DE1523076A1 - Ionenstrahl-Intensitaetsmessvorrichtung,insbesondere in Massenspektrometern - Google Patents

Ionenstrahl-Intensitaetsmessvorrichtung,insbesondere in Massenspektrometern

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DE1523076A1
DE1523076A1 DE19631523076 DE1523076A DE1523076A1 DE 1523076 A1 DE1523076 A1 DE 1523076A1 DE 19631523076 DE19631523076 DE 19631523076 DE 1523076 A DE1523076 A DE 1523076A DE 1523076 A1 DE1523076 A1 DE 1523076A1
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chamber
secondary electrons
partition
intensity measuring
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DE19631523076
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Daly Norman Richard
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UK Atomic Energy Authority
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/28Measuring radiation intensity with secondary-emission detectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/025Detectors specially adapted to particle spectrometers

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Description

  • MBiMMietMM),Mb«ond<r< BjMBEEBBEaSimI Die Erfindung besieht iob out Ionenhstrahl-Intensitätsmeßvorrichtungen und ist insbesondere für das gleichzeiti, ge Messan der Intensitäten von zwei Ionenstrahlen in ein Masenspektrometer anwendbar.
  • Ionenstrahlintensitätsmeßvorrichtungen zum gleichzeitigen Messen der Intensitäten von zwei Ionenstrahlen in IIassenspektrometern sind bereits vorgeschlagen worden; aber sie haben den Machteil, daß sie bei Ionenstrahlen niedriger Intensität, die nur voneinander durch einen kleinen Abstand getrennt sind, nicht verwendet werden können.
  • Bel der Analyse von Materiallen mlttels Massenspektrometrie können die zur Verfügung stehenden Proben sehr klein sein, z.B. 10-9 g oder weniger ausmachen.
  • Wenn so geringe Mengen zur VerfUgung stehen, ist der Ionenstrahl von niedriger Intensität, und seine Intensität kann bedeutend abfallen, während die Massenspktrometriemessungen ausgefürht werden, und dadurch die Genauigkeit der Messung herabsetzen.
  • Wia tohlbekxnnt iat, bilden Isotopen alle ihren eigenan bu eingentümlichen, charakteristischen Ionenatrahl in Massenspektrometern. Bei zur Zeit zur Verfügung atahaadan Massenspektrometern ist es durchaus normal, daß die Strahlentunnung nur 0.06 Zoll (1,58 mm) für ainan Unterschied, von einer Masseneinheit in 180 lironainhaitan ist. Diaaar kleine Trennungswert hat die Verwndung des bekannten empfindlichem Ermittlungsvorrichtungen bislang verhindert, und als Ergebnis sind daher die Vorteile der Massenspektrometrieteohnil : en nicht voll für die Analyse von . Probenmaterial zahlreicher üblicher Art ausgenütt worden.
  • Durch die Erfindung wird Sine Ionenstrahlintensitätsmeßvorrichtung, bei der die vorgenannten Probleme gelöst sind, geschaffen.
  • Der Gegenstand der Erfindung besteht aus einer Ionenstrahlintensitätmeßvorrichtung, die zwei Kammern aufweist welche durch eine Trennw getrennt sind, welche eine elektrostatische Begrenzung bildet, wobei jede Kammer eine Einlaßöffnung zum Einlassen des einen Ionenstrahlsin die eine Kammer und eines anderen oder unterschiedlichen Ionenstrahls nach der anderen Kammer aufweist, sowie eine Kiektrodeneinrichtung in jeder Kammer zum Ablenken des Ionenstrahl in dieser Kammer und Beschleunigen desselben in einer Richtung weg von der Trennwand, ein Target in jeder Kammer im Verlauf des Ionenstrahls, wobei dieses Target Sekundärelektronen beim Beschießen mit dem lonenstrahl erzeugt, eine Yorrichtung zur Erzeugung eines Magnetfeldes in jeder der f Kammern, um die Sekundärelektronen in solchet Richtung abzulenken, daB sie nicht auf die Tronnwand treffen, und eine Vorrichtung im Verlauf dieser abgelenkten 3 kundärelektronen Aum Anbringen von Ermittlungs-. und Veßvorrichtungen für diese Sekundärelektronen.
