DE19857043C1 - Schaltungsanordnung zum Entstören von integrierten Schaltkreisen - Google Patents
Schaltungsanordnung zum Entstören von integrierten SchaltkreisenInfo
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Abstract
In das Gehäuse (3) eines Mikroschaltbausteins (4) ist ein Niederinduktivitäts-Kondensator (12) integriert. Die Kapazitätsanschlüsse (10, 11) des Niederinduktivitäts-Kondensators (12) sind über Bonddrähte (5) einerseits sternförmig mit den Masse- und Versorgungsspannungs-Bondstellen (1, 2) des Mikroschaltbausteins (4) und andererseits über weitere Bonddrähte (13) mit mindestens einem Versorgungsspannungs-Pinpaar (6, 7) verbunden. Mindestens ein Bezugspotential-Anschluß (14) des Niederinduktivitäts-Kondensators (12) ist elektrisch leitend mit einer schwebenden Massefläche (16) verbunden.
Description
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zum Entstören
von integrierten Schaltkreisen.
Die zunehmenden Anforderungen an die Leistungsfähigkeit mo
derner elektronischer Systeme, wie z. B. Steuergeräte, machen
immer leistungsfähigere integrierte Schaltkreise (IC) erfor
derlich. So wird die Rechenleistung von Mikrocomputern durch
stetige Verkleinerung der Chip-Strukturen, durch Einführung
neuer Halbleitertechnologien und durch Steigerung der System
taktfrequenzen stetig verbessert. Andererseits führen die
sehr schnellen Impulsanstiegs- und Impulsabfallzeiten derar
tiger Mikrocomputer zur Generierung schmalbandiger Störsigna
le, z. B. im Frequenzbereich zwischen 30 MHz und 1 GHz, die
unter anderem über die Stromversorgungsverdrahtung des Mikro
computers abgestrahlt werden. Somit stellen moderne Mikrocom
puter eine erhebliche Störquelle für umliegende Elektronik
komponenten, insbesondere Funkempfangsanlagen dar.
Um den heutzutage hohen EMV-Anforderungen elektronischer Sy
steme gerecht zu werden, ist eine wirkungsvolle und zuverläs
sige Entstörung von IC-Bausteinen unerläßlich. Für die Ent
störung von Mikrocomputern ist es bekannt, die Spannungsver
sorgung einzelner Funktionsblöcke, wie CPU, Taktgenerator und
Speicher, zu trennen und mehrere Versorgungsspannungsan
schlüsse mit parallel geschalteten Glättungskondensatoren
(Blockkondensatoren) am Mikrocomputer vorzusehen. Desweiteren
werden häufig Metallgehäuse, sogenannte Tuner-Boxen, zusätz
liche Ein-/Ausgangsfilter und Leiterplatten in Multilayer-
Ausführung vorgesehen, um eine ausreichende Entstörung si
cherzustellen. Derartige Entstörmaßnahmen sind in der Druck
schrift W. Grözinger, "Elektromagnetische Verträglichkeit von
integrierten Schaltkreisen", VDI Berichte Nr. 1152, 1994,
Seiten 441 bis 465 beschrieben. Trotz dieser sehr kostenin
tensiven Maßnahmen genügt eine derartige Entstörung von Mi
krocomputern bisweilen nicht den gestellten EMV-Anforderun
gen.
Ein integrierter Schaltkreis, z. B. ein Mikrocomputer, weist
intern eine Vielzahl einzelner Störquellen, wie z. B. Taktge
nerator oder CPU, auf. Dabei ist das Abstrahlverhalten in
entscheidendem Maße von den Anstiegs- und Abfallgeschwindig
keiten des Versorgungsstroms abhängig, d. h. je größer die
Flankensteilheit dI/dt desto größer die Störabstrahlung. Um zu
vermeiden, daß diese über die Versorgungsverdrahtung über die
gesamte Leiterplatte und letztlich über das gesamte elektro
nische System verteilt wird, wird üblicherweise parallel zu
jedem Versorgungsspannungs-Pinpaar am IC-Gehäuse ein Block
kondensator geschaltet, der als Energiereserve für einen
schnellen Strombedarf dient.
Die Wirkung des Blockkondensators wird dabei im wesentlichen
von seiner Eigeninduktivität und den Anschlußinduktivitäten
bestimmt. Je geringer der induktive Anteil ist, desto besser
ist die Wirkungsweise des Blockkondensators in höheren Fre
quenzbereichen. Da der induktive Anteil aber technologiebe
dingt nicht beliebig verkleinert werden kann - bekannte An
ordnungen liegen im Bereich von 10 nH, wird ein schneller
Energiebedarf bei einer derartigen Anordnung nicht allein aus
dem Blockkondensator gedeckt, sondern über großflächige und
damit niederimpedante Rückstrompfade (Masseflächen) teilweise
aus dem Netzteil gespeist und somit ein Störsignal über das
gesamte elektronische System verteilt.
