DE1196806B - Verfahren und Einrichtung zur automatischen Fokussierung des Ladungstraegerstrahles in Geraeten zur Materialbearbeitung mittels Ladungstraegerstrahl - Google Patents

Verfahren und Einrichtung zur automatischen Fokussierung des Ladungstraegerstrahles in Geraeten zur Materialbearbeitung mittels Ladungstraegerstrahl

Info

Publication number
DE1196806B
DE1196806B DEZ9079A DEZ0009079A DE1196806B DE 1196806 B DE1196806 B DE 1196806B DE Z9079 A DEZ9079 A DE Z9079A DE Z0009079 A DEZ0009079 A DE Z0009079A DE 1196806 B DE1196806 B DE 1196806B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
current
workpiece
focusing lens
lens
flowing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEZ9079A
Other languages
English (en)
Inventor
Dipl-Ing Fritz Schleich
Dr Justus Sienknecht
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Raytheon Technologies Corp
Original Assignee
United Aircraft Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to NL285495D priority Critical patent/NL285495A/xx
Application filed by United Aircraft Corp filed Critical United Aircraft Corp
Priority to DEZ9079A priority patent/DE1196806B/de
Priority to CH1240462A priority patent/CH400405A/de
Priority to FR914764A priority patent/FR1347111A/fr
Priority to US239864A priority patent/US3291959A/en
Priority to GB42582/62A priority patent/GB959430A/en
Publication of DE1196806B publication Critical patent/DE1196806B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K15/00Electron-beam welding or cutting
    • B23K15/0013Positioning or observing workpieces, e.g. with respect to the impact; Aligning, aiming or focusing electronbeams
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/21Means for adjusting the focus

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Welding Or Cutting Using Electron Beams (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Description

BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. α.:
H 05b
Deutsche Kl.: 21h-30/02
Nummer: 1196 806
Aktenzeichen: Z 9079 VIII d/21 h
Anmeldetag: 18. November 1961
Auslegetag: 15.JuIi 1965
Bei den bekannten zur Materialbearbeitung mittels Ladungsträgerstrahl dienenden Geräten wird der Auftreffpunkt des Strahles auf dem Werkstück mit einem Einblickmikroskop beobachtet. Der das Gerät bedienende kann so die Positionierung des Strahles auf dem Werkstück und die Einstellung des engsten Strahlquerschnittes auf die Werkstückoberfläche kontrollieren. Soll der Bearbeitungsvorgang automatisch ablaufen, so ist die automatische Positionierung des Ladungsträgerstrahles auf dem Werkstück mit übliehen Mitteln, z. B. Photozellen und Nachlaufsteuerungen, durchführbar.
Es ist auch bekannt, bei Geräten zur Materialbearbeitung mittels Ladungsträgerstrahles in der Nähe der Bearbeitungsstelle einen für Licht oder Wärme empfindlichen Strahlungsempfänger anzuordnen und Mittel zur Steuerung der Brennweite der im Strahlengang angeordneten Linse in Abhängigkeit von Strom oder Spannung dieses Strahlungsempfängers vorzusehen. Diese bekannte Einrichtung hat jedoch »o den Nachteil, daß sie nicht sehr genau arbeitet.
Ferner ist ein Gerät zum Schweißen mit Hilfe eines Elektronenstrahles bekannt, bei welchem der Elektronenstrahl mittels zweier Fokussierungslinsen auf das Werkstück fokussiert wird. Zwischen diesen beiden Linsen ist eine Lochblende angeordnet. Um Aufschmelzungen der Lochblende zu vermeiden, ist es notwendig, daß unabhängig von der Einstellung des Strahlstromes der Elektronenstrahl stets in der Verfahren und Einrichtung zur automatischen
Fokussierung des Ladungsträgerstrahles in
Geräten zur Materialbearbeitung mittels
Ladungsträgerstrahl
Anmelder:
United Aircraft Corporation,
East Hartford, Conn. (V. St. A.)
Vertreter:
Dipl.-Ing. F. Weickmann,
Dr.-Ing. A. Weickmann,
Dipl.-Ing. H. Weickmann
und Dipl.-Phys. Dr. K. Fincke, Patentanwälte,
München 27, Möhlstr. 22
Als Erfinder benannt:
Dipl.-Ing. Fritz Schleich, Unterkochen (Württ);
Dr. Justus Sienknecht, Frankfurt/M.
kathode kreissymmetrisch Sondenelektroden anzuordnen, welche die von der Antikathode emittierten Sekundärelektronen auffangen. Die Richtungsverteiöffnung der Lochblende den kleinsten Durchmesser 30 lung der aufgefangenen Sekundärelektronen wird zur aufweist. Zur Erfüllung dieser Forderung ist bei dem automatischen Steuerung der Richtung des Elekbekannten Gerät die Lochblende mit einem Ver- tronenstrahles auf die gewünschte Auftreffstelle auf stärker und einem phasenabhängigen Gleichrichter der Antikathode benutzt.
verbunden. Der der Kathode zugelegenen Fokussie- Schließlich ist noch eine Einrichtung zum
rungslinse wird zusätzlich zum Fokussierungsstrom 35 Schweißen mit Hilfe eines Ladungsträgerstrahles beein kleiner Wechselstrom zugeführt. Dadurch verän- kannt, bei welcher die an der Unterseite des Werkdert sich der Durchmesser des engsten Strahlquer- Stückes austretenden Streu- und Sekundärelektronen schnittes periodisch. Liegt der Fokus in der Loch- zur automatischen Steuerung der Intensität des Elekblendenebene, dann verschwindet die Grundfrequenz tronenstrahles oder zur Steuerung des Werkstückder von der Lochblende abgenommenen Wechsel- 40 oder Strahlvorschubes benutzt werden. An Stelle der spannung. Dieser Sachverhalt wird über den phasen- Messung der Streu- und Sekundärelektronen ist auch abhängigen Gleichrichter zur automatischen Regelung des Fokussierungsstromes durch die kathodennahe Linse benutzt.
Diese bekannte Einrichtung ist nur in der Lage, den Fokus des Elektronenstrahles auf den Mittelpunkt der genannten Lochblende einzuregeln. Zur Regelung der Fokussierung des Ladungsträgerstrahles auf das zu bearbeitende Werkstück selbst ist die bekannte Einrichtung jedoch nicht geeignet.
Bei Röntgenröhren mit dach- oder spitzförmiger Antikathode ist es bekannt, im Raum vor der Antischon der vom isolierten Werkstück abfließende Strom zum gleichen vorgenannten Zweck gemessen worden.
Es ist nun das Ziel der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren und eine Vorrichtung zur automatischen Fokussierung des Ladungsträgerstrahles auf das zu bearbeitende Werkstück anzugeben, welche frei von den Nachteilen der erwähnten bekannten Verfahren ist und welche darüber hinaus einige wesentliche Vorteile mit sich bringt. So kann es beispielsweise bei der Materialbearbeitung mittels Ladungsträgerstrahl
509 600/307
3 4
notwendig sein, die Fokussierung so zu wählen, daß Stückoberfläche ausgehenden Elektronenstrom. Dader engste Strahlquerschnitt in Richtung der Strahl- durch wird der Gesamtstrom der vom Objekt ausachse in einer vorgegebenen Entfernung von der gehenden Ladungsträger geringer und erreicht Werkstückoberfläche liegt. Dies ist mit den bekannten schließlich ein Minimum. Dieses Minimum tritt geMitteln nur sehr unvollkommen zu erreichen. Da- 5 nau dann ein, wenn der optimale Fokussierungszugegen ist eine solche Einstellung bei dem Verfahren stand des Elektronenstrahles erreicht ist. In diesem bzw. bei der Einrichtung nach der vorliegenden Er- Moment wird der durch die Fokussierungslinse findung ohne weiteres durchführbar. fließende Strom festgehalten, so daß also auch der
Bei dem neuen Verfahren zur automatischen optimale Fokussierungszustand fixiert bleibt.
Fokussierung des Ladungsträgerstrahles auf das zu io Bei der Bearbeitung von Wolfram kann der posibearbeitende Werkstück in Geräten zur Materialbear- tive Ionenstrom so groß werden, daß er im Zustand beitung mittels Ladungsträgerstrahles wird der durch der Fokussierung den Elektronenstrom überwiegt, die Fokussierungslinse fließende Strom in seiner d.h. also, daß eine Umpolung des vom Werkstück Stärke periodisch verändert. Gemäß der Erfindung wegfließenden Stromes auftritt,
wird gleichzeitig mit der periodischen Änderung der 15 Wird in an sich bekannter Weise der vom Objekt Linsenstromstärke die Menge der vom Objekt aus- zur Erde abfließende Strom gemessen, so tritt, wie gehenden Ladungsträger gemessen, und es wird bei auf Grund der obigen Ausführungen ohne weiteres Erreichen eines Extremwertes dieser Menge der in ersichtlich ist, im Zustand der optimalen Fokussiediesem Moment durch die Fokussierungslinse rung ein Maximum des vom Objekt abfließenden fließende Strom festgehalten. Das Auftreten dieses ao Stromes auf.
Extremwertes ist ein eindeutiges Kriterium für das Wird ein Objekt mit niedriger Elektronenemission