  • Die Erfindung wird nunmehr anhund der sie b ispielsweise wiedergebenen Zeichnung näher erläutert, und zwar zeigt Fig. 1 einen Grundriß, Fig. 2 einen Aufriß, während . Fig. 3 eine Ausschnitt-Perspektivansicht darstellt, Ger.'.'. ß den Figuren 1 und 2 sind zwei Elektroden 1 und 2, die auf 30 K'gehalten sind, an beiden Seiten einer dünnen Trennwand 3 angeordnet, und zwei positive Ionenstrahlen 4 und 5 passieren zwei feine bzw. schmale Scklitze 16 und 17 in einer. Vand 6 an beiden Seiten dieser Trennwand. Die Strahlen werden durch die Elektroden in Vorwärtsrichtung beeinflußt und nach ihnen hin beschleunigt gt und @-rallen bzw. stoßen auf diese mit einer eerhöten Geschwindigkeit in der Mitte auf, wo sie S. 14 und 15 freigcb. n. Die Elektronen würden dann ncrmalerweise auf die dünr. e Trennsand treffen und gingen verloren ; aber ein Magnetfeld mit der durch die Pfeile 7 in Fig. 1 gezeigten Richtung wird verwendet, um die Elektronen gleichsam umzubiegen bzw. rundumzulenken, so daß die beiden Elektronenauf ströme sich in Richtung/ge, genüberliegende wände 8 und 9 der Detektorkammer (Fig. 2) zu bewegen.
  • Scheiben aus plastischem Phospor 10 und 11 befinden sich an denjenigen Punkten, wo die Elektrodenstrahlen andernfalls auftreffen würden, und das Licht, welches erzeugt wird, wird mit Photovervielfältigerröhren 12 und 13 registriert bzw. aufgezeichnet.
  • In Fig. 3 eignet sich die Ionenstrahlintensitätsmeßvorriohtung für die Verwendung an einem hiassenspektrometer, das einen Ionenstrahl von etwa 5 KeV Energie erzeugt und einen Strahlenablenkradius im Mas3enspektrometermagnetfeld von 12 Zoll (305 mm) hat.
  • Es ist offensichtlich, daß nur geringfagige werkstattmäßige Anderungen in der Konstruktion erforderlioh sind, um die Vorrichtung fUr andere Arten von Mas. enspektrometern geeignet zu machen.
  • Die Elektrode 1 ist aus rostfreiem Stahl und hat eine optisch flache Oberfläche mit Spiegelfinis-h für die Beschießund durch den Ionenstrahl 4. Die Elektrode 1 ist in einen mit Innengewinde versehenen Metallstab niohtezedgt)Mewohrant,derduroeineGlaabdidhtung 27 hindurchführt. Eine Hochspannngsleitung 20 mit einem Plastikisolator 21 wird über einen Verbindungsbauteil 22 gehalten, der an den Deckel 19 angesohraubt ist, und stellt eine elektrische Verbindung mit der Blektrode 1 über den Metallstab her, der durch die Abdichtung 27 hindurchführt.
  • Der Deckel 19 ist mit Öl gefüllt und an eine dicke Platte oder Scheibe 23 angeschraubt, wobei die Abdichtung zwischen ihnen durch eine O-Ring-Abdichtung 24 unterstützt bzw. gefördert wird. Die Platte 23 ist an einen Körper 25 geschraubt, und die Abdichtung zwischen ihnen @ ird durch eine O-Ring-Abdichtung 26 unterstützt.
  • Die Glasabdichtung 27 ist am einen Ende mit der Platte 23 und am anderen Snfle mit dam I. ietailstab dichtverbunden und bildet so eine Vakuumabdichtung.
  • Der KUrper 25 weist eine. *..'land 6 auf, welche mit Pumplbchern 23 und Parallelsohlitzen 16 und 17 zum Ein-oder Zulassen von Ionenstrahlen 4 und 5 versehen ist.
  • Die Schlitze 16 und 17 haben voneinander einen Abstand, der den Trennungswert der lonenatrahlen entspricht. Eine Trennwand 3 von geringerer Dicke, als dem Trennungswert der Ionerstrahren entspricht oder gleichkommt, erstreckt sick über die ganze Mitte des Körgers 2= hiniieg.
  • Ein @ ohr 20 mit einer Vakuumlunpenverbindung 3o bildet eie e Verbindung mit einem (n@ ht gezeigten) 1o @ enspektrometer.
  • Ein organischer Phosphor bzw. Fbosphorkörper 10 ist in einem in den Körper 25 eingeführte Weicheisenrohr 31 angebracht. Da s i, chr 31. irkt. @ls Abschirmung zur Erzeugung einer feldreien Zongvor dem Phosphor 10. Geganischer Phosphor 11 ist in Khnlicher . Veise in einem Weicheisenrohr 32 angebracht.
  • Photo-ervielfältiger 12 und 13 sind mit Aluminiumbehältern oder 33 und 34 versehen, die in dot'tel 41--and 42 eingepasst sind. Der Photovervielfältiger 12 hat eine.. eicheisenabschij.'mung 16, die das de seiner Glasumhüllung 40 umgibt, wobei die Abschirmung ein Fenster aufwcist, das durch das Weicheisenrohr 31 gebildet ist. Der Photovervielfältiger 13 ist in Sihnliuher . 13ise mit einer Abschirmung versehen. Eine gute Lichtkopplung zwischen den Photovervielfältigern und den Phosphorn wird durch Verwendung von Silikonol erzielt.
  • Eine dünne Aluminiumsclucht @ ist an der Vorderseite jeans Phosphors bzw. Phosphorkörpers abge-@ lagert, um den thosphor zu erden und veine pute Reflektion der rbotonen zu ergeben, die an den Elektroden 1 and 2 (@ nicht sichtbar) erz@ugt werden.
  • Lin mit Eisenkern ausgestattieter Elektromagnet 35 liefert ein Mangetfeld in der Ebene der Trennwand 3.
  • Er iut mit Kühlspulen oder -wiclungen 36 versehen.
  • < Ein Deckel 37, der gegenüber dem Deckel 19 sitzt, ist gleicharti mit letztcrem ausgebildet und beinboltet eine Elektrole 2, die mit Vakuumdichtungon in der gleichen Art. ie die Elehtrode 1 versehen ist. jie Leitung 38 wird über einen Verbindung bauteil 39, der ähnlich dem Verbindungsbauteil 22 ausgebildet ist, gehalten.
  • Im Betrieb werden die Ionenstrahlen 4 und 5 mit der Energie von 5 KeV so eingestellt, daß sie ourch die Schlitze 16 und 17 hindurchveraufen. Der Strahl 4 wird durch die Anziehungskraft der Elektrode 1 aufwärts abrebot gebogen, @wobei die Elektroden ein nogatives Potential von 3 KV haben.
  • @und der Strahl 5 wird durch die Elektrode 2 abwärts abgebogen, Die Ionen werden dadurch beschleunigt und erzeugen Sekundärelektronen mit ßuter Ausbeute. Die Elektronen werden von den Elelitrolen weg beschleunigt, und lhr Verlauf wird durch das aufgebrachte bzw. erzeugte Magnetfeld bestim'ut.DisesFeld.virdsoeingestellt, daß es die Sekundärelektronen zur Mitte der Phosphore bzw. Phosphorkörper 10 und 11 bringen, wo sie hotonen erzeugen. Das Magnetfeld ist nicht stark genug, um eine bedeutende Abbiegung der Ionenstrahlen hervorzurufen. Die Spannungsimpulse von den Photovervielfältigern her werden den gewöhnlichen Veratärkern und Zählern /scalers/ zugeführt.
  • Somit kann man zwei Strahlen gleichzeitig betrachten oder untersuchen, z. B. U 235 und U 238, und der Umstand, daß die Probe rasch zerfällt, beeinträchtigt die Genauigkeit der Ilessung nicht. Normalerweise würde man hoffen, die Ionen zu zählen bzw. eine Ionenzählung anzustreben, jder man kennte auch die Strahlen dazu benutzen, zwei @ aufzuladen und das Isotopenverhältnis durch Vergleich der Ladungen zu erhalten bder zu ermitteln.
  • Versuche haben gessigt, daß durch die Anwendung des Magnetfeldes keine b @tsamen @eb. er bei @@@ Ionenzählung als Tolf. uftreten.
  • Dis Fokussiere: der beiden in Frage stehen en Elektronenstr me ist antersueht worden, indem die Ionenstrahlistensltät auf einen Wert pebracht wor en ist, w visselle Bilder zum tudiun zur Verfügeng standen. die Ionenstrahler hatter die Term einns serm@en @@nd@s mit elsem @@eeschsitt von 6 mm x 0,02 Zo' / 6 mm x 20 thou"./ Die erzeugten Elektronenbilder an den Phosphosen waren kreisrand @d ungeführ 2-3 mm im Durebmesser. So läßt soch sugen, daß seine Ionen infolge des wofokussierers der Elektronerbilder verleren gehen. Annerlem erfolgt keine bedeatsame Abinderung der relatigen Indensität der Gekandärelektronenstrahlen dach eine @ags-Iastabilität der Strahlen. Dies ist für das Kufrechternalten der heßgenauigkeit von großen Behlung.
  • Die Erfindung betrifft @@ch Abinderungen ler im beiliegenden Pat@ntarspruch 1 derissenen K@führungsform und besient sich vor allem a@@@. auf simtliene @rfin@@ngsmerkmale, die im dinselren -- oder in Kemblaatien -- in den gesamten ursprünglichen knrell@gsunterlagen offonbart slad.
  • @@@@ @@@ @@@@@

Claims (4)

  1. Patenansprüche 1. Ionenstrahliniensitätsmeßvorrichtung, gekennzeichnet durch zwei Kammern, welche durch eine Trennwand getrennt sind, die eine elektrostatische Begrenzung bildet, wobei jede Kammer eine Einlaßöffnung zum Einlassen des einen Ionenstralilv in die eine Kammer un d eines anderen oder unterschiedlichen Ionenstrahls in die andere Kammer aufweist, sowie eine Elektrodeneinrichtung in jeder Kammer zum Ablenken des Ionennt. rEs in dieser Kammer und Beschleunigen desselben in einer Richtung von der Trennwand weg, ein Tarnet in jeder Kammer in Verlaufsweg des Ionenstrahls, wobei dieses Target Sekundärelektronen beim Beschießen mit dem Ionenstrahl erzeugt, eine Vorrichtung zur Erzeugung einet Magnetfeldes in jeder der Kammern, um die Sekundärelektronen in solcher Itlchtung abzulenken, dna aie nioht auf die Trennwand treffen, und eine Vorrichtung im Verlauftweg dieser abgelenkten Sekundärelektronen sum Anbringen von Ermittlungs-und Meßvorrichtunen fUr diese Sekundärelekronen.
  2. 2. Ionenstrahlintensitätsmeßvorrichtung nach Anepruoh 1, dadurch gekennzeichnet, daß das llzgnotteld in einer Kammer im wesentlichen parallel zur Richtung don Ionenstrahl vor der Albenkung durch die Elektrode ist.
  3. 3. Vorrichtung nach Anspruoh 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, da8 die Elektroden die Targets bilden.
  4. 4. Vorrichtung @ nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß jedes Target eine im wesentlichen flache Flache senkrecht sur Richtung des Ionen trahlo unmittelbar vor dem Auftreffen auf diese darbietet.
    L e e r s e i t e
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