DE2154794C - - Google Patents
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- DE2154794C DE2154794C DE19712154794 DE2154794A DE2154794C DE 2154794 C DE2154794 C DE 2154794C DE 19712154794 DE19712154794 DE 19712154794 DE 2154794 A DE2154794 A DE 2154794A DE 2154794 C DE2154794 C DE 2154794C
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Description
tungselement-Material eine zusammenhängende Schicht (24, 16, 27) bildet und verschiedene Teile
aufweist, die durch die erste Fläche und durch weitere Flächen getragen werden.
4. Dünnschicht-Bauelement nach einem der Ansprüche 1 b's 3, dadurch gekennzeichnet, daß
es zwei dieser weiteren Flächen (18. 19) aufweist, die in einer Ebene liegen.
5. Dünnschicht-Bauelement nach einem der
Tantal-Nitrid als Widerstandsmaterial das Tantal-Nitrid
als eine Schicht auf ei.ie ebene Hauptfläch...
eines Keramik-Substrates aufgestäubt. Um elektrischen Kontakt mit der Schicht herzustellen, muß eine
mehrfache Schicht verschiedener Kontaktmaterialie;: auf ausgewählte, getrennte Teile der Tantal-Nitrit'·
Schicht "aufgebracht werden. Allgemein können die verschiedenen Kontaktmaterialien auf verschieden!.·!:
Wegen auf die Tan al-Nitrid-Schicht aufgebrachi
Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß 40 werden. Beispielsweise können die verschieden
es zwei dieser weiteren flächen aufweist, und daß die erste Fläche einen anderen spitzen Winkel mit
der ersten weiteren Fläche bildet als mit der zweiten weiteren Fläche.
6. Dünnschicht-Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß
das Schaltungselement-Material Tantal-Nitrid aufweist.
7. Dünnschicht-Bauelement nach einem der Ansprüche I bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß
das Kontaktmateriai Gold aufweist.
8. Dünnschicht-Bauelement nach einem der Ansprüche I bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß
das Kontaktmateriai aus einer Vielzahl von Schichten verschiedenen Kontaktmatcrials gebildet ist.
9. Diinnschirht-Baiieleinent nach Anspruchs,
dadurch gekennzeichnet, daß die verschiedenen Kontaktmatcriaiicri Titan und Gold sind.
10. Verfahren zur Herstellung eines Dünnsch
ich t -Il a 11 eic π 1 l- π u: s, bei dem ein SchalUiiigselement-Materia!
und ein Knntaktrnateria! auf ein
Substrat niedergeschlagen werden, dadurch gekenn/.eichnet,
d.ui ein Substrat mit wenigr.lcn·".
zwei zueinander unicr einem spitzen Winkel geneigten MiiicrialaufnnlHnei'iichen verwendet wird,
und daß dos Sduiiiungf/jlemen! Matern! aus
Kontaktmaterialien auf die gesamte freiliegende Flüche des Tantal-Nitrids aufgedampft und darauf miiteis
Maskierungs- und Atzverfahrens die unerwünschten Teile des Kontaktmaterials entfernt wer
den, so daß lediglich die Flächen des Kontaktmalerials
zurückbleiben, weiche zur Ermöglichung externe; Verbindung der Widersiandsfchicht mit anderen
Schaltungen nötig sind.
Ein anderes Verfahren zum Aufbringen vcrschiedencr
Kontaktmaterialien auf erwünschte Flächen der Tantal-Nitrid-Schicht umfaßt das Maskieren von
Teilen der Tantal-Nitrid-Schicht, um solche Flächen
zu I^edecken, die letztlich nicht durch die verschiedenen
Kontaktmatcriaüen bedeckt werden sollen.
und das anschließende Aufdampfen der Kontaktmatcrialieii
auf die freiliegenden Flächen der Tantal-Nitrid-Schicht.
