DE19614354A1 - Steuerschaltung für eine MOS-Gate-gesteuerte Leistungshalbleiterschaltung - Google Patents
Steuerschaltung für eine MOS-Gate-gesteuerte LeistungshalbleiterschaltungInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Steuerschaltung der im
Oberbegriff des Anspruchs 1 genannten Art und insbesondere auf
sogenannte "intelligente" Leistungs-Halbleiterschaltungen mit
MOS-Gate-Steuerung, bei denen der Rücksetzvorgang nach Auftreten
eines Fehlerzustandes verbessert ist.
Bei "intelligenten" Leistungs-Halbleiterbauteilen oder -schal
tungen ist ein Bauteil mit MOS-Gate-Steuerung, typischerweise
ein Leistungs-MOSFET mit einer "Intelligenz" versehen, wie z. B.
mit Schaltungen, die die Temperatur, die Strom- und Spannungs
bedingungen des Bauteils überwachen und das Bauteil abschalten,
wenn Fehlerzustände gemessen oder erwartet werden. Ein gut
bekanntes Bauteil dieser Art ist der vollständig geschützte
DMOS-Leistungsschalterkreis, der von der Fa. International
Rectifier Corporation unter der Typenbezeichnung IRSF 3010
vertrieben wird und als "SMARTFET"-Transistor bezeichnet wird.
SMARTFET ist in vielen Ländern eine Marke der Fa. International
Rectifier Corporation.
Dieses Bauteil ist monolithisch in einem Gehäuse vom Typ TO 220
mit drei Anschlüssen ausgebildet. Es können auch andere Gehäuse
bauformen verwendet werden. Das Gehäuse weist einen Eingangsan
schluß, einen Drain-Anschluß und einen Source-Anschluß auf. Die
Betriebsleistung für die Steuerschaltungen wird von den Ein
gangs-Steuersignalen am Eingangsanschluß geliefert. Das Bauteil
bildet einen vollständig geschützten monolithischen N-Kanal-
Logikpegel-Leistungs-MOSFET mit einem Einschaltwiderstand von
80 Ohm und mit eingebauten Schutzschaltungen gegen Überstrom,
Übertemperatur und elektrostatischen Entladungen (ESD), wobei
weiterhin ein aktiver Überspannungsschutz vorgesehen ist.
Das Bauteil verwendet eine bistabile Schaltung oder eine
Signalspeicherschaltung, die in das Halbleiterplättchen des
Leistungs-Feldeffekttransistors integriert ist und die das
Auftreten eines Fehlers erkennt und speichert und dann das
Einschaltsignal von dem Gate des Leistungs-MOSFET abschaltet.
Die Signalspeicherschaltung wird dadurch gelöscht und zurück
gesetzt, daß der Eingangsanschluß für eine festgelegte minimale
Dauer auf einem niedrigen Pegel gehalten wird. Wenn daher ein
Fehlerzustand andauert und die Signalspeicherschaltung beim
nächsten Arbeitszyklus zurückgesetzt wird, so schaltet das
Bauteil in den Fehlerzustand hinein wieder ein und wird erneut
ausgelöst, wobei dieser Zustand andauert, bis die Schaltung in
anderer Weise zurückgesetzt oder gelöscht wird.
Dieser Zustand kann dadurch vermieden werden, daß ein getrennter
Rücksetzanschluß an dem Halbleitergehäuse vorgesehen wird, der
ein getrenntes Rücksetz-Eingangssignal empfängt. Dies würde
jedoch ein Gehäuse mit fünf Anschlußstiften erfordern, so daß
die Verwendung eines Gehäuses vom Typ SOT223 verhindert würde.
Es ist jedoch sehr wünschenswert, dieses Bauteil in Form eines
Gehäuses mit drei Anschlußstiften auszubilden, das ohne weitere
Änderungen anstelle von anderen Gehäusen mit drei Anschlußstif
ten eingesetzt werden kann, die mit intelligenten Schaltungen
oder ohne diese ausgebildet sind.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Leistungs-Halb
leiterschaltung der eingangs genannten Art zu schaffen, bei der
ein einwandfreies und gezieltes Rücksetzen ohne die Verwendung
zusätzlicher Anschlußstifte an dem Gehäuse des Halbleiterbau
teils möglich ist.
Diese Aufgabe wird durch die im Anspruch 1 angegebenen Merkmale
gelöst.
Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung
ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Bei der erfindungsgemäßen Leistungs-Halbleiterschaltung kann ein
eindeutiges Rücksetzsignal zum Rücksetzen der Fehler-Signal
speicherschaltung nach einem Fehler dem Eingangs-Anschlußstift
der Schaltung zugeführt werden, wobei unter allen anderen
Betriebsbedingungen ein Rücksetzvorgang verhindert wird.
Gemäß der vorliegenden Erfindung verwendet die neuartige
Leistungs-Halbleiterschaltung, die beispielsweise auch mit der
Schaltung des Halbleiterbauteils IRSF 3010 verwendet werden
kann, ein analoges Multiplexen der Rücksetz- und Eingangs-Ein-
und Abschaltsignale, so daß die Schaltung insgesamt nur drei
Anschlußstifte aufweist und in einem üblichen Gehäuse mit drei
Anschlußstiften angeordnet werden kann.
Die erfindungsgemäße Leistungs-Halbleiterschaltung verwendet
zwei unterschiedliche Schwellenwertspannungen:
- 1. Einen Rücksetzschwellenwert, der typischerweise 1 Volt oder weniger betragen kann. Wenn der Eingangs-Anschluß stift unter diesen Schwellenwert gezogen wird, so wird der Fehler-Signalspeicher zurückgesetzt.
- 2. Ein Setz-Schwellenwert, der typischerweise 3,2 Volt betragen kann. Wenn der Eingangs-Anschlußstift über diesen Schwellenwert gezogen wird, so wird das Bauteil mit MOS-Gate- Steuerung eingeschaltet, während, wenn dieser Anschlußstift unter 3,2 Volt gezogen wird, das Bauteil mit MOS-Gate-Steuerung abgeschaltet wird.
Im fehlerfreien Zustand wird das Eingangssignal zwischen einer
Spannung oberhalb der Rücksetzspannung, beispielsweise 2 Volt,
zum Abschalten des Bauteils, und einer Spannung oberhalb der
Setz-Spannung, beispielsweise 5 Volt, umgeschaltet, um das
Bauteil einzuschalten. Wenn das Bauteil aufgrund eines Fehler
zustandes abgeschaltet wird, der den Fehler-Signalspeicher
aus löst, so kann der Fehler-Signalspeicher nicht durch die
Eingangs-Abschaltspannung zurückgesetzt werden, weil diese höher
als die Rücksetzspannung ist. Damit wird der Signalspeicher erst
dann zurückgesetzt, wenn eine Spannung von weniger als 1 Volt an
den Eingang angelegt wird.
Es kann irgendeine gewünschte Eingangsschaltung mit drei Zustän
den verwendet werden. Bei einer Ausführungsform kann diese
Ansteuerung mit drei Zuständen beispielsweise von einem Micro
controller geliefert werden, bei dem die drei unterschiedlichen
Signale mit Hilfe eines Widerstands-Spannungsteilers erzeugt
werden, der aus Widerständen besteht, die zwei unterschiedliche
Werte aufweisen und in Serie längs der Eingangs- und Rücksetz-
Anschlüsse des Microcontrollers angeschaltet sind. Der Knoten
oder Verbindungspunkt zwischen den Widerständen ist dann mit dem
Eingangs-Anschlußstift der Halbleiterschaltung mit MOS-Gate-
Steuerung verbunden und weist eine Signalspannung mit drei
Zuständen oder Pegeln auf, die von den Signalpegeln der beiden
Ausgangsanschlüsse des Microcontrollers abhängen. Diese drei
Signalpegel können 0 Volt (zum Rücksetzen), 2 Volt (zum Abschal
ten des Halbleiterbauteils) und 5 Volt (zum Einschalten des
Halbleiterbauteils) sein. Es ist erkennbar, daß auch andere
Werte verwendet werden können.
Damit ergibt die erfindungsgemäße Leistungs-Halbleiterschaltung
die Wirkung eines getrennten Rücksetz-Eingangssignals für ein
geschütztes MOS-Gate-gesteuertes Halbleiterbauteil mit drei
Anschlußstiften.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden im folgenden anhand
der Zeichnungen noch näher erläutert.
In der Zeichnung zeigen.
