DE1614269B2 - Elektronenmikroskop mit einer objektbegrenzungsblende - Google Patents
Elektronenmikroskop mit einer objektbegrenzungsblendeInfo
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Elektronenmikroskop, das mindestens eine Objektivlinse, eine Regellinse
und eine Projektivlinse enthält, welche nacheinander längs der Achse des Mikroskops angeordnet sind und
bei dem zwischen der Objektivlinse und der Regellinse in Strahlrichtung gesehen nachfolgend eine Kontraststeigerungsblende
und eine Objektbegrenzungsblende und eine Regelvorrichtung zur Erregung der Objektivlinse
mit verschiedenen Stromstärken vorgesehen sind. Ein solches Elektronenmikroskop ist beispielsweise aus
Philips Techn. Rundschau, 12. Jhrg., 1950, Nr. 2, S. 33 bis
52, bekannt.
Zur normalen Beobachtung eines Elektronenbildes des Objekts befindet sich die Kontraststeigerungsblende,
die meist als »Objektblende« bezeichnet wird, nahezu in der auf der Bildseite der Objektivlinse liegenden
Brennebene, und sie bezweckt, nur die ersten zu den Strukturdetails des Objekts gehörigen Beugungsmaxima
durchzulassen, die zu einer Erzeugung eines kontrastreichen Bilds aus diesen Details beitragen müssen.
Zur Begrenzung der durchgehenden Strahlung auf die von einem bestimmten Teil des Objekts durchgelassene
Strahlung soll eine Blende mit kleiner öffnung in der Nähe der von der Regellinse abgebildeten Objektebene angeordnet werden. Diese Blende wird als Objektbegrenzungsblende
(auch Selektorblende) bezeichnet. Man kann mit Hilfe dieser Blende innerhalb der
von der Größe des Bildfeldes begrenzten Abbildung ein Detail beobachten, ohne daß man von umgebenden
Bilddetails gestört wird. Die Blende hat eine einstellbare Größe und ist verschiebbar, oder sie kann infolge
ihrer leichten Auswechselbarkeit auf einfache Weise durch andere Blenden mit verschiedenen Durchlaßöffnungen
ersetzt werden. Die Blende wird nicht zur normalen Beobachtung des Objektbilds verwendet.
Die Erfindung schafft die Möglichkeit, den Anwendungsbereich des Mikroskops durch Verwendung der
Objektbegrenzungsblende zu erweitern, wie nachstehend nachgewiesen wird.
Durch die Anwendung der Regellinse kann eine starke Gesamtvergrößerung erzielt werden, ohne daß die
Vergrößerung jeder einzelnen der drei zusammenwirkenden Linsen außerordentlich groß zu sein braucht.
Durch Änderung der Erregung der Regellinse kann sich die Vergrößerung innerhalb weiter Grenzen ändern,
während dennoch der ganze Bildschirm besetzt bleibt. Bei einem Zweistufenmikroskop ist eine solche
kontinuierliche Vergrößerungsänderung kaum erzielbar. Es kann erwünscht sein, das Elektronenmikroskop
nicht nur bei einer maximalen Vergrößerung, sondern auch bei einer geringeren Vergrößerung als mit der Regellinse
erzielbar ist, anzuwenden.
Die Grenze der bei normaler Verwendung des Mikroskops erzielbaren Mindestvergrößerung ist erreicht,
wenn die Objektebene der Regellinse mit der Ebene zusammenfällt, in der das Objekt angeordnet ist. Die
Objektivlinse ist dann nicht mehr im erregten Zustand. Eine derartige Einstellung ist jedoch unbefriedigend,
weil dann keine Kontraststeigerungsblende verwendet werden kann.
Zur Beibehaltung einer Erzeugung eines kontrastreichen Bilds ist die Anwendung einer derartigen Blende
absolut erforderlich, und der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Verbesserung der Bilderzeugung
im nahezu minimalen Vergrößerungsbereich zu schaffen.
