DE19520034A1 - Verfahren zur Herstellung elektrisch isolierender, mechanisch spannungsarmer und permanenter Verbindungen - Google Patents
Verfahren zur Herstellung elektrisch isolierender, mechanisch spannungsarmer und permanenter VerbindungenInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 44
- 230000008569 process Effects 0.000 title claims abstract description 16
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 8
- RMAQACBXLXPBSY-UHFFFAOYSA-N silicic acid Chemical class O[Si](O)(O)O RMAQACBXLXPBSY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 18
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical class O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 61
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 12
- 239000000654 additive Substances 0.000 claims description 9
- OIFBSDVPJOWBCH-UHFFFAOYSA-N Diethyl carbonate Chemical group CCOC(=O)OCC OIFBSDVPJOWBCH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 6
- CRVGTESFCCXCTH-UHFFFAOYSA-N methyl diethanolamine Chemical compound OCCN(C)CCO CRVGTESFCCXCTH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- YIKSHDNOAYSSPX-UHFFFAOYSA-N 1-propan-2-ylthioxanthen-9-one Chemical compound S1C2=CC=CC=C2C(=O)C2=C1C=CC=C2C(C)C YIKSHDNOAYSSPX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 claims description 4
- 238000009835 boiling Methods 0.000 claims description 4
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 3
- 239000005350 fused silica glass Substances 0.000 claims description 3
- 238000005496 tempering Methods 0.000 claims description 3
- XXBDWLFCJWSEKW-UHFFFAOYSA-N dimethylbenzylamine Chemical compound CN(C)CC1=CC=CC=C1 XXBDWLFCJWSEKW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- RPNUMPOLZDHAAY-UHFFFAOYSA-N Diethylenetriamine Chemical compound NCCNCCN RPNUMPOLZDHAAY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims 1
- QSAWQNUELGIYBC-UHFFFAOYSA-N cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid Chemical compound OC(=O)C1CCCCC1C(O)=O QSAWQNUELGIYBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 150000004678 hydrides Chemical class 0.000 claims 1
- 238000006068 polycondensation reaction Methods 0.000 claims 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 2
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 2
- 239000013557 residual solvent Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 101100400378 Mus musculus Marveld2 gene Proteins 0.000 description 1
- 101150049168 Nisch gene Proteins 0.000 description 1
- 229920000297 Rayon Polymers 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- IJKVHSBPTUYDLN-UHFFFAOYSA-N dihydroxy(oxo)silane Chemical class O[Si](O)=O IJKVHSBPTUYDLN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 235000013601 eggs Nutrition 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- NQLVQOSNDJXLKG-UHFFFAOYSA-N prosulfocarb Chemical compound CCCN(CCC)C(=O)SCC1=CC=CC=C1 NQLVQOSNDJXLKG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B41/00—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
- C04B41/45—Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements
- C04B41/46—Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements with organic materials
- C04B41/49—Compounds having one or more carbon-to-metal or carbon-to-silicon linkages ; Organo-clay compounds; Organo-silicates, i.e. ortho- or polysilicic acid esters ; Organo-phosphorus compounds; Organo-inorganic complexes
- C04B41/4905—Compounds having one or more carbon-to-metal or carbon-to-silicon linkages ; Organo-clay compounds; Organo-silicates, i.e. ortho- or polysilicic acid esters ; Organo-phosphorus compounds; Organo-inorganic complexes containing silicon
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J183/00—Adhesives based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Adhesives based on derivatives of such polymers
- C09J183/02—Polysilicates
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J5/00—Adhesive processes in general; Adhesive processes not provided for elsewhere, e.g. relating to primers
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- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L24/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2111/00—Mortars, concrete or artificial stone or mixtures to prepare them, characterised by specific function, property or use
- C04B2111/00474—Uses not provided for elsewhere in C04B2111/00
