DE1916486A1 - Hochempfindlicher Strahlungsfuehler - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 23
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 14
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 3
- 206010057040 Temperature intolerance Diseases 0.000 claims description 2
- 230000008543 heat sensitivity Effects 0.000 claims description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 claims 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 13
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 10
- 230000008859 change Effects 0.000 description 10
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000673 Indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N indium antimonide Chemical compound [Sb]#[In] WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N indium arsenide Chemical compound [In]#[As] RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 210000000056 organ Anatomy 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 1
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/248—Silicon photomultipliers [SiPM], e.g. an avalanche photodiode [APD] array on a common Si substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L31/02—Details
- H01L31/02016—Circuit arrangements of general character for the devices
- H01L31/02019—Circuit arrangements of general character for the devices for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/02027—Circuit arrangements of general character for the devices for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for devices working in avalanche mode
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
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- Light Receiving Elements (AREA)
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Description
1915486
DIPL.ING. H. LEINWEBER dipl-ing. H. ZIMMERMANN
8 München 2, Rosental 7, z.Autg.
Tei.-Adr. lelnpat MUndien
τ·ι·ΐοη (0811)2i1»Sf
31. März 1969
P-3893 Wy/sch
C(MPAGNIE GMERALE D'ELECl1RICIl1E,
Paris / Frankreich
Hochempfindlicher Strahlungsfühler
Hochempfindlicher Strahlungsfühler
Die Erfindung, betrifft einen hochempfindlichen Strahlungsfühler
mit einer lichtempfindlichen Fühldiode, die elektrisch in Sperrichtung vorgespannt ist und bei Auffall der
Meßstrahlung im Lawineneffekt-Bereich arbeitet, und mit einer
für die Meßstrahlung unempfindlichen Bezugsdiode, die mit der Fühldiode thermisch gekoppelt,ist und etwa die gleiche
Wärmeempfindlichkeit wie diese aufweist.
Die Erfindung befaßt sich also mit einem beispielsweise für Lichtstrahlen bestimmten hochempfindlichen Strahlungsfühler,
der als Meßfühler eine Fotodiode aufweist, die elektrisch in Sperrichtung vorgespannt ist und im Lawineneffekt-Bereich
arbeiten kann.
Um eine Strahlung feststellen zu können, deren Energie kleiner ist als die günstigste Meßenergieainelle einer her-
- 2 -9098^5/0957
kömmlichen Halbleiter-Fotozelle, ist es bekannt, Fotovervielfacherröhren
zu verwenden, wenn das die Wellenlänge der lvießstrahlung
gestattet.
Es ist bekannt, daß die Verwendung du Vervielfach erröhr en
Schwierigkeiten in der Verwendung des Halbleiters mit sich bringt.
Insbesondere muß eine umfangreiche und aufwendige Elektronik
| Verwendung finden. Es ist auch bekannt, daß im Empfindlichkeitsbereich
für optische Strahlung niedriger Energie Halbleiterbauelemente die Fotovervielfacherröhre ersetzen können. Dafür kommen
beispielsweise im .Lawineneffekt-Bereich arbeitende Fotodioden
infrage. Durch den Betrieb im Lawineaeffekt-ßereich bietet die
Fotodiode sogar einen sehr'hohen inneren Verrielfaehungsfaktor.
Der innere Vervielfachungsfaktor ist definiert als das
Verhältnis I unter Beleuchtung einer Polarisationsspannung V zum Wert der Stromstärke unter Beleuchtung bei einer festen PoIa-
> ri sat ion s spannung V , die in einem Bereich gewählt ist, in dem
; dieser Strom den konstanten Wert i annimmt, der als Bezugsgröße
j benutzt wird. Die beiden Stromstärken sind dabei als diejenigen
• Stromstärken definiert, die sich nach Abzug des Dunkel stromes
ergeben. Man erhält
M-JL (1)
Dieser Vervielfachungsfaktor nimmt mit der Polarisationsspannung zu und wird theoretisch unendlich, wenn die Polarisations-
■ ■ - 5"-
spannung den Wert der Durchbruchspannung V^ erreicht. Um einen
möglichst großen Vervielfachungsfaktor ausnützen zu können,,wählt man einen Arbeitspunkt, in dem man sich an die Durchbruchspannung
Vß annähert. Bei dieser Annäherung ändert sich der Vervielfachungsfaktor immer rascher, so daß für das Konstanthalten dieses Koeffizienten
die Polarisationsspanung sehr genau die gleiche bleiben muß.
