DE2128014C3 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft einen Halbleiterfestwertspeicher, dessen Speicherelemente aus Feldeffekttransistoren
gebildet werden, die matrixförmig auf einem Substrat angebracht sind.
Halbleiterfestwertspeicher aus Feldeffekttransistoren in monolithischer Technik sind an sich bekannt So
wurde z. B. durch die deutsche Offenlegungsschrift 20 34 659 ein Festwertspeicher bekannt, der dadurch
charakterisiert ist, daß ein erstes Bauteil eine erste Anordnung von Elementen aufweist, von denen jedes
einen Halbleiterbereich und Stromeingangs- und -ausgangsmittel enthält, und daß ein zweites Bauteil auf dem
ersten Bauteil angeordnet wird, das eine zweite Anordnung von Elementen enthält, die elektrisch
leitend sind und die bestimmte ausgewählte Positionen einnehmen, die eine entsprechende Lage zu den
Positionen der Elemente auf dem Bauteil aufweisen, und daß Mittel vorgesehen sind, die ein Arbeitspotential an
die elektrisch leitenden Elemente liefern, und daß jedes der elektrisch leitenden Elemente übereinstimmt mit
dem ihm zugeordneten Element auf dem ersten Bauteil und daß zwischen den genannten Elementanordnungen
eine Isolierschicht angeordnet ist, durch die an bestimmte Elementenpositionen Feldeffekttransistoren
mit isolierter Gate-Elektrode entstehen. Dabei enthält das erste Bauteil ein Isoliersubstrat und jedes Element
auf dem ersten Bauteil eine Source-Elektrode und eine Drain-Elektrode, die jeweils durch einen Halbleitermateri
albereich vonein?nder beabstandet sind.
Der Nachteil dieses Feldeffekttransistor-Festwert-Speichers besteht darin, daß das einzuschreibende
Bitmuster bereits beim Herstellungsprozeß bekannt sein muß und daß für jedes Bitmuster getrennte Masken
angefertigt werden müssen. Eine Personalisierung der einzelnen Speicherelemente nach dem Herstellungsprozeß
ist nicht möglich.
Bei Festwertspeichern, die mit Halbleiterdioden ausgeführt worden sind, ist es hingegen bekannt, da.s
10
40
45
y>
(,0 Bitmuster erst nach dem eigentlichen Herstellungsprozeß
in den Speicher einzugeben, indem die Dioden innerhalb der Matrix ausgebrannt werden, die eine Null
im Bitmuster darstellen sollen. Durch das Auftreten eines hohen Spitzenstroms zum Durchbrennen einer
Diode werden auch nach diesem Verfahren die geätzten Leitungen beschädigt, oder es ergeben sich an schon
durchgeschmolzenen nahe beieinandergelegenen Kontaktenden wieder elektrisch leitende Verbindungen,
wodurch sich Fertigungsungenauigkeiten und große Fehlerquellen ergeben. Für Festwertspeicher, deren
einzelne Speicherelemente aus Feldeffekttransistoren aufgebaut sind, eignet sich dieses Verfahren deshalb
nicht, weil zwischen den einzelnen Elektroden des Feldeffekttransistors Isolationsschichten vorhanden
sind.