- C04B2111/00637—Uses not provided for elsewhere in C04B2111/00 as glue or binder for uniting building or structural materials
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B2111/00—Mortars, concrete or artificial stone or mixtures to prepare them, characterised by specific function, property or use
- C04B2111/00474—Uses not provided for elsewhere in C04B2111/00
- C04B2111/00844—Uses not provided for elsewhere in C04B2111/00 for electronic applications
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/28—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process
- H01L2224/29—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors prior to the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/29001—Core members of the layer connector
- H01L2224/29099—Material
- H01L2224/2919—Material with a principal constituent of the material being a polymer, e.g. polyester, phenolic based polymer, epoxy
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8319—Arrangement of the layer connectors prior to mounting
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- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/838—Bonding techniques
- H01L2224/8385—Bonding techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone, epoxy, polyimide, polyester
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01005—Boron [B]
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- H01L2924/06—Polymers
- H01L2924/078—Adhesive characteristics other than chemical
- H01L2924/07802—Adhesive characteristics other than chemical not being an ohmic electrical conductor
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf Verfahren zur
Herstellung elektrisch isolierender mechanisch spannungs
armer und permanenter Verbindungen zwischen zu verbindenden
Bauteilen. Insbesondere liefert das erfindungsgemäße Verfah
ren eine neuartige Verbindungstechnik für mikroelektroni
sche, mikromechanische und mikrooptische Materialien, Bau
elemente und Komponenten (im folgenden Fügepartner). Das er
findungsgemäße Verfahren liefert ein neuartiges Verfahren
zur Herstellung elektrisch isolierender Verbindungen von ak
tiven und passiven Halbleitern, Leitern und Isolatoren.
Es existieren verschiedene Verfahren, die derzeit bei der
Aufbau- und Verbindungstechnik mikroelektronischer Systeme
zur Herstellung elektrisch isolierender Verbindungen von zu
verbindenden Bauteilen verwendet werden.
Eine bekannte Verbindungstechnik ist das anodische Bonden.
Das anodische Bonden ermöglicht eine permanente Verbindung
von Silizium und Glas durch das Anlegen einer starken elek
trischen Gleichspannung zwischen Glas und Silizium. Das
durch die elektrische Gleichspannung erzeugte elektrische
Feld bewirkt ein Wandern von Kationen in die Richtung zu der
Kathode. Diese Kationen werden immobil, das heißt sie setzen
sich fest, sobald das elektrische Feld abgeschaltet wird.
Dadurch baut sich eine Raumladungszone auf, die bewirkt, daß
die elektrostatische Coulomb-Kraft die zu verbindenden Bau
teile fest zusammenhält. Der Nachteil dieses Verfahrens be
steht darin, daß eine Spannung in einem Bereich von U =
(500 . . . 1000) V angelegt werden muß. Außerdem wird, um die
Wanderung der Ionen zu unterstützen, der Wafer auf eine Tem
peratur von T = (400 . . . 500)°C erwärmt.
Ein weiteres herkömmliches Verfahren zur Herstellung einer
Verbindung zweier zu verbindender Bauteile besteht darin,
herkömmliche Klebstoffe, wie z. B. Zweikomponentenkleber, die
auf Epoxidharz oder Polyimid basieren, zu verwenden. Diese
Verfahren besitzen den Vorteil einer niedrigen Verarbei
tungstemperatur, weisen jedoch eine Glasübergangstemperatur
von unter TG = 100°C. (Epoxid) bzw. TG = 280°C (Polyimid)
auf. Ein weiteres Problem sind Belastungen, die bei der Ver
wendung von Polyimid durch Schrumpfung induziert werden. Das
Vorliegen von Alkali-Ionen, die auf Aluminiumleiterbahnen
korrosiv wirken können, stellt ein weiteres Problem dar. Au
ßerdem ist bei einigen Klebeverfahren ein Druck auf die zu
verbindenden Bauelemente notwendig, dem die Bauelemente bzw.
Strukturen in der Mikrosystemtechnik nicht ausgesetzt werden
dürfen.
Ausgehend von dem genannten Stand der Technik besteht die
Aufgabe der vorliegenden Erfindung darin, ein einfaches und
wenig aufwendiges Verfahren zur Herstellung elektrisch iso
lierender, mechanisch spannungsarmer, thermisch unkritischer
und permanenter Verbindungen zwischen zu verbindenden Bau
teilen zu schaffen.
