DE19854396C2 - Sensormodul - Google Patents

Sensormodul

Info

Publication number
DE19854396C2
DE19854396C2 DE19854396A DE19854396A DE19854396C2 DE 19854396 C2 DE19854396 C2 DE 19854396C2 DE 19854396 A DE19854396 A DE 19854396A DE 19854396 A DE19854396 A DE 19854396A DE 19854396 C2 DE19854396 C2 DE 19854396C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
circuit board
sensor module
sensor
module according
semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE19854396A
Other languages
English (en)
Other versions
DE19854396A1 (de
Inventor
Horst Kober
Hans-Peter Kluener
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Freudenberg KG
Original Assignee
Carl Freudenberg KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Freudenberg KG filed Critical Carl Freudenberg KG
Priority to DE19854396A priority Critical patent/DE19854396C2/de
Publication of DE19854396A1 publication Critical patent/DE19854396A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19854396C2 publication Critical patent/DE19854396C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K5/00Casings, cabinets or drawers for electric apparatus
    • H05K5/0091Housing specially adapted for small components
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1515Shape
    • H01L2924/15151Shape the die mounting substrate comprising an aperture, e.g. for underfilling, outgassing, window type wire connections

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)

Description

Ein solches Sensormodul ist aus der DE 196 51 261 A1 bekannt. Das Sensormodul umfasst eine Leiterplatte, an der zumindest ein Anschlußflächen aufweisender Halbleiterbaustein signalleitend festgelegt ist, wobei der Halbleiterbaustein mit zumindest einem Sensor zur Erfassung externer Signale versehen ist, wobei der Sensor und die Anschlussflächen auf der selben Seite des Halbleiterbausteins angeordnet sind, wobei die Leiterplatte zumindest ein Fenster aufweist und wobei der Halbleiterbaustein mit hinter dem Fenster befindlichem Sensor an der Leiterplatte hermetisch dicht befestigt ist.
Aus der WO 96/24162 ist zum Schutz vor ungewollten mechanischen und/oder chemischen äußeren Einflüssen ein elektronisches Bauelement auf einer flexiblen Leiterplatte angeordnet, das hermetisch dicht verschlossen ist.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Sensormodul kleiner Abmessungen der eingangs genannten Art zu zeigen, das sich bei einfacherer Herstellbarkeit durch eine besonders hohe Zuverlässigkeit während der bestimmungsgemäßen Verwendung auszeichnet, auch bei mechanischer Belastung des Sensors und dass nur die tatsächlich zu sensierenden Signale erfasst und Fremdsignale abgeschirmt werden.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß bei einem Sensormodul der eingangs genannten Art mit den Merkmalen von Anspruch 1 gelöst. Auf vorteilhafte Ausgestaltungen nehmen die Unteransprüche Bezug.
Bei dem erfindungsgemäßen Sensormodul ist es vorgesehen, dass die Leiterplatte flexibel ist, dass der Halbleiterbaustein von einem starren Doppelrahmen umschlossen ist und dass die Leiterplatte zwischen den den Doppelrahmen bildenden Rahmenhälften zumindest entlang eines ringförmig in sich geschlossenen Linienzugs eingeklemmt ist. Bei mechanischer Belastung des Sensors z. B. durch Druckausübung, hat es sich als vorteilhaft erwiesen, wenn der Halbleiterbaustein von einem starren Doppelrahmen umschlossen ist und wenn die Leiterplatte zwischen dem den Doppelrahmen bildenden Rahmenhälften zumindest entlang eines ringförmig in sich geschlossenen Linienzuges eingeklemmt ist. Hierdurch läßt sich nicht nur der Sensor häufig besonders einfach und sicher montieren sondern durch entsprechende . Gestaltung der Rahmenhälften zusätzlich sicherstellen, dass nur die tatsächlich zu sensierenden Signale erfaßt und Fremdsignale abgeschirmt werden und die Anschlußflächen zwischen flexibler Leiterplatte und Sensor nicht belastet und geschädigt werden.
Bei vielen Verwendungen des Sensormoduls kann es zu Relativbewegungen zwischen dem auf einen Signalgeber ausgerichteten Halbleiterbaustein und der damit verbundenen flexiblen Leiterplatte kommen. Um in solchen Fällen zu verhindern, dass sich im Bereich der Übergangszone zwischen dem starren Teil des Sensormoduls und der flexiblen Leiterplatte Knickeffekte im Bereich der Leiterplatte ergeben, die zu einem vorzeitigen Ausfall des Sensormoduls führen können, hat es sich als vorteilhaft bewährt, wenn zumindest eine Rahmenhälfte in Richtung ihres äußeren Randes einen sich zunehmend vergrößernden Abstand von der Leiterplatte hat. Zweckmäßigerweise ist der Rand im Bereich des sich vergrößernden Abstandes von abgerundetem Profil. Eine spiegelbildliche Ausbildung beider Rahmenhälften im Bereich des Randes hat sich als vorteilhaft bewährt.