Während des Betriebes kann sich überdies die Temperatur der Fotodiode ändern. Selbst eine geringe Änderung der Temperatur
bringt aber eine Änderung der Durchbruchspannung und damit eine
Veränderung des Vervielfachungsfaktors mit sich, was sehr unangenehm ist.
Es ist also sehr schwierig, mit einem Vervielfachungskoeffizienten
angehobenen Wertes zu arbeiten, wenn man dazu eine im Lawineneffekt-Bereich arbeitende Fotodiode benützt.
Will man Kachteile vermeiden, die sich aus Schwankungen des Ausgangssignales eines Halbleiterbauelementes au^tind von
Temperatürschwankungen ergeben, so benutzt man bekanntlich ein
Bezugs-Halbleiterbauelement, dessen elektrische Eigenschaften in Abhängigkeit von der Temperatur auf gleiche Weise veränderlich
sind, wie die des Halbleiterbauelemeßtes, dessen Betriebsbedingungen
verbessert werden sollen. Die Kompensation erfolgt dann dadurch, daß man die Ausgangs signale der beiden Halbleiterbauelemente
miteinander vergleicht. Man verändert also nicht die Be-
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triebsbedingungen desjenigen Bauelementes, dessen Betriebsbedingungen
verbessert werden müßten. Vielmehr nimmt man auf das Ausganssignal dieses Bauelementes Einfluß. Im Fall von im Lawineneffekt-Bereich arbeitenden Fotodioden erlaubt es eine derartige
Vorrichtung nicht, ohne großen Aufwand eine näherungsweise Konstanz des erwähnten Vervielfachungsfaktors zu erreichen.
Die Erfindung ermöglicht es, diesen Nachteilen abzuhelfen.
Sie verwendet dazu einen Strahlungsfühler, der sich dadurch auszeichnet,
daß ZUH Kompensieren von l'emp era tür sch wankungen des
Ausgangssignals der Fühldiode ein Ausgangssignal der Bezugsdiode
in geeigneter Polarität an die Steuerung der Speisespannung der
Fühldiode gelegt ist.
Der Steuerkreis besteht dabei vorzugsweise aus einem Regler für die Speisespannung der Fühldiode, der selbst durch eine
Vergleichsschaltung gesteuert ist, die ein Ausgangssignal liefert,
das zu den Spannungen an ihren beiden Eingangsklemmen proportional
ist. An der einen dieser Klemmen liegt das Ausgangssignal der
Bezugsdiode und an der anderen die Speisespannung der Fühldiode.
Durch diese Steuerung wird sichergestellt, daß die Speisespannung
gleich dem erwähnten Ausgangssignal ist.
Die Vergleichsschaltung weist vorzugsweise einen Differenzierverstärker
auf.
- 5■■-
5/09
Die Bezugsdiode kann von gleicher Art sein wie die Fühldiode,
und ist ebenfalls in Sperrichtung polarisiert.
Die Bezugsdiode wird vorzugsweise mit einem von der Temperatur
unabhängigen Strom gespeist. Ihr Ausgangssignal ist gleich
dem Potentialunterschied zwischen derjenigen von ihren Klemmen, die mit der Stromquelle verbunden ist, und der Masse, an der ihre
andere Klemme liegt.
/ Beide Dioden können mit der gleichen Masse verbunden sein.
Die Bezugsdiode wird vorzugsweise über einen regelbaren Widerstand ausgehend von der gleichen Gleichstromquelle gespeist,
ι wie die Fühldiode.
! In Reihe mit der Fühldiode kann ein Modulator geschaltet
Beide Dioden werden vorzugsweise auf dem selben Halbleiter-'
körper ausgebildet.
Dabei weist die Bezugsdiode vorzugsweise größere Abmessungen auf als die Fühldiode.
.; Weitere Einzelheiten, Vorteile und Merkmale der Erfindung
ergeben sich aus der folgenden Beschreibung. In der Zeichnung
ist die Erfindung beispielsweise veranschaulicht, und zwar zeigen
Fig. 1 Strom-Spannungssperrkennlinien i = f (v),
Fig. 2 die Kennlinien der verwendeten Dioden mit ihrer iempe-
90984570957 " 6"
raturabhängigkeit,
Pig. 3 eine Draufsicht auf ein die beiden erfindungsgemäßen
Dioden tragendes Siliziumplättchen,
Fig. 4 einen -Querschnitt durch das Plättchen nach Fig. 3,
Fig. 5 die dynamischen Betriebskennlinien der Dioden,
Fig. 6 eine Prinzipschaltung der Erfindung, und
Fig. 7 ein Einstelldiagramm für den Arbeitspunkt des fotoempfindlichen
Elements.
