CN216388771U - 一种存储芯片测试座 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种存储芯片测试座，包含测试座底板、测试电路板与测试座盖板，所述测试座盖板安装在所述测试座底板之上，所述测试电路板安装在所述测试座底板与所述测试座盖板之间，所述测试座盖板包含测试座盖板本体与设置在所述测试座盖板本体上的压盖；所述测试座盖板本体之上至少开设有一个存储芯片测试槽，每个所述芯片测试槽包含至少一个存储芯片测试位，本实用新型的测试座盖板上设置有存储芯片测试槽与压盖，存储芯片测试槽里的待测存储芯片被压盖封盖并压紧，测试时无需拆装测试电路板，只需把压盖掀开就可更换待测存储芯片，非常方便快捷，本技术方案应用到自动化的测试设备中能有效的控制生产成本，提高企业的核心竞争力。

Description

一种存储芯片测试座

技术领域

本实用新型涉及一种芯片测试技术领域，特别是涉及一种存储芯片测试座。

背景技术

IC芯片（Integrated Circuit集成电路）是将大量的微电子元器件集成在一起，形成一块芯片。存储芯片是具有存储功能的IC芯片（如内存芯片，又被人叫做“内存颗粒”），存储芯片是存储器件中最核心的部件，存储芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。但是芯片都有一定的不良率，所以存储芯片在其应用前需要进行严格的检测。

现有技术中对存储芯片的测试包括手动测试和自动化测试，目前手动测试占据测试的主流，但是手动测试的效率低，而且需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高。存储芯片的自动化测试是未来发展的主要方向，只有采用自动化的测试，存储芯片才能实现规模化生产、才能有效的控制生产成本，提高企业的核心竞争力。

而存储芯片测试的一个关键部件就是存储芯片测试座，存储芯片测试座是为了实现存储芯片的自动化测试而开发的一种容置待测存储芯片的部件，存储芯片测试座可以有效的减少手动测试存储芯片的电路板接口的插拔动作，容易实现存储芯片测试的自动化。

实用新型内容

针对以上现有技术的不足，本实用新型公开了一种全新的存储芯片测试座，本技术方案包含测试座底板、测试电路板与测试座盖板，工作时测试座底板、测试电路板与测试座盖板安装在一起，测试座盖板上设置有存储芯片测试槽与压盖，存储芯片测试槽里面的待测存储芯片可以被压盖封盖，在测试活动中，无需拆装测试电路板，只需把压盖掀开就可以更换待测存储芯片非常的方便快捷，本技术方案可应用于自动化的测试设备中。本技术方案具体如下：

一种存储芯片测试座，包含测试座底板、测试电路板与测试座盖板，所述的测试座盖板安装在所述的测试座底板之上，所述的测试电路板安装在所述的测试座底板与所述的测试座盖板之间。

进一步地，所述的测试座盖板包含测试座盖板本体与设置在所述的测试座盖板本体上的压盖。

在更优的技术方案中，所述的测试座盖板本体之上至少开设有一个存储芯片测试槽，每个所述的芯片测试槽包含至少一个存储芯片测试位，所述的存储芯片测试位用于放置待测存储芯片。