Um den Halbleiterbaustein noch besser zu schützen, hat es sich als vorteilhaft bewährt, wenn die den Halbleiterbaustein umschließende Rahmenhälfte den Halbleiterbaustein mit einem flüssigkeitsdichten Boden überdeckt. Störende Umgebungseinflüsse können hierdurch in besonders vorteilhafter Weise von dem Halbleiterbaustein ferngehalten werden. Durch den Boden kann außerdem eine latente Verpressung zwischen dem Halbleiterbaustein und der flexiblen Leiterplatte bewirkt werden, was die Gefahr vermindert, dass Wasser oder Fremdstoffe in diesen kritischen Bereich einzudringen vermögen. Der erforderliche Preßsitz läßt sich erreichen, indem die Tiefe des in der . Rahmenhälfte ausgesparten Hohlraums 0,1 bis 0,2 mm kleiner ist als die Höhe des Halbleiterbausteins.
Die Rahmenhälften haben normalerweise keine Sensorfunktion. Sie können dadurch auf beliebige Weise an der flexiblen Leiterplatte festgelegt werden, beispielsweise durch eine Einschnappverbindung oder ähnlich. Als vorteilhaft hat es sich bewährt, wenn die beiden Rahmenhälften durch die Leiterplatte hindurch vernietet oder verschraubt sind. Zumindest eine Rahmenhälfte kann dabei gegebenenfalls einen Bestandteil eines sekundären Elementes bilden, beispielsweise eines Gehäuses.
Der Halbleiterbaustein weist nur eine einzige aktive Oberfläche auf, was es erleichtert, ihn unter Verwendung mechanischer Montageeinrichtungen auf der flexiblen Leiterplatte an einer präzise vorherbestimmbaren Stelle zu plazieren und festzulegen. Die Gefahr, dass der Sensor und/oder die Anschlußfläche beschädigt werden, ist deutlich reduziert. Außerdem besteht die Möglichkeit, die flexible Leiterplatte während der Anbringung des Halbleiterbausteins auf einer elastischen Unterlage federnd abzustützen und während einer Verklebung ganzflächig federnd an den Halbleiterbaustein anzupressen. Hierdurch läßt sich die Verklebung optimieren und die Gefahr verringern, dass sich eine Beschädigung des Sensors und/oder der Anschlußfläche ergibt. Die Herstellung einer elektrische Signale fehlerfrei leitenden Verbindung zwischen dem Halbleiterbaustein und der flexiblen Leiterplatte ist dadurch wesentlich vereinfacht. Für die Erzielung einer möglichst geringen Ausschußquote während der Herstellung des Sensormoduls ist das von großem Vorteil.
Der Sensor kann eine aktive Sensorfläche haben, die unabhängig von der Form und Größe des Fensters ausgebildet ist. Bei einer derartigen Auslegung ergibt sich jedoch im allgemeinen stets entweder eine Nachteil hinsichtlich der Ausnutzung der an sich zu Verfügung stehenden und zu detektierenden Signale bzw. der benötigten Baugröße. Im Rahmen der vorliegenden Erfindung wird daher eine Ausführung bevorzugt, bei der der Sensor eine aktive Sensorfläche hat, die mit der Form und Größe des Fensters im wesentlichen übereinstimmt.
Bei den gebräuchlichen, flexiblen Leiterplatten bilden die Leiter im allgemeinen Vorsprünge, die die Oberfläche einer Trägerfolie überragen. Für die direkte Montage des Halbleiterbausteins auf ein Schaltungssubstrat sind Anschlußhöcker zwischen Sensor- und Schaltungssubstrat-Ausschlußflächen erforderlich, um definierte Anschlußfläche herstellen zu können, wobei die Anschlußhöcker vorzugsweise auf den Anschlußflächen des Halbleiterbau­ steins hergestellt werden und eine Höhe zwischen 5 bis 120 µm besitzen können. Dadurch besteht die Möglichkeit, dass sich im Anschlußflächenbereich zwischen den Leitern, der Trägerfolie und dem Halbleiterbaustein Freiräume ergeben, in die während der bestimmungsgemäßen Verwendung Feuchtigkeit und/oder Fremdstoffe aus der Umgebung einzudringen vermögen, was zu frühzeitigem Ausfall des Sensormoduls führen kann. Im Rahmen der vorliegenden Erfindung wird daher eine Ausführung bevorzugt, bei der die Freiräume vollständig mit einer porenfreien, elektrisch nichtleitenden, polymeren Werkstoffschicht ausgefüllt sind. Das Eindringen von Feuchtigkeit oder anderen Fremdstoffen aus der Umgebung ist dadurch völlig ausgeschlossen.
Als zweckmäßig hat es sich erwiesen, wenn die Werkstoffschicht aus Klebstoff besteht, insbesondere aus einem Klebstoff, der beim Verkleben nicht fließt. Solche Kleber werden als No-Flow Kleber bezeichnet. Hierdurch wird verhindert, dass beim Verkleben des Halbleiterbausteins mit der flexiblen Leiterplatte Kleber austritt und die aktive Sensorfläche verschmutzt. Die Sicherheit gegen evtl. Funktionsbeeinträchtigungen wird hierdurch weiter verbessert.
Bei Verwendung niedrigviskoser Klebstoffe zum Ausfüllen des Spaltes zwischen Sensor und flexibler Leiterplatte, kann das Austreten des Klebers auf die aktive Sensorfläche sicher verhindert werden, wenn die aktive Sensorfläche temporär von einer dicken Polymerschicht positionsgenau und spaltfrei abgedeckt wird. Der Auftrag einer solchen Polymerschicht kann im Sieb- und Schablonendruck erfolgen oder bei photosensitiver Polymerschicht im photolithografischen Verfahren, wobei die Dicke der Polymerschicht im ausgehärteten Zustand gleich oder größer der Spalthöhe ist und sich die Polymerschicht in diesem Zustand leicht und rückstandsfrei abziehen läßt.