Fig. 1 zeigt Strom-Spannungs-Sperrkennlinien. Kurve 1
gibt die Dunkel-Kennlinie einer beliebigen Silizium-Fotodiode. Kurve 2 ist die Kennlinie einer herkömmlichen Fotodiode bei Beleuchtung.
Kurve 3 schließlich ist die Kennlinie einer im Lawineneffekt-Bereich
arbeitenden Fotodiode bei Beleuchtung.
Fig. 2 zeigt die Änderung der Dunkelkennlinie 4 und der
Lichtkennlinie 5 für eine im Lawineneffekt-Bereich arbeitende
Fotodiode in Abhängigkeit von einer Temperaturerhöhung, die eine Änderung der Durchbruchspannung bewirkt. Die Durchbruchspannung
Vßi wird zu V™· Die Dunkelkennlinie 4 ändert sich dabei in eine
Dunkelkennlinie 41 und die Lichtkennlinie 5 in eine Lichtkennlinie
51. Es ist im übrigen bekannt, daß der Temperaturkoeffizient
der Durchbruchspannung im Lawineneffekt-Bereich positiv ist.
Will man für eine bestimmte Beleuchtung mit einem konstanten Vervielfachungsfaktor arbeiten, so muß auch das Ausgangssignal eine
~ _ 7 «» 909945/Q9S7
konstante Stärke beibehalten. Das führt zu einem Ändern des
Wertes der Polarisationsspannung. Ursprünglich wurde ein Ausgangssignäl einer Stromstärke I mit Hilfe einer Polarisationsspannung
Vj^ erhalten (vgl. Kurve 5 von Fig. 2). Um das gleiche Ausgangssignal
zu erhalten, muß bei Kurve 5' eine Polarisationsspannung V"a2 Verwendung finden. Das Spannungsverhältnis ^j- ist in erster
Näherung gleich dem Spannungsverhältnis |g|. Die Arbeitsbedingung
für einen konstanten Vervielfachungsfaktor M = Konst, kann also
in erster Näherung durch die äquivalente Bedingung
Polarisationsspannung = koristant
Durchb ruch sp annung
ersetzt werden. Das ist eine von der letzteren, bei der Erfindung
zu befriedigenden Bedingung nur wenig abweichende Bedingung.
Der erfindungsgemäße Fühler weist zwei Halbleiterdioden auf, die im Lawineneffekt-Bereich arbeiten. Beide haben den gleichen
Temperaturkoeffizienten und ähnliche Kennlinien. Die der Strahlung ausgesetzte Fühldiode arbeitet als Fotodiode im Lawineneffekt-B
er ei eh. Die mit der Fühldiode thermisch gekoppelte
Bezugsdiode ist der Strahlung nicht ausgesetzt und arbeitet als
Steuerorgan eines Nachlaufsteuerkreises. Dieser Kreis ist so
ausgelegt, daß der Arbeitspunkt der Fühldiode in jedem Augenblick zumindest annähernd den Wert annimmt, der für das Konstanthalten
des Vervielfachungsfaktors erforderlich ist. Das soll unabhängig von TemperaturSchwankungen und unabhängig vom vorgewählten Wert
des Vervielfachungsfaktors möglich sein. g
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Für die Nachlaufsteuerung des Arbeitspunktes der Fühldiode
ist eine Regelstufe vorgesehen. Zwischenverstärkerstufen, denen eine Vergleichsschaltung, die vorzugsweise einen Differentialverstärker aufweist, vorgeschaltet ist, erJaiben ein Steuern der an
die Fühldiode angelegten Ausgangsspannung durch die an den Klemmen der Bezugsdiode mit identischem i'emperaturkoeffizienten anliegende
Spannung. Die Genauigkeit der Steuerung ist eine Funktion der Verstärkung in der Nachlaufsteuerkette.
Der Wert des Vervielfachungsfaktors kann mit Genauigkeit
durch die Wahl des Arbeitsstromes der Bezugsdiode eingestellt werden. Diese gestattet aufgrund der überlegenen Auswertung ihres
dynamischen Widerstandes eine sehr genaue Regelung der Speisespannung der Fühldiode.