在本技术方案中，所述的压盖用于封盖所述的存储芯片测试槽，所述的压盖数量与所述存储芯片测试槽的数量一致。

进一步地，所述的存储芯片测试位与所述的测试电路板上连接待测存储芯片的位置对应设置。

放置在所述存储芯片测试位中的待测存储芯片与所述的测试电路板之间通过导电胶进行电性连接。

进一步地，所述的测试座底板包含连接板与定位板，所述的连接板用于固定连接所述的测试座盖板本体。

所述的定位板与所述的连接板为一体设置，所述的定位板的板面低于所述连接板的板面设置，所述的测试电路板定位安装在所述的定位板上。

所述定位板的两端各设置有一个第一定位柱，所述的第一定位柱用于定位安装所述的测试电路板。

所述的连接板的两端各设置有一个第二定位柱，所述的第二定位柱用于定位安装所述的测试座盖板本体。

进一步地，所述的连接板上设置有至少两个第一固定孔；所述的定位板上设置有至少一个所述的第一固定孔。

所述的测试座盖板本体上设置有与所述的第一固定孔的数量与位置相对应的第二固定孔。

在本技术方案中，所述的测试座底板与所述的测试座盖板本体通过设置在所述的第一固定孔与第二固定孔中的螺钉或螺栓固定在一起。

进一步地，所述的压盖通过第一轴件与所述的测试座盖板本体进行铰接，在更优的技术方案中，所述的第一轴件上设置有弹簧组件，所述的压盖能自动弹开。

进一步地，所述的压盖包含凸起的压块，所述的压块设置在所述压盖向下的压面上。

当所述的压盖封盖所述的存储芯片测试槽时，所述的压块直接压在所述的存储芯片测试位中的待测存储芯片上。

进一步地，所述的压块的数量与位置与所述的存储芯片测试位相对应。

在更优的技术方案中，所述的压块与所述的压盖之间还可以设置有弹性部件，所述的压块以弹性的方式向下压紧待测存储芯片。

本技术方案中，所述的压盖包含卡扣件。

进一步地，所述的测试座盖板本体的一侧设置有第一卡口，所述的第一卡口内设置有与所述的卡扣件卡接的第二轴件，在所述的第二轴件的卡接部位套设有活动的金属套筒，当所述的卡扣件扣下时刚好扣在所述的金属套筒上。

进一步地，所述的测试座底板上包含第二卡口，所述的第二卡口对应所述的第一卡口设置，用于容置所述的卡扣件卡扣在所述的第一卡口时的凸出部分。

本实用新型一种存储芯片测试座，包含测试座底板、测试电路板与测试座盖板三部分，工作时上述三部分需要固定安装在一起。而测试座盖板上设置有存储芯片测试槽与压盖，存储芯片测试槽里面的待测存储芯片(如内存芯片)可以被压盖封盖住并压紧，在测试活动中，无需拆装测试电路板，只需把压盖掀开就可以更换待测存储芯片，非常的方便快捷，本技术方案应用到自动化的测试设备中能有效的控制生产成本，提高企业的核心竞争力。

附图说明

图1本实用新型一种存储芯片测试座的一种实施例的整体组成结构示意图。

图2本实用新型一种存储芯片测试座中测试座盖板的一种实施例的结构示意图。

图3本实用新型一种存储芯片测试座中测试座底板的一种实施例的结构立体图。

图4本实用新型一种存储芯片测试座中测试座底板的一种实施例结构的俯视图。

图5本实用新型一种存储芯片测试座中测试座底板的一种实施例结构的仰视图。

图6本实用新型一种存储芯片测试座中测试座盖板的一种实施例结构的俯视图。

图7本实用新型一种存储芯片测试座中测试座底板、测试电路板与测试座盖板组装在一起的立体示意图。

图8本实用新型一种存储芯片测试座中测试座底板、测试电路板与测试座盖板组装在一起的主视图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步详细的说明。

为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明的省略是可以理解的。相同或相似的标号对应相同或相似的部件。

现有技术中对存储芯片（比如内存芯片）的测试还是以手动测试为主的，不管在哪个领域手动的操作就意味着效率低、成本高（比如需要培养大量的专业测试人员，在人力成本的消耗方面比较高）。而在存储芯片测试领域手动测试的上述问题尤其凸出。所以如何开发一种效率高的自动存储芯片测试设备或方法，是本领域技术人员重点关注与需要解决的问题。

本实用新型主要公开了一种用于实现存储芯片自动化测试的存储芯片测试座，这个测试座用于在测试活动中置放存储芯片，其有专门的结构可以实现置放存储芯片、与测试电路板电性连接并进行数据通信等功能。而测试电路板与测试座是可拆卸固定在一起的，这样在每个测试活动结束后就无需拆卸测试电路板与测试座，只需把测试座中的存储芯片取出更换就可以进行下一次测试活动，非常的方便与快捷。

存储芯片测试座可以有效的减少手动测试存储芯片中电路板接口的插拔动作，容易实现存储芯片测试的自动化。而存储芯片的自动化测试是未来发展的主要方向。只有采用自动化测试，存储芯片才能实现规模化生产之后、才能有效的控制生产成本，提高企业的核心竞争力。