Da die Maske an die freiliegenden Flächen der Tantal-Nilrid-Schicht angrenzt, wird ein
Teil der Konluktmateriaüen auf der Maske abuela-
fi'j gert. In einem solchen Verfahren mrssen die verschiedenen
KoMtaktmaterialicn, welche auf der Maske abgelagert sind, entfernt werden. Außerdem
muß der Maskienin<:-.schiitt angewendet wc 1 den, gerade
weil er in dem Verfahren zur Anwendung kommt, bei dem da·; unerwünschte Kontak'material
we!',i';eüi/t win'.
Wenn .(iese Uehpiiile sielt auch auf Diinnsdiichi-
ersten Richtung gegenüber dom Suisirat VVuk-i sl.ii'de beziehen, berui'.iüen minen: Arten von
Dimnschicht-Bauclementen auch Kontaktmaterial.
das zur Ermöglichung von Verbindungen mit externen
Schaltungen auf auserwählte Flächen iiufae-
brv.c'.M werden muß. Die Verfahren zum Aufbringen
zahlreicher Arten von Dünnschicht-Schaltunaen auf
cias Substrat sind wohlbekannt und brauchen hier
nicht erkli::i zu werden. Jedoch verwenden Verfahren
zum Aufbringen de? Kontaktmaterials auf erwüiisch'e
Stellen des Dünnsehieht-Bauelementes Prozc.-si.
die den bezüglich dem Tantal-Nitrid-Wider- ic sund oben erklärten ähnlich sind.
i >ie unbenutzten Teile der verschiedenen Kontaktmaioruilien
in den angeführten Beispielen sollten zurückgewonnen werden. Da die verschiedenen Materialien
jedoch schichtweise aufgebracht sind, werden di·. zurückzugewinnenden Materialien verunreinigt,
»'■-.lurch kostspielige RL-inigungsproz^sse nötig wer-C:- -
Hs sind also offensichtlich neue ι .id verbesserte
Herstellungsverfahren für Dünnschicht-Bauelemente m
c!vr;irt nötig, daß die Schritte zum Aufbringen von
K'.ntnktmaterial auf die Bauelemente vermindert >■·.-. rden und das während des Prozesses verwendet
M-iterial ebenfalls reduziert wird.
'■ ■-. ist daher ein Ziel der vorliegenden Erfindung,
rv . und verbesserte Dünnschicht-Bauelcmente und
\, iahren zur Herstellung dieser Bauelemente 7ü
Sl ;;.'.i feil.
Zur Lösung dieser Aufgabe geht die Erfindung
di'ivaeinäß aus von einem Dünnschicht-Baueiemeiit
in:; einem Substrat, das eine erste Materiaiaufnahmefkche
tuid mindestens eine weitere Maierialaufriahini-iiäche
aufweist, wobei auf die erste Flüche Schaltuiiiiselement-Material
aufgebracht ist und auf die wehere ί ü'che Schaltungselement-Maiciial und Kontakmial
rial einander überlappend aufgebraucht sind.
Die erfindungsgemäße Lösung dieser Aufgabe ist dadurch gekennzeichnet, daß die ei.->·_·: Fläche mit eier
weiteren Fläche einen spit/en Winkel bildet, und daß das Schallungselemeni-Maieriai aus einer eisten
Richtung gegenüber dem Substrat zum F.rhalt eines Niederschlages auf beider, Mateiialaufnahmelläclicn
nieder^schhnen svorden ist, und das Kontaktn
citerial aus einer zweiten Richtung gegenüber dem Substrat zum Erhalt eines Niederschlage, auf nur
einer der beiden Mutcrialaufnahmeflächcn niedergeschlagen worden ist.