Die beiden den gleichen Temperaturkoeffizienten aufweisenden Dioden mit nahezu übereinstimmenden Kennlinien werden vorzugsweise als integrierte Schaltung monolithisch hergestellt.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung kann auch als Matrix
fotoempfind!icher Elemente realisiert werden, die je zwei und zwei
thermisch miteinander gekoppelt sind.
Die beiden Dioden können elektrisch voneinander isoliert
sein. Darüberhinaus können sie auch gegenüber dem Substrat isoliert
werden. Die Isolierung geschieht mit Hilfe bekannter Techniken, wie Oberflächenwachstum auf dem isolierenden Substrat,
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Ausbildung von Isolierkästen oder Schaffung von Diffusionsmauern.
Das fotoempfindliche Element kann aus einem Halbleitermaterial
gefertigt sein, das der Germanium- oder der Silizium-Gruppe angehört. Es kann auch zur Gruppe der AIII/BV-Verbindungen gehören,
wie Indiumantimonid, Indiumarsenid, Galliumarsenid usw. Diese Materialien sind als Strahlungsfühler für Strahlungen geeignet,
für die Fotovervielfacher wegen ihrer spektralen Empfindlichkeits-.
grenzen nicht mehr verwendbar sind. Die Erfindung erlaubt im übrigen die Verwendung beliebiger im Lawineneffekt-Bereich arbeitender
Dioden. Ihr Aufbau kann PN, PIN, PTXPN, usw. sein.
Das Anlegen der Polarisationsspannung an die Fotodiode kann auch nicht kontinuierlich, beispielsweise in Form von Impulsen erfolgen.
Das macht lediglich eine geringfügige Abwandlung des Anlegungskreises erforderlich.
■ In einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung werden
die beiden Dioden, bei denen es sich beispielsweise um Siliziumdioden
handelt, als integriertes Schaltelement monolithisch ausgebildet. Fig. 3 zeigt in einer Draufsicht ein Plättchen aus P-leitendem
Silizium, das die Dioden 6 und 7 auf dem ursprünglichen Material
8 trägt. Fig. 4 zeigt das integrierte Schaltelement von Fig. 3 im Schnitt. Gleiche Teile sind mit gleichen Bezugszeichen
versehen. Die Dioden 6 und 7, deren Abmessungen sich unterscheiden
können, werden gleichzeitig durch eines der bekannten Verfahren hergestellt.
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Es kann sich, wie das Fig. 4 erläutert, um eine Herstellung
der Sperrschichten nach der herkömmlichen Planartechnik handeln. Ausgehend von der Oberfläche von Halblßiterbereichen, die als
Ort für die Dioden 6 und 7 bestimmt sind, läßt man einen N-leiten-
den Störstoff mit einer Oberflächenkonzentration eindiffundieren, die eine N-Leitfähigkeit im P-leitenden wlaterial 8 bis zu einer
vorbestimmten Tiefe ergibt. Auf diese Weise entsteht eine G-renz-'
schicht zum ursprünglichen Material.
Das gleichzeitige Herstellen der beiden Dioden stellt sicher, daß sie den gleichen Temperaturkoeffizienten haben und sich
auch in ihren elektrischen Eigenschaften gleicnen.
Im Betrieb wird die Fühldiode 6 einer Strahlung ausgesetzt und arbeitet als Fotodiode im Lawineneffekt-Bereich. Die Bezugsdiode 7 wird auf beliebige V/eise vor der Bestrahlung geschützt..
Das geschieht beispielsweise durch Fokussieren der Strahlung ausschließlich auf die fotoempfindliche Fühldiode 6, durch Anbringen
eines Schutzschirmes vor der Bezugsdiode 7 od. dgl.
Fig. 5 zeigt zwei Sperr-Kennlinien 30 und 31 für die einer
Strahlung ausgesetzte Fühldiode 6, die eine Fotodiode ist. Die
Kennlinie 30 entspricht einer Temperatur t , und die.Kennlinie 31
einer Temperatur t^ (t^>
tQ). Fig. 5 zeigt weiter zwei Kennlinien 10 und 11 der nicht der Strahlung ausgesetzten Bezugsdiode
7. Auch hier entspricht die Kennlinie 10 der Temperatur tQ und die
andere Kennlinie 11 der Temperatur t-j. Fig. 5 zeigt weiter eine
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Ladungsgerade D . Sie beginnt auf der Spannungsachse in einem
Punkt 50, der der Spannung der Polarisationsspannungsquelle entspricht.