Um unerwünschte Koppelströme beim Einschreiben von Bitmustern nach dem eigentlichen Herstellungsvorgang
bei Halbleilermatrizen für Festwertspeicher zu vermeiden und die beim Einschreiben auftretenden
Ströme kontrollieren zu können, ist nach der deutschen Offenlegungsschrift 15 24 879 bekannt, als Speicherelement
entweder einen Vierschichthalbleiter oder einen Transistor mit in Reihe geschalteter Diode zu
verwenden, wobei das Einschreiben einer binären Größe in eine Speicherzelle durch gesteuertes Durchschlagen
der Sperrdiode erfolgt, indem sie mit einer für einen La'vinendurchbruch genügend großen Spannung
beaufschlagt wird und der fließende Strom auf einen bestimmten Wert konstant gehalten wird, so daß nur die
jeweilige Sperrdiode leitend wird, die entsprechend dem gewünschten einzuspeichernden Bitmuster eine leitende
Verbindung zwischen Spalten und Reihenschaltung herstellen soll. Obwohl es dadurch möglich ist, den
Strom zum Durchlegieren zu begrenzen und eine Gefährdung der Metallzuleitungen auszuschalten, ist es
auch mit dieser Methode nicht möglich, die gesteuerte Umwandlung der Sperrdiode mit der notwendigen
Reproduzierbarkeit und Zuverlässigkeit durchzuführen, so daß sich hieraus wieder große Fehlerquellen ergeben.
Außerdem ist dieses Verfahren für Festwertspeichermatrizen mit Feldeffekttransistoren nicht anwendbar, da in
derartigen Anordnungen die einzelnen Elektroden der Feldeffekttransistoren voneinander isoliert sind und
nicht wie bei den Vierschichthalbleitern oder bipolaren Transistoren in leitender Verbindung stehen.
Außerdem ist im IBM Technical Disclosure Bulletin, Vol. 13, Nr. 5, Oktober 1970, S. 1308 ein Festwertspeicher
mit Feldeffekttransitoren in integrierter Technik bekanntgeworden, der das zu speichernde Bitmuster
erst nach dem eigentlichen Halbleiterherstellungsprozeß beim Endbenutzer eingeschrieben bekommt, indem
ein dünnes Oxid als Gate-Isolationsschicht durchschlagen wird und somit eine Eins darstellt. An den anderen
Stellen innerhalb der Speichermatrix ist die isolationsschicht dicker.
Ein solcher Festwertspeicher mit nur zwei unterschiedlichen Dicken der Isolationsschicht hat jedoch
den Nachteil, daß der Unterschied der Schichtdicke im Gate-Bereich und unter den Metalleitungen im Fertigungsprozeß
mit vertretbarem Aufwand nicht in einem erforderlichen engen Toleranzbereich gesteuert werden
kann. Dies hat zur Folge, daß beim Anlegen der Spannungen zum Einschreiben einer Information
Durchschläge bzw. Durchlegierungen nicht nur an den gewünschten Stellen, an denen eine Eins eingeschrieben
werden soll, auftreten, sondern auch an Stellen, wo der Dickenunterschied nicht im Toleranzbereich liegt. Ein
fehlerhaftes Einschreiben oder eine Zerstörung des
Speichers in diesem Bereich ist die Folge. Derartige Zerstörungen bzw. Fehleinschreibungen sind jedoch
irreparabel, d. h-, daß das gesamte Halbleiterplättchen,
auf dem sich ein derartiger Festwertspeicher befindet, als Ausschuß angesehen werden muß. Ein Festwertspeicher mit einer anderen Struktur, die die genannten
Unsicherheiten beim nachträglichen Einschreiben nicht mehr aufweist, wäre deshalb wünschenswert
Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugmnde,
einen Festwertspeicher mit Feldeffekttransistoren in integrierter Technik, bei dem das zu speichernde
Bitmuster erst nach dem eigentlichen Halbleiterherstellungsprozeß eingeschrieben werden kann, dahingehend
zu verbessern, daß die Fertigungstoleranzen bei der Herstellung der Isolationsschicht und der Metallisierungen sich nicht nachteilig beim nachträglichen Einschreiben dahingehend auswirken können, daß die Gate-Isolationsschicht an unerwünschten Stellen durchschlagen
wird, d.h., daß an diesen Stellen fälschäch eine Eins
eingeschrieben wird.
Die erfindungsgemäße Lösung besteht im Kennzeichen des Anspruchs 1.
