DE1273552B - Verfahren zur Erzeugung von Eisen-Silicium-Blechen - Google Patents
Verfahren zur Erzeugung von Eisen-Silicium-BlechenInfo
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Description
BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND DEUTSCHES 4i07¥W PATENTAMT
Int. CL:
C21d
AUSLEGESCHRIFT
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Aktenzeichen:
Anmeldetag:
Auslegetag:
Deutsche Kl.: 18 c-1/78
P 12 73 552.3-24 (A 35032)
1. Juli 1960
25. Juli 1968
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erzeugung von Eisen-Silicium-Blechen mit 2,5
bis 4,0% Silicium, deren Würfelflächen überwiegend mit Abweichungen von maximal 5° parallel zur
Blechoberfläche verlaufen.
Die vorliegende Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf Eisen-Silicium-Bleche beschrieben,
die in überwiegendem Ausmaße eine Würfeltextur (Kristallorientierung (100) [001]) besitzen.
Das erfindungsgemäße Verfahren zur Erzeugung von Eisen-Silicium-Blechen mit 2,5 bis 4,0% Silicium,
deren Würfelflächen überwiegend mit Abweichungen von maximal 5° parallel zur Blechoberfläche
verlaufen, wobei die Bleche in an sich üblicher Weise gewalzt sowie erforderlichenfalls zwischengeglüht
werden und die Schlußglühung dann bei Temperaturen bis zu 1260° C durchgeführt wird, besteht
darin, daß zumindest der letzte Teil des Kaltwalzens mit Walzen erfolgt, deren Rauhigkeit nicht mehr als
2,5 · ΙΟ"4 mm beträgt.
Die erwähnte (100) [001]-Orientierung bedingt nicht nur eine Ausrichtung der Würfelflächen parallel
oder nahezu parallel zu den Blechoberflächen, sondern auch eine allgemeine Ausrichtung der Würfelkanten
in der Walzrichtung. Nach dem erfindungsgemäßen Verfahren läßt sich auch ein Material herstellen,
in welchem die Würfelflächen parallel oder nahezu parallel zu den Blechoberflächen verlaufen,
wobei die Würfelkanten in dem Material jedoch in verschiedenen Richtungen verlaufen und sogar in
bezug auf die Walzrichtung ganz willkürlich verteilt sein können. Ein derartiges Material kann nach einer
beliebigen geeigneten Weise hergestellt werden, beispielsweise ausgehend von säulenförmigen Kristallen
an den Oberflächen, wenn eine Phasenänderung bei nahezu konstanter Temperatur in dem Blech stattfindet
od. dgl. Ein derartiges Material, in welchem die Würfelkanten willkürlich orientiert sind, kennzeichnet
sich nicht durch gleich hohe Permeabilitäten sowohl in der Walzrichtung als auch quer zu der
Walzrichtung, wie dies bei einem Material mit Würfeltextur der Fall ist. Das Material besitzt
jedoch in allen Richtungen einschließlich den zwischen der Walzrichtung und der Senkrechten dazu
verlaufenden Richtungen etwa die gleiche Permeabilität. Ein derartiges Material kann zur Herstellung
einer »Wagenrad«-Orientierung durch sekundäre Rekristallisation oder zur Erzeugung ähnlicher Orientierungen
verwendet werden, wobei man von einem Material ausgeht, das nach abschließender primärer
Rekristallisation eine beträchtliche Anzahl von Keimen aufweist, deren Würfelflächen unabhängig von
Verfahren zur Erzeugung von
Eisen-Silicium-Blechen
Eisen-Silicium-Blechen
Anmelder:
Armco Steel Corporation,
Middletown, Ohio (V. St. A.)
Vertreter:
Dipl.-Ing. E. Prinz, Dr. rer. nat. G. Hauser
und Dipl.-Ing. G. Leiser, Patentanwälte,
8000 München 60, Ernsbergerstr. 19
und Dipl.-Ing. G. Leiser, Patentanwälte,
8000 München 60, Ernsbergerstr. 19
Als Erfinder benannt:
Dale Martin Kohler,
Middletown, Ohio (V. St. A.)
Dale Martin Kohler,
Middletown, Ohio (V. St. A.)
Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 6. Juli 1959 (824 915)
der Orientierung der Würfelkanten 2 bis 5° aus der Parallelen zu den Blechoberflächen geneigt sind.
Unter Siliciumeisen soll ein Material mit einem Siliciumgehalt von 2,5 bis 4,0, das einen hohen Reinheitsgrad
besitzt und nur geringe Mengen an Kohlenstoff-, Schwefel-, Stickstoff- und Oxydeinschlüssen
od. dgl. aufweist, verstanden werden. Ein bevorzugtes Siliciumeisen kann 2,90 bis 3,30% Silicium enthalten,
einen Kohlenstoffgehalt der Schmelze von nicht über 0,030% aufweisen, wobei dieser Kohlenstoffgehalt
später auf weniger als 0,005% herabgesetzt wird, 0,03 bis 0,15% Mangan enthalten und im übrigen
aus Eisen mit einem Gesamtoxydgehalt bestehen, der zu Beginn der Bearbeitung nicht mehr als 0,015%
betragen soll und am Ende auf vorzugsweise 0,005 % abgesunken ist.
Die sekundäre Rekristallisation ist eine schwierig durchzuführende Verfahrensstufe, bei deren Durchführung
neben einer Hochtemperaturwärmebehandlung auch noch andere Faktoren eine wesentliche
Rolle spielen. Es wurde bereits ein Glühverfahren in einem inerten Gas, wie beispielsweise Argon oder
Helium, oder in Wasserstoff vorgeschlagen, bei welchem man den Glühgasen während der sekundären
Rekristallisation sehr kleine Mengen einer polaren Verbindung, beispielsweise eines Oxyds von Kohlenstoff
oder Schwefel oder Schwefelwasserstoff zusetzt. Man nimmt an, daß diese polaren Verbindungen an
den Kristallen an deren Oberflächen unter Absättigung freier positiver Bindungen ab- oder adsorbiert
werden, was zur Folge hat, daß sich die Energieniveaus von Kristallen mit verschiedenen Orientierungen
in dem Blech derart verschieben, daß Kri-
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stalle, deren (100)-Ebene parallel zur Blechoberfläche verläuft, das niedrigste Energieniveau besitzen, weshalb
während der Hochtemperaturglühung die derart orientierten Kristalle stark auf Kosten anderer Kristalle
mit verschiedenen Orientierungen wachsen können. Erfindungsgemäß wird dieses Glühverfahren
bevorzugt. Allerdings ist die Erfindung auch auf jede Hochtemperaturglühung anwendbar, welche ein
Wachsen von Kristallen mit Würfeltextur auf Kosten anderer Kristalle verursacht.
Allerdings beeinflussen auch noch verschiedene andere Faktoren das Auftreten und das Ausmaß der
sekundären Rekristallisation. Man hat bereits erkannt, daß das Siliciumeisen selbst einen hohen Reinheitsgrad
besitzen soll, wobei seine Oberflächen sauber sein sollen, d. h. frei von Fremdstoffen außer
geeigneten Glühseparatoren und insbesondere frei von größeren Oxydeinschlüssen sein sollen (obwohl
ein sehr dünner Eisenoxydfihn auf den Blechoberflächen geduldet werden kann). Die Blechoberflächen
sollen insbesondere weitgehend frei von Oxyden sein, welche bei einer Hochtemperaturglühung in Wasserstoff
nicht reduzierbar sind.
Durch das erfindungsgemäße Verfahren wird das Material unmittelbar vor der sekundären Rekristallisation
in einen Zustand gebracht, in welchem das bevorzugte Wachsen von Kristallkeimen mit niedriger
Orientierungsenergie während der sekundären Rekristallisation wesentlich erleichtert wird, wobei in
vielen Fällen das Verfahren eine durch die sekundäre Rekristallisation erzeugte Perfektion der Orientierung
zur Folge hat, wie sie bisher noch niemals erzielt werden konnte.
Es wurden bereits verschiedene Methoden zur Reinigung der Oberflächen des Walzgutes vorgeschlagen.
Von diesen Methoden seien das Beizen, die Elektropolierung od. dgl. erwähnt. Ferner wurde bereits vorgeschlagen,
das Blechband in einer wäßrigen Lösung zu behandeln, die etwa gleiche Teile Orthophosphorsäure
und Wasserstoffperoxyd enthält. Nach derartigen Behandlungen ist eine gewisse verbesserte
Wirkung während der sekundären Rekristallisation festzustellen. Man war sich jedoch nicht sicher, ob
diese Verbesserung auf eine Reinigungswirkung oder auf eine durch Absorption oder Adsorption an den
Blechoberflächen bewirkte chemische Wirkung zurückzuführen war.
Es hat sich nun herausgestellt, daß außer der Beschaffenheit und der Reinheit des Metalls sowie des
Fehlens von Fremdstoffen und Einschlüssen an seiner Oberfläche, insbesondere von in Wasserstoff bei
hohen Temperaturen nicht reduzierbaren Fremdstoffen und Einschlüssen, und der vorstehend erwähnten
Verwendung polarer Verbindungen in der Glühatmosphäre noch ein äußerst wichtiger physikalischer
Faktor bei einer für die sekundäre Rekristallisation geeigneten Wärmebehandlung eine erhebliche Rolle
spielt. Dieser physikalische Faktor ist, wie nachstehend noch näher erläutert werden wird, die Glätte.
Es hat sich nämlich herausgestellt, daß eine physikalisch glatte Oberfläche eines kaltgewalzten Bleches
das sekundäre Kristallwachstum wesentlich fördert. Diese Art der Glätte erfordert jedoch nicht in notwendiger
Weise, daß die Blechoberflächen in einer Ebene liegen, d. h. uniplanar sind. Eine ziemlich
starke Wellung, die sich mittels eines Profilometers
bestimmen läßt, kann dann toleriert werden, wenn der Übergang von den Erhebungen zu den Vertiefungen
allmählich erfolgt und in der Gesamtebene der Blechoberfläche jeweils innerhalb einer ausreichenden
Abmessung erfolgt. Abrupte Höhenänderungen sowie scharfwinklige Änderungen der Blechoberfläche haben sich als nachteilig erwiesen.
Beispielsweise stört ein zufälliger Kratzer auf einer Blechoberfläche das Kornwachstum bei der sekundären
Rekristallisation ganz erheblich.
Natürlich kann durch Elektropolieren oder eine andere chemische Polierung ein zufriedenstellender
Oberflächenzustand erzielt werden. Derartige Behandlungen sind jedoch sehr zeitraubend und mit derartigen
Kosten verbunden, daß das Endprodukt in einer nicht mehr vertretbaren Weise verteuert wird.
Es wurde nun gefunden, daß die beste und wirtschaftlichste Methode zur Erzielung eines optimalen
Flächenzustandes darin besteht, das Material zwischen glatten polierten Walzen kaltzuwalzen. Eine
derartige Behandlung hat zur Folge, daß die Blechoberflächen glatt werden und einen starken Glanz
erhalten. Unter diesen besonderen Bedingungen wird die mittels eines Profilometers durchgeführte Wellenmessung
ein Wertmaßstab fÜE die Erzielung der gewünschten Glätte, da die Art und Weise, in welcher
Walzen poliert werden, das Auftreten stark unterschiedlicher Erhebungen und Vertiefungen ausschließt.
In einer Reihe von Untersuchungen hat es sich herausgestellt, daß das nachstehend beschriebene
Walzen des Materials zwischen polierten Walzen eine wesentliche Verbesserung des gewünschten Kornwachstums
bei der sekundären Rekristallisation (verglichen mit einem Walzen unter Verwendung normal
geschliffener Walzen) gegenüber einer chemischen Polierung der in üblicher Weise gewalzten Bleche
zur Folge hat. Proben aus Siliciumeisen, welche zwischen polierten Walzen kaltgewalzt wurden, zeigen
ein viel stärkeres Kristallwachstum mit Würfeltextur bei der sekundären Rekristallisation während der
gleichen Glühung als Proben, die auf üblichen Walzwerken gewalzt wurden, oder als Proben, die chemisch
poliert und in üblicher Weise gewalzt wurden. Die folgende Tabelle zeigt die bei der sekundären
Rekristallisation erzielten Kristallwachstumsergebnisse bei Verwendung von Walzen, welche verschiedene
Oberflächenbehandlungen erfahren hatten:
Einfluß auf das Wachstum der
Kristalle mit Würfeltextur
Kristalle mit Würfeltextur
Messungen mit dem
Profilometer
cm-6
Übliche Methode zur Erzielung des Oberflächenzustandes
der Walzen
der Walzen
Ausgezeichnet
Mäßig
Schlecht
0,5 bis 2,5 2,5 bis 12,7
12,7 bis 30,5 30,5 bis 254,0 Schleifen
Schleifen mit einer mit Kork oder Schellack gebundenen
Schleifscheibe
Schleifen mit einer üblichen Kornschleifscheibe (160) Schleifen plus leichtes Sandstrahlen der Walze
Die angegebenen Profilometermeßwerte sind diejenigen,
welche für die jeweiligen Oberflächenbehandlungen charakteristisch sind.