Fig. 1 ein Blockschaltbild eines bekannten MOS-
Leistungs-Schalterkreises mit Schutzschaltungen,
Fig. 2 eine perspektivische Ansicht einer typischen
Gehäusebauform TO 220 mit drei Anschlußstiften,
die die Schaltung nach Fig. 1 aufnimmt,
Fig. 3a das Eingangssignal am Eingangs-Anschlußstift
der Schaltung nach Fig. 1 als Funktion der
Zeit,
Fig. 3b den Drain-Strom der Schaltung nach Fig. 1 auf
der gleichen Zeitskala wie in Fig. 3a bei
Vorliegen eines andauernden Fehlers,
Fig. 4 ein Blockschaltbild einer Ausführungsform der
geschützten Leistungs-Halbleiterschaltung gemäß
der Erfindung,
Fig. 5 ein Blockschaltbild der Analog-Ausgangsschaltung
zur Lieferung eines Eingangssignals mit drei
Pegeln an die Schaltung nach Fig. 4,
Fig. 6a das Eingangssignal an den Eingangs-Anschlußstift
nach Fig. 5, das von der Schaltung nach Fig. 5
als Funktion der Zeit erzeugt wird,
Fig. 6b den Drain-Strom der Schaltung nach Fig. 5 auf
der gleichen Zeitskala wie in Fig. 6a bei
Vorliegen eines andauernden Fehlers,
Fig. 7 die Hysteresecharakteristik der Schaltung nach
Fig. 4 zur Erzielung einer verbesserten
Störunempfindlichkeit.
In Fig. 1 ist ein Blockschaltbild eines bekannten geschützten
Schalterbauteils mit MOS-Steuerung gezeigt, bei dem die Schutz
schaltungen in das gleiche Halbleiterplättchen integriert sind,
wie das Leistungs-Halbleiterbauteil. Die Schaltung nach Fig. 1
entspricht der Schaltung, wie sie bei dem DMOS-Leistungs-Halb
leiterschalterkreis vom Typ IRSF 3010 (SMARTFET) verwendet wird,
der weiter oben erwähnt wurde.
In Fig. 1 ist das Leistungs-Halbleiterbauteil 10 ein Leistungs-
MOSFET mit Strommessung, der eine mit einem Drain-Anschlußstift
11 verbundene Drain-Elektrode, eine mit dem Source-Anschluß
stift 12 verbundene Source-Elektrode und eine Strommeß-Ausgangs
elektrode 13 aufweist, die in der gezeigten Weise mit einem
Widerstand 14 verbunden ist. Die MOSFET-Gate-Elektrode 15 ist
über einen Steuer-MOSFET 16 mit einem Eingangsanschluß 17
verbunden. Es ist zu erkennen, daß der MOSFET 10 irgendein
gewünschtes Bauteil mit MOS-Gate-Steuerung sein könnte,
beispielsweise ein IGBT oder ein Thyristor mit MOS-Gate-
Steuerung, wobei irgendeine gewünschte Strommeßanordnung
vorgesehen ist.
Die Steuerschaltungen für den MOSFET 10 sind dazu vorgesehen,
den MOSFET 10 gegen Fehlerzustände zu schützen, die anderenfalls
das Bauteil oder die von diesem gesteuerte Schaltung schädigen
oder zerstören könnten. Die Steuerschaltung könnte irgendeine
Form aufweisen, besteht jedoch in Fig. 1 aus dem genannten
Steuer-MOSFET 16, der in Serie mit dem Eingangskreis des Haupt-
MOSFET 10 geschaltet ist, und einem zweiten MOSFET 20, der
zwischen den Source- und Gate-Elektroden des Haupt-MOSFET 10
eingeschaltet ist. Weiterhin sind eine Vorspannungs-Versorgungs
schaltung 21a, die ihre Betriebsleistung von dem Eingangssignal
am Eingangs-Anschlußstift 17 ableitet, eine RS- (Rücksetz-Setz-)
Signalspeicherschaltung 21, Vergleicher 22 und 23, eine ODER-
Logikschaltung 24, eine Zenerdiode 25 und eine Klemmschaltungs-
Zenerdiode 26 und -Diode 28 vorgesehen.
Die Zenerdiode 25 ergibt einen Elektrostatik (ESD-) Schutz für
die Schaltung und begrenzt weiterhin die Eingangsspannung auf
beispielsweise 10 Volt.
Die Schaltung nach Fig. 1 ist innerhalb eines Blockes 30
gezeigt. Der Block 30 entspricht dem Silizium-Halbleiterplätt
chen, das die integrierte Schaltung trägt und üblicherweise in
dem drei Anschlüsse aufweisenden TO220-Gehäuse 31 nach Fig. 2
angeordnet ist. Das Gehäuse 31 weist einen Eingang-Anschlußstift
11, einen Drain-Anschlußstift (und Befestigungslasche) 17 und
einen Source-Anschlußstift 12 auf, die in Fig. 1 mit den
gleichen Bezugsziffern bezeichnet sind. Es sei darauf hinge
wiesen, daß das geschützte MOS-Leistungs-Halbleiterbauteil nach
den Fig. 1 und 2 direkt in eine Aufnahmevorrichtung oder
Schaltung und Befestigungseinrichtungen paßt, die für einen
üblichen ungeschützten Leistungs-MOSFET oder ein ähnliches
Halbleiterbauteil mit MOS-Gate-Steuerung ausgelegt sind.
