbeigehen, wobei die Leerquellen von solcher Art sind, daß sie im Verlaufe ihrer Verschiebung Inhomogenitäten
in den physikalischen Eigenschaften dergcheil* entstehen
lassen, die den durch die Teilchenquellen hervorgerufenen gleichartig,1 aber um eine Halbperiode dagegen versetzt sind.
Bei einem Einsatz der erfindungsgemäßen Vorrichtung in . einem mit 7*™stranlunSsat)S-orPtiori arbeitenden Analysiergerät
weist eine erfindungsgemäß ausgebildete Vorrichtung eine in eine feststehende Platte aus einem Schwermetall
eingesetzten Meßzelle, in der eine Lösung strömt* die parasitäre
γ-Strahler enthält und in der die Konzentration an schweren Elementen bestimmt werden sollß eine zu dieser feststehenden
Platte parallele uxid mit einer mittig daran angreifenden Antriebswelle gekoppelte volle Scheibe^ mindestens ein
Paar von mit gleichem Abstand von der Scheibeninitte und mit
gleichförmigem Winkelabst&nd auf der' Scheibe sitzenden Quellen*
von denen jeweils die eine eine ^-Strahlenquelle und_die
andere eine Leerquelle gleicher Form ist, und ein Antriebsorgan auf, das die mit der vollen Scheibe verbundene Antriebswell©
in eine Drehung mit gleichförmiger Drehzahl versetzt,
wobei die Lage der verschiedenen Teil© des Änalysl@rgeräts
relativ, zueinander derart ISt1, daß di© verschiedenen Quellen
im Verlauf der Drehung der-'S-chelbe d©r Reih© nach an der Meßzelle
vorbeigehen«
In Ausgestaltung dieser Ausftihrungsforra u<by>
Erfindung kann die volle Scheibe vi©r ura je fj©P gegeneinander versetzte
Quellen, nämlich zwei ©inand<§y dlaÄteal g©g©nüb©s»li©g©nd©
Quellen, die das Qs$ü des Am 9nth&tt<BnD un® zw©i g!©i©fa®
Leerqtaellen tragen, in denen das Oxyd des As durch.©iß-
f-Straiilung emittierejriiai Oxyd ■ eröfizfc is>t„ -W@it©s1sin kann
■die extfixtdungsgemäfie YqttI©htung so a«sg©bild@t m±ms daS die
BAD0R!GINÄL;
.- 7
feststehende Platte aus Schwermetall eine Ausnehmung für die Aufnahme eines Bezugskeiles" aufweist^, daß auf der der
vollen Scheibe abgewandten Seite der Platte gegenüber deren Außenrand ein Detektor für 7* ~sZahlung angeordnet ist und
daß die Kombination aus Quellen und Detektor sich parallel zur feststehenden Platte zwischen zwei Stellungen verschieben
läßt,, in deren einer sie dem Bezugskeil und in deren anderer
sie der Meßzelle gegenübersteht.
Pur vdie weitere Erläuterung der Erfindung wird nunmehr .
auf die Zeichnung Bezug genommen^ in der ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel für eine erfindungsgemäß ausgebildete
Vorrichtung veranschaulicht ista die im Rahmen eines Analysiergeräts
verwendet werden kann.
Die einzige Figur der Zeichnung zeigt dabei in schematisch gehaltener Weise den gesamten Aufbau des Analysiergerätes in
zwei Betriebsstellungeny wobei die Darstellung mit strichpunktierten
Linien der Meßstellung entspricht.
Das dargestellte Analysiergerät enthält in der Hauptsache;
a) eine Meßzelle Kg in der eine Lösung strömt^ in der die
Konzentration an Schwerelementen bestimmt werden soll und die
störende X -Strahler enthält^ und die in eine Platte 5 aus
einem Schwermetall wie Stahl oder Blei eingesetzt ist5
b) eine volle Scheibe Ix, die mit einer in ihrem Zentrum
befestigten Antriebswelle 11 gekoppelt ist und Strahlung
emittierende Quellen und Leerquellen trägta die unten noch
im einzelnen geschildert werden,
c) einen Antriebsmotor 2 für die Drehung der Antriebswelle 11 und
309848/1003.
d) einen Strahlungsdetektor 6.