Ihre Neigung zur Stromstärkenachse hin gibt den viert ' eines Ladewiderstandes an, der mit der Fühldiode 6 in Reihe geschaltet
ist.
Die Gerade DQ bestimmt den Arbeitspunkt F0 der Diode bei
der Temperatur t für eine Polarisations spannung, die durch den Punkt 50 wiedergegeben und im Folgenden mit V(50) bezeichnet ist.
Diesem Punkt entspricht für die Bezugsdiode 7, die der Strahlung nicht ausgesetzt ist, ein Arbeitspunkt F'o auf der Kennlinie 10*
Ein Punkt 40 gibt für die Temperatur t auf Fig.5 die
Durchbruchspannung an, die für die beiden Dioden 6 und 7 die gleiche ist. Der Punkt 41 bezeichnet die Durchbruchspannung dieser
Dioden bei der Temperatur t-.
Soll der Vervielfachungsfaktor auf die oben erläuterte Art festgehalten werden, so kann dafür näherungsweise beim Übergang
der Temperatur von t auf t- die Bedingung angegeben werden, daß
der Ärbeitspunkt sich von F parallel zur Spannungsachse zum Arbeitspunkt F-j auf der Kennlinie 31 verschieben muß, die der Temperatur
t.j entspricht.
Nach dem oben Gesagten bleibt in erster Näherung das Verhältnis der Polarisationsspannung der Bezugsdiode 7 zu ihrer
Durchbruchspannung konstant. Es gilt also
Y(SO) _ Y(51)
V(40) " V(41) - 12 -
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Würde man eine präzise Konstanz der die Fühldiode 6 durchfliessenden
Stromstärke I erhalten, so wäre folgende Gleichung gültig:
V(FQ) _ V(FI)
V(40) ~~ V(41)
V(40) ~~ V(41)
Diese letzte Gleichung wird erfindugsgeinäß näherungsweise
durch eine Verschiebung der Ladungsgerade von D0 nach D1 erreicht.
Die Gerade D1 ist zur Gerade D0 parallel. Sie ist so gewählt, daß
der Arbeitspunkt F1^ der Bezugsdiode 7 auf Kennlinie 11 der gleichen Stromstärke entspricht, ms der Arbeitspunkt .F'0.
Fig. 6 zeigt eine Schaltung, die eine Auswertung des Ausgangssignals der Bezugsdiode 7 gestattet, Me der Strahlung nicht
ausgesetzt 1 st. Sie dient als Steuerorgan eines lachlaufsteuei'-kreises,
mit dessen Hilfe die Laäungsgerade von "3L nach 3« verschoben
wird, spenn sich die ^emperatur von t nach k* anäeri*· J5as
erlaubt näheriingsweise in jedem Augenbüek den Arbeitspunki der
ersten ibtoempfinctlichen Diode., also der jPühMioäe 6, auf einen
Wert 2u -legen, äer für &s Auireiahterhialtien ier ftmstism $®s
vieJ-fachungs$aktors erforderlich ist.
Kreis Kreist eine %ei:sequ:elle Ii? m£, Wm Her
6 i&er einen Berienregier % Mß i^lm^sstMKSspaimung Zief erit
und andererseits üb«r einen Begeiwiäers^an^. t7 Me Boilarisatio
spannung m vdie Bezugsäioäe 1 legt. Dme Serienregler 16 -ist #
einen fitersiand 21 geladen und kam aus einem -eketf'IISer £en lii-
90^845/0957
derstand 21 geladenen Transistor bestehen. Er wird über einen
Vers-ferker 18 gespeist, dem selbst eine Differential-Vergleichsschaltung
vorgeschaltet ist, die aus zwei Transistoren 19 und besteht. Diese Schaltung erlaubt es Eigenabweichungen der Vergleichsschaltungsstufe
aufgrund von Temperatürschwankungen zu
vermeiden.
Die in den Punkten K und L vorhandenen Spannungen werden
in der Vergleichsschaltungsstufe 19-20 miteinnder verglichen.
Das sich ergebende Fehlersignal wird verstärkt und dient als Steuersignal für den Serienregler 16, der zwischen die Punkte
Q1 und L eingeschaltet ist.. Die Verstärkung der Schaltgruppe Vergleichsschaltung-Verstärker
und Regler muß für das Vermindern der Fehlerspannung groß sein, wenn man eine genaue Regelung erhalten
will.