Das erfindungsgemäße Verfahren zur licrstclkmg
eines Dünnschicht-Bauelementes, bei dem ein Schaltungselement-Material
und ein Kontaktmaterial auf y, ein Substrat niedergeschlagen werden, ist tiad'.nch
gekennzeichnet, daß ein Substrat η it wenigstens zwei zueinander unter einem spitzen Winkel geneigten
Materiiilaijfnaiimeflächon verwundet wird, und oaL
das Schaltuniiselement-iVicüen;!! aus einer ersten PJch- sj
Hing gegenüber d"in Substrat zum F.rhnl! -.-ines Nie
derschlages auf beiden MaienalauiY-.ahmefiächen
niedergeschlagen wird, und daß das Koniaknnateiial
aus einer zweiten Richtung gegeruiboi dem Substrat
zum Erhalt eir.es Niedcrschlnges :mf nur einer der
beiden MaMnalaiiinahinefhichen nie-, ieigccnlauen
wird.
Das bevnr/ii)?!j eifmduiigsgi'mäüe Ausführungsbeis;)i;:l
stell! tu I ;>nnschii:'i<
bauelement mit 'int-m
Substrat dar, das eine Mchi';:'i' beiu;cKl);jMer Materiiilaufn:ihnieH;!(.tiLi;
;;:iiweist, <ii · in ι,ιΐπΊ'.-'-'cns /wci
verschiedenen, /uciiiaiiilcr iinlei einem spiUen Winkel
geneigten l:li:MH:n !;■->■.<. ■ ι, ν.(ΐ!·ο. eis;;: Sclüiiiür.ii.selemeni-Schicht
mindestens von Teilen der Flächen in den zwei verschiedenen Ebenen getragen wird und
eine Leitfähigkeits-Materialschicht Teile der Schaltungselement-Schicht
auf Teilen mindestens einer flache in einer dieser Ebenen überlappt.
Das Ausführungsverfahren enthält die Schritte zum gleichzeitigen Niederschlag einer Schaltungselement-Schicht
auf freiliegende Substratflächen, die benachbarte, in mindestens zwei zueinander unter
einem spitzen Winkel geneigten Ebenen liegende Flächen einschließen, und zum anschließenden Niederschlagen
von Kontaktmaterial auf Teile mindestens einer der in einer der Ebenen liegenden Flächen, um
Verbindunasmöglichkeiten ?wischen der Schaltungselement-Schicht
und externen Schaltungen herzustellen.
Em erfindungsgeirißei Vorteil besteht darin, daß
neue und \crnesserte Dlinii-chichi-Bauelemenie mit
einem Aufbau geschaffen sino, der n-.-ue und verbesserte
Veifahren zur Bauelemente-Herstellung ermöglicht,
um so die Ai:.'.ah! der henö.igten Schntte
nd die Menge des benutzten K.op.uikfp;atcriair>
zu reduzieren.
Ein weiterer erfindungsgcniäßer Vorteil liegt in der
Herstellung neuer und verbesserter Dünnsehiehi-Baiieleniente
mit Kontaktflächen in der Ebene, welche die als Schaliungsirägei des Bauelementes dienende
Ebene schneidet, so daß neue und ver'oeserte Bauelemente
Herstellungsverfahren mit vergleichsweise weniger Schulten und weniger Kontaktmaterial, alvorher
oenöiigt. ermöglicht werden.
Die r-fmüur.g soll nachstehend an Ausi'ühningsbcispielcn
näher erläutert werden. In den Zeichnungen zeigt
Fig. 1 eine Schrägansi'.ht eines Substrates mit abgeschrägten
Flächen, die an eine ebene HaupilTäcliv.'
des Substrates angrenzen..