Im folgenden wird die Betriebsweise der Schaltung nach Fig. 1
beschrieben. Eine Eingangssignalquelle, beispielsweise ein
Microcontroller liefert Eingangsimpulse an den Eingangsanschluß
17, um das Ein- und Abschalten des Drain-Stromes zwischen dem
Drain-Anschlußstift 11 und dem Source-Anschlußstift 12 nach
Wunsch des Benutzers zu steuern. Irgendeine geeignete Last ist
in Serie mit den Drain- und Source-Anschlußstiften 11 und 12
geschaltet, wie z. B. ein Gleichstrommotor-Antrieb, eine Magnet
spule, eine Anzeigelampe oder dergleichen. Das Bauteil kann mit
Frequenzen von unterhalb beispielsweise 40 kHz mit Eingangs-
Schwingungsformen geschaltet werden, die zwischen 0 und 5 Volt
umgeschaltet werden, um den MOSFET 10 aus- bzw. einzuschalten.
Fig. 3a zeigt eine typische Eingangssignal-Schwingungsform am
Anschlußstift 17, während Fig. 3b den resultierenden Drain-Strom
am Anschluß 11 auf der gleichen Zeitskala zeigt. Im Normalbe
trieb, wenn das Signal am Anschlußstift 17 eine Spannung von
5 Volt aufweist, ist der MOSFET 10 eingeschaltet. Der durch
das Stromsignal am Widerstand 14 hervorgerufene Spannungsabfall
ist kleiner als die Bezugsspannung VREF, und das Übertempera
tur-Signal Tj ist ebenfalls kleiner als die Bezugsspannung
VREF. Daher sind die Ausgangspegel der Vergleicher 22 und 23
niedrig, und das Eingangssignal am Anschluß R des R-S-Signal
speichers ist niedrig. Als Ergebnis weist der Ausgangsanschluß
Q einen hohen Pegel auf, wodurch der MOSFET 16 eingeschaltet
wird, während der Ausgangsanschluß einen niedrigen Pegel
aufweist, wodurch der MOSFET 20 im abgeschalteten Zustand
gehalten wird.
Wenn weiterhin der Normalbetrieb betrachtet wird, so ist, wenn
das Eingangssignal am Anschlußstift 17 eine Spannung von 0 Volt
aufweist, die Gate-Spannung des MOSFET 10 gleich Null, und das
Bauteil ist abgeschaltet. Wenn das Eingangssignal wieder auf
5 Volt geschaltet wird, schaltet der MOSFET 10 ein, und ein
Drain-Strom fließt, wie dies in dem ersten Teil der Fig. 3b
gezeigt ist, so daß das System normal arbeitet.
Wenn ein Überstrom- oder Übertemperatur-Zustand auftritt, wie
dies durch die Fehlerspitze "x" in Fig. 3b gezeigt ist, so
weisen entweder einer oder beide Vergleicher 22 einen hohen
Ausgangspegel auf, so daß der Ausgang der ODER-Logikschaltung
24 einen hohen Pegel annimmt. Dies bewirkt, daß der R-S-
Signalspeicher die Q- und -Ausgänge umschaltet, um den MOSFET
16 abzuschalten, wodurch der Eingangs-Anschlußstift 17 von dem
Gate des MOSFET 10 getrennt wird, wobei weiterhin der MOSFET 20
eingeschaltet wird, um den Source-Anschlußstift 12 auf das Gate
des MOSFET 10 zu klemmen. Daher schaltet der MOSFET 10 bei
Auftreten des Fehlerzustandes ab.
Nach einer vorgegebenen Zeitdauer wird der R-S-Signalspeicher
durch ein niedriges Eingangssignal am Eingangs-Anschlußstift 17
erneut gesetzt, d. h. in den normalen Betriebszustand zurückge
setzt. Der MOSFET 10 schaltet dann erneut ein, wenn ein
Einschaltsignal (ein hoher Vin-Pegel) am Eingangsanschluß 17
auftritt. Wenn jedoch der Fehlerzustand immer noch vorhanden
ist, so erscheint der Fehlerimpuls "Y" nach Fig. 3b, und der
Signalspeicher 21 wird erneut betätigt, wobei sich diese Folge
fortsetzt, bis der Fehler beseitigt wird oder die Zeitsteuerung
der Schaltung abläuft.