Dieser Speicher weist durch die Einführung einer dritten Isolationsschichtstärke, nämlich einer mitteldikken Oxidschicht, den Vorteil auf, daß an die Toleranzgrenzen beim Aufbringen der Isolationsschicht und der
Metallschichten nicht extrem hohe Forderungen gestellt werden müssen und daß beim nachträglichen Einschreiben tatsächlich nur an dieser Stelle die Gate-Isolationsschicht durchschlagen wird, an der eine Eins eingeschrieben werden soll. Eine höhere Ausbeute ist die
Folge.
Die Erfindung wird nun an Hand von in den Zeichnungen dargestellten Ausführungsbeispielen näher beschrieben. Es zeigt
F i g. 1 eine Draufsicht auf einen Ausschnitt einer Feldeffekttransistor-Festwertspeichermatrix,
Fig.2 eine Schnittdarstellung entsprechend der markierten Schnittlinien gemäß F i g. 1 bei gleichmäßiger Substratdotierung und drei Isolierschichten ohne
Kanalbildung,
F i g. 3 einen Querschnitt gemäß Fi g. 2 mit Kanalbildung,
Fig.4, 4A, 4B die zur Herstellung der integrierten
Feldeffekttransistor-Halbleitermatrix erforderlichen Prozeßschritte.
In F i g. 1 ist die Draufsicht auf einen kleinen Ausschnitt einer Festwertspeichermatrix mit Feldeffekttransistoren gezeigt. Diese Festwertspeichermatrix
kann je nach zur Verfugung stehendem Platz in beiden Richtungen erweitert werden.
In dem Halbleitersubstrat 1 befinden sich parallele
Streifen entgegengesetzten Leitungstyps, die im vorliegenden Beispiel als Bitleitungen 2 und 3 dienen. Darüber
verlaufen dazu senkrechte parallele Leiterstreifen, die als Wortleitungen 4 und 5 dienen. Im Halbleitersubstrat 1 befinden sich ferner Stellen entgegengesetzten
Leitungstyps als Drains 6, 7, 8 und 9 so neben den Bitleitungen 2 und 3, daß sie jeweils unter den
Wortleitungen 4 und 5 liegen. Zwischen den Wortleitungen 4 und S und dem darunter befindlichen Halbleitersubstrat 1 mit den darin angeordneten Gebieten 2,3,6,
7,8 und 9 entgegengesetzten Leitungstyps befindet sich eine elektrisch nichtleitende Schicht, d. h. eine
Isolierschicht 10 unterschiedlicher Dicke. Die Bezugszeichen 15,16,17 und 18 kennzeichnen die Kanalgebiete, die im Schnitt in den Fig.2 bis 5 zu sehen sind.
Außerdem sind in der Draufsicht nach F i g. 1 die dünnsten Stellen 11,12,13 und 14 der in der Draufsicht
nicht zu sehenden Isolierschicht 10 gestrichelt dargestellt Die abgewinkelten Pfeile A-A', B-B' und C-C
stellen Schnittlinien dar, die d<e in den Fig.2 bis 6
dargestellten Schnitte kennzeichnen.
In Fi g. 2 ist ein Schnitt entlang der Schnittlinie AA'
nach F i g. 1 dargestellt Die F i g. 2 zeigt zunächst die Anordnung ohne Kanalbildung und mh einer gleichmä
ßigen Substratdotierung sowie drei verschiedenen
Dicken der Isolierschicht 10, die durch die Doppelpfeile d\ bis c/3 veranschaulicht werden. Wie bereits in
Zusammenhang mit F i g. 1 beschrieben, befinden sich im Halbleitersubstrat die Bitleitungen 2 und 3. Darüber
senkrecht verläuft die Wortleitung 4. Außerdem befinden sich im Halbleitersubstrat 1 neben den Bitleitungen
2 und 3 die Drains 6 und 8. Die Anordnung der Drains 6 und 8 ist dabei so, daß sie jeweils unter der Wortleitung
4 zu liegen kommea Zwischen der Wortleitung 4 und
dem darunter befindlichen Halbleitersubstrat 1 mit den
darin angeordneten Gebieten 2, 3 und 6 und 8 entgegengesetzten Leitungstyps befindet sich die
Isolierschicht 10. Die Dicke dieser Isolierschicht 10 ist in diesem Beispiel über den Drains, hier Drains 6 und 8, am
dünnsten, was durch den Doppelpfeil d 1 dargestellt ist. Über den Kanalgebieten, wie z. B. zwischen der Drain 6
und der Bitleitung 2 und der Wortleitung 4 ist die Isolierschicht etwas dicker, was durch den Doppelpfeil
t/2 dargestellt ist, und an allen übrigen Stellen am
ίο dicksten, was durch den Doppelpfeil </3 dargestellt ist.