F i g. 2 ε·.ιε Schrägansicht, in der das Aufbringen
einer Schicht aus Widerstandsmaterial auf der ebenen Fläche und auf den abgeschrägten Flachen des in
F i g. 1 gezeigten Substrate:7 dargesleli; ist,
F i g. 3 eine Schrägansieht mit einer Schicht aus abgelagertem Widerstandsmaterial auf der tibnieu
Fläche und auf den abgeschrägten Flächen des in Fig. 1 gezeigten Substrates,
Fig. 4 eu'.e Schrägansicht, die das Aufbringen einer Schicht aus Kontakimaterial auf einer findfläche
des in F- . g. 1 gezeigten Substrates, einschließlich
der abgeschrägten Flächen, darstellt,
Fig. 5 eine Schrägai,sicht mit einer Schicht au
Kontyktmaterial auf einem Ende des Substrates und
auch — den Widcistandsfilm überlappend — aiii
den abgeschrägten Flächen des Substrates,
Fig. i) - Ine Schrägar.:-.icht eines vollstab'· .ui, erfind'ingsgeniiiBen
Dünnschichi-By.aeleiiicnies,
Fig. 7 eine Schräcansicht von einem Stapel j;is
Substraten nach dei.. Aufbringen der Widerstandsschicht,
auf den Kontakimaterial aufgebracht wird,
F ig. S eine Schrägansicht von einem Subsu.-tstnj>
mit einer Schicht aus Kontakt:naterial auf seinem Ende und auf den abgeschrägten Oberflächen und
F i y. 9 eine Schiägnp.sichl des Substratstapel·., a:·,
dein das Kontaklrnalerial von den Enden der Sub
strate entfernt ist.
Zur Herstellung von Dünnschicht-Baueltmenten
wird eine Vielzahl von Schritten benötigt, c;nschiieiiiich
Maskieren und Ätzen. Darüber hinaus v»er.ion
b'.-träch.liehe ,Mengen von verschiirdeneu Kontakt-
5 6
materialien, die während der HerslellungssdiriUc ver- Tanlal-Nitrid-Schichl 24 und die l'eile 26 unil 27 fm
unreinigl werden, in die Aztlösun» aufgenommen und miteinander verbunden sind, um eine zusammenbau- di,
müssen zur Wicdcrgcwinnunti kostspieligen Behänd- gendc Widerslandssdiicht aus Tantal-Nitrid zu IW-lungen
unterzogen werden. Deshalb wäre es wün- inen. Aus den Fig. 2 und 3 ist es weiterhin ollen- T<
sehenswert, ein Verfahren zu haben, welches die bei 5 sielitlieh, daß die in V i g. 2 dargestellte Lage des de
den obigen Methoden benotigten Maskicrungsschritle Substrates 16 das gleichzeitige Aufstäuben von Tan- ge
ausschliesscn würde, welches die Menge an benötig- tal-Nilrid auf die ebene Haupifläche 17 und 'lie ab- H
ten Kontaktmateriaiien reduzieren und die Folgen geschrägten Flächen 18 und 19, die in verschieden iil
einer kostspieligen Wiedergewinnungsprozedur nicht geneigten Ebenui liegen, erlaubt. be
benutzter Kontaktmaterialien reduzieren oder mini- io Nach Fig. 4 ist das Substrat 16 in eine solche dl
mal machen würde. Lace gebracht, daß ein Kontaklmatcrial auf die Hrd- d|
Anschließend an das Herstellen eines Dünnschicht- kanlenflächc21 des Substrates und ebenso auf die k|i
Bauelementes, wie eines Tanlal-Nitrid-Widerstandes, Teile 26 und 27 der Tanlal-Nitrid-Schichl 24, die auf ab
wird die Widcrslandsschicht auf irgendeine Weise den abgeschrägten Flächen 18 und 19 (P'i g. I und 2) be