Erreichen des optimalen Fokussierungszustandes des und niedrigem Schmelzpunkt, z. B. ein Werkstück Ladungsträgerstrahles. Es wird also bei dem neuen aus Stahl, bearbeitet, so werden bei dem Verfahren Verfahren die Brechkraft der Fokussierungslinse nach der Erfindung die vom Objekt ausgehenden Laperiodisch verändert, wobei diese Veränderung bei 25 dungsträger beschleunigt und sodann aufgefangen, Erreichen des Fokussierungszustandes automatisch und es wird bei Erreichen eines Maximums des Aufunterbrochen wird. Dadurch wird erreicht, daß beim fängerstromes der durch die Fokussierungslinse Bearbeitungsvorgang der engste Strahlquerschnitt un- fließende Strom festgehalten. Es ist in diesem Fall abhängig von Variationen der Werkstückdicke und auch möglich, das Objekt negativ vorzuspannen und der Wahl der Strahlstromstärke immer auf der Werk- 30 den vom Objekt abfließenden Strom zu messen, wostückoberfläche erhalten bleibt. bei jedoch der durch die Fokussierungslinse fließende
Soll ein Objekt mit hoher Elektronenemission und Strom bei Erreichen eines Minimums des abfließenhohem Schmelzpunkt, z. B. ein Werkstück aus Wolf- den Stromes festgehalten wird,
ram, bearbeitet werden, so werden die auf der dem Auch bei der Bearbeitung eines Objektes mit nied-
Strahl zugewandten Seite vom Objekt ausgehenden 35 riger Elektronenemission und niedrigem Schmelz-Ladungsträger aufgefangen, und es wird bei Er- punkt tritt zunächst im defokussierten Zustand des reichen eines Minimums des Auffängerstromes der Elektronenstrahles eine Reflexion von Elektronen durch die Fokussierungslinse fließende Strom fest- auf. Wird der Fokussierungszustand des Strahles vergehalten. In ähnlicher Weise kann auch der vom Ob- bessert, so tritt auch hier eine thermische Elektronenjekt abfließende Strom in an sich bekannter Weise 40 emission auf. Gleichzeitig verdampft jedoch das gemessen werden, wobei jedoch der durch die Fokus- Material, so daß also nur sehr wenige positive Ionen sierungslinse fließende Strom bei Erreichen eines erzeugt werden. Die emittierten thermischen Elek-Maximums des abgeleiteten Stromes festgehalten tronen gelangen durch die Vorspannung zum Aufwird, fänger und summieren sich zu den reflektierten Elek-
Diesem Einstellverfahren liegt der im folgenden 45 tronen. Im Zustand der optimalen Fokussierung tritt näher beschriebene Effekt zugrunde. dann ein Maximum des Auffängerstromes auf.
Trifft ein intensitätsreicher Elektronenstrahl auf Wie ohne weiteres einzusehen ist, tritt im Zustand
eine Materialoberfläche, so wird, wie bekannte Unter- der optimalen Fokussierung ein Minimum des vom suchungen gezeigt haben, ein Teil der Elektronen die Objekt gegen Erde abfließenden Stromes auf, voraus-Oberfläche des Werkstücks wieder verlassen. Diese 50 gesetzt, daß das Objekt negativ vorgespannt ist.
Reflexion oder auch Rückdiffusion der Elektronen ist Es ist auch möglich, bei der Bearbeitung eines Ob-
abhängig von verschiedenen Eigenschaften, so z.B. jektes mit hoher Elektronenemission und hohem Ordnungszahl, Oberflächenbeschaffenheit usw. des Schmelzpunkt den Auffänger positiv vorzuspannen, bearbeiteten Werkstückes. Sie ist jedoch in dem Dadurch gelangt auch in diesem Fall die thermisch interessierenden Spannungsbereich von 25 bis einigen 55 emittierten Elektronen zum Auffänger, so daß also 100 kV eine gut meßbare Größe. Solange der auf die auch hier im Zustand der optimalen Fokussierung Werkstückoberfläche auftreffende Elektronenstrahl ein Maximum des Auffängerstromes auftritt,
defokussiert ist, ist seine Energiedichte so gering, daß Die beschriebene automatische Fokussierung
lediglich Elektronen reflektiert werden. Eine ther- arbeitet in der beschriebenen Art und Weise sehr gemische Elektronenemission tritt noch nicht auf. Wird 60 nau, wenn der Ladungsträgerstrahl in bekannter nun der Fokussierungszustand des Elektronenstrahles Weise impulsförmig zur Wirkung gebracht wird, verbessert, so wird das Objekt so hoch erhitzt, daß Trifft dagegen der Ladungsträgerstrahl kontinuierlich eine thermische Elektronenemission auftritt. Das auf das Werkstück auf, so bildet sich beim Messen Material verdampft nicht, sondern es emittiert lang- der Menge der vom Objekt ausgehenden Ladungssame Elektroden. Wird der Fokussierungszustand des 65 träger kein eindeutig auswertbares Extremum des Elektronenstrahles weiter verbessert, so treten Stromes aus. Vielmehr entsteht zwischen dem Stromschließlich auch positive Ionen auf. Diese positiven anstieg und dem Stromabfall ein verhältnismäßig Ionen kompensieren teilweise den von der Werk- flacher Kurvenverlauf, der zudem noch durch un-
5 6
regelmäßige Stromschwankungen unterbrochen sein rung der Stärke des durch die Fokussierungslinse
kann. In diesem Fall wird vorteilhaft automatisch fließenden Stromes sowie Schaltmittel zum Außer-
der Symmetriepunkt zwischen den Flanken des betriebsetzen dieser Vorrichtung in Abhängigkeit von
Stromanstieges und des Stromabfalles festgestellt, der Amplitude des Auffängerstromes,
und es wird der bei Erreichen dieses Symmetrie- 5 Wird der vom Objekt abfließende Strom zur Ein-
punktes durch die Fokussierungslinse fließende Strom stellung des Fokussierungszustandes verwendet, so
festgehalten. wird das zu bearbeitende Objekt in an sich bekannter
Der Symmetriepunkt muß nicht genau in der Mitte Weise isoliert gelagert und über einen Widerstand zwischen den Flanken des Stromanstieges und des mit Erde verbunden. Der durch diesen Widerstand Stromabfalles gelegen sein, sondern er kann durch io fließende Strom wird gemessen, und bei Erreichen elektrische Mittel nach einer Seite verschoben eines Extremwertes dieses Stromes wird der werden. In diesem Fall wird durch einen Vorversuch durch die Fokussierungslinse fließende Strom festermittelt, welche Lage des Symmetriepunktes der ge- gehalten.
nauen Fokussierung entspricht und die Schaltmittel In vielen Fällen ist es vorteilhaft, die Einrichtung
zur Feststellung des Symmetriepunktes werden dann 15 zur automatischen Fokussierung so auszubilden, daß
so eingestellt, daß dieser Punkt automatisch stets auf zwischen Fokussierungslinse und Werkstück je ein
die durch den Vorversuch ermittelte Lage eingestellt zum Auffangen der vom Werkstück ausgehenden
wird. Elektronen bzw. Ionen dienender Auffänger vorge-