Wenn der Halbleiterbaustein und die Leiterplatte an zumindest einer Stelle einen Abstand voneinander haben, besteht auch die Möglichkeit, den Abstand mit einem porenfreien, elektrisch anisotrop nur in Richtung der Anschlußfläche leitenden Klebstoff auszufüllen. Hierdurch wird in einem Arbeitsgang eine elektrisch leitende, mechanisch haltbare Verbindung zwischen den beiderseitigen Anschlußflächen hergestellt und zugleich jeder eventuell vorhandene Freiraum mit dem Kleber ausgefüllt um den unerwünschten Zutritt von Sekundärstoffen in den Zwischenraum auszuschließen.
Die Leiter werden auf der flexiblen Leiterplatte im allgemeinen unter Anwendung von photochemischen Verfahren erzeugt, was es gestattet, sehr feine, erhabene Strukturen auszubilden. Es ist dadurch mit keinem Mehraufwand verbunden, wenn das Fenster auf der dem Halbleiterbaustein zugewandten Seite von zumindest einem ringförmig ausgebildeten Leiter umschlossen ist, der den Zweck hat, eine Dichtungszone zu bilden, die das Durchtreten von Klebstoffbestandteilen zu der aktiven Sensorfläche während der Verklebung des Halbleiterbausteins mit der flexiblen Leiterplatte verhindert. Die diesbezügliche Sicherheit läßt sich vergrößern, wenn in Richtung des Fensters mehrere entsprechend ausgebildete, ringförmige Leiter aufeinander folgen, die einen Abstand voneinander haben und gemeinsam eine Art Labyrinthdichtung bilden. Entsprechend ausgebildete Leiter können natürlich zusätzlich auch eine elektrisch leitende Funktion übernehmen, ohne dass sich eine Beeinträchtigung der Dichtfunktion ergibt. Legt man einen Ringleiter auf die Außenseite der flexiblen Leiterplatte an Masse, dann kann dieser Ringleiter als Berührungsschutz dienen, um für Sensor gefährliche, statische Aufladungen aus Personenkontaktflächen abzuleiten.
Die flexible Leiterplatte wird zweckmäßig mit mindestens einem Verbindungsteil versehen, dessen Ende für eine Direktkontaktierung in dem Stecker einer elektronischen Baugruppe geeignet oder für eine Einbeziehung in eine Lötverbindung geeignet ist.
Um eine ausgezeichnete Funktionssicherheit zu erreichen, ist es grundsätzlich ausreichend, wenn das Sensormodul lediglich den Halbleiterbaustein umfaßt, der unlösbar in einer flexiblen Leiterplatte festgelegt ist.
Es zeigen:
Fig. 1 ein Sensormodul in quergeschnittener Darstellung
Fig. 1a ein Sensormodul ähnlich Fig. 1, bei dem der Sensor nach der "Chip On Foil Methode" kontaktiert ist.
Fig. 1b ein Sensormodul ähnlich Fig. 1, bei dem der Sensor nach der "Tape Automated Bonding Methode" kontaktiert ist.
Fig. 1c ein Sensormodul ähnlich Fig. 1, bei dem der Sensor nach der "Flip Chip Methode" kontaktiert ist.
Fig. 2 eine beispielhafte Leiterplatte in einer Ansicht von oben.
Das in Fig. 1 gezeigte erfindungsgemäße Sensormodul umfaßt eine flexible Leiterplatte 1, an der ein Halbleiterbaustein 2 signalleitend festgelegt ist, wobei der Halbleiterbaustein 2 mit einem Sensor 3 zur Erfassung externer Signale versehen ist. Die Anschlußflächen auf dem Halbleiterbaustein 2 sind mit dem Bezugszeichen 13, die Anschlußflächen auf der flexiblen Leiterplatte 1 mit Bezugszeichen 14 versehen. Der Sensor 3 und die Anschlußflächen 13 sind auf der der flexiblen Leiterplatte 1 zugewandten Seite des Halbleiterbausteins 2 angeordnet, wobei die Leiterplatte 1 ein Fenster 4 aufweist und wobei der Halbleiterbaustein 2 mit hinter dem Fenster 4 befindlichem Sensor 3 an der Leiterplatte 1 befestigt ist. Die auf der flexiblen Leiterplatte 1 angeordneten Leiter 6 überragen die dem Halbleiterbaustein 2 zugewandte Oberfläche erhaben. Die flexible Leiterplatte 1 ist zusätzlich auf der dem Sensor 3 zugewandten Seite mit einer porenfreien, elektrisch nichtleitenden, polymeren Werkstoffschicht 5 überdeckt, die aus einem durch zum Beispiel UV- Bestrahlung voraktivierten Klebstoff 19 besteht, beispielsweise aus photoreaktivem Epoxidharz. Zur Herstellung einer gegenseitigen, unlösbaren Verbindung zwischen dem Halbleiterbaustein 2 und der flexiblen Leiterplatte 1 ist es vorgesehen, den Halbleiterbaustein 2 in der in Fig. 1 gezeigten Lage mit der flexiblen Leiterplatte 1 zusammenzufügen und unter Anwendung von Druck und Wärme zu verpressen. Dabei wird die Krafteinleitung auf der der flexiblen Leiterplatte 1 zugewandten Seite unter Zwischenfügung eines elastisch verformbare Kissens erzeugt. Hierbei ergibt sich vorübergehend eine thermische Erweichung des Klebstoffs 19 mit der Folge, daß evtl. vorhandene Zwischenräume zwischen dem Halbleiterbaustein 2 und der flexiblen Leiterplatte 1 vollständig mit der porenfreien, elektrisch nichtleitenden, polymeren Werkstoff 5 ausgefüllt werden, so daß zu einem späteren Zeitpunkt Wasser oder andere Fremdstoffe nicht mehr in den Zwischenraum zwischen beiden Teilen 1, 2 einzudringen vermögen. Hierdurch ist nicht nur eine sehr zuverlässige Verbindung für elektrische Signale zwischen dem Halbleiterbaustein 2 und der flexiblen Leiterplatte 1 gewährleistet sondern zusätzlich eine hochgradige Funktionssicherheit. Die Ausschußquote bei der Herstellung des Sensormoduls ist dementsprechend ganz besonders niedrig.
