DE1194503B - Halbleiter-Diode und Verfahren zu ihrer Herstellung - Google Patents
Halbleiter-Diode und Verfahren zu ihrer HerstellungInfo
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Description
BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. α.:
HOIl
Deutsche Kl.: 21g-11/02
Nummer: 1194503
Aktenzeichen: S 73491 VIII c/21 g
Anmeldetag: 14. April 1961
Auslegetag: 10. Juni 1965
Die Erfindung bezieht sich auf eine Halbleiter-Diode mit zwei in ihrer Mitte einen scheibenförmigen
Halbleiterkörper und an ihren Rändern einen Isolierring mit mehreren Endflächen haltenden metallischen
Elektroden von gleichmäßiger Dicke sowie ein Verfahren zu deren Herstellung.
Bei Halbleiter-Dioden herkömmlicher Bauart, wie sie bis jetzt verwendet werden, ist der Halbleiterkörper
an eine der Elektroden über ein Verbindungsorgan angeschlossen, das beispielsweise ein leitender
Draht ist, der einerseits mit der Ausgangsklemme und andererseits mit dem Halbleiter verlötet ist. Im Betrieb
entwickeln derartige Dioden erhebliche Wärmemengen, so daß es unerläßlich ist, sie abzuführen, um
brauchbare Arbeitsbedingungen zu gewährleisten. Zu diesem Zweck haben die herkömmlichen Dioden für
starke Ströme im allgemeinen eine relativ massive Elektrode, was einerseits in thermischer Hinsicht die
Verbindung des Halbleiterkörpers mit Wärmeableitvorrichtungen ermöglicht und andererseits die Ableitung
der Wärme durch ihre Masse selbst begünstigt. Diese Bauweise bedingt jedoch eine schwierige Herstellung
und Montage und schränkt die Verwendungsmöglichkeiten ein.
Zur Verbesserung der Wärmeabführung ist es bekannt, zwischen den blockartigen Elektroden nach
außen vorspringende Scheiben anzuordnen, die den den Halbleiterkörper enthaltenden Zwischenraum
dicht abschließen und die Wärmeübergangsfläche an die Atmosphäre vergrößern. Dadurch wird jedoch die
Herstellung noch komplizierter als bei gebräuchlichen Dioden. Ferner ist es bekannt, eine der Elektroden
als Deckel der von der anderen Elektrode und einem Isolierring gebildeten, den Halbleiterkörper enthaltenden
Vertiefung auszubilden. Dabei tritt ein erheblicher Wärmestau an der Kontaktstelle der stopfenartigen
Elektrode auf, der durch den Halbleiterkörper in die Scheibenelektrode abgeführt wird. Dabei ist
der Halbleiterkörper selbst einer erheblichen Wärmebelastung ausgesetzt und erhält außerdem thermische
Spannungen.
Bei einer anderen bekannten Ausfuhrungsform wird der Halbleiterkörper zwischen den beiden konzentrisch
gewellten Deckelplatten einer barometerdosenartigen Anordnung eingesetzt. Bei dieser Anordnung
ist der Halbleiterkörper an auf die Dosenplatten aufgesetzten Zwischenplatten befestigt, die
die Wärmeabführung beeinträchtigen. Durch die Nachgiebigkeit der gewellten Platten ist der Halbleiterkörper
dem Außendruck ausgesetzt und wird leicht beschädigt.
