DE202006013974U1 - Speicherkarte mit der Möglichkeit zum Schutz eines Testkontakts - Google Patents

Speicherkarte mit der Möglichkeit zum Schutz eines Testkontakts Download PDF

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Abstract

Speicherkarte mit der Möglichkeit zum Schutz eines Testkontakts einer Schnittstelle, umfassend:
einen Hauptkörper (2), in dessen Innerem sich eine Leiterplatte (5) befindet;
einen an der Leiterplatte (5) angeordneten Steuerchip (6), der zum Steuern des Lesens und Schreibens der Daten von bzw. auf die Speicherkarte (1) dient;
einen an der Leiterplatte (5) angeordneten Speicherchip (7), der die Daten auf der Speicherkarte (1) abspeichert;
eine Speicherkartenschnittstelle (3), die an den Steuerchip (6) elektrisch angeschlossen ist;
eine Verbindungsschnittstelle (4), die an den Steuerchip (6) elektrisch angeschlossen ist; und
einen Deckel oder eine Klebescheibe (10), der oder die an der Speicherkartenschnittstelle (3) oder an der Verbindungsschnittstelle (4) angeordnet ist, um den Testkontakt (11, 12) an der Schnittstelle zu schützen.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Speicherkarte mit der Möglichkeit zum Schutz eines Testkontakts an einer Schnittstelle, wobei der Testkontakt an der Schnittstelle durch einen Deckel oder eine Klebescheibe geschützt wird.
  • Die handelsüblichen Speicherkarten besitzen die Vorteile einer großen Speicherkapazität, eines kleinen Volumens und der Tragbarkeit und finden deswegen häufig bei Elektrogeräten wie PCs, Laptops, PDAs, MP3, MP4 und Digitalkameras Verwendung. Zur Befriedigung der Wünsche (Bedarf) der Benutzer stehen z.Z folgende Sorten von Speicherkarten auf dem Markt zur Verfügung: SD (secure digital)-Speicherkarten, MicroSD-Speicherkarten, MiniSD-Speicherkarten, CF (compact flash)-Speicherkarten, MS (memory stick)-Speicherkarten, SM (smart media)-Speicherkarten und MMC (multimedia card)-Speicherkarten. Jedoch sind die metallenen Kontakte an der Schnittstelle der o.g. Speicherkarten ungeschützt angeordnet, so daß die Speicherkarten durch eine elektrostatische Wirkung, die durch die Handberührung des Benutzers mit dem metallenen Kontakt hervorgerufen wird, oder durch eine vom Benutzer auf den metallenen Kontakt der Schnittstelle der o.g. Speicherkarten gebrachte ungeeignete Spannung zerstört werden.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Speicherkarte mit der Möglichkeit zum Schutz eines Testkontakts einer Schnittstelle zu schaffen, um die o.g. Probleme, also dass eine Speicherkarte aufgrund einer elektrostatischen Wirkung oder einer vom Benutzer auf den metallenen Kontakt der Schnittstelle der o.g. Speicherkarten gebrachten ungeeigneten Spannung nicht mehr wie gewünscht funktioniert, zu lösen. Die erfindungsgemäße Speicherkarte umfasst:
    einen Hauptkörper, in dessen Innerem eine Leiterplatte angeordnet ist;
    einen an der Leiterplatte angeordneten Steuerchip, der zum Steuern des Lesens und Schreibens der Daten von bzw. auf die Speicherkarte dient;
    einen an der Leiterplatte angeordneten Speicherchip, der die Daten auf der Speicherkarte abspeichert;
    eine Speicherkartenschnittstelle, die an den Steuerchip elektrisch angeschlossen ist;
    eine Verbindungsschnittstelle, die an den Steuerchip elektrisch angeschlossen ist; und
    einen Deckel oder eine Klebescheibe, der oder die an der Schnittstelle der Speicherkarte oder an der Verbindungsschnittstelle angeordnet ist, um den Testkontakt an der Schnittstelle zu schützen.
  • Der Benutzer kann den Deckel bzw. die Klebescheibe der erfindungsgemäßen Speicherkarte abreißen, um mit dem darunter befindlichen Testkontakt folgende Anwendungen vorzunehmen:
    Reparieren und Analysieren der elektrischen Eigenschaft der Speicherkarte; Prüfen der. Daten auf der Speicherkarte; Überprüfen der Leistung der Speicherkarte; und kompatibles Benutzen mit einer Doppelschnittstelle.
  • Darüber hinaus kann der Benutzer sofort dem Hersteller der Speicherkarte mitteilen, ob die Speicherkarte ein Kompatibilitätsproblem (z.B. Zugriffsgeschwindigkeit) hat. Wenn die Speicherkarte von einem Elektrogerät wie einer Digitalkamera, einem PDA, einem PC, einem Laptop, einem MP3 oder einem MP4 gelesen wird, gewährleistet die Erfindung folgende Vorteile: (a) Der Geldverlust des Herstellers der Speicherkarte kann vermieden werden; (b) Die Qualität und der Markenwert des Herstellers der Speicherkarte können erhalten werden; und (c) Die Rechte des Benutzers können geschützt werden.