Es soll noch erwähnt sein, daß unter der Voraussetzung, daß der Α-Halbleiter p-Silicium ist der B-Halbleiter
n-Silicium sein muß und daß unter der Voraussetzung, daß der Α-Halbleiter n-Silicium ist, der B-Halbleiter
β·; p-Silicium sein muß.
In F i g. 3 ist der Schnitt entlang der Linien ßß'gemäß
F i g. 1 gezeigt, wobei wiederum eine gleichmäßige Substratdotierung und drei verschiedene Dicken d 1 bis
</3 der Isolierschicht 10 wie in Fig.2 angenommen
werden. Der einzige Unterschied zu F i g. 2 besteht darin, daß hier der Zustand mit gebildeten kanälen 16
und 18 zu sehen ist.
Im nachfolgenden soll nun ein Einschreibvorgang in
diese Festwertspeichermatrix beschrieben werden.
Nach der Herstellung enthält die in den Fig. 1 bis 3
dargestellte Festwertspeichermatrix mit Feldeffekttransistoren je nach Definition nur binäre Nullen oder
binäre Einsen und kein bestimmtes, z. B. ein Mikroprogramm darstellendes Bitmuster. Für die folgende
Beschreibung sei angenommen, daß in der Festwertspeichermatrix mit Feldeffekttransistoren zunächst nur
binäre Nullen gespeichert sind. Das Einschreiben von binären Einsen in bestimmte Speicherzellen der
Festwertspeichermatrix mit Feldeffekttransistoren ge
schieht nun dadurch, daß an die dünne Stelle der
Isolierschicht 10 mit der Dicke d\ zwischen Wortleitung 4 und Drain 6 eine Spannung angelegt wird, die
genügend hoch ist, um die dünne Stelle der Isolierschicht 10 mit der Dicke d\ elektrisch zu durchschlagen,
wodurch eine elektrisch leitende Verbindung zwischen einer Wortleitung 4 und der selektierten Drain 6
entsteht. Bevor die einzelnen Spannungen, die zum Schreiben einer binären Eins erforderlich sind, an den
einzelnen Stellen genauer beschrieben werden, sollen
b5 die vier Hauptforderungen, die beim Einschreiben von
Informationen in die Festwertspeichermatrix mit Feldeffekttransistoren erfüllt sein müssen, aufgeführt
sein:
1. Der Durchschlag muß an der gewünschten Stelle
der Isolierschicht sicher erfolgen;
2. es darf an keiner anderen Stelle der Festwertspeichermatrix zu einem unerwünschten Durchschlag
der Isolierschicht 10 oder der pn-Übergänge kommen:
3. ein oder mehrere bereits erfolgte gezielte Durchschläge
an bestimmten Stellen dürfen das gewünschte Durchschlagen an einer weiteren Position
nicht beeinträchtigen oder verhindern;
4. beim Anlegen der hohen Durchschlagspannung muß gewährleistet sein, daß der Durchschlagstrom
auf einen Wert begrenzt wird, der die übrigen Elemente der Matrix nicht gefährdet.
