DE2148132C3 - Verfahren zur Herstellung eines dünnen piezoelektrischen Films - Google Patents
Verfahren zur Herstellung eines dünnen piezoelektrischen FilmsInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung eines dünnen piezoelektrischen Filmes, bei dem ein
kathodischer Mitzerstäubungsschritt in einer oxidierenden Atmosphäre vorgesehen ist, wobei eine kathodische
Zerstäubungsvorrichtung verwendet wird, die eine Hauptkathode aus Zink, an welcher ein Zerstäubungsstrom angelegt wird, und eine Anode aus leitfähigem
Material enthält, das einen hohen Schmelzpunkt hat und an den Träger befestigbar sind.
Solche Verfahren sind bereits bekannt (US-PS 30 055). Dabei wird die Anode zweckmäßigerweise
aus einem leitfähigem Material mit hohem Schmelzpunkt besitzt und hergestellt, an der sich Träger
befestigen lassen. Mit dem bekannten Verfahren laßt sich jedoch die Orientierung des piezoelektrischen
Films nicht beeinflussen.
In dem Aufsatz »Low Energy Sputtering of Semiconducting Oxide Materials« in dem » Symposium
on the Deposition of Thin Films by Sputtering«, 9. Juni 1966, wird ein Verfahren zur Herstellung eines dünnen
Filmthermistors beschrieben, bei welchem ein kathodischer Mitzerstäubungsschritt verwendet wird. Das nach
dieser Schrift mitzuzerstäubende Material ist jedoch ein Gemisch der Oxide des Mn, Ni und Co, und es wird
lediglich eine Kathode zur Mitzerstäubung verwendet. Der nach diesem Verfahren erhaltene abgeschiedene
Film besitzt jedoch nicht eine ausreichende Gleichförmigkeit des zerstäubten Materials.
Aus der DE-OS 19 40 640 ist ein Verfahren zur Herstellung eines dünnen, nicht piezoelektrischen
Granatfilms mit gut geregelter Orientierung bekannt, wobei dort der Granatfilm im Wege der Eritaxie
aufgebracht wird, ein Verfahren, bei dem der Träger für den aufzubringenden Film besonderen Bedingungen
genügen muß.
Die DE-OS 19 08 310 beschreibt den apparptiven Aufbau einer Kathodenzerstäubungseinrichtung mit
ίο Mehrfachkathode.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, bei einem Verfahren der eingangs genannten Art die Herstellung
einer dünnen, piezoelektrischen Zinkoxidschicht mit gut gsregelter Orientierung zu ermöglichen. Diese Aufgabe
wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß zwischen die
Hauptkathode und die Anode eine Hilfskathode aus Kupfer geschaltet ist, daß ein Zerstäubungsstrom an die
Hilfskathode angelegt wird, der im Bereich von ü,3 bis 5% des an der Hauptkathode anliegenden Zerstäu-
bungsstromes liegt, und daß die Träger aus amorphem
Material hergestellt sind.
Eine andere Lösung besteht darin, daß zwischen die Hauptkathode und die Anode eine Hilfskathode aus
Aluminium geschaltet ist, daß ein Zerstäubungsstrom an
die Hilfskathode angelegt wird, der im Bereich von 1 bis 2 des an der Hauptkathode anliegenden Zerstäubungsstromes liegt, und d&8 die Träger aus amorphem
Material hergestellt sind.
Dadurch wird eine erhebliche Verbesserung für die
Dadurch wird eine erhebliche Verbesserung für die
jo Herstellung von Zinkoxid-Filmen auf amorphen Trägern erreicht, wobei überraschenderweise die Richtung
der kristallographischen Orientierung sehr gut beeinflußt werden kann. Insbesondere eignet sich das
beschriebene Verfahren für die Herstellung von
Anhand der Zeichnungen werden bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung näher erläutert
Fig. 1 ist eine schematische Ansicht der Zerstäubungsvorrichtung
zur Verwendung ir., beschriebenen Verfahren zur Herstellung von dünnen piezoelektrischen
Filmen;
Fig.2 und 3 sind Diagramme, die die Wirkungen
von Kupfer und Aluminium auf die kristallographische Struktur von Zinkoxid-Filmen, in der beschriebenen
Das beschriebene Verfahren zur Herstellung dünner piezoelektrischer Filme schließt einen Kathodenzerstäubungsschritt
ein, der die Mitzerstäubung von Kupfer oder Aluminium mit Zink in einer oxydierenden
Nach F i g. I besteht die Zerstäubungsvorrichtung, welche beim beschriebenen Verfahren zur Herstellung
dünner piezoelektrischer Filme verwendet wird, aus einem Glockengehäuse 2, einer ebenen Anode 3, einer
ebenen Hauptkathode 4 und einer Hilfskathode 5, welche zwischen der ebenen Anode und Hauptkathode
angeordnet ist Die Anode ist aus leitenden Materialien hergestellt, welche einen hohen Schmelzpunkt haben.
