DE1564995A1 - Differential-Ionenkammern - Google Patents
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Description
DIPL-ING. ERICH SCHUBERT L
Abs.: Patentanwalt Dipl.-ing. SCHUBERT, 59 Siegen, Eiserner Straße 227
Postfach 325
Telefon: (0271) 32*09
Käln 104931, Essen 20342
66 104 KU/Sch.
26. September
1KB KIMGD.Q ί AT01HC KNKRGY AUTHORITY* 11, Charles II Street,
Loud on , S.W.Ij England
Die Erfiaduag sesäieht sieh, auf Di£fexemi;ial'-Xonesäk&nir;ae?n·
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BAD ORIGINAL
Ί b U i* j 3 j
let. Her Auewirkung nach kann daher eine Differential-Ionen-»
keiner dazu verwendet werden, diese adungedifferenz unmittelbar zu messen, wobei auf diese Weise die Differenzberechnung
▼ermieden wird. Die Anordnung einer Differential-Ionenka'.iraer
iet insbesondere dann nützlich, wenn Differentialfilter verwendet werden. Die Theorie von Mfferentialfiltern ist allgemein bekannt, ei mag jedoch ausreichen, auf die deutsche .Patentanmeldung U 9397 IXb/42 1 (Anwaltsakte 63 215) hinzuweisen,
welche Differentialfilter betrifft. Im wesentlichen werden Differentialfilter in Paaren verwendet, und die Filter bestehen aus
Elementen mit dicht benachbarten Abaorptionskanten. Io einfachsten Falle wird ein Paar von Differentialfiltern, wie oben erwähnt, hintereinander zwischen einem Target und einer Ionenka·raer angeordnet 9 wobei die Differene zwischen den getrennten
Ausgang m errechnet wird. Das Ergebnis besteht im Endeffekt darin, die Differena »wischen den beiden Ausgängen der Ionenkammer auf diejenige zu beschränken, welche auf einen eilen Duronlässigkeitebereioh von Energien eurlloksuf Uhren 1st, welcher so
ausgewählt wird, da£ er die charakteristische strahlung, vorzugsweise die K -Strahlung eines Elementes einschließt, welches
im Target enthalten ist und dessen Quantität man alttels der
Di:» Theorie und Praxis der Messung von Dioke oder Maset
pro Pl>liv;.^ns-ii-.'yit unter Verwendung einer ionisierenden Strahlung ist R:ilg©;.iein bekannt, und es erscheint sia® weitere
ku?*io;i -lariü«! xiioht notwendig* I>ie
,.nt-.r>
BAD ORIGINAU
-i O H 8 8 ; / O 8 3 5
1.56499b
erläutert jedoch eine Verwendungsart der Bifferential-Ionenka.uiner
der vorliegenden Erfindung, und analoge Verwendungsarten v/erden
für den 'Fachmann offensichtlich eein.
Krfinclungge:aau wird eine Differential-Ionenkanmer {: β schaffen,
die in Abstand angeordnete, positiv und negativ polarisierte
Elektroden auftauen tnit einer im wesentlichen in der Mitte angeordneten
Sanmelelektrode aufweist, wobei diese lonenkanmer ein
Frontfenster aufweist, welches Zugang zu den von dor fJar-tclelektrode,
den anderen Elektroden und einem Rückfenster auf der dem Prontfenater abgelegenen Seite der Räume eingeschlossenen Räumen
gewährt, ferner ein Po ar von ausgeglichenen Differentialfiltern,
von denen je eines Jeder Hälfte des ProntfenaterB zugeordnet ist,
wodurch die Strahlung, welche das erste ausgeglichene Filter passiert, in den Raum zwischen der ersten Elektrode und der Sara-
»nelelektrode gelangt, und in ähnlicher V/eise für aas aweite ausgeglichene
Filter, sowie ferner eine Abschirmung, welche ein im wesentlichen in der fltte ^elegenee Teilstück dee !''rontfenaters
abdeckt unö eine oaoi mehrere Quellen aufweist, die auf der diesem
Fenster abgelegenen Seite derselben angeordnet sind.