  • Im Folgenden wird die vorliegende Erfindung anhand der detaillierten Beschreibung und der beigefügten Zeichnungen näher erläutert werden. Es zeigen:
  • 1 eine dreidimensionale perspektivische Außenansicht einer erfindungsgemäßen Speicherkarte (der Deckel oder die Klebescheibe nicht dargestellt);
  • 2 eine perspektivische Ansicht der inneren Struktur der erfindungsgemäßen Speicherkarte;
  • 3 ein Blockschaltbild der erfindungsgemäßen Speicherkarte;
  • 4 die Anordnung eines Deckels oder einer Klebescheibe über einen Testkontakt einer Schnittstelle;
  • 5 die Anordnung eines Deckels oder einer Klebescheibe über einen Testkontakt einer Schnittstelle bei einem weiteren Ausführungsbeispiel;
  • 6 eine perspektivische Ansicht der erfindungsgemäßen Speicherkarte vor dem Test; und
  • 7 eine perspektivische Ansicht der erfindungsgemäßen Speicherkarte beim Test.
  • 1 zeigt eine dreidimensionale perspektivische Außenansicht der erfindungsgemäßen Speicherkarte 1 (der Deckel oder die Klebescheibe nicht dargestellt), wobei die Speicherkarte 1 einen Körper der Speicherkarte 2, eine Schnittstelle der Speicherkarte 3 und eine Verbindungsschnittstelle 4 umfasst. Die Schnittstelle der Speicherkarte 3 kann eine Schnittstelle der SD-Speicherkarte, der MicroSD-Speicherkarte, der MiniSD-Speicherkarte, der CF-Speicherkarte, der MS-Speicherkarte, der SM-Speicherkarte oder der MMC-Speicherkarte sein. Die Verbindungsschnittstelle 4 kann eine Schnittstelle des allgemeinen Serial Bus RS232, des Universal Serial Bus (USB) oder eine von der IEEE festgesetzte 1394-Schnittstelle sein.
  • 2 zeigt eine perspektivische Ansicht der inneren Struktur der erfindungsgemäßen Speicherkarte. Im Körper der Speicherkarte 2 ist eine Leiterplatte 5 angeordnet, die an die Schnittstelle der Speicherkarte 3 und die Verbindungsstelle 4 elektrisch angeschlossen ist. An der Leiterplatte 5 sind ein Steuerchip 6 und ein Speicherchip 7 vorgesehen, wobei der Steuerchip 6 an die Schnittstelle der Speicherkarte 3 elektrisch angeschlossen ist, und der Speicherchip 7 an die Verbindungsstelle 4 und den Steuerchip 6 elektrisch angeschlossen ist.
  • 3 zeigt ein Blockschaltbild der erfindungsgemäßen Speicherkarte, wobei der Steuerchip 6 einen Speicherkartenkontroller 8 und eine Prüfungs-/Steuereinheit 9 umfasst. Der Speicherchip 7 umfasst N-fache Flash-Speicher, wobei N eine positive Ganzzahl ist und zwar größer als eins. Zudem kann der Speicherchip 7 ebenfalls N-fache Festspeicher umfassen, wobei N eine positive Ganzzahl ist und zwar größer als eins.
  • 4 und 5 zeigen die Anordnung eines Deckels oder einer Klebescheibe 10 über die Verbindungsstelle 4 oder die Schnittstelle der Speicherkarte 3, so dass der Testkontakt 11 bzw. 12 einer Schnittstelle geschützt werden kann. Der Deckel oder die Klebescheibe 10 stellt eine nicht-wiederherstellbare, nichtleitfähige Scheibe dar und kann daher den Testkontakt 11 bzw. 12 an einer Schnittstelle elektrisch isolieren. Der Testkontakt 11 bzw. 12 ist aus nicht leicht oxidierendem Metall hergestellt und soll dem Benutzer dazu dienen, die elektrische Eigenschaft der Speicherkarte 1 zu reparieren und analysieren, die Daten auf der Speicherkarte 1 zu prüfen sowie die Leistung der Speicherkarte 1 zu überprüfen.
  • 6 und 7 zeigen eine perspektivische Ansicht der erfindungsgemäßen Speicherkarte 1 vor dem Test bzw. beim Test. Beim Testen reißt der Benutzer zunächst den Deckel oder die Klebescheibe 10 ab und setzt dann die Speicherkarte 1 in eine Kartenbuchse 13 ein. Anschließend soll der zu testende Testkontakt 11 bzw. 12 an ein Prüfgerät 15 angeschlossen werden. Mit dem von einem Apparat oder einem Prüfgerät 14 zugeführten Strom kann der Benutzer dann den Test durchführen.
    • 1
    Speicherkarte
    2
    Speicherkarte
    3
    Speicherkartenschnittstelle
    4
    Verbindungsschnittstelle
    5
    Leiterplatte
    6
    Steuerchip
    7
    Speicherchip
    8
    Speicherkartenkontroller
    9
    Prüfungs-/Steuereinheit
    10
    Deckel oder Klebescheibe
    11
    Testkontakt
    12
    Testkontakt
    13
    Kartenbuchse
    14
    Apparat oder Prüfgerät
    15
    Prüfgerät

