DE2041959A1 - Randomspeicher - Google Patents
RandomspeicherInfo
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Description
Randomspeicher,
Die Erfindung betrifft einen Randomspeicher, auch Speicher
mit wahlfreiem Zugriff genannt, der aus bistabilen, !Feldeffekttransistoren umfassenden Speicherelementen aufgebaut ist.
Es sind bereits derartige Speicher mit Metalloxyd-Silicium-Peldeffekttransistoren,
kurz MOSPET genannt, bekannt geworden, bei denen die Wirkungsweise der einzelnen Speicherelemente auf
der Aufrechterhaltang einer kapazitiven Ladung am Gate eines
MOSPET des Speicherelementes oder in einem speziellen kapazitiven Bauteil des Speicherelementes beruht. Die kapazitiven Ladungen
neigen jedoch dazu, sich langsam abzubauen, wenn an einem Speicherelement während mehrerer Arbeitstakte keine Lese- oder Schreiboperation
durchgeführt wird. Der Informationsinhalt aller Speicherelemente des Speichers muß deshalb in regelmäßigen Abständen regeneriert
werden. Daher sind allen Speicherelementen des vorgeschlagenen Speichers separate Schaltuagsteile zur Regenerierung
des Speicherelementen Inhalts und für den Zugriff zum Speicherelement während den Schreib- und Leseoperationen zugeordnet.
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Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Randomspeieher zu
schaffen, bei welchem die erwähnten, den einzelnen Speicherelementen
zugeordneten Schaltungsteile vermieden und dadurch eine ganze Reihe von Bauelementen für den Speicher eingespart sind.
Ausgehend von einem Randomspeieher mit bistabilen, Feldeffekttransistoren
umfassenden Speicherelementen, welche an zwei
Datenleitungen angeschlossen und über Adressenleitungen adressierbar
sind, ist diese Aufgabe erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß in
jedem Speicherelement die beiden Batenleitungeii mit einem Anschlußpunkt
festen Potentials jeweils über einen von zwei Schaltungszweigen des Speicherelemente verbunden sind, welche jeweils
die Serienschaltung von Toren, und einem Speicher-MOSPET sind, der
mit dem Spei eher -MOSi1ET des anderen Schaltungszweiges über Kreuz
gekoppelt ist und von welchen Jeweils höchstens ein Schaltungszweig aufgrund eines mittels einer Spannungsquelle erzeugten
Potentialdifferenz zwischen den Datenleitungen und dem Anschlußpunkt
Strom fiJhrt, daß die Tore der Sehaltungszweige der Speicherelemente
über die Adressen-Leitungen wahlweise derart sperrbar sind, daß beide Sehaltungszweige in Jedem außer dem adressierten
Speicherelement stromfrei sind, und daß den Datenleitungen eine
auf den Stromfluß im einen oder anderen Schaltungszweig des adressierten Speicherelements unterschiedlich ansprechende Detektoreinrichtung
zugeordnet ist. -
Bei diesem Randomspeicher füiirsn alle Speicherelemente in
einem ihrer beiden Schaltiingszwe.ige Strom, so lange nicht ein
bestimmtes ausgewähltes Speicherelement adressiert ist. Die erste der beiden Datenleitungen führt die Summe der Ströme aller derjenigen
Speicherelemente, die sls'li In einen stabilen Zustand befinden,
während die zweite Baten!eii?ung die Summe der Ströme der
anderen Speicherelemente, welche sich im anderen, stabilen Zustand
befinden j führt« Bei eioe.·: Adressierung verbleibt nur noch der
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ι -1 /Λ l~
durch das adressierte Speicherelement ί liegende Stroa; -j er »: r ,-jiii
dieses Speicherelementes ist anhand der Identität der D? ten;^itung,
durch welche dieser Strom fließt, erkennbar. Zur Erkennung
dieser Identität ist eine entsprechende Detektoreinrichtung vorgesehen. Während der Adressierung eines Speicherelementen ζην.