Zum Einschreiben einer binären Eins in eine ausgewählte Speicherzelle, die am Kreuzungspunkt der
Wortleitung 5 und der Bitleitung 2 liegt, müssen das Substrat 1 der Festwertspeichermatrix an Masse, die
Wortleitung 5 an die Spannung V, die Bitleitung 2 an Masse, alle übrigen Wortleitungen der Festwertspeichermatrix
an Masse und alle übrigen Bitleitungen der Festwertspeichermatrix an die Spannung V gelegt
werden. Dadurch entstehen an den Stellen 16 und 18 gemäß F i g. 1 und 3 durch Ladungsträgerinversion
leitende Kanäle. Dabei ist Voraussetzung, daß ohne angelegte äußere Spannungen keine elektrisch leitende
Kanäle auftreten (selbstsperrender Anreicherungs-Modus). Damit stellen sich an den Drains der Festwertspeichermatrix
folgende Potentiale ein:
1. Drain 6 und 8 entladen sich über die Leckströme ihrer PN-Übergänge zum Substrat 1 auf Massepotential.
2. Drain 7 stellt sich über den Kanal 16 auf das Potential der Bitleitung 2, d. h. auf Erdpotential, ein.
3. Drain 9 stellt sich wegen ihres geringen Leckstroms zum Substrat 1, der über den Kanal 18 aus der
Bitleitung 3 nachgeliefert wird, auf ein Potential ein, das um den Betrag der Schwellspannung Vn des
Kanals 18 unterhalb dem Potential V der Wortleitung 5 liegt
Hierdurch ergeben sich an den Stellen dünnster Isolierschicht 10, die mit dem Doppelpfeil d 1 gekennzeichnet
sind, folgende Potentialdifferenzen:
1. An den Stellen 11 und 13 entsteht keine
Potentialdifferenz, da sich sowohl die zugehörigen Drains 6 und 8 als auch die zugehörige Wortleitung
4 auf Massepotential befinden.
2. An der Stelle 12 tritt die Spannung V auf, da die zugehörige Drain 7 auf Massepotential und die
zugehörige Wortleitung 5 an der Spannung Vliegt
3. An der Stelle 14 fällt der Betrag der Schwellspannung
Vn ab, da die zugehörige Drain 9, wie bereits
erwähnt um diesen Betrag unter dem Potential V der zugehörigen Wortleitung 5 liegt
Die obenerwähnten Forderungen 1 und 2, wonach der Durchschlag ausschließlich an der gewünschten und
damit selektierten Stelle, hier der Stelle 12, erfolgen soll,
lassen sich durch folgende Gleichungen präzisieren:
Vth< | BV1^ < | (1) |
BVisa2-i | (2) | |
BVm> | (3) | |
' V, | ||
> v, | ||
' V. |
Dabei sind:
Vn — Schwellspannung der Kanäle 15, 16, 17
und 18;
BViso ι — Durchschlagspannung der dünnen Isolierschicht
über den Drains, d. h. an den Stellen 11,12,13 und 14;
BViso2 — Durchschlagspannung^) der Isolierschicht
außerhalb der dünnen Stellen 11, 12,13 und 14;
BVpn — Durchschlagspannung der pn-Übergänge
zwischen Substrat 1 und Gebieten entgegengesetzten Leitungstyps, d. h. den Bitleitungen 2 und 3 und den Drains 6,7,8
und 9;
V — angelegte Speisespannung.
Dabei drückt Gl. 1 aus, daß die dünne Isolierschicht an der Stelle 12 durchbricht, während sie an der Stelle 14
intakt bleibt. An den Stellen 11 und 13 entsteht wie erwähnt ohnedies keine Spannungsdifferenz, so daß
auch sie intakt bleiben.
Gl. 2 und Gl. 3 beinhalten lediglich die Tatsache, daß es an keiner anderen Stelle der Speichermatrix zu einem
unerwünschten Durchschlag der Isolierschicht oder der pn-Übergänge kommt.