Claims (7)

  1. Speicherkarte mit der Möglichkeit zum Schutz eines Testkontakts einer Schnittstelle, umfassend: einen Hauptkörper (2), in dessen Innerem sich eine Leiterplatte (5) befindet; einen an der Leiterplatte (5) angeordneten Steuerchip (6), der zum Steuern des Lesens und Schreibens der Daten von bzw. auf die Speicherkarte (1) dient; einen an der Leiterplatte (5) angeordneten Speicherchip (7), der die Daten auf der Speicherkarte (1) abspeichert; eine Speicherkartenschnittstelle (3), die an den Steuerchip (6) elektrisch angeschlossen ist; eine Verbindungsschnittstelle (4), die an den Steuerchip (6) elektrisch angeschlossen ist; und einen Deckel oder eine Klebescheibe (10), der oder die an der Speicherkartenschnittstelle (3) oder an der Verbindungsschnittstelle (4) angeordnet ist, um den Testkontakt (11, 12) an der Schnittstelle zu schützen.
  2. Speicherkarte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Speicherchip (7) aus mehreren Flash-Speichern besteht.
  3. Speicherkarte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Speicherchip (7) aus mehreren Festspeichern (ROM) besteht.
  4. Speicherkarte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Deckel oder die Klebescheibe (10) eine nicht wiederherstellbare, nichtleitfähige Scheibe darstellt.
  5. Speicherkarte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Speicherchip (7) einen Speicherkartenkontroller (8) und eine Prüfungs-/Steuereinheit (9) umfasst.
  6. Speicherkarte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Verbindungsschnittstelle (4) eine Schnittstelle des allgemeinen Serial Bus RS232, des Universal Serial Bus (USB) oder eine von der IEEE festgesetzte 1394-Schnittstelle sein kann.
  7. Speicherkarte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Speicherkarte (1) eine SD-Speicherkarte, eine MicroSD-Speicherkarte, eine MiniSD-Speicherkarte, eine CF-Speicherkarte, eine MS-Speicherkarte, eine SM-Speicherkarte oder eine MMC-Speicherkarte sein kann.
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2909402Y (zh) * 2006-04-18 2007-06-06 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 多功能电子卡
US8826086B2 (en) 2011-02-07 2014-09-02 Sandisk Technologies Inc. Memory card test interface

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2830159B2 (ja) * 1989-09-12 1998-12-02 カシオ計算機株式会社 時間管理装置及び時間管理方法
JP2739504B2 (ja) * 1989-09-25 1998-04-15 三井化学株式会社 シクロヘキサン―１，４―ジオンの製造方法
US20040199721A1 (en) * 2003-03-12 2004-10-07 Power Data Communication Co., Ltd. Multi-transmission interface memory card
US20050013106A1 (en) * 2003-07-17 2005-01-20 Takiar Hem P. Peripheral card with hidden test pins
US6890188B1 (en) * 2004-02-27 2005-05-10 Imation Corp. Memory card compatible with device connector and host connector standards
TWM264642U (en) * 2004-08-27 2005-05-11 Incomm Technologies Co Ltd Flash memory device having plural communication protocols

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