Zwecke des Lesens oder Schreibens wird der Zustand <le.;? nicht
adressierten Speicherelemente durch Aufrechterhaltung einer kapazitiven Ladung bewahrt. Solange kein bestimmtes Speicher ela::<--:t
adressiert ist, sind die Tore in den Schaltungszwei, "ri aller
Speicherelemente geöffnet, so daß deren Inhalt kontinuierlich regeneriert, bzw. erneuert wird.
Das Einschreiben einer Information in ein Speicherelement
ist am einfachsten dadurch erreichbar, daß die Potentialdifferenz
zwischen den Datenleitungen und dem Anschlußpunkt festen Potentials
wahlweise bei jeder der beiden Datenleitungen einzeln abschaltbar ist. Befindet sich der Ansohlußpunkt auf Masse-Potential,
genügt es zum Abschalten der Potentialdifferenz, die er"
oder andere Datenleitung an Masse zu legen..
Die beiden Datenleitungen sind vorzugsweise jeweils über
eine Lastimpedanz an die gegen den Anschlußpunkt festen Potentials arbeitende Spannungsquellß angeschlossen, Ais Lastimpedanz
genügen bereits einfache Ohm*sehe Widerstände. Der Zustand eines
adressierten Speicherelementes kann dann dadurch bestimmt werden,
daß der Spannungsabfall längs des Widerstandes, welcher den Strom
des adressierten Speicherelementes führt, festgestellt wird.
Andere Weiterbildungen der Erfindung gehen aus den Unteransprüchen
hervor·
Die Erfindung ist mit weiteren vorteilhaften Einzelheiten im folgenden anhand einer schematischen Zeichnung an einem Aus-
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fuhrungsbeispiel näher erläutert. Die einzige Figur der Zeichnung
zeigt das SchaltTDild eines Speicherelementes eines Randomspeichers
nach der Erfindung sowie der zugeordneten, gemeinsamen Lese- und Schreibschaltung.
Der erfindungsgemäße Randomspeieher umfaßt eine Vielzahl von
Speicherelementen 10 in Matrix-Anordnung, von denen eines in der Figur innerhalb des gestrichelten Rechtecks geneigt ist. Jedes
Speicherelement 10 ist im Prinzip einer Flipflop-Schaltung aus :;wei Schaltungszweigen 12 und 14. Der Schaltungszweig 12 umfaßt
drei in Serie geschaltete MOSFETS, von denen einer als Tor 16 für die X-Adresse, der nächste als Tor 18 für die Y-Adresse und
der letzte als Speicher-MOSFET 20 wirkt. Entsprechend umfaßt der Schaltungszweig 14 ein Tor 22 für die X-Adresse, ein Tor 24 für
die Y-Adresse und einen Speicher-MOSFET 26. Bei allen Speicherelementen des Speichers mit der gleichen X-Adresse sind die
Gateelektroden der Tore bzw. MOSFETS für die X-Adresse an eine gemeinsame X-Adressen-Leitung 42 angeschlossen. In entsprechender
Weise sind die Gateelektroden der Tore für die Y-Adresse aller Speicherelemente mit der gleichen Y-Adresse an eine gemeinsame
Y-Adressen-Ieitung angeschlossen.
Zum Betrieb des Speichers „wird dessen entsprechend bezeichneter
Anschluß an eine Spannungsquelle angeschlossen, die sine gleichbleibende, negative Gleichspannung -V-ηπ liefert, über
zwei Lastwiderstände 28 und 30 teilt sich ein entsprechendes
Potential zwei leitungen 32 bzw« 34 mit. Die beiden Leitungen
werden im Hinblick auf ihre Funktion während des Schreibens und Lesens von Daten inverse Datenleitung 32 und Datenleitung 34 genannt.
An die beiden Datenleitungen 32 und 34 sind alle oder ein Teil der Speicherelemente 10 einer Matrix angeschlossen.