Der Einfluß auf das Kristallwachstum bei der sekundären Rekristallisation erfolgt in notwendiger
Weise in beschreibender, qualitativer Form. Diese Eingruppierung stellt jedoch das Ergebnis ausgedehnter
Untersuchungen und Erfahrungen dar. Man darf annehmen, daß die Wirkung der Walzen auf
das Eisen-Silicium-Blech der Faktor ist, welcher die
weitgehendste Verbesserung in bezug auf ein Wachstum von Kristallen mit Würfeltextur bei der sekundären
Rekristallisation zur Folge hat, wobei vorauszusetzen ist, daß die sekundäre Rekristallisation unter
günstigen Bedingungen durchgeführt wird.
Bisher besaßen die üblicherweise für das Walzen von Siliciumeisen bei Orientierungsverfahren verwendeten
Walzen Oberflächen mit Profilometermeßwerten zwischen 25,4 und 254,0 cm~6.
Erfindungsgemäß können (müssen jedoch nicht) alle Kaltwalzungen unter Verwendung polierter Walzen
durchgeführt werden. Die vor der letzten KaItwalzung erfolgenden reduzierenden Kaltwalzungen
können mit Walzen mit üblichen Oberflächen erfolgen. Auch bei der letzten Kaltwalzung können gegebenenf
alls Walzen mit üblichen Oberflächen während des ersten Stadiums verwendet werden. Das erfindungsgemäß
gesteckte Ziel wird auch dann erreicht, wenn lediglich der letzte Teil der abschließenden
Kaltwalzung mit polierten Walzen erfolgt. Eine ausgezeichnete Wirkung erzielt man bei einem einzigen
abschließenden Durchgang durch polierte Walzen, vorausgesetzt, daß die Verformung bei diesem
Durchgang zur Erzielung der gewünschten Ober· flächenglätte groß genug ist, d.h. 2% oder mehl
beträgt.
Die vorliegende Erfindung ermöglicht die Herstellung eines Eisen-Silicium-Bleches mit überwiegend
kubischer Kristallorientierung aus einem Material, welches sich nach einer abschließenden primären
Rekristallisation in einem Zustand befindet, in welchem mindestens 70% der Würfelkanten innerhalb
20° zur Walzrichtung ausgerichtet sind und in welchem die Würfelflächen einer beträchtlichen Anzahl
von Kristallen in einem Winkel von höchstens 5° zur Parallelen zur Blechoberfläche geneigt sind.
Claims (1)
- Patentanspruch:Verfahren zur Erzeugung von Eisen-Silicium-Blechen mit 2,5 bis 4,0% Silicium, deren Würfelflächen überwiegend mit Abweichungen von maximal 5° parallel zur Blechoberfläche verlaufen, wobei die Bleche in an sich üblicher Weise gewalzt sowie erforderlichenfalls zwischengeglüht werden und die Schlußglühung dann bei Temperaturen bis zu 1260° C durchgeführt wird, dadurch gekennzeichnet, daß zumindest der letzte Teil des Kaltwalzens mit Walzen erfolgt, deren Rauhigkeit nicht mehr als 2,5 · 10 ~4 mm beträgt.In Betracht gezogene Druckschriften:
»Industrie-Anzeiger«, Essen, vom 21. November 1958, S. 26.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
EHJ | Ceased/non-payment of the annual fee |