Als ladewiderstand für die Fühldiode 6 ist ein Widerstand 23 vorgesehen, dessen Widerstand sehr der Neigung der Geraden
D0 und D.J von Fig. 5 entspricht.
Man kann überdies dann, wenn die Speisung der Diode 6 in
Impulsform oder moduliert erfolgen soll, mit dieser Diode in Reihe einen Modulator 22 schalten. Dieser Modulator kann als
ALLES- oder NICHTS-Element arbeiten, also wie ein periodisch betätigter
Unterbrecher, der in Impulsbetrieb arbeitet. Will man eine Sinusmodulation erhalten, so arbeitet man beispielsweise
mit magnetischer Kopplung.
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Der Dunkelstroai der ßezugsdiode 7, der im Ast QiC fließt, ;
kann durch den Regelwiderstand 17 geregelt werden. Dieser Strom
kann denjenigen, der durch die Fühldiode 6 fließt, um eine oder
zwei Größenordnungen, also um einen Faktor 10, 100 oder auch mehr übersteigen. ? -
Bei einer besonderen Anwendungsform ist es zum Vergrößern
des für die ßezugsdiode 7 zulässigen Stromes und damit zum Erhöhen der Genauigkeit der Regelung vorteilhaft, der ßezugsdiode ■
7 geometrisch größere Abmessungen zu geben, als der Fühldiode 6.
Sie arbeitet dann mit konstanter Stromdichte. .
Hinsichtlich der Art der Regelung des Arbeitspunktes der
lichtempfindlichen Fühldiode ergibt sich erfindungsgemäß ein bedeutender Vorteil daraus, daß der Arbeitspunkt genau einstellbar
ist und zwar durch die Wahl des Arbeitspunktes der als Steuerorgan arbeitenden ßezugsdiode nach der in Fig. 7 gezeigten Art.
Der Arbeitspunkt F'o von Fig, 6 für die ßezugsdiode 7 kann
gewählt werden, indem man sich beispielsweise einen bestimmten Wert für den Dunkel strom, vorgibt, wie Si1 auf Fig. 7· Der Punkt
F'o ist damit festgelegt und wird vorteilhafterweise im nahezu
vertikalen feil der Kennlinie 10 der als Steuerorgan dienenden
Bezugsdiode gewählt. Es ergibt sich dann daraus der Funkt F0 auf
der-Kennlinie 30 und damit der Arbeitspunkt der lieht empfindlichen
Fühldiode 6. Dieser Arbeitspunkt kann, wie das oben bereits·-er-läutert
wurde, jederzeit auf dem Wert gehalten werden, der zum-
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Erfüllen der Bedingung des konstanten Vervielfachungsfaktors erforderlich ist. Andererseits ist es vorteilhaft, wenn der Arbeitspunkt der Pühldiode 6 in einem gewissen engen Einstellbereich
regelbar ist. Das ist sehr einfach durch die Wahl des Arbeitspunktes auf die in Fig. 7 gezeigte Weise zu realisieren.
'tatsächlich entspricht einer unbeabsichtigten Änderung des
Wertes Si1 des Dunkel stromes eine Änderung der Lage von FV0 auf
der Kennlinie 10-, die aber nur eine äußerst geringe Verschiebung des Punktes 50 zur Folge hat, da der Punkt F1 in den nahezu vertikalen
Abschnitt der Kennlinie 10 gelegt ist. Daraus ergibt sich die Möglichkeit, die Lage von F auf der Kennlinie 50 sehr genau
einzustellen. Es ist leicht einzusehen, daß das ganz anders wäre, wenn man die Lage des Arbeitspunktes einfach ausgehend vom Wert
der PolarisatiOnsspannung bestimmt hatte.