Die Oberfläche der Hauptkathode ist vom Zinkmetall überzogen. Die Hilfskathode ist aus einem ebenen Sieb
hergestellt, welches aus Kupferdraht oder Aluminiumdraht mit einem Durchmesser von 0,1 bis I mm
hergestellt ist und öffnungen von I bis 10 mm2 besitzt.
Das Glockengehäuse 2 enthält ein ionisierbares
br> Medium. Dieses ionisierende Medium kann ein Gemisch
aus Argon und Sauerstoff unter einem Druck im Bereich von 10~2 bis 10-' Torr sein. Eine Hochspannungsquelle
6 ist in Serie mit einem stabilisierenden Widerstand 7
sowie der Anode 3 und der Hauptkathode 4 verbunden. Ein Hilfskreis 8 enthält einen Hilfskreiswiderstand 9. An
der Anode 3 sitzt ein Substrathalter 10, an welchem das Substrat bzw. der Träger II befestigt werden kann.
Dieser Träger wird bei einer Temperatur im Bereich von 100 bis 300° C gehalten.
Ei wurde gefunden, daß die Richtung der kristallographischen
Orientierung von Zinkoxid-Filmen, die eine auf einem amorphen Träger abgeschiedene Fasertextur
haben, gut beeinflußt werden kann, wenn man Kupfer aus der Hilfskathode mit Zink aus der Hauptkathode in
einer oxydierenden Atmosphäre und mit einem Zerstäubungsstrom in dieser Hilfskathode im Bereich
von 03 bis 5% des Zerstäubungsstromes in der
Hauptkathode mitzerstäubt, wie aus F i g. 2 ersichtlich. Unter Bezug auf F i g. 2 variiert die Orientierung von
Zinkoxid-Filmen, die eine auf dem amorphen Träger abgeschiedene Fasertextur haben, mit dem Zerstäubungsstrom
in der Kupfer-Hilfskathode; Zinkoxid-Filme mit einer zur Filmoberfläche rechtwinklig stehenden
oÄchse (normale Orientierung) können mit hoher Reproduzierbarkeit hergestellt werden, wenn die
Hilfskathodenströme im Bereich von 03 bis 5% der
Hauptkathodenströme liegen. Unter 03% haben die
erhaltenen Zinkoxid-Filme entweder normale Orientierung oder eine parallele Orientierung (t-Achse liegt in
der Filmebene), was von nicht beeinflußbaren Faktoren während des Zerstäubungsverfahrens abhängt Oberhalb
5% haben die erhaltenen Zinkoxid-Filme schlechte Orientierung. Daher hat es sich als nützlich erwiesen,
den Zerstäubungsstrom in der Kupferhilfskathode zwischen 03 bis 5% zu halten, um normal orientierte
Zinkoxid-Filme mit einer Faserstruktur herzustellen.
Außerdem wurde gefunden, daß die Richtung der
kristallographischen Orientierung von Zinkoxid-Filmen, die eine auf dem amorphen Träger abgeschiedene
Faserstruktur haben, durch das Mitzerstäuben von Aluminium aus dieser Hilfskathode mit Zink aus der
Hauptkathode in einer oxydierenden Atmosphäre gut beeinflußt werfen kann, und zwar bei einem Zerstäubungsstrom
in der Hilfskathode im Bereich von 1 bis 20% des Zerstäubungsstromes in der Hauptkathode,
wie aus Fig.3 ersichtlich ist. Nach Fig.3 variiert die
Orientierung von Zinkoxid-Filmen, die eine auf den amorphen Träger abgeschiedene Fasertextur haben, mit
dem Zerstäubungsstrom in der Aluminiumhilfskathode; ä Zinkfilme mit paralleler Orientierung können mit
großer Reproduzierbarkeit hergestellt werden, wenn diese Hilfskathodenströme im Bereich von 1 bis 20%
der Hauptkathodenströme liegen. Unter 1% haben die erhaltenen Zinkoxid-Filme entweder normale Orientierung
oder parallele Orientierung, was von den nicht beeinflußbaren Faktoren während des Zerstäubungsprozesses abhängt Oberhalb 20% haben die erhaltenen
Zinkoxid-Filme schlechte Orientierung. Es hat sich für die Herstellung parallel orientierter Zinkoxid-Rlme mit
η einer Fasertextur als nützlich erwiesen, wenn deshalb
der Zerstäubungsstrom in der Aluminiumhilfskathode zwischen 1 und 20% des Hauptzerstaubungsstromes
gehalten wird.
kristallographische Orientierung wird üVv'r einen weiten
Druckbereich des Zerstäubungsgases beobachtet, d.h. von 10-' bis 10—'Torr, obwohl die Konzentration des
Kupfers oder Aluminiums mit dem Zerstäubungsgasdruck variiert, und daher kann der hier beschriebene
werden, daß man ein beliebiges Zerstäubungssystem verwendet, wie ein Radiofrequenz-Zerstäubungssystem
oder ein Niedriggasdruck-System vom Magnetron-Typ.