Es ist die der Erfindung zugrunde liegende Auf-Halbleiter-Diode und Verfahren zu ihrer
Herstellung
Herstellung
Anmelder:
Societe Industrielle de Liaisons Electriques,
Paris
Vertreter:
Dipl.-Ing. H. Leinweber, Patentanwalt,
München 2, Rosental 7
Als Erfinder benannt:
Guy Dumas, Paris
Guy Dumas, Paris
Beanspruchte Priorität:
Frankreich vom 29. April 1960 (825 725)
gäbe, eine Diode zu schaffen, bei der zur Vereinfachung
der Herstellung in bekannter Weise die beiden Elektroden völlig symmetrisch ausgebildet sind,
die eine außerordentlich gute Wärmeabführung aufweisen und außerdem auch bei geringem Gewicht
eine große Stabilität haben, j
Dies wird bei der eingangs genannten Halbleiter-Diode gemäß der Erfindung dadurch erreicht, daß jede Elektrode zwei rotationssymmetrische Stufen aufweist und daß die Elektroden derart angeordnet sind, daß ihr gegenseitiger Abstand von innen nach außen zunimmt. Durch diese Ausbildung wird die Wärmeabführfläche sehr groß und gleichzeitig der die Temperaturabhängigkeit bestimmende Innenraum sehr klein. Der Zusammenbau der Elektrode der Diode selbst sowie ihre Montage ist außerordentlich einfach.
Dies wird bei der eingangs genannten Halbleiter-Diode gemäß der Erfindung dadurch erreicht, daß jede Elektrode zwei rotationssymmetrische Stufen aufweist und daß die Elektroden derart angeordnet sind, daß ihr gegenseitiger Abstand von innen nach außen zunimmt. Durch diese Ausbildung wird die Wärmeabführfläche sehr groß und gleichzeitig der die Temperaturabhängigkeit bestimmende Innenraum sehr klein. Der Zusammenbau der Elektrode der Diode selbst sowie ihre Montage ist außerordentlich einfach.
Vorzugsweise ist der Durchmesser des Halbleiterkörpers größer als der Durchmesser Seiner Berührungsfläche
mit den Elektroden, und der Isolierring füllt den von den Randstufen der Elektroden begrenzten
Raum im wesentlichen aus. Weiterhin können die Elektroden aus vergoldetem Kupfer bestehen. Gemäß
einer zweckmäßigen Weiterbildung ist die Diode symmetrisch in bezug auf die Ebene des Halbleiterkörpers
ausgebildet, und die einzelnen Bauteile können miteinander verlötet sein. Der Druck in ihrem
Innern kann geringer sein als der freie Atmosphärendrack, und die Diode kann mit einem inerten Gas
gefüllt sein.
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3 4
Die Diode kann mindestens einen durch den Iso- Scheiben 1 und 2 zu ermöglichen. Die Stirnflächen
Herring und eine Elektrode begrenzten eine Verbin- des Isolierringes 3 können vorteilhafterweise metallidung
zum Innern der Diode herstellenden Kanal auf- siert sein, um das Verlöten zu erleichtern. Als Lötweisen,
der vorzugsweise durch eine radiale Rille im material kann, sowohl für das Anlöten der Scheiben 1
Isolierring gebildet ist. 5 und 2 auf den Abstandsring 3 wie auch für das Ver-
Ein bevorzugtes Verfahren zum Herstellen einer löten der Flansche mit dem Halbleiter 4, eine Bleiderartigen Diode besteht aus folgenden Verfahrens- legierung verwendet werden.
schritten: Aufeinander anordnen der die Diode bil- Der Isolierring 3 besitzt zwei radiale Rillen 7
denden Elemente auf einem nichtlötbaren Träger, und 8 von etwa 1,5 mm Breite und 1 mm Tiefe, die
wobei Lötmittel zwischen die verschiedenen mitein- to eine Verbindung des Innenraums der zusammengeander
in Berührung gelangenden Abschnitte der EIe- bauten Diode mit der Außenseite herstellen. Diese
mente angeordnet werden; Erwärmung der Elemente Kanäle 7 und 8 ermöglichen eine Beeinflussung der
in einer Heizeinrichtung auf eine Temperatur, die Atmosphäre im Innenraum der Diode während des
ausreicht, um die Verbindung der in Berührung Zusammenfügens und des Verlötens. Sobald die
stehenden Abschnitte durch Verlöten sicherzustellen, 15 Diode zusammengebaut und verlötet ist, werden die
und abkühlen lassender so zu der Diode verbundenen Kanäle 7 und 8, wie bei 9 und 10 dargestellt, verElemente.