Die Vorzüge der erfindungsgemäßen Vorrichtung sin«! insbesondere in der Möglichkeit eines Arbeitens mit nahezu konstantem
Vervielfachungsfaktor bei Verwendung einer iiawinen-Eo to diode zu
sehen,
Der Gegenstand der Erfindung ist insbesondere im Zusammenhang
mit Laser-ütelemetrie von Ittteresse. Bei derartigen Geraten
handelt es sich beim Lichtfühler im allgemeinen um eine Foto vervielfacherröhre. Diese Bohre kann voTteilhafterweiae durch einen
erfindungsgemäßen Fühler verwendet werden. Man betreibt diesen
dann im Impulsbetrieb. line Speisung in Form einer Sinusmodulation
-16·-
ist vorzuziehen, wenn ein erfindungsgemäßer Fühler für das Feststellen
Hertz'scher Wellen geringer Leistung im Hyperfrequenzbereich
verwendet wird. Dieser modulierte Betrieb ist auch dann zu empfehlen, wenn für eine Löschung von ivlikroplasmen im Inneren
des die Diode bildenden Halbleiters gesorgt werden muß, oder
auch dann wenn der Erfindungsgegenstand für die Führung oder das Verfolgen von militärischen oder WeIträumfahrzeugen, wie Raketen, mit Hilfe eines Lasers Verwendung findet.
auch dann wenn der Erfindungsgegenstand für die Führung oder das Verfolgen von militärischen oder WeIträumfahrzeugen, wie Raketen, mit Hilfe eines Lasers Verwendung findet.
Überdies arbeitet der erfindungsgemäße Fühler in breiten Spektralbereichen des Lichtwellenlängengebietes, für das man
bisher nur über Fotovervielfacherröhren geringer Empfindlichkeit verfügte, beim Arbeiten mit angehobenem Vervielfachungsfaktor.
bisher nur über Fotovervielfacherröhren geringer Empfindlichkeit verfügte, beim Arbeiten mit angehobenem Vervielfachungsfaktor.
-17 -
909845/0957
Claims (9)
1. Hochempfindlicher Strahlungsfühler mit einer lichtempfindlichen
Fühldiode, die elektrisch in Sperrichtung vorgespannt ist und bei Auffall der Meßstrahlung im Lawineneffekt-Bereich
arbeitet, und mit einer für die Meßstrahlung unempfindlichen ßezugsdiode, die mit der Fühldiode thermisch gekoppelt
ist und etwa die gleiche Wärmeempfindlichkeit wie diese aufweist,
dadurch gekennzeichnet, daß zum Kompensieren von 'temperatur-.
Schwankungen des Ausgangssignals der Fühldiode ein Ausgangssignal
der Bezugsdiode (7) in. geeigneter Polarität an die Steuerung
der Speisespannung der Fühldiode (6) gelegt ist.
2. Fühler nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Steuerkreis zum Regeln der Speisespannung der Fühldiode ein
Regler (16) ist, der selbst von einer Vergleichsschaltung (18 bis 20) gesteuert ist, deren Ausgangssignal proportional zu den
Spannungen an ihren beiden Eingangsklemmen (K, L) ist, von denen an die eine (K) das Ausgangssignal der Bezugsdiode (7) und an
die andere (L) zum Erhalt einer Nachlaufsteuerung dieser Speisespannung mit Anpassung an das Ausgangssignal die Speisespannung
der Fühldiode (6) gelegt ist.
- 18 -
909 845/095
916486
3. Fühler nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die
Vergleichsschaltung einen Differentialverstärker (1b) aufweist.
4. Fühler nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Bezugsdiode (7) von gleicher Art ist wie die Fühldiode (6)
und wie diese in Sperrichtung polarisiert ist.
5. Fühler nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die
* Bezugsdiode (7) von einem Strom gespeist ist, der von der Temperatur
im v/esentlichen unabhängig ist und daß ihr Ausgangs signal
die Potentialdifferenz zwischen derjenigen ihrer Klemmen, die mit
der Stromquelle verbunden ist, und der niasse ist, an der inre andere
Klemme liegt.
6. Fühler nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die
beiden Dioden (6, 7) an derselben blasse liegen und daß die Dezugsdiode
(7) über einen Regelwiderstand (17) ausgehend von der
gleichen Gleichspannungsquelle (15) gespeist ist, wie die Fühl-
) diode (6).
7. Fühler nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Fühldiode in Reihe ein iiiodulator (22) geschaltet ist.
S.Fühler nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Dioden (6, 7) auf dem gleichen Halbleitersubstrat (8) ausgebildet
sind.
9. Fühler nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Bezugsdiode (7) größere Abmessungen hat als dieEiihldipde (6).