Orientierung kann nicht durch Substitution verursacht
sein, sondern kann durch die Anwesenheit von Kupferoxiden oder Aluminiumoxiden an den Kristallgrenzen
des Zinkoxids mit Fasertextur hervorgerufen sein. Die Lokalisaiion der feinen Aluminium-
J5 oxid-Kristallite verringert die Oberflächenbeweglichkeit
der Zinkoxid-Teilchen in Trägern, was zu sehr kleinen Kristalliten führen kann. Dies kann die
Ausbildung einer normalen Orientierung verhindern, im
Gegensatz zu Aluminium verstärkt Kupfer das Wachsturn der Kristallite und daher die Ausbildung einer
normten Orientierung.
Claims (2)
1. Verfahren zur Herstellung eins dünnen piezoelektrischen Filmes, bei dem ein kathodischer
Mitzerstäubungsschritt in einer oxidierenden Atmosphäre vorgesehen ist, wobei eine kathodische
Zerstäubungsvorrichtung verwendet wird, die eine Hauptkathode aus Zink, an welcher ein Zerstäubungsstrom
angelegt wird, und eine Anode aus leitfähigem Material enthält, das einen hohen
Schmelzpunkt hat und an das Träger befestigbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen
die Hauptkathode (4) und die Anode (3) eine Hilfskathode (5) aus Kupfer geschaltet ist, daß ein
Zerstäubungsstrom an die Hilfskathode angelegt wird, der im Bereich von 03 bis 5 Prozent des an der
Hauptkathode anliegenden Zerstäubungsstromes liegt, und daß die Träger (11) aus amorphem
Material hergestellt sind.
2. Verfahren zur Herstellung eines dünnen
piezoelektrischen Filmes, bei dem ein kaihodischer Mitzerstäubungsschritt in einer oxidierenden Atmosphäre
vorgesehen ist, wobei eine kathodische Zerstäubungsvorrichtung verwendet wird, die eine
Hauptkathode aus Zink, an welcher ein Zerstäubungsstrom angelegt wird, und eine Anode aus
leitfähigem Material enthält, das einen hohen Schmelzpunkt hat und an das Träger befestigbar
sind, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen die Hauptkathode (4) und die Anode (3) eine Hilfskathode
(5) aus A'uminium geschaltet ist, daß ein Zerstäubungsstrom an die Hilfskathode angelegt
wird, der im Bereich von 1 bis 20 Prozent des an der Hauptkathode anliegenden Zersiäubungsstromes
liegt, und daß die Träger (11) aus amorphem Material hergestellt sind.
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Families Citing this family (31)
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---|---|---|---|---|
DE2353942A1 (de) * | 1973-10-27 | 1975-05-07 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur herstellung einer loetfesten kupferschicht |
FR2426093A2 (fr) * | 1974-03-27 | 1979-12-14 | Anvar | Perfectionnements aux procedes et dispositifs de fabrication de couches minces semi-conductrices dopees et aux produits obtenus |
US3988232A (en) * | 1974-06-25 | 1976-10-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of making crystal films |
US3932232A (en) * | 1974-11-29 | 1976-01-13 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Suppression of X-ray radiation during sputter-etching |
DE2802901C3 (de) * | 1977-01-25 | 1981-01-15 | Murata Manufacturing Co., Ltd., Nagaokakyo, Kyoto (Japan) | Piezoelektrischer kristalliner Film |
JPS5396494A (en) * | 1977-02-02 | 1978-08-23 | Murata Manufacturing Co | Piezooelectric crystal film of zinc oxide |
JPS5396495A (en) * | 1977-02-02 | 1978-08-23 | Murata Manufacturing Co | Piezooelectric crystal film of zinc oxide |
DE2811044C3 (de) * | 1977-03-16 | 1981-02-26 | Murata Manufacturing Co., Ltd., Nagaokakyo, Kyoto (Japan) | Piezoelektrische kristalline Filme |
DE2825083A1 (de) * | 1977-06-09 | 1978-12-21 | Murata Manufacturing Co | Piezoelektrischer kristalliner film |