Die Kombination aus der Seheibe 1 und dem Detektor 6 kann
eine Translati©nsbewegung in Richtung der Pfeile P1 und P0 ausführen,
in deren Verlauf sie von der in der Zeichnung mit ausgezogenen Linien dargestellten Bezugsstellung in die in der
Zeichnung mit strichpunktierten Linien wiedergegebene Meßstel- lung
gelangt und umgekehrt.
Die an dieser Translationsbewegung teilnehmenden Bauteile
des Analysiergerätes sind in der Zeichnung in der Meßstellung mit den gleichen Bezugszahlen wie in der Bezugstellung bezeichnet,
wobei jedoch jeweils ein Indexstrich beigefügt ist.
Der f -Strahlungsfluß, der zur Messung der Konzentration
der in der Meßzelle 4 umlaufenden Lösung moduliert werden soll,
ph-i
wird durch zwei Quellen 3 mit dem Oxyd des Am erzeugt, die einander auf der Scheibe 1 diametral gegenüberliegen.
Ausgehend von der Voraussetzung, daß die Anwesenheit
dieser Strahlungsquellen 3 während der Rotation der Scheibe 1 Inhomogenitäten in den physikalischen Eigenschaften dieser
Scheibe 1 erzeugt, die insoweit eine störende Wirkung ausüben, als sie die von der Lösung in der Meßzelle 4 ausgehende und
an der Scheibe 1 reflektierte Störstrahlung mit der gleichen Frequenz modulieren wie den von den Strahlungsquellen 3 ausgehenden
ff-Pluß, sind in die Scheibe 1 noch zwei weitere
Quellen 12 als nicht strahlende oder Leerquellen eingesetzt, die relativ zu den Strahlungsquellen 3 um 90° versetzt sind.
Diese Leerquellen 12 sind so gewählt, daß sie in der Scheibe 1 Inhomogenitäten entstehen lassen, die den auf die Strahlungsquellen 3 zurückgehenden Inhomogenitäten in der Größe gleich ,
aber um eine Halbperiode dagegen phasenverschoben sind.
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Die Strahlungsquellen 3 sind radioaktive Strahler, die
241
das Oxyd des Am zusammen mit Graphit enthalten und in einer Hülle aus rostfreiem Stahl eingeschlossen sind.
das Oxyd des Am zusammen mit Graphit enthalten und in einer Hülle aus rostfreiem Stahl eingeschlossen sind.
Die Lee^quellen 12 sind den Strahlungsquellen 3 weitgehend
gleich, sie unterscheiden sich davon nur dadurch, daß
pitj
las Oxyd des Am durch
γ -Strahlung emittiert:
γ -Strahlung emittiert:
pit j
das Oxyd des Am durch ein Oxyd ersetzt ist., das keine
Von Vorteil ist es, für die Leerquellen 12 eine Mischung
zu verwenden, die wie beispielsweise eine Mischung aus Eisen und Aluminium.der für die Strahlungsquellen 3 verwendeten Mischung
in Zusammensetzung und Dichte sehr näherkommt.
Die feststehende Platte 5 absorbiert mindestens 95 %
des von den Strahlungsquellen 3 ausgesandten Strahlungsflusses.
Der Strahlungsdetektor 6 besteht aus einem sehr dünnen (Dicke zwischen 0,2 und O5 5 mm) Szintillator Y^ der mit einer
Photozelle 8 gekoppelt ist. Der Strahlungsdetektor 6 ist hinter
der Meßzelle 4 angeordnet und empfängt einen Fluß, dessen Intensität mit der Stellung der Stranlungsquellen 3 periodisch
variiert. Die Amplitude dieses Flusses ist eine Funktion der
Konzentration der Lösung in der Meßzelle 4 an schweren Elementen; die Phasenlage des Flusses wird nach einem Wechselspannungssignal
markiert, das von einem kleinen Dynamo 9 abgegeben wird*
der fest mit dem Antriebsmotor 2 verbundene Magnete aufweist, die bei der Drehung des Motors im Sinne des Pfeiles F-, mitdrehen.
Dieses Wechselspannungssignal dient außerdem zur Steuerung einer elektronischen Schaltung für die Regelung
der Drehzahl des mit Gleichstrom gespeisten Antriebsmotors 2.
Die Platte 4 enthält eine Ausnehmung 10 für die Unterbringung eines Bezugskeilesj dieser Keil ermöglicht nach Verschiebung
der Kombination aus Quellen 3 und Detektor 6 eine
-IQ-
Überprüfung der zuverlässigen Funktionsweise des Analysiergerätes
. , _~ _ ,
Wie die Zeichnung zeigt, wird der Strahlungsdetektor 6'
in der in ausgezogenen Linien dargestellten Bezugsstellung für die Punktionsüberprüfung .zum großen Teil durch die
Platte 5 gegen die von den Spaltproduktmin der Lösung
in der Meßzelle und den Zu- und Ableitungen für diese Lösung ausgehenden X-Strahlung geschützt. Auf diese Weise
wird die Einwirkung der Strahlung auf den Strahlungsdetektor und die zugehörige elektronische Schaltung und damit die Gefahr
von deren Verschlechterung verringert.
Die dargestellte Vorrichtung nach der Erfindung arbeitet
in folgender Weise: ■ . .
Für die Vornahme einer Messung.wird die Kombination aus
Strahlungsquellen 3' und. Detektor 6' vor die Meßzelle in die
in strichpunktierten Linien dargestellte Stellung gebracht und anschließend in die mit ausgezogenen Linien dargestellte
Bezugsstellung vor der. Ausnehmung 10 mit dem Bezugskeil-'überführt..
Das vom Detektor 6Λ abgegebene Signal ist nach Synchronverstärkung
und Bestimmung dem Fluß I durch die Meßzelle 4 proportional, und der Ausgangswert I~ für diesen,Fluß ist
dem Signal proportional, das an der Kombination aus Strahlungsquellen j5 und Detektor β in der in ausgezogenen Linien dargestellten
Bezugsstellung auftritt.
Bei Kenntnis der Größen I und I kann man anhand der Formel I=I exp - kc auf die Konzentration c der Lösung
in der Meßzelle 4 an schweren Elementen schließen.
Der erfindungsgemäß ausgebildete Modulator bietet den
/1003
Vorteil, daß sich dank der passend ausgewählten Leerquellen
eine Modulation der auf eine periodisch variierende Reflexion oder Transmission zurückgehenden Störstrahlung erhalten läßt,
die sich in ihrer Frequenz von der der Nutzstrahlung unterscheidet.
Außerdem liefert der erfindungsgemäß ausgebildete Modulator bei Verwendung gleich starker Strahlungsquellen einen
modulierten Fluß, dessen Intensität größer ist als die des mit Hilfe der bekannten, mit Verschiebung eines beweglichen
Absorbers arbeitenden Modulatoren erzielbaren Flusses, da bei dem' erfindungsgemäß ausgebildeten Modulator die Strahlungsquellen
sehr nahe an der Stelle (Meßzelle 4) vorbeigeführt
werden können, wo der modulierte Fluß erzeugt werden soll; dieser Vorteil ist umso ausgeprägter, je durchdringender die
zu erzielende Strahlung ist.
ι-
Die Platte 5 vergrößert den Unterschied zwischen den
Maximal- und Minimalwerten für den von den Strahlungsquellen 3 abgegebenen Fluß; sie spielt die Rolle eines Absorbers
zwischen der Stelle, wo'der modulierte Fluß empfangen werden
soll, und den den Fluß emittierenden Quellen, wenn diese von der Meßstelle entfernt sind (in ausgezogenen Linien dargestellte
Stellung), sie bietet jedoch auch den Vorteil, daß sie kein Hindernis dafür ist, die Strahlungsquellen 3 sehr
nahe an die Meßstelle heranzuführen (in strichpunktierten Linien bezeichnete Stellung).
309848/1003
Claims (5)
- Patentansprüchefly Verfahren zum mechanischen Modulieren eines Teilchenflusses, -dadurch gekennzeichnet, daß an einer Stelle für die Aufnahme des modulierten Teilchenflusses periodisch und alternierend Teilchen emittierende Quellen und Leerquellen vorbeigeführt werden, die von solcher Art sind, daß sie im Verlaufe ihrer Verschiebung gleichartige, aber um eine Halbperiode versetzte Inhomogenitäten erzeugen wie die Teilchen emittierenden Quellen.
- 2. Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sie eine alternierend und mit gleichförmigem Abstand mit Teilchenquellen (3, 3') und Leerquellen (12, 12') versehene Scheibe (1, 1') und eine Einrichtung (2, 2') zum Bewegen dieser Scheibe in der Weise aufweist, daß die Teilchenquellen und die Leerquellen periodisch und alternierend an einer Stelle für die Aufnahme des modulierten Teilchenflusses vorbeigehen, wobei die Leerquellen von solcher Art sind, daß sie im Verlaufe ihrer Verschiebung Inhomogenitäten in den physikalischen Eigenschaften der Scheibe entstehen lassen, die den durch die Teilchenquellen hervorgerufenen gleichartig, aber um eine Halbperiode dagegen versetzt sind.
- 3. Vorrichtung nach Anspruch 2 für einen Einsatz in einem mit T^-Strakiungsabsorpti011 arbeitenden Analysiergerät, dadurch gekennzeichnet, daß sie eine in eine feststehende Platte (5) aus einem Schwermetall eingesetzte Meßzelle (4), in der eine Lösung strömt, die parasitäre 7*-Strahler enthält und in der die Konzentration an schweren Elementen bestimmt werden soll, eine zu dieser feststehenden Platte parallele und mit einer mittig daran angreifenden Antriebs-309848/1003welle (11, 11') gekoppelte volle Scheibe (1, l'), mindestens ein Paar von mit.gleichem Abstand von der Scheibenmitte und mit gleichem winkelförmigen Abstand auf der Scheibe sitzenden Quellen, von denen jeweils die eine eine ^-Strahlenquelle (3* J5') und die andere eine Leerquelle (12, 12') gleicher Form ist, und'ein Antriebsorgan (2, 2') aufweist, das die mit der vollen Scheibe verbundene Antriebswelle in eine Drehung mit gleichförmiger Drehzahl versetzt, wobei die Lage der verschiedenen Teile des Analysiergeräts relativ zueinander derart ist, daß die verschiedenen Quellen im Verlaufe der Drehung der Scheibe der Reihe nach an der Meßzelle vorbeigehen.
- 4. Vorrichtung nach Anspruch J>9 dadurch gekennzeichnet, daß die volle Scheibe (1, 1') vier um je 90° gegeneinander versetzte Quellen, nämlich zwei"einander diametral gegenüber-oiii liegende Quellen (J>s 3')p die das Oxyd des Am enthalten, und zwei gleiche Leerquellen (12P 12') trägt 9 in denen dasoh.%
Oxyd des Am durch ein keine ψ -Strahlung emittierendes Oxyd ersetzt ist. - 5. Vorrichtung nach Anspruch 3 oder K9 dadurch gekennzeichnet, daß die feststehende Platte (5) aus Schwermetall eine Ausnehmung (10) für die Aufnahme eines Bezugskeiles aufweist s daß auf der der vollen Scheibe·(ls 1') abgewandten Seite der Platte gegenüber deren Außenrand ein Detektor (6) für 7~ -Strahlung angeordnet ist und daß di© Kombination aus Quellen (3, 3') und Detektor (6) sich parallel zur feststehenden Platte zwischen zwei Stellungen verschieben läßt, in deren einer sie.dem Bezugskeil und in deren anderer sie der Meßzelle (4) gegenübersteht „ _--3 0 9 8 A 8 ! -' 0 0 3L e e r s e i t e
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