Diese Aufgabe wird nach der Erfindung bei einem Elektronenmikroskop der eingangs genannten Art dadurch
gelöst, daß die Regelvorrichtung so ausgebildet ist, daß der Erregungsstrom der Objektivlinse auf einen
festen Wert außerhalb des normalen Regelbereichs einstellbar ist, bei dem die bildseitige Brennfläche der Objektivlinse
sich von der Ebene der Kontraststeigerungsblende zu der Ebene der Objektbegrenzungsblende
verschiebt. Statt ein schmales Bündel aus der abbildenden Strahlung abzutrennen, wirkt die mit einer kleinen
Öffnung versehene Blende in diesem Falle auf gleiche Weise wie die Kontraststeigerungsblende bei normalern
Gebrauch des Mikroskops.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachstehend an Hand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 den normalen Strahlengang eines Dreistufenmikroskops mit magnetischen Linsen, und
F i g. 2 den Strahlengang bei der angestrebten Einstellung
des Erregungsstroms der Objektivlinse.
F i g. 1 zeigt beispielsweise das Linsensystem eines bekannten Elektronenmikroskops. Die Kathode 1 emittiert
Elektronen, die unter dem Einfluß einer für hohe Spannung gegen diese Kathode 1 isolierten und mit
einer öffnung versehenen Anode 2 zu einem engen Bündel 3 konzentriert werden. Das Elektronenbündel 3
durchläuft eine Kondensorlinse 4, die die Elektronen weiter konvergiert. Die Objektivlinse 5 umfaßt das
Elektronenbündel und enthält das Objekt 6. Die Abmessungen der Linsendurchlaßöffnungen in die Breite
des Elektronenbündels sind der Deutlichkeit halber übertrieben groß dargestellt. In Wirklichkeit entfernen
sich die Elektronen bis in die Projektorlinse an keinem Punkt um mehr als etwa 1 mm von der Achse.
In dem Objekt 6 werden die Elektronen zerstreut, was durch Spaltung der Randstrahlen in eine Anzahl
abgebogener Strahlen dargestellt ist, die je für sich bestimmte Bahnen folgen. Ein Mindestquerschnitt 7 entsteht
an der Stelle, wo sich gleichgerichtete Strahlen treffen, und zwar in der bildseitigen Brennfläche der
Linse 5. Für normalen Gebrauch ist an dieser Stelle eine Kontraststeigerungs- oder Objektblende 8 angeordnet,
die für die Bilderzeugung nicht brauchbare Streustrahlung möglichst ausblendet. Infolge der Fokussierung
durch die Objektivlinse 5 treffen sich die im Objekt 6 abgebogenen Strahlen jedes Punkts in einem
weiter von der Linse 5 entfernten Querschnitt, in dem
ein Zwischenbild 9 erzeugt wird. Dann passieren die Elektronenstrahlen die Regellinse 10, mit der eine Abbildung
11 des Zwischenbilds 9 in der Bildfläche der Projektivlinse 12 erzeugt wird, welche das Endbild auf
dem Leuchtschirm 13 oder einem anderen strahlenauffangenden Material erzeugt.
Eine Änderung der Vergrößerung bei konstanten Abbildungseigenschaften der Projektivlinse 12 erfordert
eine geringe Änderung der Stärke des Erregungsstroms der Objektivlinse und eine geringe Änderung
der Einstellung der Stromstärke der Regellinse. Die Erregungsströme werden von der Batterie 14 geliefert
und unter Zwischenschaltung von Einstellwiderständen 15 und 16 den Spulen der Linsen 5 und 10 zugeführt.
Im Stromkreis der Objektivlinse 5 ist ein Umschalter
17 angebracht, durch den die Stromzuführungsleitung
18 zu der Spule der Linse 5 mit dem Einstellglied 19 des Einstellwiderstandes 15 oder mit einer zweiten Verbindungsleitung
von der Batterie 14 verbunden werden kann, die außer dem Widerstand 15 noch den festen
Widerstand 20 enthält.
Bei der ersteren Verbindung kann das Elektronenmikroskop normal betätigt werden und ist eine kontinuierliche
Änderung der linearen Vergrößerung über einen Bereich zwischen z. B. 3000 und 60 OOOmal möglieh.
Ein Objekt mit einem Durchmesser von z. B. 3 mm würde dann minimal auf 900 cm vergrößert werden,
wobei natürlich nur ein geringer Teil des Objekts auf dem Bildschirm projiziert wird.