Die Impedanz der Lastwiederstände 28 und 30 ist ausreichend niedrig, eo daß die inverse Datenleitung 32 und die Datenleitung
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34 auf einem deutlich negativen Potential auch dann bleiben, wenn alle Speicherelemente der Matrix stromführend sind. Das Speicherelement
10 der Zeichnung hat zwei stabile Zustände. In einem dieser beiden Zustände, dem Zustand mit dem Schaltwert "1"j fließt
negativer Strom von der Spannungsquelle -V-Q0 über den lastwiderstand
28 und die Datenleitung 32 zum Schaltungszweig 12 des Speicherelementes 10. In diesem Schaltungszweig 12 liegen die
MOSi1ETS 16, 18 und 20 in Serie zwischen der inversen Datenleitung
32 und dem auf Masse befindlichen, mit dem Schaltungszweig 14 gemeinsamen Anschlußpunkt 52. Mit Masse ist hier das feste
Potential des Substrates der MOSPETS oder des Chips, auf welchem die MOSPETS als integrierte Schaltung ausgebildet sind, bezeichnet.
Die relativen Leitwiderstände der MOSPETS 16, 18 und 20
stehen in einem solchen Verhältnis zueinander, daß der Verbindungspunkt 36 bei einem Stromfluß im Schaltungszweig 12 wegen der
entsprechenden Spannungsteilung zwischen den MOSPETS 16, 18 und 20 auf einem Potential bleibt, das weniger negativ als die
Schwellenspannung der Gateelektrode des Speicher-MOSPETS 26 ist.
Der Speicher-MOSPET 26 ist dadurch gesperrt, so daß kein Strom durch den SchaltungBzweig-14 fließen kann und der Verbindungspunkt
38 das negative Potential der Datenleitung 34 annimmt. Dieser Zustand des Verbindungspunktes 38 hält natürlich das Gate
des Speicher-MOSPETS 20 auf einem Potential, das negativer als die Schwellenspannung ist und daher den Speicher-MOSPET aurch schaltet.
In umgekehrter Weise drückt sich der Zustand mit den Schaltwert "0" beim Speicherelement 10 durch einen Stromfluß im Schaltungszweig
14 und durch entsprechende Stromlosigkeit des Schaltungszwelges
12 aus.
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Bei obiger Erläuterung wurde von der Voraussetzung ausgegangen, daß sowohl die Y-Adressen-Leitung 40 als auch die X-Adressen-Leitung
42 ständig derart aktiviert bzw. angesteuert ist, daß die MOSPETS 16, 18,.22 und 24 leitfähig sind. Tatsächlich
sind im Normalzustand des erfindungsgemäßen Randomspeichers alle Y-Adressen-Leitungen und alle X-Adressen-Leitungen aktiviert.
Soll nun aus einem bestimmten Speicherelement, beispielsweise dem Speicherelement 10 der Zeichnung, Information ausgelesen
werden, werden alle Y-Adresse-leitungen mit Ausnahme der leitung 40 und alle X-Adressen-Leitungen mit Ausnahme der Leitung
42 an Masse gelegt. Dies unterbricht die Schaltungsverbindung zwischen der inversen Datenleitung 32 und dem Verbindungspunkt
36 und zwischen der Datenleitung 34 und dem Verbindungspunkt bei allen Speicherelementen mit Ausnahme des adressierten Speicherelementes
10. In diesem Zustand hängt der Stromfluß in den Datenleitungen 32 und 34 ausschließlich vom Zustand des adressierten
Speicherelementes 10 ab.
