DE1564995B2 - Messvorrichtung zur bestimmung der von einem targetmaterial ausgesandten charakteristischen roentgenstrahlung - Google Patents
Messvorrichtung zur bestimmung der von einem targetmaterial ausgesandten charakteristischen roentgenstrahlungInfo
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Description
35
Die Erfindung bezieht sich auf eine Meßvorrichtung zur Bestimmung der von einem Targetmaterial ausgesandten
charakteristischen Röntgenstrahlung, bestehend aus einer Strahlungsquelle zum Bestrahlen und
Anregen des Targetmaterials, aus einer Differential-Ionisationskammer und aus einem Paar abgeglichener
Röntgenstrahlungsfilter mit unterschiedlichen Absorptionskanten, zwischen denen die Energie der zu
bestimmenden charakteristischen Röntgenstrahlung liegt, wobei die Filter zwischen dem Targetmaterial und
dem Eintrittsfenster der Differential-Ionisationskammer angeordnet sind (US-PS 30 30 512).
In der DT-PS 10 02 953 ist eine Differential-Ionisationskammer
beschrieben, in der eine zentrale Auffangelektrode, welche die Kammer in zwei Hälften
unterteilt, eine positiv vorgespannte Polarisationselektrode in der einen Hälfte der Kammer und eine negativ
vorgespannte Polarisationselektrode in der anderen Hälfte der Kammer vorgesehen sind. Eine Wand der
Kammer enthält zwei Strahlungsfenster, und zwar je eines für jede Kammerhälfte. Die von einer außerhalb
der Kammer angeordneten radioaktiven Quelle ausgehende Strahlung gelangt teilweise mit einstellbarer
Intensität in die eine Kammerhälfte über einen Reflektor, während die andere Kammerhälfte nur von
der Strahlung getroffen wird, die von einer zu messenden Schicht reflektiert wird.
Die US-PS 39 30 512 zeigt ein Gerät, in welchem zwei separate Ionisationskammern in Verbindung mit einem
Paar von Ausgleichsfiltern verwendet werden, um Röntgenstrahlung einer bestimmten Wellenlänge entsprechend
einem bestimmten, von einer unter Analyse stehenden Materialprobe ausgehenden Element zu
ermitteln. Die Ausgänge der Ionisationskammer sind gegensinnig geschaltet, so daß ein Ausgangssignal nur
dann vorhanden ist, wenn eine der Ionisationskammern Röntgenstrahlen von einer Wellenlänge empfängt, die
in dem durch die Absorptionskanten des Paares von Filtern bestimmten Bereich liegt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die bekannte Meßvorrichtung so auszugestalten, daß sie
besonders für die Schichtdickenmessung von Überzügen geeignet ist.
Dies wird erfindungsgemäß dadurch erreicht, daß die Differential-Ionisationskammer aus einem zylindrischen
Gehäuse besteht, das an einem Ende von dem senkrecht zur Zylinderachse liegenden Eintrittsfenster abgeschlossen
ist und das durch eine plattenförmige, die Zylinderachse enthaltende Sammelelektrode in zwei
Hälften unterteilt ist, daß jedes Filter vor einer der den Kammerhälften zugeordneten Hälften des Eintrittsfensters
angebracht ist, daß die Quelle außerhalb der Kammer auf der Zylinderachse liegt und ein radioaktiver
Strahler ist und daß zwischen der Quelle und der Kammer eine Strahlungsabschirmung, die einen Teil des
Eintrittsfensters abdeckt, angeordnet ist.
Die zylinderförmige Kammer kann an dem anderen Ende durch ein weiteres Fenster abgeschlossen sein.
Die als Ausführungsbeispiel in der Zeichnung dargestellte Vorrichtung ist für das Messen eines
galvanisierten feuerverzinkten Überzugs auf Stahl bestimmt. Bekanntlich ist dies eine Messung, die häufig
in galvanischen Anlagen durchgeführt wird, um die Dicke des Zinküberzugs zu kontrollieren bzw. zu
steuern. Es ist bekannt, daß Zink eine Ka-Röntgenstrahlenenergie von 8.638 KeV hat, während Eisen eine
Ka-Energie von 6.403 KeV hat. Das Problem besteht darin, die Zinkstrahlung von der Eisenstrahlung zu
trennen, damit nur die Zinkstrahlung gemessen wird.
Zu diesem Zweck besteht die Differential-Ionisationskammer aus einem zylindrischen Gehäuse 1. Das
Gehäuse 1 ist an einem Ende durch ein dünnes Fenster 2 abgeschlossen, welches für Hochenergiestrahlung transparent
ist. Dieses Fenster kann aus einer 0,25 mm dicken aluminiumbeschichteten Plastikfolie bestehen. Ferner
ist ein Eintrittsfenster 3 vorgesehen, das beim bevorzugten Ausführungsbeispiel aus einer 0,25 mm
dicken Plastikfolie besteht. Die Ionisationskammer ist mit einer die Zylinderachse enthaltenden Sammelektrode
4 versehen, weiche sich in Form einer Platte durch die Kammer hindurch erstreckt und diese effektiv in
zwei Hälften unterteilt, jede Hälfte ist mit einer Elektrode 5 von halbzylindrischer Form versehen, und
im Betrieb ist die eine Elektrode 5 mit einer positiven Spannungsquelle +V von etwa 100 V verbunden,
während die andere Elektrode 5 an eine gleichstarke negative Spannungsquelle -V angeschlossen ist. Die
Ionisationskammer ist mit Argon von Normaldruck gefüllt.
Vor dem Teil des Eintrittsfensters 3, welches die eine Hälfte der Ionisationskammer abdeckt, ist ein Filter 6
aus Kupfer angeordnet, während vor der anderen Hälfte der Ionisationskammer ein Filter 7 aus Nickel
angeordnet ist. Die Filter 6 und 7 bilden zusammen ein Paar von abgeglichenen Differentialfiltern, wobei die
K-Absorptionskante von Nickel bei 8331 KeV liegt, während die K-Absorptionskante von Kupfer bei
8980 KeV liegt. Folglich wird ein wirksamer Durchlässigkeitsbereich zwischen diesen beiden Energien geschaffen,
der die Zink-Koc-Röntgenstrahlenergie ein-
schließt, jedoch die Eisen-K«-Röntgenstrahlenergie ausschließt. Als Folge davon entspricht das Signal,
welches von der mittleren Elektrode 4 der Ionisationskammer abgenommen wird und welches die Differenz
zwischen den Ausgängen in den beiden Teilen der Ionisationskammer und somit die Differenz zwischen
der kupfergefilterten und nickelgefilterten Strahlung ist, der Strahlung, die auf das Zink zurückzuführen ist.
Vor den Filtern 6 und 7 ist eine Strahlungsabschirmung 8 und in der Mitte dieser Abschirmung ein
Quellenhalter 9 angeordnet, der eine Quelle 10 als radioaktiver Strahler enthält. Die Abschirmung 8 ist
beträchtlich größer als es für die Montage des Quellenhalters 9 notwendig ist, um die Toleranz der
Vorrichtung hinsichtlich Veränderungen im Quellen-Traget-Abstand zu verbessern. Das Target besteht aus
einem Stück Stahl 11 mit einem dünnen Flächenüberzug
aus Zink 12. Für die Geometrie der Abschirmung 8 muß ein Kompromiß zwischen dem Erzielen einer Unempfindlichkeit
gegenüber dem Quellen-Target-Abstand und dem Erzielen eines ausreichenden Ausgangs durch
das unabgeschirmte Teilstück des Eintrittsfensters 3 gewählt werden.
Bei dieser besonderen Ausführungsform ist die Quelle 10 eine Americium-241-Quelle, und es wird die
Gammastrahlung dieser Quelle von etwa 60 KeV verwendet. Diese Strahlung durchdringt leicht die
relativ dicke Zinkschicht und ermöglicht auf diese Weise eine Messung der Dicke derselben. Es ist auch eine
beträchtliche Intensität von rückge.streuter Strahlung
bei etwa 50 KeV vorhanden, die, obwohl sie durch die Filter abgesondert wird, das Signal in Bezug auf das
Geräusch- bzw. Störverhältnis des Instrumentes nachteilig beeinflußt. Die Transparenz des hinteren Fensters
2 hat zur Folge, daß ein Teil dieser unerwünschten Hochenergie-Rückstrahlung durch die Ionisationskammer
hindurchführt, ohne als wirksamer Ausgang registriert zu werden.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (2)
1. Meßvorrichtung zur Bestimmung der von einem Targetmaterial ausgesandten charakteristischen
Röntgenstrahlung, bestehend aus einer Strahlungsquelle zum Bestrahlen und Anregen des Targetmaterials,
aus einer Differential-Ionisationskammer und aus einem Paar abgeglichener Röntgenstrahlungsfilter
mit unterschiedlichen Absorptionskanten, zwisehen denen die Energie der zu bestimmenden
charakteristischen Röntgenstrahlung liegt, wobei die Filter zwischen dem Targetmaterial und dem
Eintrittsfenster der Differential-Ionisationskammer angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet,
daß die Differential-Ionisationskammer aus einem zylindrischen Gehäuse (1) besteht, das an einem
Ende von dem senkrecht zur Zylinderachse liegenden Eintrittsfenster (3) abgeschlossen ist und das
durch eine plattenförmige, die Zylinderachse enthaltende Sammelelektrode (4) in zwei Hälften unterteilt
ist, daß jedes Filter (6, 7) vor einer der den Kammerhälften zugeordneten Hälften des Eintrittsfensters (3) angebracht ist, daß die Quelle (10)
außerhalb der Kammer auf der Zylinderachse liegt und ein radioaktiver Strahler ist und daß zwischen
der Quelle (10) und der Kammer eine Strahlungsabschirmung (8), die einen Teil des Eintrittsfensters (3)
abdeckt, angeordnet ist.
2. Meßeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die zylinderförmige Kammer
(1) an dem anderen Ende durch ein weiteres Fenster
(2) abgeschlossen ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB40108/66A GB1173155A (en) | 1966-09-08 | 1966-09-08 | Improvements in or relating to Ion Chambers |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1564995A1 DE1564995A1 (de) | 1970-01-15 |
DE1564995B2 true DE1564995B2 (de) | 1976-11-18 |
Family
ID=10413234
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1966U0013115 Granted DE1564995B2 (de) | 1966-09-08 | 1966-09-27 | Messvorrichtung zur bestimmung der von einem targetmaterial ausgesandten charakteristischen roentgenstrahlung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3514602A (de) |
DE (1) | DE1564995B2 (de) |
GB (1) | GB1173155A (de) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8515552D0 (en) * | 1985-06-19 | 1985-07-24 | Boyle Controls Ltd | Coating weight & thickness gauges |
JP2982262B2 (ja) * | 1990-09-10 | 1999-11-22 | 株式会社島津製作所 | 逆光電子分光装置 |
US5633501A (en) * | 1995-06-07 | 1997-05-27 | Pittway Corporation | Combination photoelectric and ionization smoke detector |
DE19731608C1 (de) * | 1997-07-23 | 1998-10-22 | Vacutec Mestechnik Gmbh | Ionisationskammer für radiometrische Meßeinrichtungen |
FI119204B (fi) * | 2001-12-18 | 2008-08-29 | Oxford Instr Analytical Oy | Säteilynilmaisin, järjestely ja menetelmä radioaktiivisen säteilyn mittaamiseksi, joissa jatkuvaa matalaenergistä taustakohinaa on vähennetty |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3030512A (en) * | 1958-11-21 | 1962-04-17 | Gen Electric | Monochromator system |
CH397883A (de) * | 1963-03-01 | 1965-08-31 | Foerderung Forschung Gmbh | Verfahren zur y-Kompensation einer Ionisationskammer |
-
1966
- 1966-09-08 GB GB40108/66A patent/GB1173155A/en not_active Expired
- 1966-09-27 DE DE1966U0013115 patent/DE1564995B2/de active Granted
- 1966-12-16 US US602355A patent/US3514602A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE1564995A1 (de) | 1970-01-15 |
US3514602A (en) | 1970-05-26 |
GB1173155A (en) | 1969-12-03 |
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C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
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