Dieser Zustand kann dadurch vermieden werden, daß ein getrennter
Rücksetz-Anschlußstift vorgesehen wird, um ein getrenntes Rück
setzsignal von der Microcontroller-Schaltung an den Signal
speicher 21 zu liefern, nachdem der Fehler beseitigt wurde. Es
ist jedoch sehr wünschenswert, die Konfiguration mit drei
Anschlußstiften gemäß Fig. 2 beizubehalten.
Gemäß der vorliegenden Erfindung wird eine neuartige Leistungs-
Halbleiterschaltung geschaffen, die eine Bauform mit drei
Anschlußstiften aufweist, bei der jedoch das Eingangs-
Einschaltsignal den Signalspeicher nach einem Fehlerzustand
nicht zurücksetzt.
Eine Ausführungsform der Schaltung gemäß der Erfindung ist
schematisch in Fig. 4 gezeigt, und deren neuartige Signalquelle
ist in Fig. 5 gezeigt. Den Bauteilen nach Fig. 1 ähnliche Bau
teile sind in Fig. 4 mit den gleichen Bezugsziffern bezeichnet.
Die Schaltung nach Fig. 4 ist jedoch dadurch modifiziert, daß
dem R-S-Signalspeicher 21 eine Schmitt-Trigger-Schaltung 41
zugeordnet ist, die eine Triggerspannung aufweist, die höher als
die Rücksetz-Schwellenwertspannung des Signalspeichers 21 ist.
Beispielsweise weist der Signalspeicher 21 eine Rücksetz-Schwel
lenwertspannung von 1 Volt auf, während die Triggerschaltung 41
einen Schwellenwert von 3,5 Volt aufweist. Das Ausgangssignal
der Triggerschaltung 41 und das -Ausgangssignal des Signal
speichers 21 werden den Eingängen einer UND-Logikschaltung 42
zugeführt. Der Ausgangssignal der UND-Schaltung 42 wird dem Gate
des Steuer-MOSFET 16 und dem Eingang eines Inverters 43 zuge
führt. Das Ausgangssignal des Inverters 43 wird dem Gate des
Steuer-MOSFET 20 zugeführt. Der Rücksetz-Schwellenwert des
Signalspeichers 21 am Eingang beträgt bei der beschriebenen
Ausführungsform 1 Volt. D.h., daß die Spannung am Anschlußstift
1 Volt oder weniger betragen muß, damit der Signalspeicher
21 zurückgesetzt wird. Entsprechend reagiert die Schaltung nach
Fig. 4 in der folgenden Weise auf drei unterschiedliche
Eingangssignalpegel am Eingangsanschluß 17.
Wenn das Eingangssignal 5 Volt beträgt und kein Fehlerzustand
vorliegt, so weisen die Eingangssignale an die UND-Logik-Schal
tung 42 einen hohen Pegel auf, der MOSFET 16 ist eingeschaltet
und der MOSFET 20 ist abgeschaltet.
Wenn die Eingangsspannung auf 2 Volt verringert wird, wird die
Triggerschaltung 41 betätigt, und das Ausgangssignal der Trig
gerschaltung 41 weist einen niedrigen Pegel auf. Daher ist das
Ausgangssignal der UND-Logikschaltung 42 niedrig, der MOSFET 16
schaltet ab und der MOSFET 20 schaltet ein, um den Haupt-
Leistungs-MOSFET 10 abzuschalten. Diese Betriebsweise ist
schematisch in den Fig. 6a und 6b gezeigt. Solange das Eingangs
signal zwischen 2 und 5 Volt umgeschaltet wird, arbeitet das
Bauteil in der gleichen Weise wie die bekannte Leistungs-Halb
leiterschaltung nach Fig. 1, wenn deren Eingangssignal zwischen
0 und 5 Volt umgeschaltet wird. Es sei darauf hingewiesen, daß
der Signalspeicher 21 während dieser Zeit nicht zurückgesetzt
wird.