abgeändert, wie z. B. durch Anodisieren oder selek- 15 aufgebracht sind, aufgedampft werden kann. Wie in se
tives lintferncn, um einen genauen und erwünschten Fig. 5 dargestellt ist, ergibt der Aufdampfprozess l{l
Widerstandwert des Dünnschicht-Widerstandes zu eine Kontaktmaterialschicht 28, die auf der Endkan- Di
schaffen. Danach werden Anschlüsse an den Kon- tcnfläche21 (Fig. 1 bis 4) mit Teilen 29 und 31 der di
taktflächen angebracht, um eine Verbindung mit Schicht, überlappend mit den darunterliegenden Tci- d«
externen Schaltungen zu ermöglichen. Es sei bemerkt, 20 len 26 und 27 (Fig. 3) der Tantal-Nilrid-Schicht 24 ei;
daß das Befestigen der Anschlüsse vor der Abgleich- niedergeschlagen ist. dt Prozedur des Widerstandsweites ausgeführt werden Cs sei darauf hingewiesen, daß das Kontaktmate- ~
könnte. Wenn es sich um ein Dünnschicht-Bauelement rial Gold, Kupfer oder irgendein anderes geeignetes dt
mit zahlreichen passiven und aktiven elektrischen Material sein kann, das üblicherweise bei der Her- iit
Elementen handelt, müssen die Anschlüsse noch an 25 stellung von Dünnschicht-Bauelementen verwendet tii
den Kontaktflächen befestigt werden, welche auf wird. Darüber hinaus kann eine Mehrfachschicht aus e«
dafür vorgesehenen Schaltungstcilen des Bauelcmcn- verschiedenen Kontaktmateriaiien auf die Teile 26 sei
tes aufgebracht sind, um eine Verbindung der Dünn- und 27 Jt-i Schicht 24 aufgebracht werden, um Kon- la
schicht-Schaltungen mit externen Schaltungen zu er- taktflächen auf dem Dünnschicht-Bauelement 16 zu D
möglichen. 3° bilden. Zum Beispiel wird die erste Lage auf jede al In Fig. 1 ist ein Keramiksubstrat 16 mit minde- der abgeschrägten Flächen 18 und 19 jeweils durch bk
stens einer ebenen Hauptflächc 17 und mit abge- die Teile 26 und 27 der Schicht 24 gebildet. Die a{
schrägten Flächen 18 und 19 dargestellt, die an einem nächste Lage kann ein Kontaktmatcrial wie Titan Bj
Ende der ebenen Hauplfläche gebildet sind und mit aufweisen, welches eine Haftfähigkeil zwischen der ei
einer En lkantenfläche 21 Die Herstellung der abgc- 35 ersten und dritten Lage schafft. Die dritte Lage kann lic
schrägten Flächen 1& und 19 auf dem Substrat 16 aus einem Kontaktmatcrial wie Gold, Kupfer oder gt
geschieht auf solche Weise, daß die abgeschrägten aus anderem Material sein. Die zweite und dritte i
Flächen an die ebene Hauptflächc 17 und die End- Schichtlagc würde auf das Substrat in gleicher Weise si
kantenfläche 21 angrenzen. Die abgeschrägten Flä- aufgebracht, wie es bezüglich der F i g. 4 und 5 he- d]
chen 18 und 19 weisen jeweils lochförmige Öffnun- 40 schrieben wurde. u
gen 22 und 23 auf. '" Fig. 6 ist ein vollständiges Dünnschicht-Bau- g>
Das Substrat ist so geformt, daß die ebene Haupt- element dargestellt, z. B . ein Dünnschicht-Wider- d
Räche 17 in einer ersten Ebene liegt und die abge- stand, der allgemein mit 32 bezeichnet wird. Der Teil
schrägten Flächen 18 und 19 in einer zweiten Ebene der Kontaktniakrialschiehl 28, der auf die F.ndkanliegrn.
