DE1278134B - Interferenzzusatzgeraet zu Polarisationsmikroskopen - Google Patents

Interferenzzusatzgeraet zu Polarisationsmikroskopen

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DE1278134B
DE1278134B DE1967L0055586 DEL0055586A DE1278134B DE 1278134 B DE1278134 B DE 1278134B DE 1967L0055586 DE1967L0055586 DE 1967L0055586 DE L0055586 A DEL0055586 A DE L0055586A DE 1278134 B DE1278134 B DE 1278134B
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interference
push rod
housing
carrier
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DE1967L0055586
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English (en)
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Dr Franz Kornder
Guenter Reinheimer
Dr Klaus Weber
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Ernst Leitz Wetzlar GmbH
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Ernst Leitz Wetzlar GmbH
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/14Condensers affording illumination for phase-contrast observation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
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    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Measuring Cells (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

  • Interferenzzusatzgerät zu Polarisationsmikroskopen Die Erfindung betrifft ein Interferenzzusatzgerät für Polarisationsmikroskope, das es ermöglicht, auf einfache Weise ein solches Polarisationsmikroskop bei Verwendung von Spezialobjektiven in ein Interferenzmikroskop umzuwandeln.
  • Es ist seit langem ein interferometrisches Beobachtungsverfahren für Polarisationsmikroskope bekannt, bei dem das polarisierte Beleuchtungsstrahlenbündel mittels eines doppelbrechenden Kristallplättchens in zwei getrennte Strahlenbündel aufgespalten und nach Durchtritt durch eine 2/2-Platte durch ein gleichartiges Kristallplättchen auf der Beobachtungsseite wiedervereinigt wird, bevor es durch das Objektiv und den Analysator des Polarisationsmikroskops in die Beobachtungseinrichtung gelangt. Dabei durchtritt das eine Teilbündel das zu untersuchende Objektdetail, während das zweite Teilbündel an diesem Detail vorbeigeleitet wird. Durch das Objekt hervorgerufene Phasenverschiebungen sind im Interferenzbild der Gesamteinrichtung sichtbar.
  • Es ist bereits ein Mikroskop bekannt, bei dem dieses bekannte Verfahren benutzt wird. Um eine Beobachtung mit verschiedenen Vergrößerungen zu ermöglichen, sind bei diesem Mikroskop verschiedene Objektive vorgesehen, die jeweils mit einem auf den Vergrößerungsmaßstab des Objektivs abgestimmten doppelbrechenden Kristallplättchen versehen sind. Diese mit dem Objektiv verbundenen Kristallplättchen bewirken, wie oben beschrieben, die Vereinigung der beiden Teilstrahlenbündel, die auf der Beleuchtungsseite aus dem polarisierten Beleuchtungsstrahlenbündel durch ein mit dem Kondensor verbundenes, gleichartiges doppelbrechendes Kristallplättchen entstanden sind. Ein Wechsel des Vergrößerungsmaßstabs ist daher bei diesem Mikroskop nur bei gleichzeitigem Wechsel der Objektive und der zugehörigen Kondensoren möglich. Das bedingt einmal einen beträchtlichen Aufwand dadurch, daß zu jedem Objektiv ein entsprechender Kondensor vorhanden sein muß, und bei der Verwendung des Mikroskops einen umständlichen Wechsel bei Änderung des Vergrößerungsmaßstabs.
  • Diese Nachteile lassen sich bei dem Zusatzgerät nach der Erfindung dadurch vermeiden, daß das Zusatzgerät aus einem auf den normalen Mikroskoptisch aufsetzbaren Hilfstisch besteht, in dem unterhalb der Auflagefläche für das zu untersuchende Objekt ein senkrecht zur optischen Achse des Mikroskops verschiebbarer und vorzugsweise aus der Objektivachse ausschwenkbarer Träger für mehrere, den verschiedenen am Mikroskop zu verwendenden Objektiven angepaßte doppelbrechende Kristallplättchen angeordnet ist. Es ist zweckmäßig, die einzelnen Kristallplättchen jeweils mit dem an sich bekannten, für dieses Verfahren notwendigen d/2-Plättchen zu verkitten. Durch geeignete Wahl der Dicke der einzelnen Kristallplättchen ist eine Grobabstimmung derselben auf die zugehörigen, in an sich bekannter Weise ebenfalls mit doppelbrechenden Kristallplättchen versehenen Objektive erreichbar. Eine Feinabstimmung läßt sich dadurch erreichen, daß der Träger der Kristallplättchen zusätzlich um die Verschiebungsachse drehbar gelagert ist. Eine besonders zweckmäßige Ausführungsform ist dadurch gekennzeichnet, daß der Träger der Kristallplättchen am Ende einer Schubstange befestigt ist, die in einem mit dem Hilfstisch schwenkbar verbundenen Gehäuse längsverschieblich gelagert ist. Es ist zweckmäßig, die Schubstange mit einer Rasthalterung zu versehen, die mit entsprechenden Rastkerben in dem Gehäuse, in dem die Schubstange gelagert ist, in Wirkverbindung steht. Eine besonders vorteilhafte Ausführung weist einen mit der Schubstange starr verbundenen einarmigen Hebel auf, an dessen freiem Ende oder in dessen Nähe ein unter Federwirkung stehender Zapfen gelagert ist, der in die am Boden des Gehäuses angeordneten Rastkerben eingreift. Besonders vorteilhaft lassen sich dann in dem Oberteil des Gehäuses gegenüber den Rastkerben Justierschrauben anordnen, die in den jeweiligen Raststellungen mit der dem Zapfen gegenüberliegenden Seite des einarmigen Hebels in kraftschlüssiger Verbindung stehen. Durch Verstellen dieser Justierschrauben wird eine Kippung des Trägers für die doppelbrechenden Kristallplättchen um die Verschiebungsachse bewirkt, womit die erforderliche Feinabstimmung erreichbar ist.