Um gegen mechanische Belastungen des Sensors z. B. durch Druckausübung, eine bessere Widerstandsfähigkeit zu erhalten, ist es vorgesehen, daß der Halbleiterbaustein 2 von einem starren Doppelrahmen 8 umschlossen ist, wobei die Leiterplatte 1 zwischen den den Doppelrahmen 8 bildenden Rahmenhälften 9, 10 zumindest entlang eines ringförmig in sich geschlossenen Linienzuges eingeklemmt ist. Hierdurch läßt sich nicht nur der Halbleiterbau­ stein 2 besonders einfach und sicher montieren sondern durch entsprechende Gestaltung der Rahmenhälften 9, 10 zusätzlich sicherstellen, daß nur die tatsächlich zu sensierenden Signale erfaßt und Fremdsignale abgeschirmt werden und die Anschlußflächenbereiche 12 zwischen der flexiblen Leiterplatte 1 und dem Halbleiterbaustein 2 nicht belastet und geschädigt werden.
Bei vielen Verwendungen des Sensormoduls kann es zu Relativbewegungen während der bestimmungsgemäßen Verwendung zwischen dem auf einen Signalgeber ausgerichteten Halbleiterbaustein 2 und der damit verbundenen flexiblen Leiterplatte 1 kommen. Um in solchen Fällen zu verhindern, daß sich im Bereich der Übergangszone zwischen dem starren Halbleiterbaustein 2 und der flexiblen Leiterplatte 1 Knickeffekte im Bereich der Leiterplatte 1 ergeben, die zu einem vorzeitigen Ausfall des Sensormoduls führen können, hat es sich als vorteilhaft bewährt, wenn zumindest eine Rahmenhälfte 9, 10 in Richtung ihres äußeren Randes 11 einen sich zunehmend vergrößernden Abstand von der Leiterplatte 1 hat. Zweckmäßigerweise ist der Rand 11 im Bereich des sich vergrößernden Abstandes von abgerundetem Profil 25. Eine spiegelbildliche Ausbildung beider Rahmenhälften 9, 10 im Bereich des Randes 11 hat sich als vorteilhaft bewährt.
Um den Halbleiterbaustein 2 noch besser zu schützen, überdeckt die Rahmenhälfte 9 den Halbleiterbaustein 2 mit einem flüssigkeitsdichten Boden 24. Störende Umgebungseinflüsse können hierdurch in besonders vorteilhafter Weise von dem Halbleiterbaustein 2 ferngehalten werden. Durch den Boden 24 wird außerdem eine latente Verpressung zwischen dem Halbleiterbaustein 2 und der flexiblen Leiterplatte 1 bewirkt, was die Gefahr vermindert, daß Wasser oder Fremdstoffe in diesen kritischen Bereich einzudringen vermögen. Der erforderliche Preßsitz läßt sich erreichen, indem die Tiefe 26 des in der Rahmenhälfte 9 ausgesparten Hohlraums 0,1 bis 0,2 mm kleiner ist als die Höhe 28 des Halbleiterbausteins 2.
Die Rahmenhälften 9, 10 haben normalerweise keine Sensorfunktion. Sie können dadurch auf beliebige Weise an der flexiblen Leiterplatte 1 festgelegt werden, beispielsweise durch in Fig. 1 die gezeigte Nietverbindung 29, eine gegenseitige Verschraubung oder ähnlich. Zumindest eine Rahmenhälfte 9, 10 kann dabei gegebenenfalls einen Bestandteil eines sekundären Elementes bilden, beispielsweise eines Gehäuses.
Die Oberflächen der Rahmenhälfte 10 können metallisiert sein beziehungsweise die Rahmenhälfte 10 kann aus einem Metallteil bestehen, um einen Berührungsschutz auszubilden, der für den Sensor 3 gefährliche statische Aufladungen durch Personenkontakte ableitet.
Die Fig. 1a bis 1c zeigen verschiedene Kontaktierungsmethoden für die Direktmontage des Senors 3 auf einer flexiblen Leiterplatte 1, die im Rahmen der vorliegenden Erfindung zur Anwendung gelangen können.
Fig. 1a zeigt eine Methode zur Direktmontage ungehäuster Halbleiterbausteine 2, bei der die Anschlußfläche 13, 14 zwischen dem Halbleiterbaustein 2 und der Leiterplatte 1 mit angebondeten Drähten 15 hergestellt werden. Der Anschlußflächenbereich 12 wird mit einer polymeren Kapselmasse 16 versiegelt.
Fig. 1b zeigt eine Methode zur Direktmontage ungehäuster Halbleiterbausteine 2, wobei die Leiterplatte 1 freistehende Kontaktleiter 14 aufweist, die direkt mit den Anschlußflächen 13 des Halbleiterbausteins 2 kontaktiert werden. Der Kontaktbereich 12 wird mit einer polymeren Kapselmasse 16 versiegelt.
