DE1809847A1 - Vorrichtung zum tiegelfreien Zonenschmelzen eines kristallinen Stabes,insbesondere Halbleiterstabes - Google Patents
Vorrichtung zum tiegelfreien Zonenschmelzen eines kristallinen Stabes,insbesondere HalbleiterstabesInfo
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B13/00—Single-crystal growth by zone-melting; Refining by zone-melting
- C30B13/16—Heating of the molten zone
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Description
Vorrichtung zum tiegelfreien Zonenschmelzen eines kristallinen
Stabes, insbesondere Halbleiterstabee
Die Priorität der entsprechenden Schweizer Patentanmeldung
8·044/68 vom 50.5*1968 wird in Anspruch genommen.
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum tiegelfreien Zonenschmelzen
einea kristallinen otabes, insbesondere Halbleiterstabes,
mit einer den Stab ringförmig umgebenden Induktionsheizspule mit einer Windung.
Beim tiegelfreien Zonenschmelzen werden als 3nergiequellen vielfach Flachspulen mit einer oder mehreren Windungen verwendet.
Flachspulen haben gegenüber Zylinderspulen den Vorteil einer wesentlich geringeren axialen Srstreckung der Schraelzzone, wa3
eine Erhöhung der Stabilität der Schmelzzone bedeutet. Dies ist
insbesondere bei großen Stabquerschnitten wichtig.
909850/1
.ä.
• ■·* ' f&&
Um den Spannungsabfall an der Induktionsheizspule und damit
auch d.ie Überschlagsneigurig herabzusetzen, ist es günstig, beim
Zonenschmelzen in einem Rezipiehten mit eijfier Schutzgasatmosphäre,
beispielsweise aus Wasserstoff, eine Flachspule mit kreisförmigem
Querschnitt und nur einer einzigen Windung zu verwenden.
Bj wurde gefunden, daß die Überschlagsneigung zwischen der
Induktionsheizspule und dem Halbleiterstab noch verringert
werden kann, wenn die den Stab ringförmig umgebende Induktionsheizspule mit einer Windung erfindungsgeraäfl in einer zur Stabachse
senkrechten Ebene einen langgestreckten Querschnitt hat.
Sine derartige Induktionsheizspule hat gegenüber einer Ringspule mit kreisförmigem Querschnitt und gleicher Spulenhöhe
in Achsrichtung des Halbleiterstabes gemessen eine verminderte Induktivität, die bei gleicher Schmelzleistung einen geringeren
Spannungsabfall und damit eine kleinere Überschlagsneigung aufweist. Gegenüber einer Flachspule mit mehreren Windungen und gleichem
Außen- und Innendurchmesser weist die Induktionsheizspule nach der vorliegenden Erfindung den Vorteil einer gleichmäßigeren
Feldverteilung und einer erhöhten Stützwirkung der Schmelzzone auf. Dies ist insbesondere beim sogenannten Aufstauchen, d.h.
bei einem Verfahren, bei dem der auskristallisierende Stabteil einen größeren Durchmesser als der der Schmelzzone zugeführte
Stabteil (Vorratsstab) aufweist, wichtig. Mit Vorteil beträgt das Verhältnis AuSendurchmesser/Innendurchmesser der Induktionsheizapule
mindestens 1,5. Bin Durchaesserverhältnis von etwa
2,0 iet besondere vorteilhaft.
-BAD ORIGINAL ,'
3 PLA 68/U 1.8
Weitere Binzelheiten und Vorteile der Erfindung werden an
Ausführungsbeispielen anhand der Zeichnung näher erläutert.
Pig, 1 zeigt in der Seitenansicht, teilweise im Schnitt, eine
' · Induktionsheizspule gemäß der Erfindung.
Pig. 2 zeigt die Induktionsheizspule nach Fig. 1 in der Draufsicht..
.
Fig. 3 zeigt eine abgewandelte Ausführungsform einer Induktionsheizspule gemäß der Erfindung.
In Fig. 1 ist eine Induktionsheizspule gemäß der Erfindung mit φ
1 "bezeichnet. Sie erzeugt in einem Halbleiterstab, bestehend aus einem Vorratsstab 2 und einem auskristallisierenden Stabteil 3
eine Schmelzzone 4. Der Querschnitt der Induktionsheizspule 1
ist langgestreckt, d.h. die Breite b des "«Viniungsquerschnittes
ist größer als seine Höhe h. Bei einer Spule mit sich nach außen
erweiterndem ".7indung3qu.ersch.nitt ist die Höhe h. am inneren
opulenrand maßgebend. Das Verhältnis Außendurchmesser/Innendurchmesser
d. /d. der Induktionsheizspule 1 ist mindestens 1,5.