Die Lötmittel können in Form von geeignet schlossen, und der Halbleiterkörper 4 liegt auf diese
zugeschnittenen dünnen Folien eingelagert werden, Weise ständig unter Luftabschluß. Es kann auch
wobei bei Verwendung einer Bleilegierung als Lot die während des Pressens eine Rille in den Scheiben 1
Erwärmung auf etwa 350° C erfolgt. Die Erwärmung ao und 2 oder eine Verbindungsöffnung in wenigstens
und anschließende Abkühlung kann im Vakuum einer der Scheiben vorgesehen werden, die nach dem
und/oder in einer inerten Atmosphäre erfolgen. Da- Zusammensetzen und Verlöten der Diode gleichfalls
bei kann zuerst ein Vakuum in der Heizeinrichtung geschlossen wird. Das Verschließen erfolgt vorteilhergestellt
und dann ein inertes Gas eingeführt wer- hafterweise durch ein bei Wärmezufuhr polymerisierden.
Bei Vorhandensein wenigstens eines Verbin- 25 bares Material. Zur Herstellung einer derartigen
dungskanals zwischen der Innen- und der Außenseite Diode werden die Einzelteile auf einem Träger aus
der Diode kann dieser, anschließend an die Verlötung nicht verlötbarem Material, beispielsweise einem
der Teile unter kontrollierter Atmosphäre, Vorzugs- Blech aus nicht oxydierbarem Stahl, wie in F i g. 2
weise mittels eines Elastomers aus polymerisierbarem angedeutet, ineinandergesetzt. Vor dem Zusammen-Silikon,
das nach Anordnung in einer Heizeinrich- 30 setzen wird eine Schicht aus Lötmittel auf den vertung
bei einer bestimmten Temperatur und während schiedenen Lötbereichen der Elemente aufgebracht,
einer für die Sicherstellung der Polymerisation ge- Danach werden die Teile zusammengefügt und im
eigneten Zeitspanne polymerisiert wird, verschlossen Anschluß daran auf Löttemperatur erwärmt,
werden. Die Lötmittelschichten sind vorteilhafterweise
werden. Die Lötmittelschichten sind vorteilhafterweise
Die Erfindung wird im folgenden an Hand der 35 Scheiben aus einer Bleilegierung von etwa 0,4 mm
Zeichnungen an einem Ausführungsbeispiel näher er- Stärke. In diesem Fall genügt eine Erwärmung in
läutert. In den Zeichnungen zeigt einer Heizeinrichtung auf etwa 350° C, um die Löt-
F i g. 1 eine Schrägansicht einer Diode, verbindungen der Diode herzustellen. Man kann in
F i g. 2 eine Schrägansicht auf die auseinanderge- der Heizeinrichtung unter Vakuum erhitzen und
zogenen Einzelteile der Diode nach F i g. 1 und 40 dieses während des Abkühlens aufrechterhalten.
F i g. 3 einen Schnitt entlang der Linie III-III in Ferner kann die Luft durch ein inertes Gas, z. B.
F i g. 1. Stickstoff, ersetzt werden. Diese beiden Möglichkeiten
Die in der Zeichnung veranschaulichte Diode ist können auch miteinander kombiniert werden, wobei
aus zwei symmetrischen Scheibenelektroden 1 und 2 z. B. zuerst in der Heizeinrichtung ein Vakuum ergebildet,
die beiderseits eines Isolierringes 3 angeord- 45 zeugt und dann ein inertes Gas eingeführt wird,
net sind. Der Halbleiterkörper 4 ist in der Mitte der Dieses letztere Verfahren weist den Vorteil einer
Scheibenelektroden 1 und 2 mit diesen verschweißt wesentlich größeren Sicherheit der Entfernung der
bzw. verlötet. Luft und deren Austausch durch das inerte Gas auf.