Fig. 1c zeigt eine Methode zur Direktmontage ungehäuster Halbleiterbausteine 2, wobei die Anschlußfläche 13 der Halbleiterbausteine 2 direkt gegenüber den Anschlußflächen 14 der Leiterplatte 1 liegen und die Anschlußfläche 13, 14 zwischen Halbleiterbaustein 2 und Leiterplatte 1 mit Hilfe von Anschlußhöckern 18 hergestellt werden. Der Spalt zwischen dem Halbleiterbaustein 2 und der Leiterplatte 1 wird mit einem isolierenden Klebstoff 19 ausgefüllt. Die Leiter 6 sind außerhalb des Anschlußflächenbereichs mit Deckfolie oder Decklack 22 abgedeckt.
Bei allen Ausführungsformen ist es erforderlich, die Anschlußfläche 13, 14 vor einem direkten Zugriff und der Einwirkung von Schubkräften zu schützen, die sich beispielsweise bei Temperaturwechseln als Folge von unterschiedlichen Wärmeausdehnungskoeffizienten der Leiterbahn 1 und des Halbleiterbausteins 2 ergeben können. Deswegen sind der Halbleiterbaustein 2 und die flexible Leiterbahn 1 bei allen vorstehend beschriebenen Ausführungen miteinander zu verkleben.
Bei den Methoden 1a und 1b gelangt bevorzugt zu diesem Zweck eine polymere Werkstoffschicht 5, die als Klebefolie mit No-Flow Charakteristik ausgebildet ist, zur Anwendung. Dabei wird auf der flexiblen Leiterplatte 1 vor dem Freilegen des Fensters und der Anschlußbereiche 12 ein nichtfließender Kleber (sogenannte No-Flow-Kleber) in Form einer Kleberfolie angeheftet. Nach dem gemeinsamen Herstellen der Durchbrüche für das Fenster 4 und der Anschlußbereiche schließt die Kleberfolie randscharf die Durchbrüche ab. Registrierprobleme zwischen Leiterplatte 1 und Klebefolie können somit nicht auftreten. Der Sensor 3 wird dann mit Hilfe kommerzieller Bestücker positionsgenau mit der aktiven Seite auf der Werkstoffschicht 5 plaziert und z. B. durch vorübergehende, thermische Erweichung und nachfolgende Verfestigung der Werkstoffschicht 5 mit Hilfe eines beheizbaren Stempels verklebt. Der No-Flow-Kleber zeigt beim Verkleben keinen merklichen Kleberfluß, so daß die Fenster 4 und Anschlußbereiche 12 sicher kleberfrei bleiben. Anschließend erfolgt die elektrische Verbindung der Anschlußfläche 13 des Halbleiterbausteins 2 mit den Kontakten 14 der Leiterbahn in den freigelegten Anschlußbereichen 12 der flexiblen Leiterplatte 1. Diese Bereiche sind allseitig durch die Klebefolie abgedichtet und bilden Kavitäten, die zum Schutz der Anschlußflächen 13, 14 und der Anschlußleiter 15 mit Kapselmasse 16 ausgefüllt werden können, ohne daß die Gefahr besteht, daß die Kapselmasse 16 in den Bereich des Sensors 3 des Halbleiterbausteins 2 fließt.
Bei der Methode 1c wird ein hochflüssiger, aushärtbarer Klebstoff 19 bevorzugt. Dieser kann im flüssigen Zustand entlang der äußeren Kanten 20 zugeführt werden. Durch die im Spalt wirksamen Kapillarwirkungen wird der verflüssigte - Klebstoff 19 von der Kante 20 bis zum Fensterrand der flexiblen Leiterplatte 1 fließen und dort stoppen. Dadurch läßt sich eine randscharfe Verklebung bis zum Fenster 4 ohne zusätzliche Maßnahmen erreichen.
Die Verklebung kann auch unter Verwendung einer anisotrop leitenden Klebefolie mit No Flow Charakteristik bewirkt werden, die mit elektrisch leitenden Partikeln gefüllt und nur in Richtung der Anschlußflächen elektrisch leitend ausgebildet ist. Die Verwendung einer solchen Klebefolie hat den Vorteil, daß sich die Kontaktierung und mechanische Verbindung in einen Arbeitsgang herstellen läßt. Die Applikation entspricht Fig. 1c, wobei die Anschlußhöcker 18 entfallen und die aushärtbare Klebeschicht 19 anisotrop leitend ist.
Für die Verklebung von Halbleiterbaustein 2 und Leiterplatte 1 kann der Sensor 3 des Halbleiterbausteins 2 vor dem Verkleben mit einer Polymerschicht 21 versehen werden, die zum Beispiel im Siebdruckverfahren aufgebracht wird, wobei die Polymerschicht 21 im ausgehärteten Zustand 0,05 bis 0,2 mm dicker sein sollte als die Kleberschicht 15, 19. Die Polymerschicht 21 ist leicht abziehbar und kann vorteilhaft auf der Sensorfläche solange verbleiben, bis die Sensorfunktion erstmalig benötigt wird.
Fig. 2 verdeutlicht die Ausbildung der zur Anwendung gelangenden, flexiblen Leiterplatte 1 in einer Ansicht von oben. Aus Gründen der besseren Anschaulichkeit ist der Rahmen 10 weggelassen worden. Es ist zu erkennen, daß das Fenster 4, welches hinsichtlich seiner Form und Größe mit der aktiven Sensorfläche des Sensors 3 im wesentlichen übereinstimmt, von einem ringförmig ausgebildeten Leiter 7 umschlossen ist, der die Oberfläche des in der flexiblen Leiterplatte 1 enthaltenen Kunststoffträgers erhaben überragt. Bei der gegenseitigen Verpressung zwischen der flexiblen Leiterplatte 1 und dem Halbleiterbaustein 2 während der gegenseitigen Verklebung wird hierdurch eine Versteifung gebildet, die das positionsgenaue Verkleben erleichtert.
Der das Fenster 4 bei der Ausbildung der flexiblen Leiterplatte 1 nach Fig. 2 umschließende Leiter 7 bildet primär einen Bestandteil der elektrischen "Verdrahtung" und kann als Massenleiter zur Ableitung von für den Sensor 3 gefährlichen, elektrostatischen Aufladungen dienen.