Besonders günstige Bedingungen sind gegeben, wenn das Verhältnis ^
Außendurchmesser/Innendurchmesser d,/d. etwa 2,0 ist. Durch ™
·}', ■ ■■ :,...-<'■ a ι
Versuche wurde festgestellt,. daß hierbei die Induktivität der
Induktionsheizspule gemäß der Erfindung nur etwa 3/4 der Induktivität einer Induktionsheizspule mit einer Windung mit
kreisförmigem Querschnitt und gleicher Spulendicke beträgt.Der
Hohlquerschnitt 5 der Induktionsheizspule 1 kann rechteckig sein, er· kann aber auch mit zunehmender Entfernung von der Stabach3e
erweitert sein. Eine Spule mit nach außen erweitertem'Hohlquer-'
909850/1244
BAD ORIGINAL
H PLA 68/1418
schnitt bringt den Vorteil einer schmalen Schmelzzone bei gleichzeitig intensiver Kühlung der,Spule mit eich. Die Erweiterung
des Hohlquerschnittes kann, wie in Fig. 1 dargestellt, stetig sein. Es sind jedoch auch andere Querschnittsformen,
insbesondere solche mit stufenförmigen Absätzen, möglich.
Zum Herstellen eines kristallinen Stabes mit gegenüber dem Ausgangsstab
vergrößertem Durchmesser kann* wie aus Fig. 3 ersichtlich, der Querschnitt, insbesondere auch der Hohlquerschnitt 5,
der Induktionsheizspule 1 eine in Richtung-der Schwerkraft sich erstreckende Erweiterung 6 aufweisen. Damit wird die Stutzwirkung
der Induktionsheizspule auf die Schmelzzone 4 noch erhöht. Mit Vorteil ist die Querschnittserweiterung 6 der Form der Schmelzzone
4 angepaßt.
Zur weiteren Erläuterung der Erfindung sei ein Ausführungsbeispiel
angeführt:
Durchmesser des Halbleiterstabes (Vorratsstab) 27 mm Innendurchmesser der Induktionsheizepule d.= 29 mm
Außendurchmesser der Induktionsheizspule dQ = 60 mm
£1
Höhe der Induktionsheizspule an ihrem inneren Rand Ii1 = 3
Höhe der Induktionsheizspule an ihrem äußeren Hand h« = 6 mm.
Die Induktionsheizspuie gemäß der -Erfindung kann nicht nur beim
tiegelfreien Zonenschmelzen, in.einer Schutzgasatmosphäre-, beispielsweise
Wasserstoff, einem Bäelgue öder ;«i»§f» lllsohung
aus Wasserstoff -unfit einem S'delfas verwendet, eöfSieia alt ähnlichen
BAD ORIGINAL
S PLA 68/Η1Θ
Vorteilen auch beim tiegelfreien Zonenschmelzen im Vakuum verwendet
werden. Mit besonderem Vorteil kann die Vorrichtung gemäß der Erfindung auch bei Zönenachmelzverfahren angewendet werden,
wie sie in den deutschen Patentschriften 1 128 413 - Verfahren zur Herstellung von veraetzungafreiem, einkristallinem Silizium
durch tiegelfreiea Zonenschmelzen (mit flaschenhalsförmiger Dünn
stelle) - und 1 218 404 - Verfahren zum tiegelfreien Zonenschmelzen
eines kristallinen Stabes, insbesondere Halbleiterstabes (mit seitlicher Verschiebung des wiedereratarrenden Stabteilea) beschrieben
sind.
Claims (1)
- ■ £ PLA.; 68/1418 ·■■■·'Patentansprüche . '- · :/lly Vorrichtung zum tiegelfreien Zonenschmelzen eines kristallinen Stabes, insbesondere Halbleiteretabae, mit einer den ringförmig umgebenden Induktionsheizspule mit einer Windung, dadurch gekennzeichnet, daß die Induktionsheizspule (1) in einer zur Stabachse senkrechten Ebene einen langgestreckten Querschnitt hat, "2, Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, <iaö das Verhältnis AuöendurQhmeaaQr/InnQndur^hmea^er· der heizspuie (Ί) mindesitens 1,5 bVorriuhtung nach Anoprugh 1 , 4?idur«h ^ekofina^iahRat;, \iu4 4au Verhältnia Au0endlur«bme3aejr/Innoa4urehro«aaei> etwa 2,04. Vorrichtung nach Anspruch tt ciadurohder HohlqueracönittCSldai· JEaduktlOAstiQiaepulQ (1) mit Entfernung von der Stafeaehse e^w^it^^t ist«5. Vor^iehtung nach Änüp?ucs& 1*kvi%%άΧΙ u&n-.Stabes altrahm^aatr d«r Quorachnitt CS) (.1) ©ine i& Hlcht (6) aufweist.angepaßtSQSfSQ/1?BAD ORIGINAL
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3805118A1 (de) * | 1988-02-18 | 1989-08-24 | Wacker Chemitronic | Verfahren zum tiegelfreien zonenziehen von halbleiterstaeben und induktionsheizspule zu seiner durchfuehrung |
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DE3805118A1 (de) * | 1988-02-18 | 1989-08-24 | Wacker Chemitronic | Verfahren zum tiegelfreien zonenziehen von halbleiterstaeben und induktionsheizspule zu seiner durchfuehrung |
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DK120434B (da) | 1971-06-01 |
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BE733780A (de) | 1969-11-03 |
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SE359753B (de) | 1973-09-10 |
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ES367833A1 (es) | 1971-04-16 |
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C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) |