Die Scheiben 1 und 2 sind Preßkörper aus Kupfer- Dabei ist es in der Regel nicht notwendig, während
blech von etwa 0,5 mm Stärke. Um deren spätere 50 des Verlötens einen bestimmten Druck auf die EIe-
Lötung zu erleichtern, können die Scheiben vorteil- mente der Diode auszuüben. Die Schwerkraft allein
hafterweise mit einem Feingoldüberzug versehen sein. reicht aus, um eine genaue Verbindung sicherzu-
Der Außendurchmesser der Scheiben kann beispiels- stellen.
weise 20 mm betragen, während der Außendurch- Falls das Vakuum oder eine inerte Atmosphäre im
messer der größeren Stufe 5 beispielsweise 10 mm 55 Inneren der zusammengefügten und verlöteten Diode
und der Durchmesser der innersten Stufe 6 beispiels- aufrechterhalten werden soll, läßt man die Diode
weise 3 mm betragen kann. Der Abstand zwischen unter kontrollierter Atmosphäre abkühlen und ver-
dem Außenflansch der Scheiben kann unter diesen schließt dann, noch unter kontrollierter Atmosphäre,
Bedingungen bei etwa 3 mm liegen. In diesem Fall die Kanäle 7 und 8, beispielsweise mit einer Mischung
kann als Halbleiterkörper beispielsweise eine Scheibe 60 auf Silikonbasis, oder auch mit einem polymerisier-
aus Siliziumkristall von 0,2 mm Stärke und 3,5 bis baren Elastomer, das nach Einbringen in die Kanäle 7
4 mm Außendurchmesser verwendet werden. und 8 durch Aufheizen auf eine bestimmte Tempera-
Der dielektrische Keramikisolierring 3 ist vorteil- tür über eine vorbestimmte Zeitspanne polymerisiert
hafterweise, wie dargestellt, ein Abschnitt eines wird. Bei Verwendung der Mischung auf Silikonbasis
Rohres mit einem Außendurchmesser, der dem der 65 genügt praktisch eine Aufheizung auf etwa 80° C.
Scheiben 1 und 2 entspricht, d. h. bei etwa 20 mm Nach Erkalten ist die Diode gebrauchsfertig,
liegt und dessen Innendurchmesser etwas größer als Im Betrieb läßt sich feststellen, daß die Kühleigen-
10 mm ist, um das Einsetzen der Stufen 5 der schäften einer derartigen Diode ausgezeichnet sind.
So kann eine Diode dieser Bauart beispielsweise zur Gleichrichtung eines Wechselstromes von 12 Ampere
bei 600 Volt dienen. Die durch eine derartige Diode während ihres Vollbetriebes umgesetzte Wärme von
Watt wird von den beiden Scheibenelektroden 1 und 2 abgeführt. Dabei erfolgt der Anschluß einfach
durch Anpressen gegen entsprechende Kontakte. Um Spannungen gleichzurichten, die ein Vielfaches der
Nennspannung einer derartigen Diode (im vorliegenden Fall 600 Volt) betragen, brauchen nur Dioden in
der erforderlichen Anzahl aufeinandergestapelt und die Säule an zwei Kontakte angeschlossen werden.
Die Diode dieser Bauweise und das Herstellungsverfahren derartiger Dioden eignet sich besonders gut
für die Herstellung großer Stückzahlen, wobei der Gestehungspreis auf ein Minimum reduziert werden
kann.
So können beispielsweise bei Bedarf zwei Scheibenelektroden verschiedener Formen verwendet werden,
was gleichzeitig die Feststellung der Polarität jeder Kontaktfläche der fertigen Diode ermöglicht.