  • In den Zeichnungen ist ein Beispiel für das Zusatzgerät nach der Erfindung dargestellt, und zwar zeigt F i g.1 eine Ansicht des Zusatzgerätes, teilweise geschnitten, F i g. 2 eine Draufsicht auf das Zusatzgerät, F i g. 3 einen Schnitt durch die F i g. 1 nach der Linie III-III, F i g. 4 einen Schnitt durch die F i g. 2 nach der Linie IV-IV.
  • Auf den (hier nur angedeuteten) Objekttisch 1 eines normalen Polarisationsmikroskops, dessen Objektive mit doppelbrechenden Kristallplättchen ausgerüstet sind, ist ein Hilfstisch 2 aufsetzbar, in dessen Innerem ein mittels der Schubstange 3 senkrecht zur optischen Achse verschiebbarer Träger 4 angeordnet ist. In Bohrungen 5 a, 5 b, 5 c des Trägers 4 sind doppelbrechende Kristallplättchen 6a, 6b, 6c befestigt, die mit 2!2-Plättchen verkittet sind und deren Dicke auf den Vergrößerungsmaßstab der mit ihnen zusammenwirkenden Objektive abgestimmt ist. Die Schubstange 3 ist in einem mittels der Schraube 7 mit dem Hilfstisch 2 schwenkbar verbundenen Gehäuse 8 längsverschieblich gelagert. An der Schubstange 3 ist ein einarmiger Hebel 9 befestigt, in dem in der Nähe seines freien Endes ein unter der Wirkung einer Feder 10 stehender Zapfen 11 gelagert ist. Am Boden des Gehäuses 8 ist eine der Anzahl der Kristallplättchen entsprechende Zahl von Rastkerben 12 a, 12 b, 12 c vorgesehen, in die der Zapfen 11 bei einer Verschiebung der Schubstange 3 eingreift. Gegenüber den Rastkerben 12a, 12b, 12c sind in dem Oberteil des Gehäuses 8 Justierschrauben 13 a, 13 b, 13 c angeordnet, die mit der Oberseite des einarmigen Hebels 9 gegenüber dem Zapfen 11 in kraftschlüssiger Verbindung stehen.
  • Die Wirkungsweise der Einrichtung ist folgende: In dem Polarisationsmikroskop, zu dem das erfindungsgemäße Zusatzgerät als Ergänzungseinrichtung gedacht ist, wird das Beleuchtungsstrahlenbündel durch den Polarisator in bekannter Weise linear polarisiert. Nach Durchtritt des beleuchtenden Strahlenbündels durch den Kondensor des Mikroskops trifft es auf die in die optische Achse eingeschobenen Kristallplättchen 6a, 6b, 6c und wird dort in bekannter Weise in zwei kohärente Teilstrahlenbündel aufgespalten, die senkrecht zueinander polarisiert sind. Der Abstand der Achse der beiden Teilstrahlenbündel nach dem Austritt aus den Kristallplättchen hängt von der Dicke dieser Kristallplättchen ab. Durch die mit den Kristallplättchen verkitteten @/2-Plättchen erfolgt die erforderliche Drehung der Polarisationsebenen dieser Teilstrahlenbündel, wobei das eine Teilstrahlenbündel auf das auf der Auflagefläche des Hilfstisches 2 liegende zu untersuchende Objektdetail trifft, während das andere Teilstrahlenbündel infolge der Achsversetzung an diesem vorbeigeleitet wird. In bekannter Weise bewirkt dann das mit dem eingeschalteten Objektiv verbundene doppelbrechende Kristallplättchen die Vereinigung der Teilstrahlenbündel, die dann miteinander interferieren können. Die erforderliche Feinabstimmung der beiden jeweils zusammenwirkenden Kristallplättchen 6a, 6b, 6c einerseits und der mit den Objektiven verbundenen Kristallplättchen andererseits erfolgt durch eine Verschwenkung der in dem Träger 4 angeordneten Kristallplättchen mittels der Justierschrauben 13 a, 13 b,13 c.
  • Der übergang von einem Vergrößerungsmaßstab auf einen anderen erfolgt durch das Einschalten des gewünschten Objektivs und Einschaltung des zugehörigen Kristallplättchens 6a, 6b, 6 c durch eine Verschiebung des Trägers 4 mittels der Schubstange 3. Da die Stellung der Justierschrauben 13a, 13b, 13c bei einer Verstellung nicht geändert wird, ist sichergestellt, daß beim Vergrößerungswechsel die Kristallplättchen 6a, 6b, 6c die vorjustierte Lage wieder einnehmen. Damit wird das umständliche Wechseln des Kondensors bei der bekannten Einrichtung überflüssig.
  • Ein übergang von der Interferenzmikroskopie zur normalen Polarisationsmikroskopie läßt sich sehr schnell durch Verschwenken des Gehäuses 8 um die Halteschraube 7 erreichen, wobei der Träger 4 aus dem Bereich der Öffnung in dem Hilfstisch 2 herausgebracht wird. Da in diesem Fall jedoch noch die mit den Objektiven verbundenen Kristallplättchen wirksam sind, ist lediglich eine Drehung des Polarisators oder des Analysators um 45° erforderlich, um eines der beiden Teilstrahlenbündel auszuschalten, die beim Durchtritt des Lichtes durch diese Kristallplättchen entstehen. Es ist zweckmäßig, die Verstellung des Polarisators oder des Analysators so vorzunehmen, daß die Beobachtung mit dem ordentlichen Teilstrahlenbündel erfolgt.

Claims (7)

  1. Patentansprüche: 1. Interferenzzusatzgerät für Polarisationsmikroskope unter Verwendung von jeweils zwei miteinander zusammenwirkenden doppelbrechenden Kristallplättchen, von denen jeweils eines mit den gegeneinander auswechselbaren Objektiven des Polarisationsmikroskops verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, daß das Zusatzgerät aus einem auf den normalen Objektisch des Mikroskops aufsetzbaren Hilfstisch besteht, in dessen Innerem unterhalb der Auflagefläche für die zu untersuchenden Objekte ein senkrecht zur optischen Achse verschiebbarer Träger für mindestens zwei, vorzugsweise der Anzahl der zu verwendenden Objektive angepaßte Anzahl, doppelbrechende Kristallplättchen angeordnet ist.
  2. 2. Interferenzzusatzgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Kristallplättchen mit V2-Plättchen verkittet sind.
  3. 3. Interferenzzusatzgerät nach den Ansprüchen 1 und/oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Träger verschwenk- und verdrehbar gelagert ist.
  4. 4. Interferenzzusatzgerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Träger am Ende einer Schubstange befestigt ist, die längsverschieblich in einem mit dem Hilfstisch verschwenkbar verbundenen Gehäuse gelagert ist.
  5. 5. Interferenzzusatzgerät nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Schubstange bzw. das Lagergehäuse mit Rasteinrichtungen versehen ist.
  6. 6. Interferenzzusatzgerät nach mindestens einem der Ansprüche 2 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß an der Schubstange ein einarmiger Hebel befestigt ist, in dem in der Nähe seines freien Endes ein unter der Wirkung einer Feder stehender Zapfen gelagert ist, der mit am Boden des Gehäuses angeordneten Rastkerben in Wirkverbindung steht.
  7. 7. Interferenzzusatzgerät nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß in der den Rastkerben gegenüberliegenden Wand des Gehäuses Justierschrauben angeordnet sind, die in Wirkstellung mit dem freien Ende des an der Schubstange befestigten einarmigen Hebels in kraftschlüssiger Verbindung stehen.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19827175C1 (de) * 1998-06-18 2000-01-27 Leica Microsystems Analysator-Einschub für ein Polarisationsmikroskop
EP1290485B1 (de) * 2000-06-14 2007-01-03 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Verfahren zur quantitativen optischen messung der topographie einer oberfläche

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19827175C1 (de) * 1998-06-18 2000-01-27 Leica Microsystems Analysator-Einschub für ein Polarisationsmikroskop
US6414792B1 (en) 1998-06-18 2002-07-02 Leica Microsystems Wetzlar Gmbh Analyzer insert for a polarizing microscope
EP1290485B1 (de) * 2000-06-14 2007-01-03 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Verfahren zur quantitativen optischen messung der topographie einer oberfläche

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GB1183681A (en) 1970-03-11
FR1551613A (de) 1968-12-27

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