wobei die beiden Ebenen in einem spitzen 45 tenfläche 21 aufgebracht worden ist, ist durch üb'iclie
λ\ inkcl zueinander geneigt sind. Die EndkantenfKU Methoden entfernt worden, wie z. B. durch Abche
21 liegt in einer dritten Ebene, welche die erste schleifen. Nach dem Entfernen des Kontaktmatcrials
und zweite Ebene schneidet. Die zweite Ebene bil- von der Endkantenfläche 21 bleiben die Teile 29 und
dot mit der dritten Ebene einen spitzen Winkel. 31 des Kontaklinaicrials zurück, wobei sie die dnr-Es
sei erwähnt, daß die abgeschrägten Flächen 18 50 unterliegenden Teile 26 und 27 (Fig. 3) der Tantal-
und 19 in zwei verschiedenen Ebenen liegen könnten. Nitrid-Schicht 24 überlappen. Da die Öffnungen 22
von denen jede die erste Ebene mit der ebenen und 23 in den abgeschrägten !lachen 18 und 19
Flächcl7 und die dritte Ebene mit der Endkanten- bleiben, körnen Anschlüsse, wie z.B. Anschlußflache
21 schneidet, und welche nach der obigen Dc- zapfen (nicht dargestellt), mit oder an den Teilen 29
finition in die zweite Ebene fallen würden. Dies 55 und 31 des ■ Kontaktmaterials befestigt werden, um
würde nicht vom Rahmen der vorliegenden Erfin- eine Verbindung zwischen der Tantai-Niirid-Schicht
dung abweichen. 24 und externen Schaltungen herzustellen.
In Fig.2 ist das Substrat 16 in eine solche Po- Der Widetslandswert des Dünnschicht-Widerstan-
sition gebracht, daß Tantal-Nitrid mittel eines her- des 32 kann durch bekannte Methoden, wie Anodisic-
kömmlichen Verfahrens auf die ebene Hauptflächc 60 ren oder selektives Schichtentfernen, justiert werden.
17 und auf die abgeschrägten Flächen 18 und 19 Bezieht man sich wieder auf F i g. 4. so könnte die
ufgestäubt wird. Wie in Fig. 3 dargestellt wird, ist Endkantenllächo 21 des Substrates 16 zur Vcrhindc-
als Ereebnis des Aufstäubungsprozesses eine Wider- rung der Kontaktmaterial-Ablagerung auf dicker
Standsschicht 24 aus Tantal-Nitrid auf die ebene Fläche maskiert werden, so daß lediglich uie Tci!e,':9
Hauptüäche 17 (Fig. 1) des Substrates 16 aufge- 65 und 31 (Fig. 5 und 6) auf den Ί eilen 26 \~,ä 27
bracht, wobei Teile 26 und 27 der Tantal-Nitrid- (Fig. 3) der Tantal-Nitrid-Schicht 24 nicdergeschla-
Schicht auf die abgeschrägten Flächen 18 und 19 auf- gen wurden. Auf diese Weise würc, wenn die Maske
gebracht sind. Es sei darauf hingewiesen, daß die von der Endkantenflächc21 des Substrates 16 ent-
fernt wird, der Dünnschicht-Widerstand 32 vollständig,
wie in F i g. 6 dargestellt.
Bezieht man sich wieder auf Fig. 1, so könnte der
Teil der ebenen Hauplflächc 17. der sich zwischen den iil-geschrägten Flächen 18 und 19 befindet, so
geformt sein, daß das gesamte Ende der ebenen Haupti'lächc abgeschrägt wird und in der Ebene liegt,
in welcher sich die abgeschrägten Flächen 18 und 19 befinden. Während des Aufdampfprozesses, wobei
das Kontaktmatcrial auf die Teile 26 und 27 (F i g. 4) Her Schicht 24 aufgebracht wird, könnte eine Maskierungsmethode
verwendet werden, um die Flächen abzuschirmen, welche nicht mit dem Kontaktmaterial
bedeckt werden sollen. Weiterhin müssen die abgeschrägten Flächen 18 und 19 nicht in derselben
Ebene liegen, um das Verfahren zur Herstellung des Diinnschicht-Widerstandcs32 zu ermöglichen, aber
die Flächen sollten mindestens in einer anderen als der Ebene liegen, welche die ebene Hauptfläche 17
einschließt, jedoch in einer Ebene, welche den Aufdampfprozcss
ermöglicht, wie in F i g. 4 dargestellt.