Daß die Bedingungen Gl. 1 bis 3 mittels der gegenwärtig üblichen Silicium-Planar-Technologie
leicht zu erfüllen sind, veranschaulicht folgendes Zahlenbeispiel:
Vn < BVis
V < BVim2,BVp
(O ... 5 Volt) < BV,soX
< V < (50... 100 Volt)
Damit ergibt sich ein weiter Spielraum zwischen 5 und 50 Volt für die zulässigen Durchbruchspannungen
der dünnen Isolierschichtstellen über den Drains und für die Wahl der anzulegenden Speisespannung V. Bei
geeigneter Wahl der Herstellungsparameter läßt sich der Bereich auf 0,35 bis 100 Volt steigern.
Damit ist gezeigt daß die 1. und 2. Forderung erfüllt sind.
Damit ist gezeigt daß die 1. und 2. Forderung erfüllt sind.
Das soeben beschriebene Beispiel ergibt folgendes Bitmuster:
0 0
Durch dieses Beispiel ist gezeigt worden, daß weder so unselektierte, noch Bit-halbsdektierte, noch Wort-halbselektierte
Speicherzellen mit dem Informationsinhalt 0 das Schreiben einer Eins in eine selektierte Speicherzelle
stören.
Um zu zeigen, daß auch die dritte aufgestellte Forderung erfüllt wird, derzufolge bereits erfolgte
Durchschläge das Einschreiben einer binären Eins in die Festwertspeichermatrix an weiteren Positionen nicht
stören dürfen, sei als weiteres Beispiel angenommen, daß folgendes Bitmuster vorliegt:
1 1
Weiterhin sei angenommen, daß nun die binäre Null im rechten unteren Feld ebenfalls in eine binäre Eins
umgeschrieben werden soIL
Wie im ersten Beispiel bereits beschrieben, wird an die selektierte Wortleitung, in diesem Beispiel die
Wortleitung 5, die Spannung V, an die selektierte Bitleitung, hier die Bitleitung 3, Massepolential angelegt.
Die unselektierten Wortleitungcn liegen wie beschrieben auf Massepotential, die unselektierten Bitleitungen
auf dem Potential V und das Substrat ebenfalls an Masse.
Dadurch ist gewährleistet, daß bei den unselektierten Wortleitungen keine Ladungsträgerinversionen, d. h.
keine elektrisch leitenden Kanäle, entstehen können, so daß die mit den unselektierten Wortleitungen verbundenen
Drains keine elektrische Verbindung zur selektierten bzw. zu den unselektierten Bitleitungen haben. Bei
halbselektierten Speicherzellen an der selektierten Wortleitung entstehen zwar leitende Kanäle, über die
jedoch kein Strom fließen kann, da die unselektierten Bitleitungen auf demselben Potential V wie die
selektierte Wortleitung liegen.
Durch dieses Beispiel ist also gezeigt worden, daß weder unselektierte, noch Bit-halbselektierte, noch
Wort-halbselektierte Speicherzellen mit dem Informationsinhalt
1 das Schreiben einer Eins in eine selektierte Speicherzelle stören.
Die vierte Forderung nach einer Begrenzung des Durchschlagstroms beim Einschreiben einer binären
Information in eine Speicherzelle wird mittels bekannter Maßnahmen durch eine äußere Schaltung erfüllt, die
die Spannung Van die selektierte Wortleitung liefert.
Da eine derartige Begrenzung des Durchschlagstromes hinlänglich bekannt ist, wird an dieser Seite auf eine
genauere Beschreibung einer derartigen Schaltung verzichtet.
Im nachfolgenden wird nun der Lesevorgang zum Auslesen einer in der Festwertspeichermatrix mit
Feldeffekttransistoren gespeicherten Information beschrieben.