US4174421A (en) * | 1977-09-13 | 1979-11-13 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Piezoelectric crystalline film of zinc oxide and method for making same |
JPS5830752B2 (ja) * | 1977-09-13 | 1983-07-01 | 株式会社村田製作所 | 酸化亜鉛の圧電結晶膜 |
DE2839715A1 (de) * | 1977-09-17 | 1979-03-29 | Murata Manufacturing Co | Piezoelektrische kristalline filme aus zinkoxyd und verfahren zu ihrer herstellung |
JPS5831743B2 (ja) * | 1977-09-17 | 1983-07-08 | 株式会社村田製作所 | 酸化亜鉛の圧電結晶膜 |
JPS54114484A (en) * | 1978-02-27 | 1979-09-06 | Toko Inc | Production of piezoelectric thin layer |
JPS5516554A (en) * | 1978-07-21 | 1980-02-05 | Toko Inc | Manufacture of thin film of zinc oxide |
US4297189A (en) * | 1980-06-27 | 1981-10-27 | Rockwell International Corporation | Deposition of ordered crystalline films |
US4322277A (en) * | 1980-11-17 | 1982-03-30 | Rca Corporation | Step mask for substrate sputtering |
DE3103509C2 (de) * | 1981-02-03 | 1986-11-20 | Günter Dr. Dipl.-Phys. 7801 Buchenbach Kleer | Target zum Herstellen dünner Schichten, Verfahren zum Erzeugen des Targets und Verwendung des Targets |
US4415427A (en) * | 1982-09-30 | 1983-11-15 | Gte Products Corporation | Thin film deposition by sputtering |
US4640756A (en) * | 1983-10-25 | 1987-02-03 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Method of making a piezoelectric shear wave resonator |
JPH0731950B2 (ja) * | 1985-11-22 | 1995-04-10 | 株式会社リコー | 透明導電膜の製造方法 |
US5231327A (en) * | 1990-12-14 | 1993-07-27 | Tfr Technologies, Inc. | Optimized piezoelectric resonator-based networks |
JP3085043B2 (ja) * | 1993-08-05 | 2000-09-04 | 株式会社村田製作所 | サファイア面上の酸化亜鉛圧電結晶膜 |
GB2346155B (en) | 1999-01-06 | 2003-06-25 | Trikon Holdings Ltd | Sputtering apparatus |
US7161173B2 (en) * | 2003-05-20 | 2007-01-09 | Burgener Ii Robert H | P-type group II-VI semiconductor compounds |
US20080228073A1 (en) * | 2007-03-12 | 2008-09-18 | Silverman Ronald H | System and method for optoacoustic imaging of peripheral tissues |
US9922809B2 (en) * | 2015-10-14 | 2018-03-20 | Qorvo Us, Inc. | Deposition system for growth of inclined c-axis piezoelectric material structures |
US10866216B2 (en) | 2015-12-15 | 2020-12-15 | Qorvo Biotechnologies, Llc | Temperature compensation and operational configuration for bulk acoustic wave resonator devices |
US11824511B2 (en) | 2018-03-21 | 2023-11-21 | Qorvo Us, Inc. | Method for manufacturing piezoelectric bulk layers with tilted c-axis orientation |
US11381212B2 (en) * | 2018-03-21 | 2022-07-05 | Qorvo Us, Inc. | Piezoelectric bulk layers with tilted c-axis orientation and methods for making the same |
US11401601B2 (en) | 2019-09-13 | 2022-08-02 | Qorvo Us, Inc. | Piezoelectric bulk layers with tilted c-axis orientation and methods for making the same |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2505370A (en) * | 1947-11-08 | 1950-04-25 | Bell Telephone Labor Inc | Piezoelectric crystal unit |
NL293139A (de) * | 1962-05-23 | |||
US3409464A (en) * | 1964-04-29 | 1968-11-05 | Clevite Corp | Piezoelectric materials |
US3458426A (en) * | 1966-05-25 | 1969-07-29 | Fabri Tek Inc | Symmetrical sputtering apparatus with plasma confinement |
-
1971
- 1971-09-17 US US00181535A patent/US3766041A/en not_active Expired - Lifetime
- 1971-09-20 CA CA123190A patent/CA919312A/en not_active Expired
- 1971-09-23 DE DE2148132A patent/DE2148132C3/de not_active Expired
- 1971-09-27 FR FR7134700A patent/FR2108057B1/fr not_active Expired
- 1971-09-29 GB GB4534771A patent/GB1369863A/en not_active Expired
- 1971-09-29 NL NLAANVRAGE7113378,A patent/NL173187C/xx not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2148132A1 (de) | 1972-04-13 |
GB1369863A (en) | 1974-10-09 |
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