Um den Bereich, innerhalb dessen der durch die sehen ist, wobei der Elektronenauffänger gegenüber Fokussierungslinse fließende Strom periodisch ver- 20 dem Werkstück positiv vorgespannt ist und einen ihm ändert wird, möglichst klein halten zu können, ist es vorgeordneten Ablenkmagneten aufweist. Durch vorteilhaft, den durch die Fokussierungslinse fließen- diesen Ablenkmagneten wird gewährleistet, daß nur den Strom mittels mechanischer oder optischer Elektronen auf den Elektronenauffänger fallen, da Mittel, welche zur Abtastung der Werkstückober- die Ionen infolge ihrer großen Masse kaum abgefläche dienen, so einzustellen, daß der Ladungsträger- 25 lenkt werden. Beide Auffänger sind mit einer zum strahl grob fokussiert ist. Die Stärke des Linsen- Feststellen der Differenz der Auffängerströme und stromes wird sodann mit diesem voreingestellten zum Abschalten der Vorrichtung zur periodischen Wert als Mittelwert periodisch verändert, und die Änderung der Stärke des durch die Fokussierungs-Feineinstellung erfolgt nach dem oben geschilderten linse fließenden Stromes bei Erreichen eines Mini-Verfahren. 30 mums der Differenz der beiden Auffängerströme
Es ist auch möglich, zu Beginn des Bearbeitungs- dienenden Schaltvorrichtung verbunden.
Vorganges den durch die Fokussierungslinse fließen- Die Erfindung wird im folgenden an Hand der
den Strom langsam ansteigen zu lassen und dieses Ausführungsbeispiele darstellenden Fig. 1 bis 11
Ansteigen bei Erreichen eines bestimmten vorge- näher erläutert. Dabei zeigt
wählten Wertes des Auffängerstromes oder des vom 35 F i g. 1 ein mit der neuen Einrichtung zur autoObjekt abfließenden Stromes zu unterbrechen. So- matischen Fokussierung des Ladungsträgerstrahles dann setzt ausgehend von diesem Wert die beschrie- ausgerüstetes Gerät zur Materialbearbeitung mittels bene periodische Änderung des Linsenstromes ein. Ladungsträgerstrahl, teilweise im Schnitt gezeichnet, Der erwähnte vorgewählte Wert ist dabei so einge- Fig. 2 eine vergrößerte Darstellung des Werkstellt, daß bei der anschließenden periodischen 4° Stückes und des Auffängers,
Linsenstromänderung der Fokussierungszustand der Fig. 3a und 3b die Formen des auf dem Bild-Linse mit Sicherheit erreicht wird. schirm eines mit dem Werkstück verbundenen
Die Frequenz der Linsenstromänderung ist vorteil- Oszillographen aufgezeichneten Ladungsträgerstrahlhaft niedrig und liegt im Bereich zwischen 1 und impulses im defokussierten und im fokussierten Zu-15 Hz. 45 stand des Strahles,
Eine besonders hohe Empfindlichkeit und weit- F i g. 4 die Abhängigkeit des Auffängerstromes jA
gehende Unabhängigkeit von den Verschiedenheiten von dem durch die Fokussierungslinse fließenden
der bearbeiteten Materialien erhält man dann, wenn Strom jL bei der Bearbeitung eines Werkstückes aus
der beim Messen der Menge der vom Objekt aus- Wolfram,
gehenden Ladungsträger entstehende Strom einem 50 Fig. 5a ein isoliert gelagertes Werkstück sowie Speicher zugeführt wird, der jeweils den vorher- die Schaltung zur Messung des vom Objekt abfließengehenden Wert dieses Stromes mit dem nächstfolgen- den Stromes,
den Wert vergleicht und der den Linsenstrom bei Fig. 5b die Abhängigkeit des vom Objekt abdem jeweils festgestellten Extremwert festhält. fließenden Stromes von dem durch die Fokussie-Soll der Ort des engsten Strahlquerschnitts ober- 55 rungslinse fließenden Strom,
oder unterhalb der Werkstückoberfläche festgelegt F i g. 6 eine vergrößerte Darstellung des Werkwerden, so wird der beim Messen der Menge der vom Stücks und des zugeordneten Auffängers, bei welcher Objekt ausgehenden Ladungsträger entstehende der Auffänger positiv vorgespannt ist,
Strom zeitlich verzögert. Durch entsprechende Ein- Fig. 7a und 7b die Formen eines auf einem mit stellung der Verzögerungszeit läßt sich dann ohne 60 dem Werkstück verbundenen Oszillographen aufgeweiteres erreichen, daß die Stelle des engsten Strahl- zeichneten Ladungsträgerstrahlimpulses bei dequerschnitts in Strahlrichtung gesehen eine vorgege- fokussiertem und fokussiertem Ladungsträgerstrahl, bene Strecke ober- oder unterhalb der Werkstück- F i g. 8 die Abhängigkeit des Auffängerstromes jA oberfläche gelegen ist. von dem durch die Fokussierungslinse fließenden
Die Einrichtung nach der Erfindung enthält einen 65 Strom jL bei der Bearbeitung eines Objektes mit nied-
zwischen der Fokussierungslinse und dem zu bearbei- riger Elektronenemission und niedrigem Schmelz-
tenden Werkstück angeordneten Auffänger, eine an punkt, beispielsweise eines Objektes aus Stahl mit
sich bekannte Vorrichtung zur periodischen Ände- einem impulsförmig gesteuerten Ladungsträgerstrahl,
F i g. 9 die in F i g. 8 dargestellte Abhängigkeit, wobei jedoch der Ladungsträgerstrahl kontinuierlich auf das Werkstück auftrifft,
F i g. 10 die vergrößerte Darstellung eines Werkstückes, welchem ein Elektronen- und ein Ionenauffänger zugeordnet ist,
Fi g. 11 ein Werkstück und einen in verschiedenen Fokussierungszuständen gezeichneten Ladungsträgerstrahl.
Hochspannungskabels dem Gerät S zugeführt. Dieses Gerät dient zur Erzeugung der regelbaren Heizspannung und der regelbaren Steuerzylindervorspannung. Diese Spannungen werden über ein Hochspannungsist ein Ablenksystem 6 angeordnet, welches zur Justierung des Elektronenstrahls 11 dient. Der Generator 7 dient zur Stromversorgung des Ablenksystems 6.
Unterhalb des Ablenksystems 6 ist eine Blende 8 angeordnet, welche mittels der Knöpfe 9 und 10 in der Papierebene und senkrecht zur Papierebene be-
spielsweise mit einem Potentiometer verbunden, und der durch dieses Potentiometer fließende Strom gelangt zu einem Speicher 33. Dieser Speicher ist mit dem Elektromotor 18 verbunden, wobei entsprechend 5 der Umdrehungszahl des Motors 18 die Speicherzeit eingestellt wird.
Nach Ablauf der eingestellten Verzögerungszeit wird vom Speicher 33 ein Signal zum Generator 34 geliefert. Durch dieses Signal wird der durch die Bei dem in Fig. 1 dargestellten Gerät zur Mate- io Fokussierungslinse 13 fließende Strom eingestellt, rialbearbeitung mittels eines Elektronenstrahls ist Die Wirkungsweise der Einrichtung zur automa-
mit 1 die Kathode, mit 2 der Steuerzylinder und mit tischen Fokussierung ist folgende: Beim Bewegen des 3 die geerdete Anode des Strahlerzeugungssystems Werkstücks 15 in Schweißrichtung wird zunächst bezeichnet. Im Gerät 4 wird eine Hochspannung von über den Abtaster 31 in der geschilderten Weise der beispielsweise 100 kV erzeugt und mittels eines 15 Mittelwert des durch die Fokussierungslinse 13
fließenden Stromes eingestellt. Dabei ist die Zeit, über welche das Signal im Speicher 33 gespeichert wird, so eingestellt, daß das entsprechende, den Mittelwert des Linsenstromes festlegende Signal erst dann zum