Claims (17)

1. Sensormodul, umfassend eine Leiterplatte (1), an der zumindest ein Anschlußflächen (13) aufweisender Halbleiterbaustein (2) signalleitend festgelegt ist, wobei der Halbleiterbaustein (2) mindestens einen Sensor (3) zur Erfassung externer Signale beinhaltet, wobei der Sensor (3) und die Anschlußflächen (13) auf derselben Seite des Halbleiterbausteins (2) angeordnet sind, wobei die Leiterplatte (1) zumindest ein Fenster (4) aufweist und wobei der Halbleiterbaustein (2) mit hinter dem Fenster (4) befindlichem Sensor (3) an der Leiterplatte (1) hermetisch dicht befestigt ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Leiterplatte (1) flexibel ist, dass der Halbleiterbaustein (2) mit dem Sensor (3) von einem starren Doppelrahmen (8) umschlossen ist und dass die Leiterplatte (1) zwischen den den Doppelrahmen (8) bildenden Rahmenhälften (9, 10) zumindest entlang eines ringförmig in sich geschlossenen Linienzuges eingeklemmt ist, wobei der Doppelrahmen (8) nur die tatsächlich zu sensierenden Signale zum Sensoren (3) durchläßt und die Fremdsignale abschirmt.
2. Sensormodul nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest eine Rahmenhälfte (9, 10) in Richtung ihres äußeren Randes (11) einen sich zunehmend vergrößernden Abstand von der Leiterplatte (1) hat.
3. Sensormodul nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Rand (11) im Bereich des sich vergrößernden Abstandes von abgerundetem Profil ist.
4. Sensormodul nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, dass die den Halbleiterbaustein (2) umschließende Rahmenhälfte (9) den Halbleiterbaustein (2) mit einem flüssigkeitsdichten Boden (24) überdeckt.
5. Sensormodul nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die beiden Rahmenhälften (9, 10) durch die Leiterplatte (1) hindurch vernietet oder verschraubt sind.
6. Sensormodul nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die beiden Rahmenhälften (9, 10) und die Leiterplatte (1) durch zumindest eine Einschnappvorrichtung miteinander fixiert sind.
7. Sensormodul nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Halbleiterbaustein (2) und die Leiterplatte (1) mittels der Rahmenhälften (9, 10) verpreßt sind.
8. Sensormodul nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest eine Rahmenhälfte (9, 10) einen Bestandteil eines Sekundärgehäuses bildet.
9. Sensormodul nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Rahmehälfte (10) aus metallischem Werkstoff besteht und als Berührungsschutz zur Ableitung statischer Aufladung bei Personenkontakt ausgebildet ist.
10. Sensormodul nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Rahmenhälfte (10) aus einem polymeren Werkstoff besteht, der metallisiert ist und als Berührungsschutz zur Ableitung statischer Aufladung bei Personenkontakt ausgebildet ist.
11. Sensormodul nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass der Halbleiterbaustein (2) eine aktive Sensorfläche (23) hat, die mit der Form und Größe des Fensters (4) im wesentlichen übereinstimmt.
12. Sensormodul nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass der Halbleiterbaustein (2) und die Leiterplatte (1) an zumindest einer Stelle einen Abstand voneinander haben und dass der Abstand mit einer porenfreien, elektrisch nicht leitenden, polymeren Werkstoffschicht (5) ausgefüllt ist.
13. Sensormodul nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die beiderseitigen Anschlußflächen (13, 14) mit Hilfe von Anschlußhöckern (18) aus metallischen oder leitenden polymeren Werkstoffen signalleitend verbunden sind, und dass die Zwischenräume zwischen den Anschlußhöckern (18) mit der porenfreien, elektrisch nicht leitenden, polymeren Werkstoffschicht (5) ausgefüllt sind.
14. Sensormodul nach einem der Ansprüche 12 oder 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Werkstoffschicht (5) aus Klebstoff (19) besteht.
15. Sensormodul nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass der Halbleiterbaustein (2) und die Leiterplatte (1) an zumindest einer Stelle einen Abstand voneinander haben und dass der Abstand mit einem porenfreien, elektrisch anisotrop nur in Richtung der Anschlußfläche (13, 14) leitenden Klebstoff (19) ausgefüllt ist.
16. Sensormodul nach einem der Ansprüche 14 oder 15, dadurch gekennzeichnet, dass der Klebstoff (19) durch eine UV-Bestrahlung voraktiviert ist.
17. Sensormodul nach einem der Ansprüche 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass die Leiterplatte (1) auf der dem Halbleiterbaustein (2) zugewandten Seite mit zumindest einem erhaben vorspringenden, elektrischen Leiter (6) versehen ist und dass das Fenster (4) von dem (6) oder zumindest einem weiteren Leiter (7) ringförmig umschlossen ist.
DE19854396A 1998-11-25 1998-11-25 Sensormodul Expired - Fee Related DE19854396C2 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19854396A DE19854396C2 (de) 1998-11-25 1998-11-25 Sensormodul