In der DE 197 28 692 A1 ist ein IC-Baustein be
schrieben bei dem innerhalb des Gehäuses in unmittelbarer Nähe
zur integrierten Schaltung ein oder mehrere elektronische
Bauelemente untergebracht sind. Durch die Verlegung von nor
malerweise außerhalb des IC-Bausteins vorgesehenen Bauelemen
ten in diesen hinein ist der IC-Baustein auch bei höchsten
Frequenzen und Arbeitsgeschwindigkeiten einsetzbar.
Außerdem ist es aus JP 1-27251 A, in: Patents Abstract of Ja
pan, Sect. E. Vol. 13 (1989) No. 216 (E-760) bekannt, auf dem
Trägerelement eines Mikroschaltbausteins einen Kondensator
vorzusehen, um so die Induktivität zu verringern und Störsi
gnale zu reduzieren.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Schaltungsan
ordnung zu entwickeln, durch die eine zuverlässige Entstörung
von integrierten Schaltkreisen gewährleistet ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine Schaltungsan
ordnung mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst. Vor
teilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteran
sprüchen niedergelegt.
Heutzutage sind Kapazitätsnetzwerke, wie z. B. ein X2Y 3 Ter
minal Capacitor der Firma Syfer, bekannt, die aufgrund ihrer
besonderen, symmetrischen Struktur und der damit verbundenen
wechselseitigen Aufhebung vor Magnetfeldern eine sehr geringe
Eigeninduktivität - im Bereich von 50 pH - aufweisen. Derar
tige Kapazitätsnetzwerke werden im folgenden allgemein als
Niederinduktivitäts-Kondensatoren bezeichnet. Erfindungsgemäß
wird ein solcher Niederinduktivitäts-Kondensator in das Ge
häuse eines IC's integriert und alle Stromversorgungsbond
stellen des Mikrochips werden über Bonddrähte sternförmig mit
dem Niederinduktivitäts-Kondensator verbunden. Durch die An
ordnung innerhalb des IC-Gehäuses wird auch die Anschlußin
duktivität im Vergleich zu herkömmlichen Strukturen erheblich
gesenkt. Der Niederinduktivitäts-Kondensator stellt dann die
von verschiedenen Funktionsblöcken schnell benötigte Energie
in der erforderlichen Zeit unmittelbar am Mikrochip zur Ver
fügung. An der Außenseite des Gehäuses ist nur noch ein Span
nungsversorgungs-Pinpaar zum Anschluß der Versorgungsleitun
gen notwendig. Dieses Pinpaar ist über Bonddrähte ebenfalls
mit dem Niederinduktivitäts-Kondensator verbunden. Somit ste
hen alle übrigen, bisher genutzten Versorgungsspannungs-Pins
am IC-Gehäuse für andere Funktionen zur Verfügung. Ebenso
sind keine zusätzlichen Glättungskondensatoren notwendig, was
zu einer enormen Platzeinsparung auf der Leiterplatte führt.
Durch den bisher unerreichten niederunduktiven Anschluß der
Energiereserve für schnellen Strombedarf, werden die Stör
spannungen soweit verringert, daß häufig auf zusätzliche Ent
störmaßnahmen, wie z. B. den Einsatz von Multilayer-Leiter
platten verzichtet werden kann.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im folgenden an
hand der Figuren erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer bekannten Schal
tungsanordnung zum Entstören eines integrierten Schaltkreises
und
Fig. 2 eine schematische Darstellung einer erfindungsgemäßen
Schaltungsanordnung zum Entstören eines integrierten Schalt
kreises.
Um das Verständnis der Erfindung zu erleichtern, sei eine be
kannte Schaltungsanordnung zum Entstören eines integrierten
Schaltkreises mit getrennter Spannungsversorgung anhand der
Fig. 1 erläutert. Versorgungsspannungs-Bondstellen 1 und
Masse-Bondstellen 2 eines in einem IC-Gehäuse 3 angeordneten
Mikroschaltbausteins (Mikrochip) 4 sind über Bonddrähte 5 mit
den aus dem IC-Gehäuse herausgeführten Versorgungsspannungs
anschlüssen 6 bzw. Masseanschlüssen 7 verbunden. Auf diese
Weise werden verschiedene Funktionsblöcke des Mikroschaltbau
steins 4 getrennt voneinander mit Spannung versorgt und da
durch die Störabstrahlung des IC's reduziert. Schneller
Strombedarf einzelner Funktionsblöcke und die damit verbunde
nen hohen Flankensteilheiten (dI/dt) führen aber dennoch zu
hochfrequenten Störspannungen, die bei direkter Speisung aus
einem nicht dargestellten Netzteil über die niederimpedanten
Masseleitungen über das gesamte elektronische System, z. B.
ein Steuergerät, verteilt wird. Deshalb ist parallel zu jedem
Anschlußpaar 6, 7 ein Blockkondensator 8 geschaltet, der als
Energiereserve für schnellbenötigte Ströme der entsprechenden
Funktionsblöcke dient.