Zu diesem Zwecke wird angenommen, daß die auszulesende Information aus Nullen im Fall intakter
Isolierschicht 10 über den Drain einer Speicherzelle und aus Einsen im Falle des Durchbruchs derselben besteht.
In der auszulesenden Festwertspeichermatrix mit
Feldeffekttransistoren wird folgendes Bitmuster gemäß Draufsicht nach F i g. 1 als gespeichert angenommen:
1 0
In den F i g. 1,2 und 3 können demnach die Stellen 11
und 14 als völlig intakt und die Stellen 12 bzw. 13 als durchgeschlagen angenommen werden. Das heißt,
zwischen der Wortleitung 4 und Drain 8 sowie zwischen Wortleitung 5 und Drain 7 bestehen elektrisch leitende
Verbindungen, nicht aber zwischen der Wortleitung 4 und Drain 6 sowie der Wortleitung 5 und Drain 9.
Im vorliegenden Beispiel erfolgt nun das Auslesen der Festwertspeichermatrix mit Feldeffekttransistoren
wortweise. Um dies zu erreichen, wird das Potential der selektierten Wortleitung 4 über den Betrag der
Schwellspannung Vn angehoben, während das der
unselektierten Wortleitung 5 unter diesem Wert gehalten wird, so daß in den Gebieten 15 und 17 leitende
Kanäle entstehen, nicht aber in den Gebieten 16 und 18. Entsprechend dem eingeschriebenen Bitmuster besteht
damit eine elektrisch leitende Verbindung der Wortleitung 4 mit der Bitleitung 3, nicht aber mit der
Bitleitung 2. Ein auf die selektierte Wortleitung 4 gegebener Selektionsimpuls ruft daher einen Leseimpuls
auf der Bitleitung 3 hervor, was im vorliegenden
ίο Beispiel einer gelesenen binären Eins entspricht, nicht
aber auf der Bitieitung 2, was im vorliegenden Beispiel
einer gelesenen binären Null entspricht. Die binäre Information des Wortes der selektierten Wortleitung 4
steht damit als Bit 2 und Bit 3 an den entsprechenden
Ii Bitleitungen parallel zur Verfügung Fs ist selbstverständlich
auch möglich, durch Nacheinander-Ansteuern der Bitleitungen die Information seriell auszulesen. Ist
der Lesevorgang auf der selektierten Wortleitung 4 beendet, dann kann anschließend entweder die Wortlpi-
2<i tung 5 oder auch eine andere selektiert und gelesen
werden.
Im nachfolgenden wird nun gezeigt, wie die erfindungsgemäße Festwertspeichermatrix mit Feldeffekttransistoren
in der bekannten Silicium-Planar-Tech-
2r, nologie hergestellt werden kann. Dies erfolgt im
vorliegenden Beispiel mit den Prozeßschritten 1 bis 11,
die in den F i g. 4A und 4B an Hand zweier Querschnitte entlang der in F i g. 1 gekennzeichneten Schnittlinien
DD' und EE' dargestellt sind. Der Ablauf der
jo Prozeßschritte für die Herstellung ist nun wie folgt:
1. Thermische Oxydation der Halbleitersubstrate (hier z. B. vom p-Typ)
2. Atzen der Diffusionsfenster zur Herstellung der Drains und Bitleitungen
r> 3. Deposition der Dotierungsstoffe (hier z. B. POCI3)
4. Reoxydation, d. h. Schließen der Diffusionsfenster und Eindiffusion der Dotierungsatome (hier Phosphor)
5. Ätzen der Oxydfenster an den Stellen dünnerer 4(1 Isolierschichtdicke, d.h. über den Kanalgebieten
und über den Drains
6. Thermisches Aufwachsen des Oxyds über den Kanalgebieten (und über den Drains, was aber im 7.
Prozeßschritt wieder entfernt wird)
4> 7. Ätzen der Kontaktfenster über den Drains
8. Phosphorglas deponieren zur Stabilisierung der Kanalgebiete und Schließung der Kontaktfenster
über den Drains (dünnstes Oxyd, das gegebenenfalls beim Schreiben durchschlägt)
'" 9. Kontaktlöcher öffnen. Dieser Schritt ist für die
Matrix selbst nicht erforderlich, vielmehr werden damit die Anschlüsse der Matrix an die sie
umgebenden Schaltkreise vorbereitet, sowie die Verschaltung letzterer, sofern sie sich auf demselben
Halbleitersubstrat befinden (nicht dargestellt)
10. Aluminium aufdampfen
11. Aluminiummuster ätzen, d.h. die »Verdrahtung«
bzw. die Wortleitungen herstellea
Anschließend erfolgen die üblichen Prozeßschritte zur Passivierung und Gehäusemontage.
Hierzu 4 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Halbleiterfestwertspeicher, dessen Speicherelemente aus Feldeffekttran. ~en gebildet werden, die matrixförmig auf einer ■ Substrat angebracht sind, auf dem parallele Streifen entgegengesetzten Leitungstyps angebracht sind, die vom Substrat und den darin befindlichen Gebieten (z. B. Drain) entgegengesetzten Leitungstyps durch eine elektrisch nichtleitende Schicht isoliert sind, die im Drain-Gebiet dünner als in den anderen Bereichen ausgebildet ist, die beim Anlegen eines elektrischen Feldes ausreichender Stärke elektrisch durchschlagen wird, wodurch eine leitende Verbindung zwischen der selektierten Drain und der darüberliegenden Leitung entsteht und somit eine binäre Eins gespeichert wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Isolierschicht (10) drei Dicken (di — d3) aufweist, so daß sie außerhalb von Drain (z. B. 6) und Kanalgebiet (z. B. 15) eine Dicke im Verhältnis t/3 > dl besitzt und über den Kanalgebieten (z. B. 15 und 17) eine Dicke in der Größenordnung dl > di, damit eine Ladungsträgerinversion bei Aufladung der darüber befindlieher. Wortleitung (4) auftreten kann.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19712128014 DE2128014A1 (de) | 1971-06-05 | 1971-06-05 | Halbleiterfestwertspeicher |
GB2434572A GB1340653A (en) | 1971-06-05 | 1972-05-24 | Fet read-only storage matrix |
FR7220515A FR2140542A1 (de) | 1971-06-05 | 1972-06-01 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19712128014 DE2128014A1 (de) | 1971-06-05 | 1971-06-05 | Halbleiterfestwertspeicher |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2128014A1 DE2128014A1 (de) | 1972-12-14 |
DE2128014B2 DE2128014B2 (de) | 1978-10-05 |
DE2128014C3 true DE2128014C3 (de) | 1979-05-31 |
Family
ID=5809957
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19712128014 Granted DE2128014A1 (de) | 1971-06-05 | 1971-06-05 | Halbleiterfestwertspeicher |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
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FR (1) | FR2140542A1 (de) |
GB (1) | GB1340653A (de) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1456608A (en) * | 1973-08-23 | 1976-11-24 | Ibm | Read only memory |
US4507756A (en) * | 1982-03-23 | 1985-03-26 | Texas Instruments Incorporated | Avalanche fuse element as programmable device |
US4507757A (en) * | 1982-03-23 | 1985-03-26 | Texas Instruments Incorporated | Avalanche fuse element in programmable memory |
GB2270795B (en) * | 1992-09-18 | 1995-02-15 | Texas Instruments Ltd | Improvements in or relating to the trimming of integrated circuits |
-
1971
- 1971-06-05 DE DE19712128014 patent/DE2128014A1/de active Granted
-
1972
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- 1972-06-01 FR FR7220515A patent/FR2140542A1/fr not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2128014B2 (de) | 1978-10-05 |
GB1340653A (en) | 1973-12-12 |
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DE2128014A1 (de) | 1972-12-14 |
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