Claims (17)
1. Halbleiter-Diode mit zwei in ihrer Mitte einen scheibenförmigen Halbleiterkörper und an
ihren Rändern einen Isolierring mit mehreren, Endflächen haltenden metallischen Elektroden
von gleichmäßiger Dicke, dadurch gekennzeichnet, daß jede Elektrode zwei rotationssymmetrische
Stufen aufweist und daß die Elektroden derart angeordnet sind, daß ihr gegenseitiger
Abstand von innen nach außen zunimmt.
2. Diode nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Durchmesser des Halbleiterkörpers
größer ist als der Durchmesser seiner Berührungsfläche mit den Elektroden und daß der
Isolierring den von den Randstufen der Elektroden begrenzten Raum im wesentlichen ausfüllt.
3. Diode nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Elektroden aus vergoldetem
Kupfer bestehen.
4. Diode nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß sie symmetrisch in
bezug auf die Ebene des Halbleiterkörpers ausgebildet ist.
5. Diode nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die einzelnen Bauteile
miteinander verlötet sind.
6. Diode nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Druck in ihrem
Inneren geringer ist als der freie Atmosphärendruck.
7. Diode nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß sie mit einem inerten
Gas gefüllt ist.
8. Diode nach einem der Ansprüche 1 bis 7, gekennzeichnet durch mindestens einen durch den
Isolierring und eine Elektrode begrenzten, eine Verbindung zum Innern der Diode herstellenden
Kanal.
9. Diode nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Kanal durch eine radiale Rille
im Isolierring gebildet ist.
10. Verfahren zum Herstellen einer Diode nach einem der Ansprüche 1 bis 9, gekennzeichnet
durch folgende Verfahrensschritte: Aufeinander anordnen der die Diode bildenden Elemente auf
einem nichtlötbaren Träger, wobei Lötmittel zwischen die verschiedenen miteinander in Berührung
gelangenden Abschnitte der Elemente angeordnet werden; Erwärmung der Elemente in
einer Heizeinrichtung auf eine Temperatur, die ausreicht, um die Verbindung der in Berührung
stehenden Abschnitte durch Verlöten sicherzustellen, und abkühlen lassen der so zu der Diode
verbundenen Elemente.
11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Lötmittel in Form von geeignet
zugeschnittenen dünnen Folien eingelagert werden.
12. Verfahren nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, daß bei Verwendung einer
Bleilegierung als Lot die Erwärmung auf etwa 350° C erfolgt.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Erwärmung
und anschließende Abkühlung im Vakuum erfolgt.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Erwärmung
und anschließende Abkühlung in einer inerten Atmosphäre erfolgt.
15. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß zuerst ein
Vakuum in der Heizeinrichtung hergestellt und dann ein inertes Gas eingeführt wird.
16. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß bei Vorhandensein
wenigstens eines Verbindungskanals zwischen der Innen- und der Außenseite der Diode dieser anschließend an die Verlötung der
Teile unter kontrollierter Atmosphäre verschlossen wird.
17. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß der Verbindungskanal mittels
eines Elastomers aus polymerisierbarem Silikon verschlossen wird, das nach Anordnung in einer
Heizeinrichtung bei einer bestimmten Temperatur und während einer für die Sicherstellung der
Polymerisation geeigneten Zeitspanne polymerisiert wird.