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR146583 | 1968-03-29 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1916486A1 true DE1916486A1 (de) | 1969-11-06 |
Family
ID=8648435
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19691916486 Pending DE1916486A1 (de) | 1968-03-29 | 1969-03-31 | Hochempfindlicher Strahlungsfuehler |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3560755A (de) |
BE (1) | BE730644A (de) |
DE (1) | DE1916486A1 (de) |
FR (1) | FR1582850A (de) |
GB (1) | GB1231906A (de) |
NL (1) | NL6904983A (de) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS49122777A (de) * | 1973-03-26 | 1974-11-25 | ||
SE382507B (sv) * | 1974-06-05 | 1976-02-02 | Aga Ab | Sett att reglera forsterkningen i en stralningsdetekterande lavindiod. |
JPS5939617Y2 (ja) * | 1981-03-05 | 1984-11-06 | キヤノン株式会社 | 露出計 |
FR2571148B1 (fr) * | 1984-09-28 | 1987-01-02 | Electricite De France | Detecteur de faisceau lumineux a photodiode a circuit de reglage du point de fonctionnement |
JPH07120767B2 (ja) * | 1986-09-19 | 1995-12-20 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
FR2651881B1 (fr) * | 1989-09-12 | 1994-01-07 | Sgs Thomson Microelectronics Sa | Circuit de detection de seuil de temperature. |
JP3421103B2 (ja) * | 1993-12-20 | 2003-06-30 | 浜松ホトニクス株式会社 | アバランシェフォトダイオードを用いた光検出回路 |
GB2373852B (en) * | 2001-03-26 | 2005-06-08 | Capital Controls Ltd | Portable light detector |
JP3937426B2 (ja) * | 2001-07-16 | 2007-06-27 | 日本電気株式会社 | プリアンプ回路 |
GB0307721D0 (en) * | 2003-04-03 | 2003-05-07 | Texas Instruments Ltd | Improvements in or relating to photodetection |
JP2006041628A (ja) * | 2004-07-22 | 2006-02-09 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光受信回路 |
US20080317086A1 (en) * | 2007-06-22 | 2008-12-25 | Santos Ishmael F | Self-calibrating digital thermal sensors |
US8957385B2 (en) | 2010-11-29 | 2015-02-17 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Radiation detection system, a radiation sensing unit, and methods of using the same |
EP3081963B1 (de) | 2015-04-15 | 2020-11-11 | ams AG | Lawinendiodenanordnung und verfahren zur bereitstellung eines erkennungssignals |
JP7455520B2 (ja) | 2018-12-12 | 2024-03-26 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光検出装置 |
US12113088B2 (en) | 2018-12-12 | 2024-10-08 | Hamamatsu Photonics K.K. | Light detection device |
US11901379B2 (en) | 2018-12-12 | 2024-02-13 | Hamamatsu Photonics K.K. | Photodetector |
EP3988908A4 (de) | 2018-12-12 | 2022-12-14 | Hamamatsu Photonics K.K. | Photodetektor und verfahren zur herstellung eines photodetektors |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL104002C (de) * | 1955-06-11 | |||
US3268739A (en) * | 1963-06-20 | 1966-08-23 | Dickson Electronics Corp | Semiconductor voltage reference system having substantially zero temperature coefficient |
US3430106A (en) * | 1965-06-16 | 1969-02-25 | Gen Electric | Differential light responsive circuits with a solar cell connected between the inputs of the amplifiers |
FR1500047A (fr) * | 1966-06-15 | 1967-11-03 | Comp Generale Electricite | Détecteur de lumière à semiconducteurs |
US3463928A (en) * | 1966-11-03 | 1969-08-26 | Fairchild Camera Instr Co | Frequency-selective negative feedback arrangement for phototransistor for attenuating unwanted signals |
US3466448A (en) * | 1968-03-11 | 1969-09-09 | Santa Barbara Res Center | Double injection photodetector having n+-p-p+ |
-
1968
- 1968-03-29 FR FR146583A patent/FR1582850A/fr not_active Expired
-
1969
- 1969-03-28 BE BE730644D patent/BE730644A/xx unknown
- 1969-03-31 NL NL6904983A patent/NL6904983A/xx unknown
- 1969-03-31 GB GB1231906D patent/GB1231906A/en not_active Expired
- 1969-03-31 DE DE19691916486 patent/DE1916486A1/de active Pending
- 1969-04-01 US US812169A patent/US3560755A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1231906A (de) | 1971-05-12 |
NL6904983A (de) | 1969-10-01 |
FR1582850A (de) | 1969-10-10 |
BE730644A (de) | 1969-09-29 |
US3560755A (en) | 1971-02-02 |
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