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren gemäß Patentanspruch
1 gelöst.
Die vorliegende Erfindung schafft ein Verfahren zur Herstel
lung elektrisch isolierender, mechanisch spannungsarmer und
permanenter Verbindungen zwischen zu verbindenden Bauteilen,
das durch folgende Schritte gekennzeichnet ist: Einbringen
von Zusatzstoffen in ein organisch modifiziertes Kieselsäu
re-Polykondensat oder organisch modifiziertes Kieselsäure-
Heteropolykondensat, um Eigenschaften des organisch modifi
zierten Kieselsäure-Polykondensats oder organisch modifi
zierten -Kieselsäure-Heteropolykondensats einzustellen; Auf
bringen des organisch modifizierten Kieselsäure-Polykonden
sats oder organisch modifizierten Kieselsäure-Heteropolykon
densats auf einen Fügepartner; Auflegen der weiteren Füge
partner auf das organisch modifizierte Kieselsäure-Polykon
densat oder das organisch modifizierte Kieselsäure-Heteropo
lykondensat; und Aushärten des organisch modifizierten Kie
selsäure-Polykondensats oder organisch modifizierten Kiesel
säure-Heteropolykondensats.
Nach dem Schritt des Aufbringens des organisch modifizierten
Kieselsäure-Polykondensats oder organisch modifizierten Kie
selsäure-Heteropolykondensats ist es vorteilhaft, den ersten
Fügepartner und das aufgebrachte organisch modifizierte Kie
selsäure-Polykondensat oder organisch modifizierte Kiesel
säure-Heteropolykondensat einer Temperaturbehandlung bei
Temperaturen unter 100°C zu unterziehen, um etwaiges Restlö
sungsmittel aus dem organisch modifizierten Kieselsäure-Po
lykondensat oder organisch modifizierten Kieselsäure-Hetero
polykondensat zu treiben.
Durch das Einbringen von Zusatzstoffen in das organisch mo
difizierte Kieselsäure-Polykondensat oder organisch modifi
zierte Kieselsäure-Heteropolykondensat vor dem Aufbringen
desselben auf das erste zu verbindende Bauteil können Para
meter desselben eingestellt werden, um eine Schicht defi
nierter Viskosität zu erhalten, die geeignet ist, eine Ver
bindung von Fügepartnern mit günstigen Eigenschaften zu er
halten. Diese Zusatzstoffe können Amine und Lösungsmittel
sein.
Das erfindungsgemäße Verfahren ermöglicht es erstmalig, be
liebige Kombinationen von metallischen, isolierenden oder
halbleitenden Oberflächen bei Temperaturen ab T = 80°C mit
einer dünnen Verbindungsschicht miteinander zu verbinden.
Die niedrige Prozeßtemperatur und die Möglichkeit, sehr dün
ne Verbindungsschichten zu erhalten, sind für viele Anwen
dungen in der Mikrosystemtechnik wichtig. In finanzieller
Hinsicht ist durch die Erfindung eine wesentliche Reduzie
rung der Herstellungskosten von Produkten zu erwarten, da
teuere Materialien, wie z. B. Polyimid, bzw. Prozesse, wie
z. B. die Sputtertechnik, vermieden werden.
Das erfindungsgemäße Verfahren weist gegenüber bekannten
Verfahren zum Verbinden von zu verbindenden Bauteilen mehre
re Vorteile auf. Es kann als Niedertemperaturprozeß bei Tem
peraturen ab T = 80°C durchgeführt werden. Die entstehende
Verbindung der Fügepartner ist bis T = 300°C temperaturbe
ständig. Ferner ist es ein mechanisch druckloses Verbin
dungsverfahren, wobei auf die zu verbindenden Bauteile kein
Druck ausgeübt werden muß. Die Dicke der Verbindungsschich
ten kann bis in den Sub-Mikrometerbereich reduziert werden.
