DE1675898U - Rechenvorrichtung fuer belichtungsmesser. - Google Patents

Rechenvorrichtung fuer belichtungsmesser.

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DE1675898U DE1953Z0002277 DEZ0002277U DE1675898U DE 1675898 U DE1675898 U DE 1675898U DE 1953Z0002277 DE1953Z0002277 DE 1953Z0002277 DE Z0002277 U DEZ0002277 U DE Z0002277U DE 1675898 U DE1675898 U DE 1675898U
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PM 6 57 8 3-IiB
Pa. 9216 ■-■■' -. -Stuttgartf den 14-.
Beschreibung zum.,Gesuch... -
"-;--.-" - ■"-; .v.der . V^ ,"-■-; -. ' - λ· .- Z 'e' 3, s s Ikon AG«, Stuttgart im Eintragung eines Gebrauchsmusters betreffend:
«Bechenvorrichtung für BeIichtungsmes s er "
Die bekannten Belichtungsmesser für photographisehe Kameras, stellen die Mrchsclmittsleuchtdieiite (gemessen in Apostilb)" des Aufnahmeobjektes entweder optisch oder durch photoelek- ; trische Messinstfumente-fest«,. Dieser Wert bedarf einer Anpassung "an bestimmte, kameratechnisch.und.aufnähmet echnisch ge-.. gebene &rössenr z,B« an die Pilmempfindlichkeit des Aufnahmematerials sowie an" den Abstand:; Objektiv - Bildbühne, zumalwenn dieser durch YerwendiuQg von sogenannten Terlängerungsrohren wesentlich über/das übli^^che Maas·, vergrössert wird, um Aufnahmen von Gegenständen etwa im "Verhältnis 1:1 zu ermöglichen. Auch in-den Strahlengang:dea Objektivs eingebrachte. Filter·. : und Auswechselob j ektiyg^^ mit'.vom Formalobjektiv stark abweichenden Bildwinkeln können Veranlassung geben, den durch . Messung erhaltenen Wer| der ■durchschnittlichen leuchtdichte \zu korrigieren·- .■ '>■ :" \ ■.."; ; ;. . '-';, '.-"*-_
Bisher wurden die normalerweise auf den·Miterfassungen bzw. Distänzrohr^n ahgeTirachten Verlängerungsfaktoren mit demr aus Messung und- -Eechnung- sich ergebenden: fert^kombiniertir-:- "; ' Eine: andere lie^a^ieγ- üie?notwenää^I-korrektur"'vorzunehiien/:;^~ "bestand dar^^-^i^^^erlä^fei^gsfäk^ YeTstellbareni^ ^Yaadeaklifel^r^
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beim Errechnen der gültigen Belichtungswerte berücksichtigt werden konnten. Beide Methoden erfordern einen zusätzlichen Eingriff in die bisherige Ermittlung. Da aber Aufnahmen mit Vorsatzelementen der genannten Art nicht die Regel sind, besteht die Gefahr, dass diese zusätzlich erforderlichen Eingriffe unberücksichtigt bleiben. · . ■
In der Bedienung und der Handhabung derartiger Rechenvorrichtungen für Belichtungsmesser vorzugsweise für photographische Kameras, bei der der gemessene Wert der mittleren Leuchtdichte mittels einer Pestmarke in die Rechenvorrichtung hineingearbeitet wird, wird eine Vereinfachung erzielt, wenn gemäss der Neuerung die genannten Verlängerungsfaktoren der Belichtungszeit in Nachbarschaft der Pestmarke gehäusefest angeordnet werden, so dass die verstellbaren Glieder der Rechenvorrichtung im Bedarfsfall anstatt auf die Pestmarke auf diese Paktoren eingestellt werden können.
In der Zeichnung ist die Neuerung an einem photoelektrischen Belichtungsmesser beispielsweise veranschaulicht.