Wenn nunmehr ein Fehler auftritt, so wird der Signalspeicher 21
betätigt und der Ausgangsanschluß nimmt einen niedrigen
Pegel an, so daß der MOSFET 16 abgeschaltet und der MOSFET 20
eingeschaltet bleibt. Dieser Zustand setzt sich fort, bis ein
drittes Rücksetzsignal unterhalb der Rücksetz-Schwellenwert-
Spannung des Signalspeichers 21, vorzugsweise 0 Volt, an den
Eingang 17 angelegt wird. Wenn der Eingangs-Anschlußstift 17
unter eine Spannung von 1 Volt gezogen wird, wird der Fehler-
Signalspeicher 21 zurückgesetzt, so daß der Normalbetrieb
fortgesetzt werden kann, wie dies in Fig. 7 gezeigt ist.
Fig. 5 zeigt eine neuartige Eingangsschaltung zur Erzeugung von
drei unterschiedlichen Spannungspegeln an dem Eingangsanschluß
unter irgendeiner geeigneten Steuerung, beispielsweise durch
einen Microcontroller 50. Der Microcontroller 50 weist einen
Eingangs-(IN-)Anschluß und einen Rücksetz-(RESET-)Anschluß
auf. Die Spannung an dem IN-Anschluß kann eine Rechteck-
Schwingung mit gesteuertem Tastverhältnis sein, die zwischen
0 und 5 Volt umschaltet, wie dies von dem Benutzer gewünscht
wird. Die Spannung am -Anschluß kann 5 Volt betragen, sie
kann jedoch für Rücksetzzwecke auf 0 Volt geschaltet werden.
Ein Widerstands-Spannungsteiler, der aus Widerständen 51 und 52
mit beispielsweise 2000 Ohm bzw. 3000 Ohm besteht, ist längs
der Anschlüsse IN und RESET eingeschaltet, wobei die Widerstände
einen gemeinsamen Verbindungspunkt 53 aufweisen. Die Widerstände
51 und 52 können den gleichen Wert oder andere Werte als die
angegebenen aufweisen. Der Verbindungspunkt 53 ist mit dem
Eingangs-Anschlußstift 17 nach Fig. 4 verbunden.
Die Schaltung nach Fig. 5 ergibt eine Ansteuerung mit drei
Zuständen, wobei einfach zwei Logik-Ausgänge und der Wider
stands-Spannungsteiler verwendet werden, und sie arbeitet
wie folgt:
Um ein Ausgangssignal von 5 Volt zu erzeugen, nimmt der IN- Anschluß einen Pegel von 5 Volt an, während der - Anschluß einen Pegel von 5 Volt annimmt. Die Spannung am Verbindungspunkt 53 beträgt dann ebenfalls 5 Volt.
Um ein Ausgangssignal von 5 Volt zu erzeugen, nimmt der IN- Anschluß einen Pegel von 5 Volt an, während der - Anschluß einen Pegel von 5 Volt annimmt. Die Spannung am Verbindungspunkt 53 beträgt dann ebenfalls 5 Volt.
Um ein Ausgangssignal mit 2 Volt zu erzeugen, nimmt der IN-
Anschluß einen Pegel von 0 Volt an, während der -
Anschluß auf 5 Volt bleibt. Das Widerstands-Spannungsteiler-
Verhältnis ist derart, daß 2 Volt am Verbindungspunkt 53
erzeugt werden.
Damit eine Spannung von 0 Volt am Verbindungspunkt 53 erzeugt
wird (zum Rücksetzen des Signalspeichers 21), ist es lediglich
erforderlich, daß die Spannung am -Anschluß auf 0 Volt
gebracht wird, und daß auch die Spannung am Anschluß IN 0 Volt
beträgt.
Es sei bemerkt, daß die Erfindung über irgendeinen gewünschten
Bereich von Spannungen verwendet werden kann, solange die
Rücksetzspannung für den Fehler-Signalspeicher niedriger als
die niedrige Signalspannung zum Abschalten des MOSFET 10 im
fehlerfreien Betrieb ist.
Wie dies weiter oben erläutert wurde, weist die Schaltung nach
Fig. 4 aufgrund der Verwendung der Schmitt-Trigger-Schaltung 41
eine Hysterese auf. Entsprechend ist in Fig. 7 die Kurve des
Drain-Stromes ID als Funktion der Eingangsspannung Vgs am
Gate des MOSFET 10 dargestellt. Wenn die Eingangsspannung
Vgs des MOSFET 10 ansteigt, arbeitet die Triggerschaltung 41
bei einem Wert 1, der oberhalb von 3,5 Volt liegt, und der
MOSFET 10 schaltet ein und es fließt ein Strom ID. Beim
Abschalten sinkt die Gate-Spannung jedoch unter den Wert, den
sie beim Einschalten hatte, auf einen zweiten Wert von weniger
als ungefähr 3,5 Volt ab. Dieser Hystereseeffekt ergibt eine
gute Störunempfindlichkeit für die Schaltung.