In der Verbindungsschicht werden nur geringe mechanische Ei
genspannungen erzeugt. Ferner können Verbindungen gemäß dem
erfindungsgemäßen Verfahren ohne das Anlegen elektrischer
Spannungen erzeugt werden. Die Klebefuge zeigt eine Durch
schlagfestigkeit bis zu Feldstärken von max. 400 V/µm. In
dem organisch modifizierten Kieselsäure-Polykondensat oder
organisch modifizierten Kieselsäure-Heteropolykondensat be
finden sich keine Alkali-Ionen, die eine korrosive Wirkung
ausüben könnten. Schließlich ist das Verfahren kostengünstig
und einfach.
Das erfindungsgemäße Verfahren basiert auf der Verwendung
von organisch modifizierten Kieselsäure-Polykondensaten oder
organisch modifizierten Kieselsäure-Heteropolykondensaten
als Verbindungsstoff zur Verbindung von Fügepartnern. Die
organisch modifizierten Kieselsäure-Polykondensate oder
organisch modifizierten Kieselsäure-Heteropolykondensate
werden durch Zusatzstoffe derart ergänzt, daß die für die
Verbindungsbildung notwendigen Eigenschaften der organisch
modifizierten Kieselsäure-Polykondensate oder organisch
modifizierten Kieselsäure-Heteropolykondensate, wie z. B. das
Elastizitätsmodul, die Fugenbreite und die Maximaltemperatur
angepaßt werden können. Es ist wichtig, die geeigneten Sub
stanzen im richtigen Mischungsverhältnis zu finden, um in
Einklang mit dem darauffolgenden Aufbringungsverfahren und
der folgenden Temperaturbehandlung eine viskose Schicht zu
erhalten, die geeignet ist, die zu verbindenden Bauteile mit
den oben beschriebenen günstigen Eigenschaften zu verbinden.
Zum Einstellen der Parameter haben sich Amine, wie z. B. N-
Methyldiethanolamin (N-MDEA), N-Benzyldimethylamin, Diethy
lentriamin (DETA), Hexahydrophthalsäureanhydrid und Isopro
pylthioxanthon (IPT), als vorteilhaft erwiesen. Um die
Schichtdicke einzustellen, können ferner Lösungsmittel, wie
z. B. Diethylcarbonat (DEC), mit einer Siedetemperatur unter
TBP= 160°C verwendet werden.
Das organisch modifizierte Kieselsäure-Polykondensat oder
organisch modifizierte Kieselsäure-Heteropolykondensat kann
z. B. mittels einer Schleudervorrichtung, in die ein erstes
zu verbindendes Bauteil positioniert wird, auf den ersten
Fügepartner aufgebracht werden. Das organisch modifizierte
Kieselsäure-Polykondensat oder organisch modifizierte Kie
selsäure-Heteropolykondensat wird bei Drehzahlen zwischen
400 und 8000 U·min-1 mit der gewünschten Dicke aufgeschleu
dert, wobei im Falle der Verwendung des Lösungsmittels ein
Großteil desselben verdampft. Nachfolgend wird eine Tempe
rung bei Temperaturen unter 100°C durchgeführt, wodurch
Restlösungsmittel ausgetrieben wird. Anschließend wird das
zweite oder weitere zu verbindende Bauteile auf die Viskose
schicht, die aus dem organisch modifizierten Kieselsäure-Po
lykondensat oder organisch modifizierten Kieselsäure-Hetero
polykondensat und eventuell verwendeten Zusatzstoffen be
steht, aufgelegt. Die Verbindungsschicht wird abschließend
bei Temperaturen bis zu 300°C ausgehärtet.
Ein Ausführungsbeispiel behandelt die Problematik, Druck
sensoren, die als dreidimensional geätzte Strukturen mit
elektronischen Schaltkreisen in Silizium vorliegen, auf ein
Substrat zu kleben, das ganzflächig mit Bohrlöchern von 1,7 mm
Durchmesser versehen ist. Die maximale zukünftige Ein
satztemperatur des Mikrosystems beträgt 120°C. Zum Herstel
len der Verbindung zwischen den Drucksensoren und dem Sili
ziumsubstrat wurde ein Verbindungsstoff, d. h. ein organisch
modifiziertes Kieselsäure-Polykondensat oder organisch modi
fiziertes Kieselsäure-Heteropolykondensat mit Zusatzstoffen,
mit einer geringen Viskosität gewählt, um ein Zufließen der
Bohrungen zu verhindern. Aus diesem Grund wurde das orga
nisch modifizierte Kieselsäure-Polykondensat oder organisch
modifizierte Kieselsäure-Heteropolykondensat zu gleichen
Teilen mit Diethylcarbonat (DEC) als Lösungsmittel verdünnt.