Durch Verwendung des Substrates 16, das nach der in F i g. 1 dargestellten Art gebildet ist, können
übliche Maskicrungs- und Ätzverfahren ausgeschaltet werden, wie sie normalerweise bei der Herstellung
eines Dünnschicht-Bauelementes, wie des Dünnschic'H-Widerstandes 32, benötigt werden. Dies erlaubt
Kosteneinsparungen bei dem zur Herstellung des Dünnscliiclit-Widersiandcs 32 benötigten Materia!
als auch bei den zur Herstellung des Widerstandes benötigten Zeit erfordernden Schritten. Wie bereits
angeführt, kann für andere Arten von Dünnschicht-Bauclementen, welche sowohl passive als auch aktive
elektrische Elemente einschließen, ein Substrat ähnlich dem Substrat 16 verwendet werden, wobei die
gleichen Vorteile crzielbar sind.
In F i g. 7 ist ein Stapel aus Substraten 16-16 dargestellt, von denen jedes einzeln den Aufsprühvorgang
durchlaufen hat und die Tantal-Nitrid-Schicht 24 und die Teile26 und 27 aufweist, wie in Fig.3 dargestellt.
Die Substrate 16-16 sind so gestapelt, daß die Tantal-Nitrid-Schichten 24 jeweils eines Substratpaares
ancinandcrliegen, wobei die Endkantenflächen 21-21 der Substrate an einem gemeinsamen Stapclcnde
erscheinen. Danach wird das Kontaktmaterial auf die Endkantenflächen 21-21 der Substrate 16-16
und auf die Teile 26-26 und 27-27 der Schicht 24 eines jeden Substrates aufgebracht, um zu gleicher
Zeit die Teile 29-29 und 31-31 des Kontaktmaterials auf die einzelnen Substrate 16-16 in einer gleichen
Weise aufzubringen, wie sie in F i g. 5 dargcstellt ist.
In Fig. 8 bedecken die Kontaklmatcrialschichten
28-28 die Endkantenflächen 21-21 (Fig.7) des Substratstapels 16-16. Außerdem bedecken die Teile
29-29 und 31-31 des Kontaktmaterials jeweils die darunterliegenden Teile26 und 27 (Fig.3) der Tantal-Nitrid-Schicht
24 eines jeden Substrates 16-16.
In Fig.9 ist der Substiatstapel 16-16 dargestellt,
bei dem das Kontaktmaterial von den Endkantcnflächcn 21-21 entfernt worden ist, um eine Vielzahl
λο vollständiger Dünnschicht-Widerstände 32-32 zu
bilden. Das Kontaktmaterial, welches auf die Endkantenflächcn
21-21 aufgedampft ist, wie in Fig. 8 gezeigt, wird durch irgendwelche geeigneten Mittel
entfernt, z. B. durch Abschleifen. Jedoch könnten die Endkantenflächen 21-21 während des Aufdampfprozesses
mit einer Maske bedeckt werden, so daß kein Kontaktmatcrial auf die Endkantcnflächcn aufgedampft
würde. Auf diese Weise wurden lediglich die SchichticHe 26 und 27 eines jeden Siihstrnic;
aufgedampftes Kontaktmaterial aufweisen.
Es sei bemerkt, daß eine Vielfachschicht aus verschiedenen Kontaktmaterialien nötig sein kann, um
eine ausreichende Kontaktflächc für den Dünnschicht-Widerstand 32 zu schaden. Das Aufbringen
der Vielfachschicht aus verschiedenen Kontaktmaterialien kann z. B. durch Wiederholen des
Prozesses erreicht werden, der im Zusammenhang mit den F i g. 7, 8 und 9 erklärt wurde.
Somit erlaubt der Aufbau des Substrates 16 die rationelle und wirtschaftliche Herstellung vor
Dünnschicht-Bauelemcnten, wie Widerständen 32, ot sie nun einzeln oder in Gruppen hergestellt werden
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
309 617/4!
Claims (3)
1. DünnscKcht-Bauelement mit einem Substrat, das eine erste Materialaufnahmefläche und
mindestens eine weitere Materialaufnahmefläche aufweist, wobei auf die erste Fläche Schaltungselemeni-Material
aufgebracht ist und auf die weitere Fläche Schaltungselement-Material und Kontaktmaterial
'·: ander überlappend aufgebracht
sind, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Fläche (17) mit der weiteren Fläche (18, 19)
einen spitzen Winkel bildet, und daß das Schaltungselement-Material aus einer ersten Richtung
gegenüber dem Substrat (16) zum Erhalt eines Niederschlages auf beiden Materialaufnahmeflächen
(17, IP, 19) niedergeschlagen worden ist, und daß Kontaktmaterial aus einer zweiten Richtung
gegenüber, dem Substrat zum Erhalt eines Niederschlages auf nur einer der beiden Materialaufnahmeflächen
niedergeschlagen worden ist.
2. Dünnschicht-Bauelement nach Anspruch I1
wobei die weitere Fläche eine Schicht aus Schaltungselement-Material und darüberliegendem
Kontaktmaterial trägt, dadurch gekennzeichnet, daß das Tubstrat Verrichtungen (22, 23) für Anschlüsse
aufveist, die in elektrischem Kontakt mit dem Kontaktmateriai stehen.
3. Dünnschicht-Bauelement nach Anspruch !
oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Schal- 30 Dünnschicht-Widerständen unter Verwendung
Die Erfindung betrifft Dünnschicht-Bauelcmem.
und Verfahren zur Herstellung solcher Bauelement
Dünnschicht-Bauelementc werden unter Verwen
dung zahlreicher Methoden hergestellt, wie Aufstäuben. Aufdampfen, Elektroabscheidung und dergleichen.
Im allgemeinen verlangen solche Method;;: Maskieren und Ätzen, um ein endgültiges Prodi;'-.
zu bilden. Zum Beispiel wird bei der Herstellung \cr
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US8746270 | 1970-11-06 |
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DE2154794B2 DE2154794B2 (de) | 1972-10-05 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US2000226A (en) * | 1932-02-29 | 1935-05-07 | Lehon Co | Method of treating asphalt shingles and composition therefor |
US2063268A (en) * | 1933-05-15 | 1936-12-08 | Patent & Licensing Corp | Roofing unit and method of making the same |
US2563936A (en) * | 1948-02-06 | 1951-08-14 | Willard Storage Battery Co | Method of manufacturing battery grids |
DE1085209B (de) * | 1959-12-12 | 1960-07-14 | Dielektra Ag | Gedruckte elektrische Leiterplatte |
BE639289A (de) * | 1962-11-01 | |||
US3322655A (en) * | 1963-08-12 | 1967-05-30 | United Aircraft Corp | Method of making terminated microwafers |
US3329922A (en) * | 1964-05-08 | 1967-07-04 | Allen Bradley Co | Welded terminal resistor |
USB392136I5 (de) * | 1964-08-26 | |||
US3387952A (en) * | 1964-11-09 | 1968-06-11 | Western Electric Co | Multilayer thin-film coated substrate with metallic parting layer to permit selectiveequential etching |
US3437888A (en) * | 1966-07-01 | 1969-04-08 | Union Carbide Corp | Method of providing electrical contacts by sputtering a film of gold on a layer of sputtered molybdenum |
US3591413A (en) * | 1967-08-25 | 1971-07-06 | Nippon Electric Co | Resistor structure for thin film variable resistor |
US3469226A (en) * | 1967-10-26 | 1969-09-23 | Angstrohm Precision Inc | Thin film resistor |
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