DE1765269A1 - Verfahren und Vorrichtung zum Pruefen des Fokussierungszustandes eines Elektronenstrahls fuer einen Elektronenstrahl-Schweissvorgang - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zum Pruefen des Fokussierungszustandes eines Elektronenstrahls fuer einen Elektronenstrahl-SchweissvorgangInfo
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- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 title claims description 54
- 238000003466 welding Methods 0.000 title claims description 34
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 14
- 230000008569 process Effects 0.000 title claims description 9
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 115
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 16
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 11
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 8
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 6
- 101100314144 Mus musculus Tnip1 gene Proteins 0.000 description 2
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- SPSSULHKWOKEEL-UHFFFAOYSA-N 2,4,6-trinitrotoluene Chemical compound CC1=C([N+]([O-])=O)C=C([N+]([O-])=O)C=C1[N+]([O-])=O SPSSULHKWOKEEL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 235000013405 beer Nutrition 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000013021 overheating Methods 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000003716 rejuvenation Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 238000012549 training Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/21—Means for adjusting the focus
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K15/00—Electron-beam welding or cutting
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- Mechanical Engineering (AREA)
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Description
DB. ing. H. NEGENDANK · dipl-ing. H. HATJCK · dipl-phys. W. SCHMITZ
HAMBURG-MÜNCHEN
TEL. 36 74 28 UND «β 41 13
The Welding Institute telegh. negehapatent Hamburg
... . ,··,-, ,.. x. MÜNCHEN 15 · MOZAHTSTR. 23
Abin^ton hall, Abin~ton
TEL.338058<I
Cambridge^ England TELE°B" NEGEDAPATENT MÜNCHE*
München, 25. April 1963
Anwaltsakte M-3*16
Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen
des Fokussierung,ssustarides eines Elektronenstrahls für einen
Elektronenstrahl-Schweißvorgang
Die beim elektronenstrahlschweißen wichtigen Strahlkenngrößen
sind der otrahldurchmesser im Fokus, die Energieverteilung
im Strahl und das Ausmaß der Strahlkonvergenz. Da es sich um hohe Energiedichten handelt >
ist es schwierig; irgendwelche Kenngrößen der Elektronenstrahlen direkt
zu messen, und es ist nicht möglich, die Energiedichte
des Strahls zu vermindern, um die anderen Kenngrößen zu messen, da diese sich infolge der Veränderung der
Ctrahlleistung ebenfalls verändern.
Um eine optimale Schweißunp; in reproduzierbarer V/eise erzeugen
zu können, ist es notwendige den Elektronenstrahl genau auf eine vorbestimmte Stelle innerhalb des zu
schweißenden Materials zu fokussieren. Es ist üblich, die i'Oku.'i;;lorunf- vlsuelL vom iieulenungsmann ausführen zu lassen,
wobei entweder dan Werkstück selbst oder ein damit
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Metallstuck
vergleichbares W··*··**·** verwendet wird, da der Gegenstand
im Fokus intensiv erwärmt wird. Der Bedienungsmann beobachtet durch ein optisches Pernrohrsystem
die Stelle, an welcher der Elektronenstrahl auf das Werkstück oder andere Metallstück auftrifft, und verstellt
den Pokussierungsstrom; bis der im Gesichtsfeld erscheinende Leuchtpunkt am kleinsten ist. Es ist
jedoch schwierigj die Größe des siedenden Metallpunkts
£ abzuschätzen, und zwar auch dann, wenn der Fokussierblock
kontinuierlich bewegt wird; um zu vermeiden, daß sich durch Wärmeleitung ein großer Schmelzkrater bildet.
Infolgedessen ist es wenig wahrscheinlich, daß aufeinanderfolgende Schweißungen in der Qualität gleichmäßig
ausfallen; die Schweißqualität wird auch von Bedienungsmann
zu Bedienungsmann verschieden sein. Hinzu kommt, daß der Bedienungsmann keine Einrichtungen zur
Verfügung hat, die eine Information darüberjiiefern, ob
das Betriebsverhalten der Maschine ebenso gut igt wie bei einer vorausgegangenen Benutzung; und deshalb kann
der Bedienungsmann., auch wenn er den bestmöglichen Fokussierungszustand
erzielt, nicht sicher sein, daß die Strahldaten, einschließlich des Strahldupehmggsers im
Fokus, gegenüber einer früheren Benutzung unverändert
sind.
Eine weitere Schwierigkeit besteht darins da die Fo-
109828/0848
kussierung in einen Brennfleck auf der Oberfläche des
Metall-Werkstücks nicht notwendigerweise zu dem am meisten erwünschten Schweißprofil führt.