DEC besitzt eine Siedetemperatur von 121°C. Aufgrund seiner
nicht allzu niedrigen Siedetemperatur ermöglicht dieses Lö
sungsmittel geringe Schichtdicken. Ferner wurden dem orga
nisch modifizierten Kieselsäure-Polykondensat oder organisch
modifizierten Kieselsäure-Heteropolykondensat 3% N-MDEA und
IPT hinzugefügt, um den Aushärtungsvorgang beim abschließen
den Aushärtungsschritt zu beschleunigen und andererseits das
Elastizitätsmodul zu vergrößern, um eine Druckfestigkeit der
Verbindungsschicht zu gewährleisten, was bei herkömmlichen
Verfahren nicht gegeben war.
Das modifizierte organisch modifizierte Kieselsäure-Polykon
densat oder organisch modifizierte Kieselsäure-Heteropoly
kondensat wurde bei 4000 U·min-1 für 90 Sekunden aufge
schleudert. Der nachfolgende Temperschritt wurde bei 70°C
für 5 Minuten auf einer Heizplatte durchgeführt. Auf das
Auflegen der Drucksensoren folgte der Aushärtungsschritt. Um
einen allzu großen Temperaturgradienten zu vermeiden, wurde
das Mikrosystem in Abständen von 5 Minuten zunächst auf
100°C, dann auf 130°C und schließlich auf 150°C erhitzt, um
bei der letztgenannten Temperatur für 6 Stunden ausgehärtet
zu werden. Die Temperatur von 150°C wurde bewußt gewählt, um
zu gewährleisten, daß das System den spezifizierten Arbeits
bereich sicher einhalten kann.
Gemäß dem erfindungsgemäßen Verfahren ist es somit möglich,
elektrisch isolierende, mechanisch spannungsarme, Tempera
tur-unkritische und permanente Verbindungen zwischen zu ver
bindenden Bauteilen einfach und kostengünstig herzustellen.
Es ist ferner möglich, extrem dünne Verbindungsschichten
herzustellen. Das erfindungsgemäße Verfahren kann verwendet
werden, um alle Kombinationen von metallischen, isolierenden
oder halbleitenden Oberflächen miteinander zu verbinden. Da
bei sind die niedrige Prozeßtemperatur und die Fähigkeit,
sehr dünne Verbindungsschichten zu erhalten, für viele An
wendungen in der Mikrosystemtechnik wichtig. Da teuere Ma
terialien bei dem erfindungsgemäßen Verfahren nicht benötigt
werden, stellt die Erfindung bezüglich bekannter Verfahren
ferner eine Verbesserung im finanziellen Bereich dar.
Claims (11)
1. Verfahren zur Herstellung elektrisch isolierender, me
chanisch spannungsarmer und permanenter Verbindungen
zwischen zu verbindenden Bauteilen, gekennzeichnet
durch folgende Schritte:
- 1.1 Einbringen von Zusatzstoffen in ein organisch mo difiziertes Kieselsäure-Polykondensat oder orga nisch modifiziertes Kieselsäure-Heteropolykonden sat, um Eigenschaften des organisch modifizierten Kieselsäure-Polykondensats oder organisch modifi zierten Kieselsäure-Heteropolykondensats einzu stellen;
- 1.2 Aufbringen des organisch modifizierten Kieselsäu re-Polykondensats oder organisch modifizierten Kieselsäure-Heteropolykondensats auf ein erstes zu verbindendes Bauteil;
- 1.3 Auflegen eines zweiten oder weiterer zu verbinden der Bauteile auf das organisch modifizierte Kie selsäure-Polykondensat oder organisch modifizierte Kieselsäure-Heteropolykondensat; und
- 1.4 Aushärten des organisch modifizierten Kieselsäu re-Polykondensats oder organisch modifizierten Kieselsäure-Heteropolykondensats.