Obwohl die vorliegende Erfindung unter Bezugnahme auf eine
spezielle Ausführungsform beschrieben wurde, sind vielfältige
Abänderungen und Modifikationen sowie andere Anwendungen für
den Fachmann ohne weiteres zu erkennen.
Claims (11)
1. Steuerschaltung für eine Leistungs-Halbleiterschaltung
mit MOS-Gate-Steuerung, wobei die Leistungs-Halbleiterschaltung
erste und zweite Haupt-Anschlußstifte und einen Eingangs-
Anschlußstift aufweist, von denen der Eingangs-Anschlußstift das
Ein- und Ausschalten der Leistungs-Halbleiterschaltung mit
MOS-Gate-Steuerung zwischen deren Haupt-Anschlußstiften steuert
und die Leistungs-Halbleiterschaltung ein Leistungs-Halbleiter
bauteil mit MOS-Gate-Steuerung und ersten und zweiten Hauptelek
troden, die mit den ersten und zweiten Hauptanschlußstiften
verbunden sind, und eine Eingangs-Elektrode aufweist,
dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerschaltung Schutzschal
tungs-Einrichtungen (14, 22, 23) zur Überwachung von zumindest
einem Betriebszustand des Leistungs-Halbleiterbauteils (10) mit
MOS-Gate-Steuerung und zum Abschalten des Leistungs-Halbleiter
bauteils mit MOS-Gate-Steuerung einschließt, wenn der Betriebs
zustand einen vorgegebenen Wert übersteigt, daß die Steuer
schaltung weiterhin zumindestens eine erste Steuer-MOSFET-
Einrichtung (16) einschließt, die zwischen dem Eingangs-
Anschlußstift (17) und der Eingangs-Elektrode eingeschaltet ist,
um das Einschalten und Abschalten des Leistungs-Halbleiterbau
teils mit MOS-Gate-Steuerung zu steuern, wenn ein Einschalt
signal an den Eingangs-Anschlußstift (17) angelegt wird, daß
erste Schaltungseinrichtungen (41, 42) den Eingangs-Anschluß
stift (17) mit den Steuer-MOSFET-Einrichungen (16) koppeln, um
die ersten Steuer-MOSFET-Einrichtungen (16) und das Leistungs-
Halbleiterbauteil (10) mit MOS-Gate-Steuerung in Abhängigkeit
von Signalen mit ersten und zweiten Spannungswerten ein- bzw.
abzuschalten, daß eine rücksetzbare Signalspeicher-Schaltungs
einrichtung (21) einen mit den Schutzschaltungs-Einrichtungen
(14, 22, 23, 24) gekoppelten Eingang und einen mit den ersten
Steuer-MOSFET-Einrichtungen (16) gekoppelten Ausgang derart
aufweist, daß die Signalspeicher-Einrichtung (21) in Abhängig
keit von einem Ausgangssignal der Schutzschaltungs-Einrichtungen
(14, 22, 23, 24) in einen ersten Verriegelungszustand geschaltet
wird, um die ersten Steuer-MOSFET-Einrichtungen (16) abzuschal
ten, so daß das Leistungs-Halbleiterbauteil (10) mit MOS-Gate-
Steuerung abschaltet, und daß Einrichtungen vorgesehen sind,
die rücksetzbare Signalspeicher-Schaltungseinrichtung (21) mit
dem Eingang der Signalspeicher-Einrichtung koppeln, um die
Signalspeicher-Einrichtung in Abhängigkeit von einem Signal mit
einem dritten Spannungswert zurückzuetzen, der niedriger als der
niedrigste der ersten und zweiten Spannungswerte ist, so daß die
Leistungs-Halbleiterschaltung mit MOS-Gate-Steuerung durch drei
jeweilige Signale mit ersten, zweiten und dritten Spannungen,
die voneinander unterscheidbar sind und dem Eingangsanschluß
(17) zugeführt werden, eingeschaltet, ausgeschaltet bzw. nach
einem Fehler zurückgesetzt wird.
2. Leistungs-Halbleiterschaltung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Leistungs-Halbleiterschaltung
mit MOS-Gate-Steuerung in einem Gehäuse der Bauform TO 220 mit
drei Anschlußstiften angeordnet ist.