Infolgedessen können, obwohl das Elektronenstrahl-Schweißen
zahlreiche wertvolle Eigenarten aufweist und Schweißnähte von sehr hoher Qualität herzustellen gestattet
j die optimalen Arbeitsbedingungen nur durch praktische Versuche, die von geschulten Bedienungsleuten
ausgeführt werden, bestimmt und aufrechterhalten
werden.
Die vorliegende Erfindung geht von der Aufgabe aus,
beim Elektronenstrahl-Schweißen eine einfache Möglichkeit zum Einstellen optimaler Arbeitsbedingungen zu
schaffen.
Zur Lösung dieser Aufgabe schafft die Erfindung ein Verfahren zum Prüfen des Pokussierungszustandes eines
Elektronenstrahls für einen Elektronenstrahl-Schweißvorgang.,
das dadurch gekennzeichnet ist., daß eine dünne metallische Sonde innerhalb der Elektronenstrahl-Schweißvorrichtung
angeordnet wird, daß der Sonde und dem innerhalb der Vorrichtung erzeugten Elektronentrahl
eine periodische Relativbewegung erteilt wird, bei der
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1 7 B b 2 6
in jeder Periode die Sonde durch den Strahl bewegt wird, und daß ein elektrisches Signal, das von einer
den Strahl schneidenden Auffängerelektrode abgeleitet wird und auf die periodische Überschneidung von
Sonde und Strahl zurückzuführende Veränderungen aufweist, zum Steuern einer Anzeigeeinrichtung oder zur
Betätigung automatischer Pokussiereinrichtungen benutzt wird.
Der Auffänger kann die Sonde selbst oder ein Metallglied sein, das so angeordnet ist,, daß es vom Strahl
nach dessen Durchgang durch die Sonde beaufschlagt wird, wobei das von einem derartigen Auffänger erhaltene
Signal invers zu dem Signal ist, das von der Sonde abgeleitet werden würde. Um die Relativbewegung
zwischen der Sonde und dem Strahl hervorzurufen, kann die Sonde gedreht werden, oder es kann die Sonde stationär
gehalten und der Strahl in eine Dreh- oder Schwingungsbewegung versetzt werden. Die Sonde soll so
angebracht werden, daß nur eine ihrer Kanten direkt dem Elektronenstrahl ausgesetzt ist, und die Geschwindigkeit
der Relativbewegung soll so sein, daß eine überhitzung der Sonde vermieden wird. Typischerweise
wird die Geschwindigkeit der Relativbewegung so gewählt, daß die Sonde'sich nur für etwa 1/30000 Sekunde
im Strahl befindet. Es ist vorteilhaft, eine Mehrfach-
-H-
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sonde zu verwenden., die In der Laufrichtung des Elektronenstrahls
gegeneinander versetzte Arme aufweist, so daß verschiedene Arme den Strahl an verschiedenen
Stellen schneiden und die von den verschiedenen Armen erhaltenen elektrischen Signale bei der VJiedergabe auf
einem Oszillographenschirm Bilder liefern, die durch ihre Amplitude und Breite die sich zwischen der ersten
Sonde und der letzten Sonde im Strahlweg ergebenden
Veränderungen der ,Strahlintensität und -breite darstel- Λ
len. Diese Sonden sind vorzugsweise ferner auch in Richtung der Relativbewegung zwischen Sonde und Strahl
gegeneinander versetzt, um eine zeitliche Verschiebung der von ihnen erzeugten Signale hervorzurufen.
Die von irgendeiner Sonde, die vom Elektronenstrahl getroffen
wird, abgeleiteten Oszillographenbilder stellen ungefähr das Energiedichteprofil des Strahls an der
überschneidungsstelle des Strahls mit der betreffenden
Sonde dar. und durch Einstellung des Stromes der Fo- ^
kuo.-jlerupule der Elektronenstrahlmaschine ist es möglich,
eine gewünschte Verteilung der Strahlenergie zu erzielen.
Im Fokus ist die optimale Knergieverteilung die, bei
welcher die größte Amplitude und die kleinste Strahlbreite vorhanden ist.
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Anstelle des Verfahrens, das Sondensignal mit hoher Empfindlichkeit auf einem Oszillographenschirm darzustellen,
kann auch ein Spitzenspannungsmesser verwendet werden. Eine automatische Regelung des Stroms
der Fokussierspule kann unter Verwendung von Servoeinrichtungen durch Erfassen eines Maximalwertes der
Spannungsmesser-Anzeige oder bei Verwendung einer Referenzspannung durch Einsteuern eines Nullabgleichs
erzielt werden. Beispielsweise kann durch eine Servoeinrichtung der Pokussierstrom verstellt werden^, im
Bestreben, eine gegebene Impulsbreite beizubehalten, oder es kann durch den Servomechanismus der Fokusslerstrom
kontinuierlich in solcher Richtung verstellt werden werden, daß bei einer dreiarmigen Sondenanordnung
entsprechend der obigen Beschreibung die Amplitude des von der mittleren Sonde gelieferten Signals relativ
zu den Amplituden der von den äußeren Sonden gelieferten Signale vergrößert wird.