2. Verfahren gemäß Anspruch 1, ferner gekennzeichnet durch
folgenden Schritt:
- 2.1 Tempern des ersten zu verbindenden Bauteils und des auf dasselbe aufgebrachten organisch modifi zierten Kieselsäure-Polykondensats oder organisch modifizierten Kieselsäure-Heteropolykondensats vor dem Schritt 1.3.
3. Verfahren gemäß Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich
net,
daß die Eigenschaften des organisch modifizierten Kie
selsäure-Polykondensats oder organisch modifizierten
Kieselsäure-Heteropolykondensats, die eingestellt wer
den, das Elastizitätsmodul, die Fugendicke und das Tem
peraturverhalten des ausgehärteten organisch modifi
zierten Kieselsäure-Polykondensats oder organisch modi
fizierten Kieselsäure-Heteropolykondensats, sowie die
Aushärtungszeit des organisch modifizierten Kieselsäu
re-Polykondensats oder organisch modifizierten Kiesel
säure-Heteropolykondensats einschließen.
4. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet,
daß die Zusatzstoffe Amine, Hexahydrophthalsäurean
hydrid oder Isopropylthioxanthon sind.
5. Verfahren gemäß Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß die Amine aus der folgenden Gruppe ausgewählt sind:
N-Methyldiethanolamin (N-MDEA), N-Benzyldimethylamin und Diethylentriamin (DETA).
N-Methyldiethanolamin (N-MDEA), N-Benzyldimethylamin und Diethylentriamin (DETA).
6. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch
gekennzeichnet,
daß die Zusatzstoffe ferner ein Lösungsmittel mit einer
Siedetemperatur unter TBP = 160°C aufweisen.
7. Verfahren gemäß Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß das Lösungsmittel Diethylcarbonat (DEC) ist.
8. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch
gekennzeichnet,
daß das organisch modifizierte Kieselsäure-Polykonden
sat oder organisch modifizierte Kieselsäure-Heteropoly
kondensat mittels eines Schleuderverfahrens bei Dreh
zahlen von 400 bis 8000 U/min in einer gewünschten
Dicke aufgebracht wird.
9. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 2 bis 8, dadurch
gekennzeichnet,
daß die Temperung des ersten zu verbindenden Bauteils
und des auf dasselbe aufgebrachten organisch modifi
zierten Kieselsäure-Polykondensats oder organisch modi
fizierten Kieselsäure-Heteropolykondensats bei Tempera
turen unter 100°C durchgeführt wird.
10. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch
gekennzeichnet,
daß das Aushärten des organisch modifizierten Kiesel
säure-Polykondensats oder organisch modifizierten Kie
selsäure-Heteropolykondensats bei Temperaturen bis zu
300°C durchgeführt wird.
11. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch
gekennzeichnet,
daß die Temperatur beim Aushärten des organisch modifi
zierten Kieselsäure-Polykondensats oder organisch modi
fizierten Kieselsäure-Heteropolykondensats schrittweise
erhöht wird, um einen großen Temperaturgradienten zu
vermeiden.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995120034 DE19520034A1 (de) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | Verfahren zur Herstellung elektrisch isolierender, mechanisch spannungsarmer und permanenter Verbindungen |
PCT/EP1996/000978 WO1996038395A1 (de) | 1995-05-31 | 1996-03-07 | Verfahren zur herstellung elektrisch isolierender, mechanisch spannungsarmer und permanenter verbindungen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995120034 DE19520034A1 (de) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | Verfahren zur Herstellung elektrisch isolierender, mechanisch spannungsarmer und permanenter Verbindungen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19520034A1 true DE19520034A1 (de) | 1996-12-05 |
Family
ID=7763370
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1995120034 Withdrawn DE19520034A1 (de) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | Verfahren zur Herstellung elektrisch isolierender, mechanisch spannungsarmer und permanenter Verbindungen |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19520034A1 (de) |
WO (1) | WO1996038395A1 (de) |
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Also Published As
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WO1996038395A1 (de) | 1996-12-05 |
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