CN217544168U - 一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置，包含壳体、以及设置在所述壳体内的多个芯片测试机构，所述的存储芯片测试装置还包含数据接口与存储设备，所述的数据接口的数量与所述的芯片测试机构的数量相同并一一对应的电性连接，所述的数据接口设置在所述的壳体上或所述壳体的内部；所述的存储设备的数量与所述的数据接口的数量相同并一一对应的可插拔连接,本实用新型以外置烧录测试程序的存储设备方式替代内置的方式，从而达到易于更换测试程序的目的，本实用新型的兼容性强，一台存储芯片测试装置可测试多种存储芯片，不但提高了芯片测试的效率还为企业节约了大量的成本。

Description

一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置

技术领域

本实用新型涉及一种芯片测试技术领域，特别是涉及一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置。

背景技术

IC芯片（Integrated Circuit集成电路）是将大量的微电子元器件集成在一起，形成一块芯片。存储芯片是具有存储功能的IC芯片（如内存芯片，又被人叫做“内存颗粒”），存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。但是芯片都有一定的不良率，所以存储芯片在其应用前需要进行严格的检测。

现有技术中对存储芯片的测试包括手动测试和自动化测试，目前手动测试占据测试的主流，但是手动测试的效率低，而且需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高,存储芯片的自动化测试是未来发展的主要方向。

存储芯片测试机台(或叫存储芯片测试装置)的核心是测试模块，测试模块的核心是测试板,测试板上内置有烧录好测试程序的存储设备。一台存储芯片测试机台内部一般设置有多个测试模块，这样就可以同时测试多个存储芯片。

现有技术中测试模块的测试程序更换非常的不便捷，存储设备中的测试程序烧录好后就一直沿用，那么，往往表现就是一种存储芯片测试机台只能测试一种存储芯片，兼容性差。

实用新型内容

本实用新型是对现有技术不足的改进，公开了一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置，本技术方案以外置烧录测试程序的存储设备的方式替代内置的方式，达到易于更换测试程序的目的，本技术方案的兼容性强，本技术方案具体如下：

一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置，包含壳体、以及设置在所述壳体内的多个芯片测试机构，所述的存储芯片测试装置还包含：

数据接口，所述的数据接口的数量与所述的芯片测试机构的数量相同并一一对应的电性连接，所述的数据接口设置在所述的壳体上或所述壳体的内部。

存储设备，所述的存储设备的数量与与所述的数据接口的数量相同并一一对应的可插拔连接。

进一步地，所述的数据接口为USB接口、mini -USB接口、micro-USB接口、Type-C接口、Lightning接口、PCIe接口或SATA接口中的一种或多种。

进一步地，所述的存储设备为U盘、SD卡、硬盘中的一种或多种。

进一步地，所述的芯片测试机构包含用于测试存储芯片的测试板、以及用于定位置放存储芯片的存储芯片测试台。

所述的存储芯片测试台用于装载并固定存储芯片，包含芯片座与芯片压件。

所述的芯片压件与所述的芯片座分离设置，所述的芯片座用于容置存储芯片，所述的芯片压件用于压紧容置于所述的芯片座中的存储芯片。

所述的测试板与所述的芯片座中的存储芯片电性连接并进行数据通信。

所述的数据接口电性连接所述的测试板，所述的测试板通过所述的数据接口与所述的存储设备进行数据通信。

进一步地，所述的芯片座上设置有多个容置存储芯片的测试位，每个所述的测试位容置一个存储芯片.