In manchen Fällen kann es von Vorteil sein, dt® Sondenarme so anzuordnen^ daß sie in solchen Richtungen durch
den Elektronenstrahl geschnitten werden, 4&ft 4ietvon
diesen Armen abgeleiteten Signale die Verteilung der
Strahlenergie in zwei zueinander senkrechten Richtungen in der Ebene anzeigen, in welcher die Arme durch den
10982B/084I
BAD
Strahl hindurchschwingen.
Einice Ausführungsformen von Elektronenstrahl-Schweißvorrichtungen
haben ein Zweilinsen-System. Bei derartigen Einrichtungen erscheint im Elektronenstrahl ein
Crossover zwischen der oberen und der unteren Linse, und die Sonde kann somit so angeordnet werden, daß sie
an derjenigen Stelle des Etrahlweges rotiert., an der
das Crossover liegen muß, um den Strahl auf das Werkstück zu fokussieren, und der Fokussierstrom kann im
Sinne einer Minimisierung des Crossover-Strahldurchmessers
verstellt werden. Bei einer derartigen Anordnung kann die Sonde zur kontinuierlichen überwachung des
Fokussierzustandes des Strahls während des eigentlichen Schweißvorganges verwendet werden.
Eine kontinuierliche überwachung des Fokussierungszustandes
ist auch-bei der vielter verbreiteten Form von Elektronenstrahl-Schweißvorrichtungen erwünscht, die
nicht mit zwei Linsen arbeitet, doch kann offensichtlich die rotierende Sonde nicht in dem im Werkstück
liegenden Fokus des Strahls oder in dessen llähe angeordnet
werden. Eine kontinuierliche überwachung bei derartigen Vorrichtungen ist jedoch mit einer Anordnung
möglich, bei der eine stationäre Sonde verwendet wird.
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und entsprechend einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung wexäen während eines Schweißvorganges dem
!Elektronenstrahl Ablenksignale mit zeitlichen Abständen
zugeführt, so daß der Elektronenstrahl von Zeit zu Zeit aus der Schweißposition herausschwingt
und die Sonde schneidet. Die Zeitdauer während der der Elektronenstrahl aus seiner Schweißposition abgelenkt
wird, ist ein sehr kleiner Bruchteil der gesamten Schweißzeit; beispielsweise kann es sich um
I/50 der gesamten Schweißzeit handeln. Die Sonde kann
während kontinuierlicher Überwachungsvorgänge nicht im Fokus des Strahls angeordnet werden, falls nicht
das Werkstück eine geringe Breite aufweist und der Strahl aus dem Bereich des Werkstücks herausgeschwenkt
werden kann, um die Sonde in der Fokusebene zu schneiden. Wenn jedoch die Sonde stationär ist. kann sie
sehr nahe an der Oberfläche des Werkstücks angeordnet werden, und da der Konvergenzwinkel des Strahls sehr
klein ist, geht sie immer noch durch einen Strahl von schmaler Breite, wenn dieser richtig fokussiert ist.
Die Breite des sich an der Sonde ergebenden Impulses kann mit dem Abstand zum Fokus unterhalb der Sondenhöhe
in Beziehung gesetzt werden.
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17 6 b ^ B
Sonde Lin Vorteil bei Verwendung einer stationären 11
Sonde
und Dewegung des Strahls über die Jijnabei besteht darin
3 daß es nicht notwendig ist» eine sich drehende
Welle oder einen Motor innerhalb des Gehäuses der Elektronenstrahl-Schweißvorrichtunß vorzusehen.
Die Irfindung wird im folgenden an Hand von Ausführun^sbeispielen
erläutert, die in den Zeichnungen dargestellt sind. Es zeigen:
. 1 eine schematische Darstellung einer rotieren
den Sondenanordnunp:, die in eine Elektronenstrahl-Schweißvorrichtunp
einsetzbar ist,
Fir;· 2 eine Anordnung, bei der eine stationäre Sonde
und ein umlaufender Elektronenstrahl verwendet werden,
FIf-. 3 ein Oszillopjraphen-Schirmbild der Art, wie es
mit Conuenanordnunp-en nach den Fi^n. 1 und
erhalten wird,
VW· l]>
Ablenk-V/ellenfoi'inen für die zur überwachung erforderliche
periodische Ablenkung: des Elektronenstrahl:;
,
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4P
Fig. 5 die durch die Ablenk-Wellenformen der Pig. 4
erhaltenen Strahlbewegungen in bezug auf eine stationäre Sonde,
Fig. 6 ein Blockschaltbild einer automatischen Fokussierschaltungj
und
Fig. 7 einen becherförmigen Auffänger, der beim Fokussieren vor dem Schweißen verwendbar ist.
Bei der in Fig. 1 dargestellten Anordnung wird eine Welle 10 von einem Induktionsmotor angetrieben, der
in einem Stahlgehäuse 11 untergebracht ist; die Welle trägt eine Sonden-Haltestange 12 3 die sich senkrecht
zur Drehachse der Welle erstreckt. Auf einem Ende der Stange 12 sind drei Sonden 13 mit gegenseitigem seitlichem
und vertikalem Abstand befestigt. Die Achse des Elektronenstrahls liegt parallel zur Drehachse der
Welle 10, und infolgedessen liefert die vertikale Versetzung der Sonden eine Information über die Strahldivergenz
und die seitliche Versetzung ein Zeitintervall zwischen den von den einzelnen Sonden gelieferten
Signalen. An dem anderen Ende der Stange 12 ist ein Gegengewicht 14 befestigt, über eine Leitung lH wird
ein elektrisches Signal einem Ende eines St sllwider-
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1'/ 6 S 2 B
Standes 16 zugeführt, dessen anderes Ende an eine geerdete Ausgangsklemme 23 angeschlossen ist. Der
Schleifer 17 des Stellwiderstandes ist an die zweite Ausgangsklemme 2 4 angeschlossen; die ein Signal
für die Vertikal-Ablenkelektroden eines Kathodenstrahl-Oszillographen
liefert.
Es ist notwendig, den Oszillographen mit einem Referenzsignal
zu versorgen, um die Horizontalablenkung des Strahls zu synchronisieren. Dieses Referenzsignal
wird von einem innerhalb des Kastens 18 untergebrachten Fototransistor geliefert, der normalerweise
durch einen im Kasten vorgesehenen Schlitz Licht von einer Lampe 19 erhält. Das Licht wird bei
jeder Drehung der Welle 10 an einer festen Stelle durch einen Verschlußarm 20 unterbrochen, der auf einer
mit der Welle 10 umlaufenden Scheibe 21 befestigt ist.
Mit einer derartigen Anordnung können die von der Sonde erzeugten Schirmbilder in bezug auf einen festen
zeitlichen Bezugspunkt synchronisiert werden, und infolgedessen kann die Relativbewegung des Elektronenstrahls
in bezug auf den zu schweißenden Gegenstand
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i / b h y 6
verfolgt werden. Eine derartige Bewegung wird manchmal
bei Strahlschweißger^ten festgestellt, die eine
schwankende Beschleunigungsspannung aufweisen.
Eine andere Möglichkeit zur Synchronisierung der Ablenkung des Oszillographenstrahls besteht darin, ein
Signal von einer Leersonde zu benutzen, die vor den Sonden 13 durch den Elektronenstrahl geht. Dadurch
empfangen die Horizontal-Ablenkplatten des Oszillographen ein Zeitbasissignal, das von einem Referenzimpuls
aus der sich drehenden Sondenanordnung (von
getastet wird, der Klemme 22 in Fig. 1) mupGämfifri und die Vertikalablenkplatten
des Oszillographen empfangen das Impulssignal, das sich jedesmal dann ergibt, wenn eine Sonde
durch den Elektronenstrahl geht und Elektronen auffängt, die über den einstellbaren Widerstand zur
Erde abfließen.
Bei der in Fig. 2 dargestellten Anordnung ist die Sondenanordnung 30 stationär und unter Zwischenlage
eines Isolators 32 auf einem würrneabführenden Bauteil
31 befestigt. Wie bei der Sondenanordnung nach Fig. 1 sind drei Sonden 13 gegeneinander vertikal und seitlich
versetzt angeordnet. In diesem Fall wird einen durch die Linie 36 dargestellten Elektronenstrahl eine
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kontinuierlich wiederholte Ablenkung derart erteilt,
daß er eine kreisförmige Bahn auf einer Strahl-Vju'rmeableitung
37 vollführt und beim Durchlauf dieser Kreisbahn die Sonden je einmal überfährt. Die Sonden,
die ebenfalls in einem eine Wtlrme ab leitung darstellenden
I'letallblock 33 angebracht sind,, sind über eine
Vorspannbatterie 3^ und einen Widerstand 35 elektrisch
mit der Erde verbunden, und die am Widerstand abfallenue
Spannung wird den Vertikal-Ablenkplatten des Oszillographen
zugeführt. In diesem Fall wird das Strahl-Synchronbiersignal am bequemsten von der Quelle abgeleitet,
die die Ablenksignale für den umlaufenden Strahl liefert,
Lin für eine dreiarmice Sondenanordmw der in den Fign.
1 und 2 r.ezeip-ten Art typisches Schirmbild ist in Fig.