kabel dem Strahlerzeugungssystem 1, 2, 3 zugeführt, ao Generator 34 geliefert wird, wenn sich das Werkstück In Strahlrichtung gesehen unterhalb der Anode 3 15 so weit weiterbewegt hat, daß der vom Taster 31
angemessene Punkt der Oberfläche unter die Auftreffstelle des Elektronenstrahls 11 zu liegen kommt. Der Speicher 33 kann beispielsweise als Magnet-25 band mit zwei Köpfen ausgebildet sein, wobei der eine Kopf zur Aufnahme des vom Potentiometer 32 gelieferten Signals und der andere Kopf zur Weitergabe dieses Signals an den Generator 34 dient. Die
wegt werden kann. Nach erfolgter Justierung des m n Geschwindigkeit des Magnetbandes wird dabei über Elektronenstrahls 11 fällt dieser durch ein geerdetes 30 den Elektromotor 18 beeinflußt. Rohr 12 und wird mittels der elektromagnetischen Mittels des Abtasters 31 wird also der durch die
Linse 13 auf das im Bearbeitungsraum 28 angeord- Fokussierungslinse 13 fließende Strom so eingestellt, nete Werkstück 15 fokussiert. daß eine grobe Fokussierung des Elektronenstrahls
Ein unterhalb der Fokussierungslinse 13 angeord- 11 auf das Werkstück 15 erreicht ist. Zugleich wird netes elektromagnetisches Ablenksystem 14, zu dessen 35 über einen weiteren Elektromotor 35 der Linsen-Stromversorgung der Generator 19 vorgesehen ist, stromgenerator 34 so beeinflußt, daß durch die dient zur Ablenkung des Elektronenstrahls 11 relativ Fokussierungslinse 13 ein Strom fließt, welcher perizum Werkstück 15. odisch um den voreingestellten Wert schwankt. Die
Zur Beobachtung des auf das Werkstück 15 auf- Amplitude der Linsenstromänderung ist so gewählt, treffenden Elektronenstrahls 11 dient ein optisches 40 daß mit Sicherheit im Verlauf einer Periode der System, welches die mikroskopische Auflichtbeleuch- exakte Fokussierungszustand des Strahls 11 durchtung des Werkstücks 15 erlaubt. Dieses System be- laufen wird. Der Elektronenstrahl 11 durchläuft wähsteht aus einem Beleuchtungssystem 20, welches par- rend der periodischen Änderung des Stromes durch alleles Licht liefert. Dieses Licht wird über zwei die Fokussierungslinse 13 verschiedene Fokussiemetallische Prismen 21 und 22 auf eine in axialer 45 rungszustände, wie sie beispielsweise in Fig. 11 dar-Richtung verschiebbare Linse 23 reflektiert und wird gestellt sind. Wie aus dieser Figur ersichtlich ist, ist von dieser auf die Schicht 15 fokussiert. Unterhalb der Strahl 11a unterhalb der Werkstückoberfläche der Linse 23 ist eine auswechselbare Glasplatte 24 fokussiert, der Strahl 11 b ist auf die Werkstückoberangeordnet, welche die Linse vor etwaigen Verun- fläche fokussiert, während der Strahl 11 c oberhalb reinigungen schützt. Die Linse 23 wird zusammen 50 der Werkstückoberfläche fokussiert ist. mit der Glasplatte 24 mittels des Knopfes 25 in Im defokussierten Zustand des Elektronenstrahls
axialer Richtung bewegt. 11, wie er beispielsweise in F i g. 2 gestrichelt dar-
Das von der Oberfläche des Werkstücks 15 reflek- gestellt ist, gelangen lediglich von der Werkstücktierte bzw. ausgehende Licht wird durch die Linse 23 oberfläche 15 reflektierte Elektronen zum Auffänger parallel gerichtet und über den Spiegel 26 in das als 55 30. Dieser Auffänger ist in F i g. 2 über ein Strom-Stereomikroskop ausgebildete Beobachtungssystem meßgerät37 mit Erde verbunden, während in der 27gelenkt. Darstellung der Fig. 1 der Auffänger mit einem
Im Bearbeitungsraum 28 ist das Werkstück 15 mit- Schaltgerät 36 in Verbindung steht. In der Darsteltels der Haltevorrichtung 16 auf einem schematisch lung der F i g. 2 ist weiterhin zum Zwecke der besdargestellten Kreuztisch 17 angeordnet, welcher mit- 60 seren Darstellung das Werkstück 15 über einen tels des Elektromotors 18 in Richtung des Pfeiles be- Widerstand 38 mit Erde verbunden, wobei die am wegt werden kann. Widerstand 38 abfallende Spannung einem Oszillo-
Zwischen dem Ablenksystem 14 und dem Werk- graphen 39 zugeführt wird.
stück 15 ist ein Auffänger 30 ausklappbar angeord- Wird der Elektronenstrahl 11 impulsförmig zur
net, welcher mittels eines Isolators 29 gehaltert ist. 65 Wirkung gebracht, so wird auf dem Leuchtschirm des Weiterhin befindet sich im Bearbeitungsraum 28 ein Oszillographen 39 der in F i g. 3 a wiedergegebene mechanischer Abtaster 31, welcher über ein Ritzel Spannungsverlauf aufgezeichnet, solange der Elekein Zahnrad 32 verdreht. Das Zahnrad 32 ist bei- tronenstrahl 11 defokussiert ist. Wird nunmehr der
9 10
Fokussierungszustand des Elektronenstrahls 11 ver- rigem Schmelzpunkt, z.B. aus Stahl. Fig. 7a zeigt bessert, so werden schließlich vom Werkstück 15 wiederum den auf dem Leuchtschirm des Oszillothermische Elektronen emittiert, und es treten gleich- grapen 39 aufgezeichneten Elektronenstrahlimpuls, zeitig positive Ionen auf. Auf dem Leuchtschirm des wenn der Elektronenstrahl 11 defokussiert ist. Im Oszillographen 39 kann man dabei beobachten, daß 5 fokussierten Zustand des Strahls 11 wird der aufgeder Impuls schmäler wird, wie dies in Fig. 3b dar- zeichnete Impuls schmaler, wie dies Fig. 7b zeigt, gestellt ist. Besteht beispielsweise das Werkstück 15 Es tritt jedoch kein positiver Teil des aufgezeichneten aus Wolfram, so tritt, wie aus Fig. 3b ersichtlich Impulses auf.
ist, am Ende des schmaler gewordenen Impulses noch Fig. 8 zeigt die Abhängigkeit des Auffängerein kurzer Anstieg nach der positiven Seite auf. io stromes jA von dem durch die Fokussierungslinse 13
Der Verlauf des Auffängerstromes jA in Abhängig- fließenden Strom }L. Wie aus dieser Figur zu erkeit von dem durch die Fokussierungslinse 13 fließen- kennen ist, erreicht der Auffängerstrom jA dann ein den Strom }L ist in F i g. 4 dargestellt. Wie aus dieser Maximum, wenn der Elektronenstrahl 11 den opti-Figur zu erkennen ist, tritt im defokussierten Zustand malen Fokussierungszustand erreicht hat. Die in des Elektronenstrahls 11 ein ständig wachsender 15 Fig. 1 dargestellte Schaltvorrichtung 36 ist in Elektronenstrom zum Auffänger 30 auf. Im Fokus- diesem Fall so ausgebildet, daß sie den Elektromotor sierungszustand des Elektronenstrahls 11 erreicht der 35 dann abschaltet, wenn der Auffängerstrom sein Auffängerstrom jA ein Minimum, wobei er im Falle Maximum erreicht.
der Bearbeitung von Wolfram sogar nach der posi- Die Schaltvorrichtung 36 ist zweckmäßig so aus-