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19854396A DE19854396C2 (de) 1998-11-25 1998-11-25 Sensormodul

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19854396A1 DE19854396A1 (de) 2000-06-08
DE19854396C2 true DE19854396C2 (de) 2002-02-07

Family

ID=7888991

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19854396A Expired - Fee Related DE19854396C2 (de) 1998-11-25 1998-11-25 Sensormodul

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE19854396C2 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004013733A1 (de) * 2004-03-18 2005-12-29 Infineon Technologies Ag Halbleiterbauteil in Stapelbauweise mit einem optisch aktiven Halbleiterchip und Verfahren zu seiner Herstellung

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10137749A1 (de) * 2001-08-01 2003-02-13 Conti Temic Microelectronic Elektronische Baugruppe
DE10205127A1 (de) 2002-02-07 2003-08-28 Infineon Technologies Ag Halbleiterbauteil mit Sensor- bzw. Aktoroberfläche und Verfahren zu seiner Herstellung
DE10303263B4 (de) * 2003-01-28 2012-01-05 Infineon Technologies Ag Mikrophonanordnung
WO2005073717A1 (en) * 2004-01-27 2005-08-11 H2Scan Corporation Method and apparatus for thermal isolation of a gas sensor
CN1938588B (zh) 2004-01-27 2011-11-09 H2Scan公司 隔离的气体传感器结构
DE102006038302A1 (de) * 2006-08-16 2008-02-21 Atmel Germany Gmbh Sensoreinheit und optischer Aufnehmer für eine Abtasteinrichtung
DE102008040676A1 (de) * 2008-07-24 2010-01-28 Robert Bosch Gmbh Abdichtrahmen sowie Verfahren zum Abdecken eines Bauteils
DE102018204764A1 (de) 2018-03-28 2019-10-02 Infineon Technologies Ag Halbleiter- packagesystem