■j wiedergegeben. Dort stellt die X-Achse die Zeit und
die Y-Achse die integrierte Stromdichte dar. Bei jedem Impuls 3tolit die Breite an der Dasis den Strahldurchr:.o;j;jer
dar. ilan erkennt , daP/das in Fir··. 3 dargestellte
.,chlrmbild einen f-;utcm Ι'Ό1ηκ;α lerzustand wMer^ibt. weil
da;; yon dor mittleren "cmdu ;;eLieferte Signal eine hohe
i.rif?i'.-;i (--dichte und einen 1:LeInen Strahldurchmesser an-
10ü028/0848
BAD
Γ/65209 1Η
Die Pig. 4 zeigt die X- und Y-Ablenk-Wellenformen, die
verwendet werden, um den Fokus während eines Schweißvorganges mit einer stationären Sonde zu überwachen.
Diese Ablenk-Wellenformen veranlassen den Elektronenstrahl,
von Zelt zu Zeit aus der Schweißposition herauszulaufen und die Sondezu überfahren. In diesem Beispiel
bleibt der Elektronenstrahl etwa 1/50 der Gesamtzeit außerhalb der Schweißstelle.
Wie in Fig.4 dargestellt, wird den X- und Y-Ablenk-Zeitbasen
der Elektronenstrahl-Schweißeinrichtung periodisch ein unipolarer Impuls in Form einer Sinus-Halbwelle
erteilt, wobei die beiden Impulse sich um die Hälfte ihrer Dauer überlappen. Das in Fig. 5 dargestellte
Ergebnis dieser Anordnung besteht darin,daß der Strahl beim Auftreten des ersten Impulses in der
X-Richtung entlang eines Weges a herausschwenkt, wobei
die Stelle maximaler Ablenkung an der Spitze des Impulses auftritt. An dieser Stelle beginnt der Y-Ablenk-Impuls,
so daß während der nächsten halben Impulsperiode gleichzeitig die Y-Ablenkung mit der ansteigenden
Sinus-Wellenform und die X-Ablenkung mit der fallenden
Sinus-Wellenform stattfinden. Infolgedessen schwingt der Strahl um seine Schweißposition in einem Bogen b
bis zu einer Stelle, an der keine X-Ablenkung^ sondern
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Ί 7 6 5 2 B
1S
maximale Y-Ablenkung vorliegt. Daraufhin nimmt während
der nächsten halben Impulsperiode die Y-Ablenkung sinusförmig ab, und der Strahl kehrt entlang der Bahn c in
die Schweißposition zurück. Die Sonde kann irgendwo in der Bewegungsbahn des Strahls während dieser Ablenkung
angeordnet werden; vorzugsweise wird eine Sonde 40, die eine rechtwinklige Biegung aufweist, so angeordnet, daß
ein Abschnitt der Sonde in der ersten Halbperiode der insgesamt aus drei halben Impulsperioden bestehenden Gesamtablenkung
vom Strahl überquert wird, und der andere Abschnitt der Sonde während des dritten halbimpulses.
Die periodische Überwachungs-Ablenkung der Sonde verüäigert
auch die Lebensdauer der Sonde, da sie nur sehr wenig Wärme absorbieren muß. Dies trifft bei einer geradlinigen
Ablenkung (wobei der Strahl die Sonde bei seinen Auswärts- und Einwärtsbewegungen in jeder n-ten
Periode der Quelle überquert) ebenso wie bei der quadr^tartigen Ablenkung zu, bei der der Strahl die Sonde
nur einmal oder an zwei verschiedenen Stellen trifft, so daß sich eine weitere Erhöhung der Lebensdauer der
Sonde ergibt. Quadranten, Halbkreise oder Dreiviertelkreise können nach Wunsch verwendet werden um die Sonden
in Betrieb oder außer Betrieb zu schalten. Falls gewünscht, kann die Sonde eine Anzahl von Armen aufwei-
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BAD
i "/ b b Ί ti 9
sen, wie in den Fign. 1 und 2.
Eine derartige Sonde kann recht nahe an der Oberfläche des Werkstücks angeordnet werden., und da der Konvergenzwinkel
des Strahls sehr klein ist; geht sie dann immer noch durch einen Strahl ir.it kleiner Breite, wenn der
Strahl richtig fokussiert ist. Falls das Werkstück eine veränderliche Höhe aufweist, d.h. falls es verschiedene
Abstände von der Elektronenkanone hat, kann die Sonde so bewegt werden, daß sie dem Profil des Werkstücks
folgt j und auf diese Weise kann ein kontinuierlich veränderter Fokus erzielt werden. Stattdessen kann auch
die Breite des Referenzstrahls für die Sonde verändert werden, un die gleiche Wirkung hervorzurufen. Dies kann
dadurch erreicht werdena daß die Konturen des Werkstücks
elektrisch oder mechanisch abgefühlt werden, oder durch eine besondere Programmierung. Für Stufenprofile können
entsprechende Veränderungen des Fokus mit Hilfe von getrennten, ortsfesten Sonden erzielt werden, die in verschiedenen
Höhen angebracht sind.
Die Signale für die Ablenkung des Elektronenstrahls kennen
leicht dadurch erhalten werden, daß man zwei ,'Jinus-Wellenformen
erzeugt, die um 90° gegeneinander phasen-
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i 7 b b 2 6
1?
verschoben sind, und bei jeder dieser Vfellenformen
eine Halbwelle in jeder 50. Periode ausschleust. Eine dritte Schleusenschaltun^,, die ebenfalls alle 50 Perioden
in Tätigkeit tritt- kann dazu dienen, um aus den abv/echselnden liellenformeri ein Referenzsignal für
die Ablenkung· des Ossillor-raphcnstrahls abzuleiten.
Die Breite., die die Sonde dein Strahl darbietet, soll
beträchtlich kleiner sein als der wirksame Durchmesser des Elektronenstrahls. bei Erfüllung dieser Dedingunr
sind die !Spitze oder Amplitude e und die Gesamtaauer
des von der Probe erhaltenen Sinnais beide sehr empfindlich i'ej-enüber LleLnon Veränderungen der
LnerfiedichteverteLI'.uir- und des otrahldurchmessers .
Vorzugs v/eine wird ein i/.and verviendet das seine Kante
dem Strahl darbietet, da ein Band Lnfolge seiner e;röi'jeren
Quersclinittsfläühe und somit r:röi>eren thermischen
Leitfähigkeit und Viärmekapaiität eLnem Elektronenbombardement
U'nper utrindliült als em Draht von
i'leicher Dicke.
f swelse v/Jrd al:; Jiaterlal für dio r.onde VJoIfram
ven/eiiiiüt, da es einen hohen Schirelüpunlrt elruiti hohen
Mc-ijopunlct ur.fl eine f;nl.i.: Vi.:i nuc h I. Lfi'.h L;4:e Lt aufv/eist.
/vufJ.f;rUoiii i;'.t es ohne woltori;:>
in i'Orm foLnor Drähte
- 17 —
BAD ORIGINAL
I76b269
und Bänder erhältlich. Andere brauchbare Materialien sind Kupfer und Platin: sie sinü jedoch oberhalb mäßiger
Strahleistungen weniger brauchbar. An die Sonde kann eine Vorspannung angelegt werden, um Sekundäremission
als Folge der Einwirkung des Elektronenstrahls zu unterdrücken. Falls der Strahldurchmesser
oder Strahlstrom schwankt (z.B. entsprechend einer Restwelligkeit einer Versorgungsspannung der Maschine)
erfaßt die Sondenanorcinung diese Schwankung und zeigt
ihre Auswirkung auf den Strahl an. Zu diesem Zweck wird die Schwingfrequenz der Sonde relativ zum Strahl
etwas größer gewählt als die Frequenz der möglicherweise auftretenden Restwelligkeit einer Maschinen-Versorgungssparmung.
Eine automatische Regelung des Fokussierzustandes kann
durch die in Fig. 6 schematisch dargestellte Schaltung erzielt werden. Das von der Sonde gelieferte Eingangssignal
wird über einen airekt gekoppelten Verstärker einer Spitzenweruschaltung, beispielsweise· einer Dioden
Kondensator-Schaltung, zugeführt. Die bei jeder Schwingung auftretende Spitzenopannung wird einem Maximalspunnungsfühlor"oup;ei'ührt,
der einen Polaritätswechsel der Steigung des aus der Aufeinanderfolge von Spitzen-
- 18 -
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^f* Ί V 6 b λ B
spannungen erhaltener Signals erfaßt., z.U. durch Bestimmen
der ersten und zweiten Ableitung des Signals. Immer dann, wenn die Polarität der Steigung wechselt,
wird ein Signal einer Fokussier-Servoeinrichtung zugeführt , um den Strom der Fokussierspule in einem solchen
Sinn zu verstellen, daß der Jtnderungssinn des
Fokus umgekehrt wird. Somit schwingt der Strahlfokus,
kontinuierlich um seine Sollposition. Sobald er sich in einem ersten Richtungsinn vom Fokus werbewert,
wird die Richtung der Änderung umgekehrt, und sobald
er wieder durch den Fokus gegangen ist und sich im entgegengesetzten Sinn erneut vom Fokus entfernt, wird
die Richtung der Änderung erneut umgekehrt. Regelanlagen dieser Art sind in Kapitel 15 (Optimalizing Control)
des Buches von H.S. Tsien "Engineering Cybernetics",
erschienen im Jahr 1951J im Verlag IIcGraw Hill, beschrieben3
und ebenso in einem Artikel von R.L. Maybach "Peak Holding Optdmalizing Servo" in der Zeitschrift
"Instrument and Control Systems", Band 36. Ho. 10 (Oktober
1963)5 Seite 76. Bei dem dargestellten Ausführungsbeispiel liefert ein Ileßgeri't eine sichtbare Anzeige
der Spitzenwerte.
Bei einer anderen Auführungsform einer automatischen
Fokusslereinrichtung wird das Ausgangssignal der den
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IO
Spitzenwert haltender· Schaltung einer mit einer Referenzspannung
gespeisten NullabjfLeich-Servoeinrichtung
zugeführt, die den Strom der Fokussierspule steuert. Dieses System kann verwendet werden, wenn der Strahl
an einer Stelle oberhalb des gewünschten Fokus abgefühlt wird, wobei die Referenzspannung mit dem Abstand
in Beziehung steht, mit dem die Sonde oberhalb des Werkstücks angeordnet ist.
Wenn der Strahl vor einem Schweißvorgang fokussiert wirdj wird ein becherförmiger Auffänger 42 (Fig. 7),
der eine Endfläche 43 mit einer Mittelöffnung 44 aufweist
j so in den Strahlweg gebracht, daß der Strahl durch die Mittelöffnung geht; bei der dargestellten
Ausführungsform ist der Becher von einer Kühlschlange
45 umgeben. Es hat sich gezeigt, daß mit einer derartigen
Anordnung die direkte Ionenemission des Auffängers vermindert wird. Es ist offensichtlich, daß
eine Aufzeichnung des von dem Auffängerbecher oder irgendeinem anderen Auffftngerglied, das in Strahlrichtung
hinter der Sonde im Strahlweg angeordnet ist,
abgenommenen Stromes die Umkehrung des in der vorbeschriebenen Weise von der Sonde abgenommenen Signals
darstellt. Dies beruht darauf., daß das Loch in dem becherförmigen Auf fänger von keinem Signal erreicht wird_
- 20 -
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wenn Sonde und Strahl sich überschneiden.
Die Verwendung der Sonde und der Relativbewegung zwischen dem Strahl und der Sonde gestattet es, den Fokus
mit guter Genauigkeit zu bestimmen und ein hohes Verhältnis Tiefe zu Breite im geschmolzenen Metall zu
erhalten: dies hat sich für tiefes Eindringen als wünschenswert erwiesen. Falls gewünscht, kann ein gegebenes
Ausmaß von Defokussierung eingeführt werden. Strahlen mit weichem Fokus sind für Gl'lttungs- oder
Vers chünerungs vorgänge nach Ausführung der Haupt schwä.
ßunc erwünscht und können auch für gewisse zusammenge
setzte Strukturen und Anwendungen bei dünnen Blechen verwendet werden.
- 21 -1098^8/0848 BAD
Claims (16)
1. Verfahren zum Prüfen des Pokusslerungszustandes eines Elektronenstrahls für einen Elektronenstrahl-Schweißvorgang,
dadurch gekennzeichnet, daß eine dünne metallische Sonde innerhalb der Elektronenstrahl-Schweißvorrichtung
angeordnet wird, daß der Sonde und dem innerhalb der Vorrichtung erzeugten Elektronenstrahl eine periodische
Relativbewegung erteilt wird, bei der in jeder Periode die Sonde durch den Strahl bewegt wird, und daß ein elektrisches
Signal, das von einer den Strahl schneidenden Auffängerelektrode abgeleitet wird und auf die periodische überschneidung
von Sonde und Strahl zurückführende Veränderungen aufweist, zum Steuern einer Anzeigeeinrichtung oder
zur Betätigung automatischer Fokussierelnrichtungen benutzt wird.
2. Elektronenstrahl-Schweißvorrichtung mit einer Vakuumkammer,
einer Elektronenkanone und einem Werkstückträger, gekennzeichnet durch eine in der N'ihe des zwischen der Elektronen-
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kanone und dem Werkstück verlaufenden Elektronenstrahlweges vorgesehene Sonde (13)9 Mittel zur Erzeugung
einer solchen periodischen Relativbewegung zwischen der Sonde und dem Strahl (36), daß die Sonde in jeder
Periode der periodischen Relativbewegung durch den Strahl geht3 wobei die Sonde so angeordnet ist, daß sie für
den Elektronenstrahl eine dünne Kante darstellt, und eine auf ein elektrisches Signal, das von einer den Strahl
schneidenden Auffängerelektrode (H2) abgeleitet wird
und auf die periodische Überschneidung von Sonde und Strahl zurückzuführende Veränderungen aufweist, ansprechende
Vorrichtung zur Steuerung einer die Energieverteilung im Strahl angebenden Anzeigeeinrichtung
oder zur Einstellung des Strahlfokussierstromes zwecks Erzielung einer automatischen Fokussierung des Strahls.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch
wenigstens zwei in Laufrichtung des Elektronenstrahls gegeneinander vers-etzte Sonden (13) zur Erzeugung
von Signalen, die die Energieverteilung im Strahl (3β) an zwei verschiedenen Stellen des Strahlweges wiedergeben,
4. Vorrichtung nach Anspruch 3S dadurch gekennzeichnet,
daß die Sonden auch in der Richtung der Relativbewegung von Sonde und Strahl gegeneinander versetzt sind, so
daß die von den Sonden gelieferten Signale zeitlich gegeneinander verschoben sind.
109828/08^8-
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2, 3 oder 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die den Strahl schneidende Auffängerelektrode die Sonde selbst ist.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2, 3 öder 1J,
dadurch gekennzeichnet, daß die den Strahl schneidende Auffängerelektrode so angeordnet ist, daß sie vom
Strahl nach dessen Durchgang durch die Sonde geschnitten wird.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 6, gekennzeichnet durch eine derartige Lagerung der Sonde oder
der Sonden, daß die Sonde eine Drehbewegung in einer pro Umlauf einmal durch den Strahl gehenden Bahn ausführen
kann.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7, gekennzeichnet durch einen Referenzsignalgenerator mit einer Lichtquelle, einer
photoelektrischen Einrichtung, einem mit den Sonden rotierenden Bestandteil, der so angeordnet ist, daß
er das auf die photoelektrische Einrichtung fallende Licht in jedem Umlauf der Sonden einmal in seiner
Intentisät verändert, und einer Kathodenstrahlröhre, der das Referenzsignal und das Sondensignal zugeführt
werden.
9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die Sonden (13) auf einem
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stationären Träger angebracht sind und die Vorrichtung Mittel aufweist, durch die der Elektronenstrahl periodisch
So abgelenkt wird, daß er die stationären Sonden in jeder
Periode einmal schneidet.
10. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2, 3 oder 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die Sonden auf einem stationären Träger angebracht sind und die Vorrichtung
Mittel aufweist, durch die der Elektronenstrahl
so abgelenkt wird, daß er die stationären Sonden λ
in zeitlichen Abständen schneidet, die groß gegen die Ablenkperiode sind, so daß die Verteilung der
Strahlenergie in zeitlichen Abständen während des Portschreitens eines Elektronenstrahl-Schweißvorganges
überwacht werden kann.
11. Vorrichtung nach Anspruch Io, dadurch gekennzeichnet,
daß die Sonde so geformt ist, daß sie in verschiedenen Richtungen erstreckte Teile aufweist, und so angeordnet
ist, daß der Elektronenstrahl bei seiner perio- ™ dinchen Ablenkung jeden der Teile der Sonde überquert,
so daß die sich ergebenden Impulse die Verteilung der Strahl energie über den Strahlquerschnitt in verschiedenen
Richtungen darstellen.
12. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die periodische Ablenkung des Strahls durch
Deaufach]agen zweier den Strahl zueinander senkrechten
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Richtungen ablenkenden Strahlablenksysterne mit je
einer Halbwelle eines Wechselstromes erzielt wird, wobei die beiden Halbwellen sich zeitlich um eine
Viertelperiode überlappen, so daß die Ablenkung des Elektronenstrahls quadrantförmig wird.
13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 12, dadurch
gekennzeichnet, daß die Sonde ein Wolframband ist, das so angeordnet ist, daß es dem Elektronenstrahl
seine Kante darbietet.
14. Vorrichtung nach Anspruch 2 mit zwei Linsen, dadurch gekennzeichnet, daß die Sonde in Höhe des oberen
Crossover im Strahl angeordnet ist.
15· Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 1*1, gekennzeichnet durch auf das elektrische Signal, dessen
Veränderungen auf die periodische übersch-neidung
von Strahl und Sonde zurückführen sind, ansprechende Mittel zur automatischen Einstellung des Pokussierungsstromes
in dem Sinn, daß das Signal, wenn es schwächer ist als sein Spitzenwert, auf seinen Spitzenwert
zurückgeführt wird.
16. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 14, zur
Verwendung für den Fall, daß die Sonde so angeordnet ist,
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daß sie den Strahl an einem vorgegebenen Abstand oberhalb des gewünschten Fokus unterbricht, gekennzeichnet
durch eine zum Einstellen des Strahl-Fokussierungs- stromes diendade Nullabgleich-Servoeinrichtung, die
so angeschlossen ist, daß sie ein mit dem Abstand in Beziehung stehendes Referenzsignal empfängt.
- δ 109828/0848
BAD ORfGJNAL
Le
erse
it
Applications Claiming Priority (2)
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Family
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