tiven Seite ansteigt. Wie aus Fig. 4 zu erkennen ist, 20 gebildet, daß sie einen Speicher enthält, der jeweils ist das Minimum des Auffängerstromes sehr scharf den vorhergehenden Wert des Auffängerstromes mit ausgeprägt. Sobald dieses Minimum erreicht ist, wird dem nächstfolgenden Wert vergleicht. Wenn die optiüber das Schaltgerät 36 in F i g. 1 der Elektromotor male Fokussierung erreicht ist, d. h. wenn der Auf-35 abgeschaltet. Dadurch bleibt der in diesem Augen- fängerstrom seinen Extremwert überschreiten will, so blick durch die Fokussierungslinse 13 fließende Strom 25 wird der Abschaltimpuls für den Elektromotor 35 geerhalten, so daß also der Elektronenstrahl 11, wie in liefert. Eine solche Schaltvorrichtung kann immer F i g. 2 mit ausgezogenen Linien dargestellt, auf die verwendet werden, unabhängig davon, ob der AbOberfläche des Werkstücks 15 fokussiert bleibt. schaltimpuls bei Erreichen eines Maximums oder
Der Generator 34 kann beispielsweise so ausge- eines Minimums des Auffängerstromes erzeugt bildet sein, daß er ein den Linsenstrom festlegendes 30 werden soll.
Potentiometer enthält. Dieses Potentiometer wird Bei dem in F i g. 6 dargestellten Ausführungsbei-
durch die vom Speicher 33 gelieferten Signale in spiel beträgt die Vorspannung des Auffängers 41 geseiner Gesamtheit verdreht. Der Abgriff des Potentio- genüber dem Werkstück 15 etwa 6 bis 20 V. Spannt meters wird über den Elektromotor 35 periodisch um man das Werkstück 15 etwa mit derselben Vorspaneine Mittellage bewegt. Es ist ohne weiteres einzu- 35 nung negativ gegen Erde vor und verwendet den über sehen, daß in diesem Fall durch eine Verdrehung des den Widerstand 38 nach Erde abfließenden Strom gesamten Potentiometers der Mittelwert des durch zur Einstellung der Fokussierung, so muß der Elekdie Fokussierungslinse 13 fließenden Stromes einge- tromotor35 dann abgeschaltet werden, wenn dieser stellt wird, während mittels des Elektromotors 15 abfließende Strom ein Minimum erreicht,
eine periodische Stromänderung hervorgerufen wird. 40 F i g. 9 zeigt die Abhängigkeit des Auffänger-
Es ist vorteilhaft, die automatische Fokussierung stromes }A von dem durch die Fokussierungslinse 13 nur in gewissen zeitlichen Abständen durchzuführen fließenden Strom jL für den Fall, daß das in F i g. 6 und in der Zwischenzeit den Auffänger 30 aus der dargestellte Werkstück 15 mit einem kontinuierlich unmittelbaren Umgebung des Strahls 11 herauszu- auftreffenden Ladungsträgerstrahl beaufschlagt wird, klappen, um eine Verschmutzung des Auffängers 45 Wie man erkennt, bildet sich hier kein eindeutig ausdurch verdampfte Materialpartikeln zu vermeiden. Es wertbares Maximum aus, sondern es entsteht zwikann dabei eine automatisch wirkende Vorrichtung sehen dem Stromanstieg und dem Stromabfall ein vorgesehen sein, welche den Auffänger 30 jeweils flacher Stromverlauf, der zudem noch durch unregelnach bestimmten Zeiten oder auch in Abhängigkeit mäßige Stromschwankungen unterbrochen ist. In von der Größe des vom Abtaster 31 gelieferten Si- 50 diesem Fall ist die Schaltvorrichtung 36 der F i g. 1 gnals wieder in die in Fig. 1 gezeichnete Stellung so ausgebildet, daß sie automatisch den Symmetrieeinklappt. punkt 50 zwischen den Flanken des Stromanstiegs
In F i g. 5 a ist das Werkstück 15 mittels eines Iso- und des Stromabfalls feststellt und bei Erreichen lators 40 auf dem Kreuztisch 17 gelagert. Zur auto- dieses Punktes den durch die Fokussierungslinse matischen Fokussierung wird hier ein Strommeßgerät 55 fließenden Strom festhält. Der Symmetriepunkt 50 41 verwendet, welches den vom Objekt abfließenden muß nicht unbedingt genau in der Mitte zwischen Strom % mißt. Dieser Strom erreicht, wie Fig. 5b den Flanken des Stromanstiegs und des Stromabfalls zeigt, dann ein Maximum, wenn der Elektronenstrahl liegen, sondern er kann automatisch durch die Schalt-11 fokussiert ist. Es ist also in diesem Fall die Schalt- vorrichtung 36 nach der Seite verschoben werden, vorrichtung 36 der F i g. 1 so ausgebildet, daß sie den 60 wenn durch einen Vorversuch ermittelt wurde, daß Elektromotor 35 außer Funktion setzt, sobald der dem genauen Fokussierungszustand des Ladungsvom Objekt abfließende Strom sein Maximum er- trägerstrahls eine andere Lage des Symmetriepunktes reicht. entspricht.
Fig. 6 zeigt einen vergrößerten Teilschnitt des In Fig. 10 ist oberhalb des Werkstücks 15 eine
Werkstücks 15, dem ein gegenüber dem Werkstück 65 Blende 42 angeordnet, welche zwei symmetrisch anpositiv vorgespannter Auffänger 41 zugeordnet ist. geordnete Schlitze aufweist. Die durch diese Schlitze Das Werkstück 15 besteht in diesem Fall aus einem hindurchtretenden Ladungsträger durchlaufen das Metall mit niedriger Elektronenemission und nied- Feld des Ablenkmagneten 43. Durch dieses Ablenk-
feld werden die vom Werkstück 15 ausgehenden Elektronen abgelenkt und gelangen zum Auffänger 45. Dieser Auffänger ist gegenüber dem Werkstück positiv vorgespannt, wobei die Vorspannung wiederum im Bereich von 6 bis 20 V liegt. Die vom Werkstück 15 ausgehenden Ionen werden infolge ihrer großen Masse vom Ablenkmagnetfeld 43 kaum beeinflußt und gelangen zum Auffänger 44.
Besteht das Werkstück 15 aus einem Material von hohem Schmelzpunkt und hoher Elektronenemission, so ist sowohl der vom Werkstück ausgehende Ionenstrom als auch der vom Werkstück ausgehende Elektronenstrom im Zustand der optimalen Fokussierung des Stroms 11 am größten. Infolgedessen wird das Gerät 46, welches zur Feststellung der Differenz der Auffängerströme der beiden Auffänger 44 und 45 dient, ein Minimum anzeigen, sobald der Elektronenstrahl 11 den optimalen Fokussierungszustand erreicht hat. Das in diesem Moment vom Gerät 46 erzeugte Signal wird dem Elektromagneten 35 zügeführt, so daß also dieser Motor abgeschaltet wird.
Durch die in Fig. 10 dargestellte Einrichtung erreicht man eine besonders hohe Genauigkeit.
Soll der engste Strahlquerschnitt des Elektronenstrahls 11 nicht auf der Oberfläche des Werkstücks 15, sondern um einen bestimmten Betrag darunter- oder darüberliegen, so wird das Schaltgerät 36 so ausgebildet, daß es das Signal zum Abschalten des Elektromotors 35 erst nach einer von Hand einstellbaren Verzögerungszeit weitergibt. In diesem Fall läßt sich also erreichen, daß beispielsweise der in Fig. 11 dargestellte Fokussierungszustand 11 α erreicht wird, bei welchem der Elektronenstrahl unterhalb der Werkstückoberfläche fokussiert ist. Es läßt sich auch der in Fi g. 11 mit lic bezeichnete Fokussierungszustand erreichen, bei welchem der Strahl 11 so fokussiert ist, daß der engste Strahlquerschnitt oberhalb der Werkstückoberfläche liegt. Durch entsprechende Einstellung der Verzögerungszeit des Schaltgliedes 36 kann der Abstand des Ortes engsten Strahlquerschnitts von der Werkstückoberfläche verändert werden.