本技术方案可以很好的解决上述提到的问题，本技术方案分为测试座底板、测试电路板与测试座盖板三部分，工作时上述三部分需要固定安装在一起，测试座盖板上设置有存储芯片测试槽与压盖，存储芯片测试槽里面的待测存储芯片可以被压盖封盖住并压紧，在测试活动中，无需拆装测试电路板，只需把压盖掀开就可以更换待测存储芯片，非常的方便快捷。而且测试座底板、测试电路板与测试座盖板是可拆卸连接的三部分，根据实际需要或随时更换其中的某个部件，通用性与兼容性比较好。

那么，本实用新型的具体实施例如下：

本实施例如图1所示，一种存储芯片测试座1，包含测试座底板11、测试电路板13与测试座盖板12，所述的测试座盖板13安装在所述的测试座底板11之上，所述的测试电路板13安装在所述的测试座底板11与所述的测试座盖板12之间。

本实施例如图2所示，所述的测试座盖板12包含测试座盖板本体121与设置在所述的测试座盖板本体上的压盖122。

在本技术方案中，所述的测试座盖板本体121之上至少开设有一个存储芯片测试槽123，每个所述的芯片测试槽123包含至少一个存储芯片测试位1231，所述的存储芯片测试位1231用于放置待测存储芯片。

在本实施例最佳的设置中，如图2所示，存储芯片测试槽123设置为两个，每个存储芯片测试槽123包含两个存储芯片测试位1231，每个存储芯片测试位1231可放置一个待测存储芯片。需要指出的是，其他的设置比如存储芯片测试槽123设置为一个或三个或更多，每个存储芯片测试槽123包含三个存储芯片测试位1231或更多或一个等等，都在本技术方案的限定范围，本实施例不再赘述。

在本实施例中，所述的压盖122用于封盖所述的存储芯片测试槽123，所述的压盖122的数量与所述存储芯片测试槽123的数量一致，也就是说一个压盖122对应一个存储芯片测试槽123。

本实施例中，所述的存储芯片测试位1231与所述的测试电路板13上连接待测存储芯片的位置对应设置，如图1所示，测试电路板13设置有连接待测存储芯片的区域131，区域131内设置有与待测存储芯片的对应管脚电性连接焊盘。需要指出的是，存储芯片测试位1231在待测存储芯片的管脚位置镂空设置，如图2所示，镂空处为标号1232。

在本实施例中，镂空处1232设置有导电胶（附图中没有显示），存储芯片测试位1231中的待测存储芯片通过导电胶与测试电路板13的区域131上的焊盘进行电性连接，从而实现待测存储芯片与测试电路板13的通信。

在本实施例中，如图3、图4与图5所示，所述的测试座底板11包含连接板111与定位板112，所述的连接板111用于固定连接所述的测试座盖板本体121。

在本实施例中，所述的定位板112与所述的连接板111为一体设置，所述的定位板112的板面低于所述连接板111的板面设置，所述的测试电路板13定位安装在所述的定位板112上。需要指出的是，定位板112是用于定位安装测试电路板13的，定位板112的板面低于所述连接板111的板面，定位板112相对于连接板111整体向下凹陷一定尺寸，而测试电路板13安装在连接板111上后，测试电路板13与连接板111的厚度整体与定位板112持平或近似于持平（或高出一点或低出一点）。

在本实施例中，所述定位板112的两端各设置有一个第一定位柱113，所述的第一定位柱113用于定位安装所述的测试电路板13。如图1所示，测试电路板13的两端各设置有一个第一定位孔132，当测试电路板13要定位安装在定位板112上时，只需把两个第一定位柱113分别插接入两个第一定位孔132中，就可实现测试电路板13的定位安装工作，测试电路板13安装非常的方便快捷。

在本实施例中，所述的连接板111的两端各设置有一个第二定位柱114，所述的第二定位柱114用于定位安装所述的测试座盖板本体121。如图6所示，测试座盖板本体121的两端各设置有一个第二定位孔129，当测试座盖板本体121要定位安装在连接板111上时，只需把两个第二定位柱114分别插接入两个第二定位孔129中，就可实现测试座盖板本体121的定位安装工作，测试座盖板本体121的安装也非常的方便快捷。