Es ist offensichtlich, daß die erfindungsgemäße lononkammer
lediglich für die EUckstreugeometrie ausgelegt iet, da das Target,
v;elches die I^robe bildet, auf der der Tonenka.nmer abgelegenen
Seite der Quelle ongeordnet sein muß. Die Anordnung ist «o getroffen,
daß die quelle das Target mit einer geeigneten hohen
liner^le, im wesentlichen einer monoohromatiechen itdritgenstraiilung,
bestrahlt, wm dn gewisser .T« 11 dieser Btrahlwig wird
BAD
909883/0895
158499b
durch da« Target absorbiert und als die charakteristische Strahlung des gesuchten Elertentes in der Probt wieder emittiert. Kb
1st klar, daß auch durch andere in der Probe vorhandene Elemente Strahlungen emittiert werden. Bie Verwendung von Differentialfiltern, kombiniert alt einer Bifferential-Ionenkammer, schafft
effektiT, und Ewar bei einen einElgen MeSvorgang, einen Durchläesigkeitsbereich von Energien, der eo eng ist» daS die Anordnung alle anderen Strahlungen, mit Ausnahme derjenigen, die auf
das gesuchte Element im Target zurUcksufUhren ist, absondert bzw.
Yernaohläeeigt.
Es 1st darüber hinaus möglich, ein transparentes Rückfenster EU Terwenden, um die Möglichkeit eu eohaffen, daS eine Hochenergiestrahlung, d.h. eine Strahlung ron in wesentlichen höherer
Energie als die der charakteristischen Strahlung des gesuchten Elementes, aus der Kammer entkommt, ohne sum Ausgang einen Beitrag KU leisten.
Die Verwendung der ausgedehnten Quellenabschiriaung, d.h.
einer Abschirmung, die wesentlich größer ist als die durch die räumliche Abmessung der Quelle selbst bedingte, 1st insofern sehr
vorteilhaft, als sie in der Praxis die ToIeran« der Anordnung in
Besug auf Änderungen im Abstand «wischen Quelle und Sarget verbessert. Dies ist offensichtlich von Bedeutung» da eine extreme
Empfindlichkeit gegenüber diesem Abstand eu einem eAtnaftea
Fehler in der Ausgangsaeesung führen kann·
Schnitt wiedergebenden Zeichnung naher erläutert, we1ehe einen scheaatiecheiy
durch eins bsvorsvgte AusfUhrungsfora wiedergibt.
909883/0895 BAD orjqiNAl
Bit in (Ur Zeichnung dargestellte Vorrichtung let für da»
Missen «int» galvanisierten feuerverslnkten ilbereugs auf Stahl
tingerichtet. Wie allgemein bekannt, let dies ein« Messung» die
häufig In galvanischen Anlagen durchgeführt wird, um die Dicke
des Zinkübersugs «u kontrollieren b«w. su steuern. Es ist ebenfalls bekannt, dal Zink eine K HXöntgenstrahlenenergie τon
8*638 geV hat, während Bisen eine Ku-Bnergie von 6.403 KeV hat*
Bas Problem besteht darin» die Zinkstrahlung von der Sisenstrahlung au trennen» damit nur die Zinkstrahlung gemessen wird.
Zu dieses] Zweck weist die lonenkammer einen allgemein
zylindrischen Körper 1 auf» der aus einem entsprechenden Material besteht und an seinem hinteren Ende duroh ein dünnes Fenster 2
verschlossen 1st» welches für Hochenergiestrahlung transparent 1st. In der Praxi· kann dieses Fenster aus einer 0*25 «β starken
aluminieierten Plastikfolie, wie beispielsweise »ftfelinex», bestehen» ferner ist ein im wesentlichen gleichartiges Prontfenater
3 vorgesehen, und es besteht bein bevorzugten AusfUhrungsbeiaplel
aus einer 0,25 am starken Plastikfolie, wie beispielsweise
"Mellnex". Die Ionenkaimser 1st mit einer in der Mitte gelegenen
Sammelelektrode 4 versehen, von welcher der elektrische Ausgang abgenommen wird und welche die Fora einer allgemein diametralen
Platte hat, welche die lonenkamraer effektiv in swei Hälften unterteilt. «Teds Hälfte 1st alt einer Elektrode 5 von la allgemeinen halbsylindrisoher Fora versehen, und ita Betrieb ist die richte
Elektrode 5 mit einer positiven äp&nnungequelle von etwa 100 V
verbunden, während die linke Elektrode 5 an eine gleich starke,
BAO ORlG1NAL 909883/0895 .