Wenn sich das Speicherelement 10 im Zustand mit dem Schaltwert "1" befindet, wie es zuvor unterstellt wurde, fließt Strom
durch den Widerstand 28, die inverse Datenleitung 32 und den Schaltungszweig 12, jedoch nicht durch den Widerstand 30, die
Datenleitung 34 und den Schaltungszweig 14. Entsprechend bildet sich ein Spannungsabfall am Lastwiderstand 28, jedoch nicht am
Lastwiderstand 30 aus. Daraus folgt, daß der Datenanschluß 44 das Potential -V00 annimmt, während der inverse Datenanschluß
46 auf ein Potential gelangt, das gegenüber Masse kleiner als -ν™ ist. Die entsprechende Potentialdifferenz kann mit einer
dazu geeigneten, nicht gezeigten Detektoreinrichtung zum Auslesen festgestellt werden und stellt das Ausgangssignal beim Lesen des
Speicherelementes 10 dar* ■ ·
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Wenn nun der Schaltwert "O" In das Speicherelement 10 ti.L.igeschrieben
werden soll, wird, während das Speicherelement 10 noch adressiert ist, das Schreibtor 48 kurzzeitig durchgesehaitet, Indem
seiner Gateelektrode ein Impuls zugeführt wird. Dadurch üimmt
die Datenleitung 34 das Potential von Masse an und obonialls der
Verbindungspunkt 38, da die Tore 22 und 24 zu dieser. Zeitpunkt
durchgeschaltet sind. Sobald jedoch das Potential des Verbin»
dungspunktes 38 weniger negativ als die Schwellensparnung de*;
Speicher-MOSPET 20 wird, sperrt dieser und unterbricht den Stromfluß
im Schaltungszweig 12. Daraufhin nimmt der Verbindungspunkfc
36 das negative Potential der inversen Datenleitung 32 an, was zum Durchschalten des Speieher-MOSPET 26 führt. Wird nun das
Schreibtor 48 gesperrt, nimmt die Datenleitung 34 wieder ihr normales negatives Potential an, jedoch fließt der Strom nun
über die Datenleitung 34 und den Schaltungszweig 14 anstatt über die inverse Datenleitung 32 und den Schaltungszweig 12. Aufgrund
der Spannungsteilung an den MOSFETS ??, 24 und 26 bleibt der
Verbindungspunkt 38 auf einem Potential, das weniger negativ j die Schwellenspannung des MOSEST 20 isfc, so daß sich wieder sjη
stabiler Zustand des Speicherelemeiitea einstellt.
Wenn in das adressierte Speicherelement 10 der Schaltwert "1" eingeschrieben werden soll, wird der SehreiΌImpuls einfach
dem Schreibtor 50 anstatt dem Schreibtor 48 sugeführt.
Was die nicht adressierten Speicherelemente der Matrix betrifft, so sind deren Tore 16 und 22 für die X-Adresse und/oder
deren Tore 18 und 24 für die Y-Adresse während einer lese- oder
Schreiboperation mit dem Speicherelement 10 gesperrt, da die zu ihnen führende X-und/oder Y.-Adressen-Leitung an Masse liegt. Ihr
Zustand wird dann dadurch bewahrt, daß beispielsweise bei einem den Schaltwert "1" führenden Speicherelement das Potential des
Verbindungspunktes 36 über den Speieher-MOSPET 20 noch näher an
1O0SU/1892 BADORiQlNAL
Masse liegt 9 Jedcch äß% Terbinäungspuiikt" 38 wegen des gesperrten
'Speicher-MOSFEÜ? 26fein Masse-Potential annehmen kann und in diesem
Zustand durch die kapazitive ladung der Gateelektrode des
Speicher-MOSPET 20 gehalten wird.
Fach einer lese- und Schreiboperation am Speicherelement 10
wird die gange Matrix durch Ansteuerung bsw. Aktivierung aller
Y-Adressen-leitungen und aller X-Adressen^Leitungen der Matrix
in den Normalzustand zurückgebracht.
Die Erfindung -wurde zwar unter.Bezugnahme auf ein Speicherelement
mit MOSi1ETS vomp-Kanal-Anreichungstyp beschrieben, jedoch
liegt es genauso im Bereich der Erfindung, Speicherelemente mit anderen MOSEET oder IGPET-iypen (IGlET = Isolxerachicht-Pelcleffekttransistor)
zu verwenden.
fatentatisprtäche t
1 Ö 9 8 1 4 / 1 8 Ö %
BAD ORlQiNAL
Claims (1)
- Patentansprüche(ij Randomspeieher mit bistabilen, PeldeffektMimiassenaen Speicherelementen, welche an zwei Datenleitungen angeschlossen und über Adressen-Leitungen adressierbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß in jedem Speicherelement (10) die beiden Datenleitungen (32, 34) mit einem Anschlußpunkt (52) festen Potentials jeweils über einen von zwei Schaltungszweigen (12, 14) des Speicherelements verbunden sind, welche jeweils die Serienschaltung von Toren (16, 18; 22, 24) und einem Speicher-MOSFET (20, 26) sind, der mit dem Speicher-MOSFET des anderen Schaltungszweiges über Kreuz gekoppelt ist, und von welchen jeweils höchstens ein Schaltungszweig aufgrund einer mittels einer Spannungsquelle (Vj>q) erzeugten Potentialdifferenz zwischen den Datenleitungen und dem Anschlußpunkt Strom führt, daß die Tore der Schaltungszweige der Speicherelemente über die Adressen-Leitungen (40; 42) wahlweise derart sperrbar sind, daß beide Schaltungszweige in jedem außer dem adressierten Speicherelement stromfrei sind, und daß den Datenleitungen eine auf den Stromfluß im einen oder anderen Schaltungszweig des adressierten Speicherelementes unterschiedlich ansprechende Detektoreinrichtung zugeordnet ist.2. Randomspeieher nach Anspruch 1, dadurch g e k e η η zeich n;e t , daß die beiden Datenleitungen (32; 34) jeweils Über eine Lastimpedanz (28; 30) an die gegen den Anschlußpunkt (52) festen' Potentials arbeitende Spannungsquelle (Vtjq) angeschlossen sind.1098 U/18923. Randomspeieher nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet , daß die Potentialdifferenz zwischen den Datenleitungen (32; 34) und dem Anschlußpunkt (52) festen Potentials für eine Schreiboperation wahlweise bei jeder der beiden Datenleitungen einzeln abschaltbar ist.4. Randomspeicher nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet , daß jeder Schaltungszweig (12; 14) der Speicherelemente (10) zwei unmittelbar zusammengeschaltete Tore (16,18; 22, 24)in Serie mit einem Speicher-MOSPET (20; 26) enthält, von denen eines mit einer X-Adressen-leitung (42) und das andere mit einer Y-Adressen-Leitung (40) verbunden ist.5. Randomspeicher nach Anspruch 1, 2, 3 oder 4, dadurch g ekennzeich.net , daß in jedem Speicherelement (10) das Gate des Speicher-MOSPET (20; 26) jeden Schaltungszweiges (12; 14) an den Verbindungspunkt (38; 36) des Speieher-MOSPET mit den Toren (24» 26; 18, 20) des jeweils anderen Schaltungszweiges angeschlossen ist.109.814/1892
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US85265769A | 1969-08-25 | 1969-08-25 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2041959A1 true DE2041959A1 (de) | 1971-04-01 |
Family
ID=25313907
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19702041959 Pending DE2041959A1 (de) | 1969-08-25 | 1970-08-24 | Randomspeicher |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3550097A (de) |
BE (1) | BE755189A (de) |
DE (1) | DE2041959A1 (de) |
FR (1) | FR2059664A1 (de) |
NL (1) | NL7012521A (de) |
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-
0
- BE BE755189D patent/BE755189A/xx unknown
-
1969
- 1969-08-25 US US852657A patent/US3550097A/en not_active Expired - Lifetime
-
1970
- 1970-08-24 DE DE19702041959 patent/DE2041959A1/de active Pending
- 1970-08-24 FR FR7030894A patent/FR2059664A1/fr not_active Withdrawn
- 1970-08-24 NL NL7012521A patent/NL7012521A/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
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BE755189A (fr) | 1971-02-24 |
US3550097A (en) | 1970-12-22 |
NL7012521A (de) | 1971-03-01 |
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