在本技术方案中，所述的连接板111上设置有至少两个第一固定孔115，所述的定位板112上设置有至少一个所述的第一固定孔115。本实施例第一固定孔115的具体设置为：如图3、图4与图5所示，连接板111的两端与中间各设置一个第一固定孔115，定位板112的中间位置设置两个第一固定孔115，本实施例一共设置五个第一固定孔115。需要指出的是，第一固定孔115其他的设置方式只要是在本技术方案的限定范围内的，都在本实用新型的保护范围内，本实施例不再赘述。

在本实施例中，所述的测试座盖板本体121上设置有与所述的第一固定孔115的数量与位置相对应的第二固定孔124，具体如图6所示。第二固定孔124是与第一固定孔115配合来用，第二固定孔124的位置分布要与第一固定孔115一致，每一个第一固定孔115都有与其对应的第二固定孔124。

需要指出的是，测试电路板13安装在测试底板11上，测试电路板13对应定位板112中间的两个第一固定孔115的位置也开设有两个第三固定孔133。

在本实施例中，所述的测试座底板11与所述的测试座盖板本体121通过螺钉或螺栓固定在一起。具体来说，首先把测试座盖板本体121通过第二定位柱114定位贴合在一起，此时第一固定孔115与对应的第二固定孔124是位置匹配对应的，之后再把螺钉或螺栓穿入第一固定孔115与对应的第二固定孔124（穿过测试电路板13时需还得与两个第三固定孔133对应穿入）进行紧固，所有的固定孔都完成螺钉或螺栓紧固即完成测试座底板11与测试座盖板本体121的定位固定工作。

需要说明的是，测试电路板13相对测试座盖板本体121一面上凸出有元器件，为了避免损伤这些元器件，测试座盖板本体121背面对应元器件的位置还可以凹陷设置，本实施例安装在一起时，测试电路板13上的元器件刚好容置于测试座盖板本体121背面的凹陷区里。

在本实施例中，所述的压盖122通过第一轴件125与所述的测试座盖板本体121进行铰接，在更优的技术方案中，所述的第一轴件125上设置有弹簧组件126，所述的压盖122能自动弹开，具体如图2所示。

在本实施例中，如图2所示，所述的压盖122包含凸起的压块1221，所述的压块1221设置在所述压盖122向下的压面上。

当压盖122封盖存储芯片测试槽123时，压块1221直接压在所述的存储芯片测试位1231中的待测存储芯片上。

需要指出的是，压块1221的数量与位置与存储芯片测试位1231相对应。具体来说，一个存储芯片测试位1231里面置放一个待测存储芯片，压块1221的作用是压紧待测存储芯片，所以压块1221的数量与位置与存储芯片测试位1231必须相对应设置。

本实施例在更优的技术方案中，压块1221与压盖122之间还可以设置有弹性部件（附图里面没有显示），压块1221以弹性的方式向下压紧待测存储芯片。弹性部件的设置可以更好的实现压块1221压紧待测存储芯片，因为此时的压块1221的下压动作有一定的回弹形变。如果不设弹性部件，压块1221在下压动作中无回弹形变会导致压盖122封盖不上存储芯片测试槽123的情况发生，而且易损坏待测存储芯片。

在本实施例中，所述的压盖122还包含卡扣件1222，如图2所示。相配合地，测试座盖板本体121的一侧设置有第一卡口127，第一卡口127内设置有与所述的卡扣件1222卡接的第二轴件128，在所述的第二轴件128的卡接部位套设有活动的金属套筒1281，当所述的卡扣件1222扣下时刚好扣在所述的金属套筒1281上。

在本实施例中，所述的测试座底板11上包含第二卡口116，如图3与图4所示，所述的第二卡口116对应所述的第一卡口1222设置，用于容置所述的卡扣件1222卡扣在所述的第一卡口127时的凸出部分。