Die belichtete Photozelle des Messinstruments liefert einen Strom, der den Zeiger 1 über der Skala 2 ausschlagen lässt. Ihre Ziffern können entsprechend der logarithmischen Anzeige des Messinstrumentes aufgetragen sein. Eine derartige Anzeige trägt die charakteristischen Häufungspunkte an einem Ende der Skala, wodurch die Ablesegenauigkeit erschwert wird« An Stelle der logarithmischen Skala wird daher eine Zahlenreihe gewählt, die mehr oder weniger im gleichen Abstand aufgetragen wird, wie aus der Abbildung ersichtlich. Diese Skalenreihe . ■■;--.: . stellt also, lediglich Kennziffern dar, die einer nachfolgenden "Umrechnung bedürfen. Dies geschieht dadurch, dass auf der dreh-
baren Scheibe 3 die gleichen Kennziffern in entsprechendem Abstand aufgetragen sind· Der Zeiger des Messinstrumentes ermittelt die zu wählende Kennziffer· Durch Drehen der Scheibe 3 wird die gleiche Ziffer der Skala 9 auf die feste" Marke 4 eingestellt. Auf derselben Scheibe 3 befindet sich die Skala 10 der Blendenzahlen* Die Skala 11 der Belichtungszeiten liegt auf der Scheibe 5, so dass die Messung eine bestimmte Gegenüberstellung beider Wertreihen ergibt. Um die Ifilmempfindlichkeit berücksichtigen zu können, kann diese Scheibe 5 in einem durch die Skala der Din-Grade gegebenen Bereich verstellt werden, so dass mittels des Index 7 die benutzte Schichtempfindlichkeit eingestellt werden kann.
Auf der Scheibe 5 ist zusätzlich die Zahlenreihe 12 der Lichtleitwerte aufgetragen» Mit dieser Skala arbeitet der Einstellindex 8 zusammen, der auf der Ringscheibe 3 liegt, und mittels dem die errechnete Lichtleitzahl abgelesen werden kann.
Die Methode der Einstellung auf eine gehäusefest gewählte Marke erlaubt ein Ablesen der zu ermittelnden Werte unter Berücksichtigung von Filter- bzw. Verlängerungsfaktoren, ohne eine zusätzlicheEiEstsLlung des Rechengerätes vornehmen zu müssen* Erreicht wird dies dadurch, dass in Hachbarschaft dieses festen Index, in dem gezeigten Ausführungsbeispiel konzentrisch um die Einstellscheibe 3, diese Verlängerungsfaktoren aufgetragen werden. Sollen derartige Verlängerungsfaktoren berücksichtigt werden* so wird die ermittelte Kennziffer der Skala 9 anstatt auf den Index 4 auf den jeweiligen Verlängerungsfaktor eingestellt« In gleicher Weise können Verlängerungsfaktoren berücksichtigt werden, die sich bei extrem-grossen ■ AVstandsänderungen" von Objektiv und Bildbühne ergeben·

Claims (1)

  1. Schutzanspruch
    Rechenvorrichtung für Belichtungsmesser vorzugsweise für photographische Kameras, bei welcher der gemessene Wert der mittleren Leuchtdichte mittels einer Pestmarke in die Rechenvorrichtung hineingearbeitet wird, dadurch gekennzeichnet, dass die bei Gebrauch von Filtern bzw« Zusatzobjektiven erforderlichen Verlängerungsfaktoren der Belichtungszeit, bzw. Faktoren, die den Abstand Objektiv - Bildbühne berücksichtigenj in Nachbarschaft der Festmarke (4) gehäusefest angeordnet sind, so dass die verstellbaren Glieder der Rechenvorrichtung im Bedarfsfall anstatt auf die Festmarke auf diese Faktoren eingestellt werden können.
    ikon ag
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1151133B (de) * 1958-05-14 1963-07-04 Reichert Optische Werke Ag Photoelektrischer Belichtungsmesser fuer Mikroskope

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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