所述的芯片压件为多层结构，包含第一压件层、设置在所述第一压件层下部的凸出部与设置在所述第一压件层上部的第二压件层。

所述的凸出部的数量与所述的测试位的数量相同并一一对应，当所述的芯片压件压紧所述的芯片座时，所述的凸出部压入对应的所述测试位中。

进一步地，所述的存储芯片测试台包含气缸，所述的气缸用于驱动所述存储芯片测试台的开合以便装载或卸载存储芯片，以及压紧存储芯片。

进一步地，所述的存储芯片测试装置还包含工控模块，所述的工控模块设置在所述的壳体之内，连接所述的存储芯片测试台，用于控制所述的存储芯片测试台的开合以及所述的测试板开展测试活动。

进一步地，所述的存储芯片测试装置还包含智能控制端，所述的智能控制端连接所述的工控模块，用于给所述的工控模块下达测试指令和/或动作指令。

进一步地，所述的智能控制端为工控电脑、PC电脑、笔记本电脑或平板电脑中的一种。

本实用新型为一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置，本技术方案以外置烧录测试程序的存储设备的方式替代内置的方式，达到易于更换测试程序的目的，本技术方案的兼容性强，一台存储芯片测试装置(或存储芯片测试机台)可测试多种存储芯片，不但提高了芯片测试的效率还为企业节约了大量的成本。

附图说明

图1本实用新型一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置的一种实施例的结构示意图。

图2本实用新型一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置中芯片测试机构的结构示意图。

图3本实用新型一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置中存储芯片测试台的结构示意图。

图4本实用新型一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置中芯片压件与芯片座的一种实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步详细的说明。

为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明的省略是可以理解的。相同或相似的标号对应相同或相似的部件。

现有技术中对存储芯片（比如内存芯片）的测试还是以手动测试为主的，不管在哪个领域手动的操作就意味着效率低、成本高（比如需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高）。而在存储芯片测试领域手动测试的上述问题尤其凸出。所以如何开发一种效率高的存储芯片自动化测试设备，是本领域技术人员重点关注与需要解决的问题。

存储芯片测试机台(或叫存储芯片测试装置)的核心是测试模块，测试模块的核心是测试板,测试板上内置有烧录好测试程序的存储设备。一台存储芯片测试机台内部一般设置有多个测试模块，这样就可以同时测试多个存储芯片。然现有技术中测试模块的测试程序更换非常的不便捷，存储设备中的测试程序烧录好后就一直沿用，那么，往往表现就是一种存储芯片测试机台只能测试一种存储芯片，兼容性差。

本实用新型主要公开了一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置，本存储芯片测试装置以外置烧录测试程序的存储设备的方式替代内置的方式，达到易于更换测试程序的目的，可兼容多种存储芯片，为存储芯片的规模化生产奠定了基础，以及提高了企业的核心竞争力。

本实用新型的具体实施例如下：

本实施例如图1所示，一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置，包含壳体1、以及设置在所述壳体1内的多个芯片测试机构2。本实施例中，所述的芯片测试机构2的数量优选地设置为16个，下面将不再赘述。

所述的存储芯片测试装置还包含数据接口3。本实施例中，所述的数据接口3的数量与所述的芯片测试机构2的数量是一致的，而且是一一对应的电性连接关系，本实施例中的数据接口3也为16个，下面将不再赘述。

在本技术方案中，所述的数据接口3可以设置在所述的壳体1上，也可以设置在所述壳体1的内部。具体到本实施例中,所述的数据接口3设置在所述的壳体1的外部,比如设置在壳体1外壁上, 16个数据接口3可以一排或阵列排布在壳体1外壁上。在其他可替代的实施例中，数据接口3还可以设置在壳体1的内部，比如设置在壳体1的内壁上。或其他容易操作的部分，比如壳体1上设置有开窗，数据接口3设置在开窗的里面等。

所述的存储芯片测试装置还包含存储设备4。本实施例中，所述的存储设备4的数量与与所述的数据接口3的数量相同并一一对应的可插拔连接（本实施例中的存储设备4也为16个，下面将不再赘述）。也就是说一个所述的存储设备4对应一个数据接口3，而且存储设备4是即插即用的。

本实施例需要指出的是，存储设备4里面有烧录好的测试程序烧，当存储设备4插在数据接口3上后，芯片测试机构2可以读取到存储设备4中的测试程序。

需要更换测试不同类型的存储芯片时或更换测试方法时，根据本技术方案，可以直接拔出数据接口3上的存储设备4，只需更换存储设备4里面的测试程序即可。不用再拆卸存储芯片测试装置以及芯片测试机构2，非常的方便快捷，以及兼容性多种测试程序。

本实施例中，所述的数据接口3为USB接口中的TYPE-A类型。在其他的可替代方案中，所述的数据接口3也可以为mini -USB接口、micro-USB接口、Type-C接口、Lightning接口、PCIe接口或SATA接口中的一种或多种的组合。比如，16个数据接口3可以全部为一种接口类型，也可以包含上面几个或全部的接口类型。在优选的方案中16个数据接口3全部为USB接口中的TYPE-A类型。

本实施例中的所述的存储设备4优选为U盘，也可以为SD卡、硬盘中的一种或多种，或者其他现有技术中的存储设备。需要指出的是，本实施例中的存储设备4的类型需与数据接口3的类型相匹配。

本实施例如图2所示，所述的芯片测试机构2包含用于测试存储芯片的测试板21、以及用于定位置放存储芯片的存储芯片测试台22。

本实施例中，所述的测试板21首选为电脑主板，也可以为其他可实现存储芯片测试的电路板。

本实施例如图3与图4所示，所述的存储芯片测试台22用于装载并固定存储芯片，包含芯片座221与芯片压件222。

本实施例中，所述的芯片压件222与所述的芯片座221分离设置，所述的芯片座221用于容置存储芯片，所述的芯片压件222用于压紧容置于所述的芯片座221中的存储芯片。

本实施例如图3与图4所示，所述的芯片座221上设置有多个容置存储芯片的测试位2211，每个所述的测试位2211容置一个存储芯片。在实施例中，一个芯片测试座221包含4个测试位2211。需要指出的是芯片测试座221还可以包含其他数量的测试位2211，比如8个测试位2211等，本实施例不再赘述。

本实施例中设置有16个芯片测试机构2，每个芯片测试机构2包含一个芯片座221，每个芯片座221包含4个测试位2211，也就是说，本实用新型一次性可以测64片存储芯片，测试效率非常的高。

本实施例中，所述的测试板21与所述的芯片座221中的存储芯片电性连接并进行数据通信。

本实施例中，所述的数据接口3电性连接所述的测试板21，所述的测试板21通过所述的数据接口3读取所述的存储设备4中的测试程序。

本实施例如图4所示，所述的芯片压件222为多层结构，包含第一压件层2221、设置在所述第一压件层下部的凸出部2223与设置在所述第一压件层上部的第二压件层2222。

本实施例中，所述的凸出部2223的数量与所述的测试位2211的数量相同并一一对应，当所述的芯片压件222压紧所述的芯片座221时，所述的凸出部2223压入对应的所述测试位中位2211。本实施例中的芯片测试座221包含4个测试位2211，那么对应地，本实施例中的凸出部2223也设置为4个。

需要指出的是，本实施例中的第一压件层2221与第二压件层2222都为长方体型，第一压件层2221下面设置4个凸出部2223，第二压件层2222设置在第一压件层2221上面，第二压件层2222还设置有三个装配孔2224（具体如图4所示）。整芯片压件222通过装配孔2224固定在存储芯片测试台22上。

本实施例中，所述的存储芯片测试台22包含有气缸（附图中无显示），本技术方案中的存储芯片测试台22是可以开合的，这样的话才可以实现自动化装载或卸载存储芯片，以及自动化压紧存储芯片。而驱动存储芯片测试台22开合的动力就来源于本实施例中的气缸。

存储芯片测试台22打开时，会带动芯片压件222向后上方或上方运动，使芯片座221上面清空，以方便机械手转载或卸载存储芯片。当存储芯片测试台22闭合时，芯片压件222直接压向芯片座221，最终凸出部2223压入测试位2211中的存储芯片。

本实施例如图1所示，本技术方案还包含工控模块5，所述的工控模块5设置在所述的壳体1之内，连接所述的存储芯片测试机构2，具体地是连接存储芯片测试机构2中的存储芯片测试台22，用于控制所述的存储芯片测试台22的开合以及所述的测试板21开展测试活动。

本实施例中的工控模块5至少包含用于控制所述气缸的电磁阀，以及用于控制测试板21开展测试活动的控制板。

本实施例如图1所示，本技术方案还包含智能控制端6，所述的智能控制端6连接所述的工控模块5，用于给所述的工控模块5下达测试指令和/或动作指令。

本实施例中,所述的智能控制端6优选为工控电脑，也可以为PC电脑、笔记本电脑或平板电脑中的一种，本技术方案并不局限与上述几种智能控制端，也可以为其它能实现本技术方案的智能终端设备。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种便于更换测试程序的存储芯片测试装置，包含壳体、以及设置在所述壳体内的多个芯片测试机构，其特征在于，所述的存储芯片测试装置还包含：

数据接口，所述的数据接口的数量与所述的芯片测试机构的数量相同并一一对应的电性连接，所述的数据接口设置在所述的壳体上或所述壳体的内部；

存储设备，所述的存储设备的数量与所述的数据接口的数量相同并一一对应的可插拔连接。

2.如权利要求1所述的便于更换测试程序的存储芯片测试装置，其特征在于，所述的数据接口为USB接口、mini -USB接口、micro-USB接口、Type-C接口、Lightning接口、PCIe接口或SATA接口中的一种或多种。

3.如权利要求1所述的便于更换测试程序的存储芯片测试装置，其特征在于，所述的存储设备为U盘、SD卡、硬盘中的一种或多种。

4.如权利要求1所述的便于更换测试程序的存储芯片测试装置，其特征在于，所述的芯片测试机构包含用于测试存储芯片的测试板、以及用于定位置放存储芯片的存储芯片测试台；

所述的存储芯片测试台用于装载并固定存储芯片，包含芯片座与芯片压件；

所述的芯片压件与所述的芯片座分离设置，所述的芯片座用于容置存储芯片，所述的芯片压件用于压紧容置于所述的芯片座中的存储芯片；

所述的测试板与所述的芯片座中的存储芯片电性连接并进行数据通信；

所述的数据接口电性连接所述的测试板，所述的测试板通过所述的数据接口与所述的存储设备进行数据通信。

5.如权利要求4所述的便于更换测试程序的存储芯片测试装置，其特征在于，所述的芯片座上设置有多个容置存储芯片的测试位，每个所述的测试位容置一个存储芯片；

所述的芯片压件为多层结构，包含第一压件层、设置在所述第一压件层下部的凸出部与设置在所述第一压件层上部的第二压件层；

所述的凸出部的数量与所述的测试位的数量相同并一一对应，当所述的芯片压件压紧所述的芯片座时，所述的凸出部压入对应的所述测试位中。

6.如权利要求4所述的便于更换测试程序的存储芯片测试装置，其特征在于，所述的存储芯片测试台包含气缸，所述的气缸用于驱动所述存储芯片测试台的开合以便装载或卸载存储芯片，以及压紧存储芯片。

7.如权利要求6所述的便于更换测试程序的存储芯片测试装置，其特征在于，所述的存储芯片测试装置还包含工控模块，所述的工控模块设置在所述的壳体之内，连接所述的存储芯片测试台，用于控制所述的存储芯片测试台的开合以及所述的测试板开展测试活动。

8.如权利要求7所述的便于更换测试程序的存储芯片测试装置，其特征在于，所述的存储芯片测试装置还包含智能控制端，所述的智能控制端连接所述的工控模块，用于给所述的工控模块下达测试指令和/或动作指令。

9.如权利要求8所述的便于更换测试程序的存储芯片测试装置，其特征在于，所述的智能控制端为工控电脑、PC电脑、笔记本电脑或平板电脑中的一种。

Images