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19507124A1 (de) * 1994-03-10 1995-09-14 Murata Manufacturing Co Elektronische Bauteile und Verfahren zu deren Herstellung
US5495450A (en) * 1994-06-20 1996-02-27 Motorola, Inc. Method and assembly for mounting an electronic device having an optically erasable surface
WO1996024162A1 (de) * 1995-02-02 1996-08-08 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Chip-gehäusung sowie verfahren zur herstellung einer chip-gehäusung
DE19651260A1 (de) * 1996-12-10 1998-01-02 Siemens Ag Bildsensor-Chip und entsprechendes Trägerelement

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19507124A1 (de) * 1994-03-10 1995-09-14 Murata Manufacturing Co Elektronische Bauteile und Verfahren zu deren Herstellung
US5495450A (en) * 1994-06-20 1996-02-27 Motorola, Inc. Method and assembly for mounting an electronic device having an optically erasable surface
WO1996024162A1 (de) * 1995-02-02 1996-08-08 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Chip-gehäusung sowie verfahren zur herstellung einer chip-gehäusung
DE19651260A1 (de) * 1996-12-10 1998-01-02 Siemens Ag Bildsensor-Chip und entsprechendes Trägerelement

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
BENNINGHOFF, H.: "Optimale Klebekraft durch UV- Licht", in: TR Transfer, Nr. 41, 1996, S. 24-26 *
SLYMAN, D.: "Anisotrop leitende Kleber", in: Productronic 10/96, S. 30, 32, 34, 36 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004013733A1 (de) * 2004-03-18 2005-12-29 Infineon Technologies Ag Halbleiterbauteil in Stapelbauweise mit einem optisch aktiven Halbleiterchip und Verfahren zu seiner Herstellung
DE102004013733B4 (de) * 2004-03-18 2006-04-06 Infineon Technologies Ag Halbleiterbauteil in Stapelbauweise mit einem optisch aktiven Halbleiterchip und Verfahren zu seiner Herstellung

Also Published As

Publication number Publication date
DE19854396A1 (de) 2000-06-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0946861B1 (de) Verfahren zum aufbringen eines mikrosystems oder wandlers auf ein substrat und nach diesem verfahren herstellbare vorrichtung
DE69209772T2 (de) Gehäuseanordnung für ein funktionales bauelement und herstellungsverfahren
DE19758891B4 (de) Halbleitersensor und Verfahren zu dessen Herstellung
DE19911916B4 (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung mit Schutzlage
DE69530037T2 (de) Automatische Bandmontage für Halbleiteranordnung
DE10045043B4 (de) Halbleiterbauteil und Verfahren zu dessen Herstellung
DE102010002545B4 (de) Herstellverfahren für eine Sensorvorrichtung
DE69909667T2 (de) Optisches Modul
DE3937996A1 (de) Verfahren zur herstellung von halbleiteranordnungen
DE19854396C2 (de) Sensormodul
DE102009010199B4 (de) Halbleiterpackage mit Formschlossentlüftung und Verfahren zu dessen Hersstellung
DE69205945T2 (de) Schnittstellenapparat zwischen einem Substrat und einer Wärmesenke und Verfahren.
DE69832104T2 (de) Verbindung durch Aufbringen eines dem Relief entsprechenden viskosen Produktes
DE112016002445T5 (de) Sensorvorrichtung
DE69215771T2 (de) Verfahren zur Montage elektronischer Bauteile auf einem Schaltkreissubstrat und Schaltkreissubstrat mit darauf montierten elektronischen Bauteilen
DE2253627A1 (de) Elektrisches bauelement in mikrotechnik, vorzugsweise halbleiterbauelement
DE102007025338A1 (de) Verfahren zum Abdichten eines Gehäuses
DE4441931C1 (de) Chipkarte
EP3520585B1 (de) Verfahren zum herstellen einer elektronischen baugruppe und elektronische baugruppe, insbesondere für ein getriebesteuermodul
DE69935945T2 (de) Montage eines Halbleiterchips in eine Schaltungsplatte
WO2007042497A2 (de) Sensorbaugruppe
DE10151657C1 (de) Verfahren zur Montage eines Chips auf einem Substrat
DE112018003765B4 (de) Halbleitervorrichtung und verfahren zum herstellen der halbleitervorrichtung
DE112021004943T5 (de) Halbleitervorrichtung und elektronische vorrichtung
DE10012882C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Aufbringung eines Halbleiterchips auf ein Trägerelement

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee