DE2246783A1 - Verfahren zur diagnose von adressierfehlern bei anzeigeeinrichtungen - Google Patents

Verfahren zur diagnose von adressierfehlern bei anzeigeeinrichtungen

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DE2246783A1
DE2246783A1 DE19722246783 DE2246783A DE2246783A1 DE 2246783 A1 DE2246783 A1 DE 2246783A1 DE 19722246783 DE19722246783 DE 19722246783 DE 2246783 A DE2246783 A DE 2246783A DE 2246783 A1 DE2246783 A1 DE 2246783A1
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line
error
screen
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Pending
Application number
DE19722246783
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German (de)
English (en)
Inventor
Lothar Doehle
Hans-Hermann Lampe
Peter Rudolph
Robert Vachenauer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IBM Deutschland GmbH
Original Assignee
IBM Deutschland GmbH
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Publication date
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Priority to GB3905073A priority patent/GB1441418A/en
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2221Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/02Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
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    • G11C29/56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor

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