Eine erfindungsgemäße Schaltungsanordnung ist in Fig. 2 dar
gestellt. Dabei sind Baugruppen, so weit sie mit den Teilen
der Fig. 1 übereinstimmen, durch dieselben Bezugszeichen ge
kennzeichnet. Die Versorgungsspannungs-Bondstellen 1 und die
Masse-Bondstellen 2 des Mikroschaltbausteins 4 sind über
Bonddrähte 5 sternförmig mit den Kapazitätsanschlüssen 10 und
11 eines Niederinduktivitäts-Kondensators 12 verbunden.
Sternförmig heißt dabei, daß alle Versorgungsspannungs-
Bondstellen 1 mit dem einen Anschluß, z. B. Kapazitätsanschluß
10, und alle Masse-Bondstellen 2 mit dem anderen Anschluß,
z. B. Kapazitätsanschluß 11 verbunden sind. Über weitere Bond
drähte 13 sind die Kapazitätsanschlüsse 10 und 11 des Nieder
induktivitäts-Kondensators 12 mit einem aus dem IC-Gehäuse 3
herausgeführten Versorgungsspannungs-Pinpaar 6, 7 verbunden.
Dabei ist der mit den Versorgungsspannungs-Bondstellen 1 ver
bundene Kapazitätsanschluß 10 mit dem Versorgungsspannungsan
schluß 6 und der mit den Masse-Bondstellen 2 verbundene Kapa
zitätsanschluß 11 mit dem Masseanschluß 7 verbunden. Minde
stens ein, vorzugsweise aber zwei Bezugspotential-Anschlüsse
14 des Kapazitätsnetzwerks 12 sind elektrisch leitend mit ei
ner erdfreien Massefläche 16 (floating ground) verbunden, die
keine galvanische Verbindung zu den als Rückstrompfad dienen
den Masseleitungen aufweist.
Da durch den in das IC-Gehäuse 3 integrierte Niederinduktivi
täts-Kondensator 12 bereits die Energie für schnellen Strom
bedarf aller Funktionseinheiten auf dem Mikroschaltbaustein 4
zur Verfügung gestellt wird, sind keine externen Blockkonden
satoren mehr nötig. Weitere Anschlüsse 6 und 7, die bisher
zur getrennten Spannungsversorgung der einzelnen Funktions
blöcke dienten, sind nicht mehr notwendig und können somit
für andere Funktionen genutzt werden. Sollte ein Versorgungs
spannungsanschluß am IC-Gehäuse 3 nicht ausreichen, um den
Strombedarf aus dem Netzteil im Normalbetrieb, also bei un
kritischer Flankensteilheit der Stromimpulse zu liefern, kön
nen weitere Pinpaare 6, 7 über Bonddrähte 13 mit dem Nieder
induktivitäts-Kondensator 12 verbunden werden.
Der Niederinduktivitäts-Kondensator 12 ist vorzugsweise in
Dünnschichttechnik auf einem keramischen Substrat aufgebaut,
kann aber auch monolithisch auf einem Silizium-Chip reali
siert werden.
Die Erfindung wurde anhand der Figuren beispielhaft für einen
integrierten Schaltkreis mit zwei getrennten Versorgungsspan
nungs-Pinpaaren beschrieben, eignet sich aber ebenso für eine
höhere Anzahl von Versorgungsspannungs-Pinpaaren als auch für
integrierte Schaltkreise, die keine getrennte Spannungsver
sorgung aufweisen.
Claims (2)
1. Schaltungsanordnung zum Entstören von integrierten Schalt
kreisen mit
- 1. einem Mikroschaltbaustein (4) (Mikrochip), der in einem IC-Gehäuse (3) angeordnet ist,
- 2. mindestens einer Versorgungsspannungs-Bondstelle (1) auf dem Mikroschaltbaustein (4) zum Anschluß an eine Versor gungsspannung
- 3. mindestens einer Masse-Bondstelle (2) auf dem Mikroschalt baustein (4) zum Anschluß an ein Massepotential,
- 4. mindestens einem aus dem IC-Gehäuse (3) herausgeführten Versorgungsspannungs-Pinpaar (6, 7), bestehend aus einem Versorgungsspannungsanschluß (6) und einem Masseanschluß (7), zum Anschluß einer Versorgungs- bzw. einer Masselei tung, und
- 5. einem in das IC-Gehäuse (3) integrierten Niederinduktivi
täts-Kondensator (12), der aufweist
- 1. Kapazitätsanschlüsse (10, 11), die jeweils über Bonddrähte (5) sternförmig mit der Versorgungsspannungs-Bondstelle (1) und Masse-Bondstelle (1, 2) des Mikro schaltbausteins (4) und über weitere Bonddrähte (13) mit mindestens einem Versorgungsspannungs-Pinpaar (6, 7) verbunden sind, und
- 2. mindestens einen Bezugspotential-Anschluß (14), der elektrisch leitend mit einer erdfreien Massefläche (16) verbunden ist.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß der Niederinduktivitäts-Kondensator (12) mono
lithisch auf einem Silizium-Chip realisiert ist.
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