-Οaber negative Spannungequelle angeschlossen let. Dl· lonmnkmimmr
let mit Argon unter einem Druck τοη annähernd 760 na quecksilber
gefüllt.
Vor dea Fenster, welche« den rechten Abeohnltt der Ionenkammer abdeckt, let ein Filter 6 au· Kupfer angeordnet, während
το» den linken TeilstUok der lonenkamner ein Filter 7 au· nickel
angeordnet let. Die Filter 6 und 7 bilden sueaweea ein Paar von
auegegliohenen Differentialfiltern, und ea versteht eich, dal
die K-AbBorptlonakante τοη Nickel bei 8.331 BiV liegt, während
die K-Absorptionekante τοη Kupfer bei 3.900 KeV liegt· Folglich
wird ein wirksamer Durchläaeigkeltebereieh »wischen dl···» beide
Energien geaohaffen, und ee 1st au beobachten, daß dieser Durchlässigkeit ebereioh die Zink~Ki-Röntgenetrahlenergie einsohli*et,
jedoch die Klsen-K -RBntgenstrahlenergie aussöhnest. AIa Folge
daTon entspricht da· Signal, welches τοη der mittleren Elektrode
4 der Ionenkammer abgenommen wird und welches die Differenz iwiaohen den Auegängen in den beiden Teilen der Ionenkaarser und
somit die Differens swlechen der kupfergefilterten und nlokelgefilterten Strahlung ist, der Strahlung, dl« auf das Zink surttek-
>ufUhren ist, wobei die auf da· Bisen zurückzuführende strahlung
ausgeschlossen wird.
Vor den Filtern 6 und 7 1st eine Quellenabsrchlrmung β und
in der Mit te dieser Quellenabs ohlrnung 1st «in (luellenhalter 9
angeordnet9 der eine oder aehrere Quellen IO enthält. B» ist er*
kennbar, daS die Absohirarung 8 beträchtlich gruBer ist al· ··
notwendig ist, un den Quellenhalter 9 su «ontleren, und der Orur,
BAO ORIGINAL 909883/0895
dafür besteht darin» die ioleran* der Vorrichtung hinsichtlich
Yeränderungen im Uuellen-Target-Abstand su verbessern. Wie in
der Zeichnung dargestellt, besteht das Target aus einem Stück
Stahl 11 mit eines dünnen FlächenUbereug aus Zink 12. Ee let
klar, da0 für Irgendeine besondere Geometrie die Abmessung der
Abschirmung 8 so ausgewählt werden muß, daß sie einen Kompromiß
»wischen dem Erzielen einer Unempfindlichkeit gegenüber dem Quellen-Target-Abetand und dem Erzielen eines auereichenden
Ausganges durch das unabgeschirmte Tellstüek des Frontfenster«
hindurch darstellt.
Bei dieser besonderen Ausführungsforra ist die Quelle 10
eine Araericiua-24.1-Quelle, und es wird die Gammastrehlung dieser
Quelle bei etwa 60 KeV verwendet. Diese Strahlung durchdringt
leicht die relativ dicke Zinkschieht νωύ. ermöglicht auf
diese Weise eine Messung der Picke derselben. Die Erregung der
Sink-K-Btmhlung ist genügend wirkungsvoll für den Empfang
eines ausreichenden Signals, und die der Else&ffcrahlung 1st
genügend wirkungsvoll, um die Filter notwendig su machen. Ss 1st auch eine beträchtliche Intensität von rüokgestreuter Stirhlung
bei etwa 50 KeV vorhanden, die, obwohl sie durch die Filter abgesondert wird, das Signal in Bezug auf das Geräusoh-bew.
Sturrerhältnls des Instrumentes nachteilig beeinfluSt, Die
Tranaparens des Rückfenster* 2 hat sur Folge, dal ein Seil
dieser unerwünschten Hcchtnergie-Rückstreustrnhlung durch die
Ionenkauiraer hindurchführt, ohne als wirksam»? Ausgang registriert
su werden, doch ist dieser Effekt viel bedeutender bei unerwünschter
Strahlung τοπ höherer Mergle.
909883/0895 BAD 0—
iJrfinAung betrifft «uoh Abänderung*»!« <Ur ia ϋ*ίliegenden Patüntanepruoh 1 uariB&enjtn A^efiüizi&agefora und b*Ba.*fr
«loh Tor alltra auch »uf *fistXicat Brtln&wagcmTkit&l*i f dit ie
eias^Inen —« gh!®:? in Kombination — In d«r g@&*tä%*n B«echrsluavu Ii«£ehiiun^uffenb«rl sind.
909883/0895
Claims (1)
- J» ATiNTAfI WAIT-JNG.. ßSICH SCAb*-: ?ο1ι»ίοβ*Ρ» Dipl.-Ina. «CKVSSXT, » Sw», «s»fn«r SlrpB«Sf(«71)3249?Ttlegramm-Adr.: Pgtniuib, SräfitnPojt»d)»ckltoiit«n;Köln 1«?31,Ess«n 283Deutsch* !«ink AG.,& OaarJiauKn (RhId.)156499526 »rn Slm*m ^ ssif «iiiüa xegptr» «it»» daÄwreli gϊΒϊβΐι*«©βΦ Älifet^odt e^h^t» wobei öl*ν*«* deneaί©4Inepviiei I^ dftduaroitftlt !«dw HSlft· dt· atmn «tuig«d«hnt« Abeohirt»«rit,Iioh#n in mbdeokt, und auf der angeordnet iet·wel-909983/089BAD ORiSlNALLeerseite
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB40108/66A GB1173155A (en) | 1966-09-08 | 1966-09-08 | Improvements in or relating to Ion Chambers |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1564995A1 true DE1564995A1 (de) | 1970-01-15 |
DE1564995B2 DE1564995B2 (de) | 1976-11-18 |
Family
ID=10413234
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1966U0013115 Granted DE1564995B2 (de) | 1966-09-08 | 1966-09-27 | Messvorrichtung zur bestimmung der von einem targetmaterial ausgesandten charakteristischen roentgenstrahlung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3514602A (de) |
DE (1) | DE1564995B2 (de) |
GB (1) | GB1173155A (de) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8515552D0 (en) * | 1985-06-19 | 1985-07-24 | Boyle Controls Ltd | Coating weight & thickness gauges |
JP2982262B2 (ja) * | 1990-09-10 | 1999-11-22 | 株式会社島津製作所 | 逆光電子分光装置 |
US5633501A (en) * | 1995-06-07 | 1997-05-27 | Pittway Corporation | Combination photoelectric and ionization smoke detector |
DE19731608C1 (de) * | 1997-07-23 | 1998-10-22 | Vacutec Mestechnik Gmbh | Ionisationskammer für radiometrische Meßeinrichtungen |
FI119204B (fi) * | 2001-12-18 | 2008-08-29 | Oxford Instr Analytical Oy | Säteilynilmaisin, järjestely ja menetelmä radioaktiivisen säteilyn mittaamiseksi, joissa jatkuvaa matalaenergistä taustakohinaa on vähennetty |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3030512A (en) * | 1958-11-21 | 1962-04-17 | Gen Electric | Monochromator system |
CH397883A (de) * | 1963-03-01 | 1965-08-31 | Foerderung Forschung Gmbh | Verfahren zur y-Kompensation einer Ionisationskammer |
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1966
- 1966-09-08 GB GB40108/66A patent/GB1173155A/en not_active Expired
- 1966-09-27 DE DE1966U0013115 patent/DE1564995B2/de active Granted
- 1966-12-16 US US602355A patent/US3514602A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE1564995B2 (de) | 1976-11-18 |
GB1173155A (en) | 1969-12-03 |
US3514602A (en) | 1970-05-26 |
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C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
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