Claims (15)

Patentansprüche:
1. Verfahren zur automatischen Fokussierung des Ladungsträgerstrahls auf das zu bearbeitende Werkstück in Geräten zur Materialbearbeitung mittels Ladungsträgerstrahl, bei welchem der durch die Fokussierungslinse fließende Strom in seiner Stärke periodisch verändert wird, dadurch gekennzeichnet, daß gleichzeitig mit der periodischen Änderung der Linsenstromstärke die Menge der vom Objekt ausgehenden Ladungsträger gemessen wird und daß bei Erreichen eines Extremwertes dieser Menge der in diesem Moment durch die Fokussierungslinse fließende Strom festgehalten wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, bei welchem ein Objekt mit hoher Elektronenemission und hohem Schmelzpunkt bearbeitet wird, dadurch gekennzeichnet, daß die auf der dem Strahl zugewandten Seite vom Objekt ausgehenden Ladungsträger aufgefangen werden und daß bei Erreichen eines Minimums des Auffängerstromes der durch die Fokussierungslinse fließende Strom festgehalten wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, bei welchem ein Objekt mit niedriger Elektronenemission und niedrigem Schmelzpunkt bearbeitet wird, dadurch gekennzeichnet, daß die auf der dem Strahl zugewandten Seite vom Objekt ausgehenden Ladungsträger beschleunigt und sodann aufgefangen werden und daß bei Erreichen eines Maximums des Auffängerstromes der durch die Fokussierungslinse fließende Strom festgehalten wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1, bei welchem ein Objekt mit hoher Elektronenemission und hohem Schmelzpunkt bearbeitet wird, dadurch gekennzeichnet, daß in an sich bekannter Weise der vom Objekt abfließende Strom gemessen wird und daß bei Erreichen eines Maximums dieses Stromes der durch die Fokussierungslinse fließende Strom festgehalten wird.
5. Verfahren nach Anspruch 1, bei welchem ein Objekt mit niedriger Elektronenemission und niedrigem Schmelzpunkt bearbeitet wird, dadurch gekennzeichnet, daß das Objektiv negativ vorgespannt ist und daß in an sich bekannter Weise der vom Objekt abfließende Strom gemessen wird und daß bei Erreichen eines Minimums dieses Stromes der durch die Fokussierungslinse fließende Strom festgehalten wird.
6. Verfahren nach Anspruch 1 und einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß bei einem in der Umgebung des Extremwertes sehr flachen Kurvenverlauf des zu messenden Stromes elektronisch der Symmetriepunkt zwischen den Flanken des Stromanstieges und des Stromabfalles festgestellt wird und daß bei Erreichen dieses Symmetriepunktes der durch die Fokussierungslinse fließende Strom festgehalten wird.
7. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß durch mechanische oder optische Mittel, welche zur Abtastung der Werkstückoberfläche dienen, der durch die Fokussierungslinse fließende Strom so eingestellt wird, daß der Ladungsträgerstrahl grob fokussiert ist und daß danach die Stärke des Linsenstromes mit diesem voreingestellten Wert als Mittelwert periodisch verändert wird.
8. Verfahren nach Anspruch 1 und 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Frequenz der Linsenstromänderung niedrig ist.
9. Verfahren nach Ansprach 1 und einem oder mehreren der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß der beim Messen der Menge der vom Objekt ausgehenden Ladungsträger entstehende Strom einem Speicher zugeführt wird, der jeweils den vorhergehenden Wert dieses Stromes mit dem nächstfolgenden Wert vergleicht und der den Linsenstrom bei dem jeweils festgestellten Extremwert festhält.
10. Verfahren nach Anspruch 1 und einem oder mehreren der Ansprüche 2 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß zur Festlegung des engsten Strahlquerschnitts ober- oder unterhalb der Werkstückoberfläche der beim Messen der Menge der vom Objekt ausgehenden Ladungsträger entstehende Strom zeitlich verzögert wird.
11. Einrichtung zur Ausübung des Verfahrens nach Ansprach 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der Fokussierungslinse und dem zu bearbeitenden Werkstück ein Auffänger für die vom Werkstück ausgehenden Ladungsträger sowie eine an sich bekannte Vorrichtung zur perio-
dischen Änderung der Stärke des durch die Fokussierungslinse fließenden Stromes vorgesehen sind und daß Schaltmittel zum Außerbetriebsetzen dieser Vorrichtung in Abhängigkeit von der Amplitude des Auffängerstromes angeordnet sind.
12. Einrichtung zur Ausübung des Verfahrens nach den Ansprüchen 1, 4 und 5, dadurch gekennzeichnet, daß in an sich bekannter Weise das zu bearbeitende Objekt isoliert gelagert und über einen Widerstand mit Erde verbunden ist und daß eine an sich bekannte Vorrichtung zur periodischen Änderung der Stärke des durch die Fokussierungslinse fließenden Stromes vorgesehen ist und daß Schaltmittel zum Außerbetriebsetzen dieser Vorrichtung in Abhängigkeit von der Amplitude des durch den Widerstand fließenden Stromes vorgesehen sind.
13. Einrichtung nach Anspruch 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung zum periodischen Verändern der Stärke des durch die Fokussierungslinse fließenden Stromes aus
einem über einen Elektromotor betätigten Potentiometer besteht.
14. Einrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen Fokussierungslinse und Werkstück je ein zum Auffangen der vom Werkstück ausgehenden Elektronen bzw. Ionen dienender Auffänger vorgesehen ist, wobei der Elektronenauffänger gegenüber dem Werkstück positiv vorgespannt ist und einen ihm vorgeordneten Ablenkmagneten aufweist.
15. Einrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß beide Auffänger mit einer zum Feststellen der Differenz der Auffängerströme und zum Abschalten der Linsenwobblung bei Erreichen eines Minimums dieser Differenz dienenden Schaltvorrichtung verbunden sind.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Auslegeschriften Nr. 1087295,1063286, 1100835;
Welding lournal vom August 1960, S. 791 bis 796.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
509 600/307 7.65 © Bundesdruckerei Berlin
DEZ9079A 1961-11-18 1961-11-18 Verfahren und Einrichtung zur automatischen Fokussierung des Ladungstraegerstrahles in Geraeten zur Materialbearbeitung mittels Ladungstraegerstrahl Pending DE1196806B (de)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL285495D NL285495A (de) 1961-11-18
DEZ9079A DE1196806B (de) 1961-11-18 1961-11-18 Verfahren und Einrichtung zur automatischen Fokussierung des Ladungstraegerstrahles in Geraeten zur Materialbearbeitung mittels Ladungstraegerstrahl
CH1240462A CH400405A (de) 1961-11-18 1962-10-24 Verfahren und Einrichtung zur automatischen Fokussierung des Ladungsträgerstrahles in Geräten zur Materialbearbeitung mittels Ladungsträgerstrahl
FR914764A FR1347111A (fr) 1961-11-18 1962-11-08 Procédé et appareillage pour la focalisation automatique du faisceau de particules électrisées dans les instruments destinés au travail d'un matériau au moyen d'un faisceau de particules électrisées
US239864A US3291959A (en) 1961-11-18 1962-11-09 Procedure and equipment for the automatic focussing of the charge carrier beam in devices for the working of materials by means of a charge carrier beam
GB42582/62A GB959430A (en) 1961-11-18 1962-11-12 Procedure and equipment for the automatic focussing of the charge carrier beam in devices for the working of materials by means of a charge carrier beam