In Betracht gezogene Druckschriften: Britische Patentschriften Nr. 785 461, 815 289;
österreichische Patentschrift Nr. 203 550.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR825725A FR1269094A (fr) | 1960-04-29 | 1960-04-29 | Diode à semi-conducteur |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1194503B true DE1194503B (de) | 1965-06-10 |
Family
ID=8730346
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DES73491A Pending DE1194503B (de) | 1960-04-29 | 1961-04-14 | Halbleiter-Diode und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3234437A (de) |
CH (1) | CH392701A (de) |
DE (1) | DE1194503B (de) |
FR (1) | FR1269094A (de) |
GB (1) | GB928436A (de) |
NL (2) | NL264049A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4142066A1 (de) * | 1990-12-19 | 1992-07-30 | Fuji Electric Co Ltd | Elektrodenaufbau eines halbleiterelementes |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3484660A (en) * | 1963-09-20 | 1969-12-16 | Gen Electric | Sealed electrical device |
US3373335A (en) * | 1964-12-22 | 1968-03-12 | Electronic Devices Inc | Stacked assembly of rectifier units incorporating shunt capacitors |
US3413532A (en) * | 1965-02-08 | 1968-11-26 | Westinghouse Electric Corp | Compression bonded semiconductor device |
US3476986A (en) * | 1966-09-17 | 1969-11-04 | Nippon Electric Co | Pressure contact semiconductor devices |
DE2014289A1 (de) * | 1970-03-25 | 1971-10-14 | Semikron Gleichrichterbau | Scheibenförmiges Halbleiterbauele ment und Verfahren zu seiner Herstellung |
US3735211A (en) * | 1971-06-21 | 1973-05-22 | Fairchild Camera Instr Co | Semiconductor package containing a dual epoxy and metal seal between a cover and a substrate, and method for forming said seal |
FR2182791B1 (de) * | 1972-05-03 | 1977-12-30 | Siemens Ag | |
US4021839A (en) * | 1975-10-16 | 1977-05-03 | Rca Corporation | Diode package |
WO2020081448A1 (en) * | 2018-10-15 | 2020-04-23 | Semtech Corporation | Semiconductor package for providing mechanical isolation of assembled diodes |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB785461A (en) * | 1953-10-19 | 1957-10-30 | Licentia Gmbh | An electric asymmetrically conductive system |
AT203550B (de) * | 1957-03-01 | 1959-05-25 | Western Electric Co | Halbleitereinrichtung und Verfahren zu deren Herstellung |
GB815289A (en) * | 1954-11-12 | 1959-06-24 | British Thomson Houston Co Ltd | Improvements in rectifiers utilising semi-conducting material |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2423091A (en) * | 1942-10-03 | 1947-07-01 | Standard Telephones Cables Ltd | Contact rectifier |
US2738452A (en) * | 1950-06-30 | 1956-03-13 | Siemens Ag | Dry multi-pellet rectifiers |
NL94441C (de) * | 1951-09-15 | |||
NL100659C (de) * | 1954-12-27 | |||
US3017550A (en) * | 1959-08-07 | 1962-01-16 | Motorola Inc | Semiconductor device |
US3023346A (en) * | 1959-11-27 | 1962-02-27 | Westinghouse Electric Corp | Rectifier structure |
-
0
- NL NL123901D patent/NL123901C/xx active
- NL NL264049D patent/NL264049A/xx unknown
-
1960
- 1960-04-29 FR FR825725A patent/FR1269094A/fr not_active Expired
-
1961
- 1961-04-14 DE DES73491A patent/DE1194503B/de active Pending
- 1961-04-24 CH CH479161A patent/CH392701A/fr unknown
- 1961-04-25 US US105418A patent/US3234437A/en not_active Expired - Lifetime
- 1961-04-26 GB GB15171/61A patent/GB928436A/en not_active Expired
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB785461A (en) * | 1953-10-19 | 1957-10-30 | Licentia Gmbh | An electric asymmetrically conductive system |
GB815289A (en) * | 1954-11-12 | 1959-06-24 | British Thomson Houston Co Ltd | Improvements in rectifiers utilising semi-conducting material |
AT203550B (de) * | 1957-03-01 | 1959-05-25 | Western Electric Co | Halbleitereinrichtung und Verfahren zu deren Herstellung |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4142066A1 (de) * | 1990-12-19 | 1992-07-30 | Fuji Electric Co Ltd | Elektrodenaufbau eines halbleiterelementes |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CH392701A (fr) | 1965-05-31 |
US3234437A (en) | 1966-02-08 |
NL264049A (de) | |
GB928436A (en) | 1963-06-12 |
NL123901C (de) | |
FR1269094A (fr) | 1961-08-11 |
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