3. Leistungs-Halbleiterschaltung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß die Schutzschaltungs-Einrichtungen
eine Strommeßschaltung (14, 22) und eine Temperaturmeßschaltung
(23) einschließen.
4. Leistungs-Halbleiterschaltung nach einem der Ansprüche
1-3,
dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerschaltung einen zweiten
Steuer-MOSFET (20) einschließt, der zwischen der Eingangs-
Elektrode und einer der Hauptelektroden des Leistungs-Halb
leiterbauteils mit MOS-Gate-Steuerung eingeschaltet ist, wobei
der leitfähige Zustand des zweiten MOSFET (20) das Leistungs-
Halbleiterbauteil (10) mit MOS-Gate-Steuerung abschaltet, daß
der zweite Steuer-MOSFET mit dem Eingangs-Anschlußstift (17)
und den Signalspeicher-Einrichtungen (21) derart verbunden ist,
daß, wenn die erste Steuer-MOSFET-Einrichtung (16) ein- oder
ausgeschaltet ist, der zweite Steuer-MOSFET (20) aus- bzw.
eingeschaltet ist.
5. Steuerschaltung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die Signalspeicher-Einrichtung eine
R-S-Signalspeicherschaltung (21) ist.
6. Steuerschaltung nach einem der Ansprüche 1-5,
dadurch gekennzeichnet, daß die ersten, zweiten und dritten
Spannungen unterschiedliche Spannungswerte von ungefähr 5 Volt,
ungefähr 2 Volt bzw. ungefähr 0 Volt aufweisen.
7. Steuerschaltung nach einem der Ansprüche 1-6,
dadurch gekennzeichnet, daß die ersten Schaltungseinrichtungen
eine Schmitt-Trigger-Schaltung (41) einschließen.
8. Steuerschaltung nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet, daß die ersten Schaltungseinrichtungen
weiterhin eine Inverterschaltung (43) einschließen, die einen
mit dem Ausgang der Schmitt-Trigger-Schaltung (41) und dem
Eingang der ersten Steuer-MOSFET-Einrichtung (16) verbundenen
Eingang und einen Ausgang aufweist, der mit dem Eingang des
zweiten Steuer-MOSFET (20) verbunden ist.
9. Steuerschaltung nach Anspruch 9,
dadurch gekennzeichnet, daß eine UND-Logikschaltung vorgesehen
ist, die einen ersten mit dem Ausgang der Schmitt-Trigger-
Schaltung (41) verbundenen Eingang, einen zweiten, mit einem
Ausgang der Signalspeicher-Schaltungseinrichtung (21)
verbundenen Eingang und einen Ausgang aufweist, der mit dem
Eingang der Inverterschaltung (43) verbunden ist.
10. Steuerschaltung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß eine Eingangsschaltung (51, 52, 53)
vorgesehen ist, die mit dem Eingangs-Anschlußstift (17) verbun
den ist, daß die Eingangsschaltung Einrichtungen zum selektiven
Erzeugen der ersten, zweiten und dritten Signalspannungen auf
weist, daß die Eingangsschaltung erste und zweite Ausgangsan
schlüsse (IN, RESET), die jeweils selektiv zwischen ersten und
zweiten jeweiligen Ausgangsspannungen umschaltbar sind, und eine
Widerstands-Spannungsteilerschaltung (51, 52) einschließt, die
längs der ersten und zweiten Ausgangsanschlüsse angeschaltet ist
und einen Verbindungspunkt (53) aufweist, der mit dem Eingangs-
Anschlußstift (17) verbunden ist.
11. Steuerschaltung nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet, daß die Widerstandswerte der Teiler-
Schaltung auf entgegengesetzten Seiten des Verbindungspunktes
unterschiedlich sind.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19614354C2 DE19614354C2 (de) | 1998-11-05 |
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ID=23665457
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Country | Link |
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US (1) | US5563759A (de) |
JP (1) | JP3040342B2 (de) |
KR (1) | KR100197913B1 (de) |
DE (1) | DE19614354C2 (de) |
FR (1) | FR2733099A1 (de) |
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KR960039047A (ko) | 1996-11-21 |
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JP3040342B2 (ja) | 2000-05-15 |
DE19614354C2 (de) | 1998-11-05 |
SG52684A1 (en) | 1998-09-28 |
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ITMI960687A0 (de) | 1996-04-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8328 | Change in the person/name/address of the agent |
Representative=s name: DR. WEITZEL & PARTNER, 89522 HEIDENHEIM |
|
R071 | Expiry of right |