本技术方案中的测试座底板11、测试电路板13与测试座盖板12工作时需要固定安装在一起，如图7与图8所示。在测试活动中，不需要拆装测试电路板，只需把压盖掀开就可以更换待测存储芯片，非常的方便快捷。

而且本技术方案中的测试电路板13与测试座盖板12是可以根据需要更换的，通用性与兼容性非常好。

比如现在用的测试座盖板上只有一个存储芯片测试槽，为了提高效率需要一次性测试更多的存储芯片（如内存芯片），就可以更换另外一个具有多个存储芯片测试槽的测试座盖板。还比如现在用的测试电路板是能一种制式的存储芯片，现在需要测试另外一种制式的存储芯片，只需要更换相对应制式的测试电路板就可解决上述问题，所以本技术方案通用性与兼容性非常好。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种存储芯片测试座，包含测试座底板、测试电路板与测试座盖板，所述的测试座盖板安装在所述的测试座底板之上，所述的测试电路板安装在所述的测试座底板与所述的测试座盖板之间，其特征在于：

所述的测试座盖板包含测试座盖板本体与设置在所述的测试座盖板本体上的压盖；

所述的测试座盖板本体之上至少开设有一个存储芯片测试槽，每个所述的芯片测试槽包含至少一个存储芯片测试位，所述的存储芯片测试位用于放置待测存储芯片；

所述的压盖用于封盖所述的存储芯片测试槽，所述的压盖数量与所述存储芯片测试槽的数量一致。

2.如权利要求1所述的存储芯片测试座，其特征在于，所述的存储芯片测试位与所述测试电路板上连接待测存储芯片的位置对应设置；

放置在所述存储芯片测试位中的待测存储芯片与所述的测试电路板之间通过导电胶进行电性连接。

3.如权利要求1所述的存储芯片测试座，其特征在于，所述的测试座底板包含：

连接板，用于固定连接所述的测试座盖板本体；

定位板，所述的定位板与所述的连接板为一体设置，所述的定位板的板面低于所述连接板的板面设置，所述的测试电路板安装在所述的定位板上。

4.如权利要求3所述的存储芯片测试座，其特征在于：

所述的定位板的两端各设置有一个第一定位柱，所述的第一定位柱用于定位安装所述的测试电路板；

所述的连接板的两端各设置有一个第二定位柱，所述的第二定位柱用于定位安装所述的测试座盖板本体。

5.如权利要求3所述的存储芯片测试座，其特征在于：

所述的连接板上设置有至少两个第一固定孔；

所述的定位板上设置有至少一个所述的第一固定孔；

所述的测试座盖板本体上设置有与所述的第一固定孔的数量与位置相对应的第二固定孔；

所述的测试座底板与所述的测试座盖板本体通过设置在所述的第一固定孔与第二固定孔中的螺钉或螺栓固定在一起。

6.如权利要求1所述的存储芯片测试座，其特征在于，所述的压盖通过第一轴件与所述的测试座盖板本体进行铰接，所述的第一轴件上设置有弹簧组件，所述的压盖能自动弹开。

7.如权利要求1所述的存储芯片测试座，其特征在于，所述的压盖包含凸起的压块，所述的压块设置在所述压盖向下的压面上；

当所述的压盖封盖所述的存储芯片测试槽时，所述的压块直接压在所述的存储芯片测试位中的待测存储芯片上；

所述的压块的数量与位置与所述的存储芯片测试位相对应。

8.如权利要求7所述的存储芯片测试座，其特征在于，所述的压块与所述的压盖之间还设置有弹性部件，所述的压块以弹性的方式向下压紧待测存储芯片。

9.如权利要求1所述的存储芯片测试座，其特征在于：

所述的压盖包含卡扣件；

所述的测试座盖板本体的一侧设置有第一卡口，所述的第一卡口内设置有与所述的卡扣件卡接的第二轴件，在所述的第二轴件的卡接部位套设有活动的金属套筒，当所述的卡扣件扣下时刚好扣在所述的金属套筒上。

10.如权利要求9所述的存储芯片测试座，其特征在于，所述的测试座底板上包含第二卡口，所述的第二卡口对应所述的第一卡口设置，用于容置所述的卡扣件卡扣在所述的第一卡口时的凸出部分。

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