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEZ9079A DE1196806B (de) 1961-11-18 1961-11-18 Verfahren und Einrichtung zur automatischen Fokussierung des Ladungstraegerstrahles in Geraeten zur Materialbearbeitung mittels Ladungstraegerstrahl

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1196806B true DE1196806B (de) 1965-07-15

Family

ID=7620748

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEZ9079A Pending DE1196806B (de) 1961-11-18 1961-11-18 Verfahren und Einrichtung zur automatischen Fokussierung des Ladungstraegerstrahles in Geraeten zur Materialbearbeitung mittels Ladungstraegerstrahl

Country Status (5)

Country Link
US (1) US3291959A (de)
CH (1) CH400405A (de)
DE (1) DE1196806B (de)
GB (1) GB959430A (de)
NL (1) NL285495A (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3718177A1 (de) * 1987-05-29 1988-12-15 Leybold Ag Einrichtung fuer elektronenstrahlfokussierung, insbesondere beim elektronenstrahlschweissen

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5552675A (en) * 1959-04-08 1996-09-03 Lemelson; Jerome H. High temperature reaction apparatus
US3378670A (en) * 1964-03-23 1968-04-16 Westinghouse Electric Corp Method of craterless electron beam welding
US3369101A (en) * 1964-04-30 1968-02-13 United Aircraft Corp Laser micro-processer
US3383492A (en) * 1964-06-23 1968-05-14 Welding Research Inc Optical viewing system for electron beam welders
US3426174A (en) * 1965-12-09 1969-02-04 United Aircraft Corp Electron reflection seam tracker
US3408474A (en) * 1966-04-04 1968-10-29 Gen Electric Electron beam welding apparatus
US3391239A (en) * 1966-05-06 1968-07-02 Air Force Usa Electrode centering mechanism for vacuum arc melting
GB1114985A (en) * 1966-05-14 1968-05-22 Steigerwald Karl Heinz A method of processing workpieces by means of energy-carrying rays
US3469066A (en) * 1966-09-30 1969-09-23 Nasa Method and device for preventing high voltage arcing in electron beam welding
US3492456A (en) * 1966-12-22 1970-01-27 Hi G Inc Method and means for controlling the path of a beam of electrically charged particles
GB1152224A (en) * 1967-05-15 1969-05-14 Vickers Ltd Electron-Beam Welding
US3474220A (en) * 1967-05-17 1969-10-21 Webb James E Device for preventing high voltage arcing in electron beam welding
FR1588067A (de) * 1968-10-25 1970-04-03
DE1939763A1 (de) * 1969-08-05 1971-02-18 Demag Ag Verfahren und Vorrichtung zum Schmelz-Schweissen von Rohren,insbesondere von Rohren aus Stahl
NL7100609A (de) * 1970-02-07 1971-08-10
DE2005682C3 (de) * 1970-02-07 1974-05-09 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Vorrichtung zum Absaugen der Sekundärelektronen in einem Rasterelektronenmikroskop oder einem Elektronenstrahl-Mikroanalysator
US3752952A (en) * 1970-03-24 1973-08-14 Steigerwald Strahltech Process for precision setting of the electron beam in electron beam welding
GB1540064A (en) * 1975-07-08 1979-02-07 Atomic Energy Authority Uk Laser removal of material from workpieces
NL7904580A (nl) * 1979-06-12 1980-12-16 Philips Nv Inrichting voor het schrijven van patronen in een laag op een substraat met een bundel elektrisch geladen deeltjes.
FR2464783A1 (fr) * 1979-09-14 1981-03-20 Petroles Cie Francaise Procede de soudage par faisceau d'electrons, a regulation par la puissance absorbee ou par la puissance traversante, ainsi que dispositif de mise en oeuvre de ce procede
US4663525A (en) * 1985-07-08 1987-05-05 Nanometrics Incorporated Method for electron gun alignment in electron microscopes
US5920073A (en) * 1997-04-22 1999-07-06 Schlumberger Technologies, Inc. Optical system
CN114178668B (zh) * 2021-12-01 2023-03-24 西北工业大学 一种专用于太空焊接的钢笔式手持电子束枪

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1063286B (de) * 1958-01-22 1959-08-13 Foerderung Forschung Gmbh Verfahren und Einrichtung zum Einstellen der Lage des durch einen Kathodenstrahl erzeugten Brennflecks auf der Antikathode einer Roentgenroehre
DE1087295B (de) * 1959-02-20 1960-08-18 Zeiss Carl Fa Verfahren und Vorrichtung zum Schweissen mittels eines Ladungs-traegerstrahles
DE1100835B (de) * 1952-03-01 1961-03-02 Zeiss Carl Fa Einrichtung zum Fraesen von Profilen, zum Schneiden von Schablonen oder zum Bohren von Duesenkanaelen mittels eines Ladungstraegerstrahles

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2640948A (en) * 1950-09-21 1953-06-02 High Voltage Engineering Corp Apparatus for utilizing a beam of high energy electrons in sterilization and in therapy
US2771568A (en) * 1951-01-31 1956-11-20 Zeiss Carl Utilizing electron energy for physically and chemically changing members
NL240710A (de) * 1958-07-01
US3054896A (en) * 1961-01-12 1962-09-18 William H Jones Apparatus for electron beam heating control
US3158733A (en) * 1962-09-12 1964-11-24 Nat Res Corp Focus control for electron beam heating

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1100835B (de) * 1952-03-01 1961-03-02 Zeiss Carl Fa Einrichtung zum Fraesen von Profilen, zum Schneiden von Schablonen oder zum Bohren von Duesenkanaelen mittels eines Ladungstraegerstrahles
DE1063286B (de) * 1958-01-22 1959-08-13 Foerderung Forschung Gmbh Verfahren und Einrichtung zum Einstellen der Lage des durch einen Kathodenstrahl erzeugten Brennflecks auf der Antikathode einer Roentgenroehre
DE1087295B (de) * 1959-02-20 1960-08-18 Zeiss Carl Fa Verfahren und Vorrichtung zum Schweissen mittels eines Ladungs-traegerstrahles

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3718177A1 (de) * 1987-05-29 1988-12-15 Leybold Ag Einrichtung fuer elektronenstrahlfokussierung, insbesondere beim elektronenstrahlschweissen

Also Published As

Publication number Publication date
NL285495A (de)
GB959430A (en) 1964-06-03
CH400405A (de) 1965-10-15
US3291959A (en) 1966-12-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1196806B (de) Verfahren und Einrichtung zur automatischen Fokussierung des Ladungstraegerstrahles in Geraeten zur Materialbearbeitung mittels Ladungstraegerstrahl
DE2364142A1 (de) Roentgenstrahlenquelle
DE1099659B (de) Abschirmvorrichtung
DE1937482C3 (de) Mikrostrahlsonde
DE69634328T2 (de) Hochtemperatur-probentisch und detektor für rasterelektronenmikroskop unter kontrollierter umgebung
DE2825760C2 (de) Einrichtung zum alternativen Nachweis von positiv und negativ geladenen Ionen am Ausgang eines Massenspektrometers
DE1133841B (de) Elektronenmikroskop zur direkten Abbildung von Oberflaechen durch Sekundaerelektronen, Verfahren zur Untersuchung von Nichtleitern oder Halbleitern und Anordnung zur Durchfuehrung des Verfahrens
DE1299498B (de) Vorrichtung zur UEberwachung des Strahlauftreffbereichs in Korpuskularstrahl-Bearbeitungsgeraeten
DE1225775B (de) Verfahren und Einrichtung zur Bearbeitung eines Werkstueckes mittels eines Ladungstraegerstrahles
DE112017007776B4 (de) Ladungsträgerstrahlvorrichtung
EP0401658B1 (de) Rastertunnelmikroskop mit Einrichtungen zur Erfassung von von der Probe herkommender Elektronen
DE1184435B (de) Verfahren und Vorrichtung zum Ladungstraegerstrahl-Schweissen mit in zwei Kammern angeordneten Linsen
DE2540602C2 (de)
DE879876C (de) Vorrichtung mit elektronenoptischer Abbildung einer photoelektrischen Kathode
DE1077336B (de) Kathodenstrahlroehre mit einer Vorkonzentrationslinse
DE2161027C3 (de) Elektronenstrahlerzeuger mit einer durch einen Energiestrahl zu erhitzenden Kathode
DE1073655B (de) Verfahren zum Ändern der Bildhelligkeit in Korpuskularstrahlgeräten, insbesondere in Elektronenmikroskopen
DE720676C (de) Anordnung zur Konzentration eines Elektronenstrahlenbuendels zu einem fadenfoermigen Strahl in einer hoch evakuierten Roehre mit Gluehkathode
DE3426623C2 (de)
DE2360829C3 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Brennfleckdurchmessers auf einem Werkstück bei einer ElektronenstrahlschweiBanlage
EP0428867B1 (de) Verfahren zum Schutz einer Blende beim Erzeugen von Elektronenstrahlimpulsen
DE1498511A1 (de) Massenspektrometer
DE1261971B (de) Einrichtung zum Schweissen, Schneiden oder zur Materialbearbeitung mittels eines Ladungstraegerstrahls
DE3718177A1 (de) Einrichtung fuer elektronenstrahlfokussierung, insbesondere beim elektronenstrahlschweissen
DE1539035A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Regelung der Fokussierung eines Elektronenstrahles