Wenn die Objektivlinse 5 an die Batterie 14 unter Zwischenfügung der in Reihe geschalteten Widerstände
15 und 20 angeschlossen wird, wird die Linse schwach erregt, und zwar derart, daß sich die bildseitige
Brennfläche von der Ebene der Objektblende 8 zur Ebene der Objektbegrenzungsblende 22 verschiebt.
Der Brennpunktabstand ist dann viele Male größer als der Abstand des Objekts 6 von der Hauptfläche der
Linse. Dadurch wird ein vor der Linse liegendes und daher unreelles Zwischenbild 21 erzeugt, dessen Größe
sich nur wenig von der des eigentlichen Objekts 6 unterscheidet, was in F i g. 2 dargestellt ist. Bei Abbildung
durch die Zwischenlinse 10 und die Vergrößerungslinse 11 wird eine Vergrößerung von etwa 220mal erreicht.
Diese Einstellung eignet sich insbesondere zur Erzeugung von Übersichtsaufnahmen, die oft dazu beitragen,
daß bei bestimmten Untersuchungen, z. B. bei der biologischen und der metallurgischen Untersuchung, wertvolle
Details leicht lokalisiert werden können. Die dabei unentbehrlichen Bildkontraste sind durch die Anwendung
der bei normalem Betrieb als Objektbegrenzungsblende wirkenden Blende 22 gesichert, die in
einem genügend großen Abstand von der Objektivlinse 5 angeordnet ist, um zugleich als Kontraststeigerungsblende
bei der angestrebten geringen Vergrößerung dienen zu können.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Elektronenmikroskop, das mindestens eine Objektivlinse, eine Regellinse und eine Projektivlinse enthält, welche nacheinander längs der Achse des Mikroskops angeordnet sind und bei dem zwischen der Objektivlinse und der Regellinse eine Kontraststeigerungsblende und in Strahlrichtung gesehen nachfolgend eine Objektbegrenzungsblende und eine Regelvorrichtung zur Erregung der Objektivlinse mit verschiedenen Stromstärken vorgesehen sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Regelvorrichtung (15, 17, 19, 20) so ausgebildet ist, daß der Erregungsstrom der Objektivlinse auf einen festen Wert außerhalb des normalen Regelbereichs einstellbar ist, bei dem die bildseitige Brennfläche der Objektivlinse sich von der Ebene der Kontraststeigerungsblende (8) zu der Ebene der Objektbegrenzungsblende (12) verschiebt.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL666611425A NL154050B (nl) | 1966-08-13 | 1966-08-13 | Elektronenmicroscoop. |
NL6611425 | 1966-08-13 | ||
DEN0031035 | 1967-08-09 | ||
US8214170A | 1970-10-19 | 1970-10-19 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1614269A1 DE1614269A1 (de) | 1970-06-25 |
DE1614269B2 true DE1614269B2 (de) | 1976-02-12 |
DE1614269C3 DE1614269C3 (de) | 1976-09-23 |
Family
ID=
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2742264A1 (de) * | 1977-09-20 | 1979-03-29 | Zeiss Carl Fa | Verfahren zur abbildung eines objektes mit geringer vergroesserung mittels eines korpuskularstrahlgeraets, insbesondere eines elektronen-mikroskops |
WO1992017898A1 (de) * | 1991-03-28 | 1992-10-15 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung zur erzeugung kurzer teilchenstrahlpulse |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2742264A1 (de) * | 1977-09-20 | 1979-03-29 | Zeiss Carl Fa | Verfahren zur abbildung eines objektes mit geringer vergroesserung mittels eines korpuskularstrahlgeraets, insbesondere eines elektronen-mikroskops |
WO1992017898A1 (de) * | 1991-03-28 | 1992-10-15 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung zur erzeugung kurzer teilchenstrahlpulse |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
SE348076B (de) | 1972-08-21 |
NL6611425A (de) | 1968-02-14 |
DE1614269A1 (de) | 1970-06-25 |
NL154050B (nl) | 1977-07-15 |
US3629575A (en) | 1971-12-21 |
GB1195896A (en) | 1970-06-24 |
BE702608A (de) | 1968-02-12 |
DK129677C (de) | 1975-04-14 |
CH471463A (de) | 1969-04-15 |
DK129677B (da) | 1974-11-04 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |